「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(65ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection device that enables effective utilization of a test body, and to provide a method therefor.例文帳に追加

検体の有効な利用を可能とする検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

This device is obtained by improving an IC tester for testing a test object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for analog to digital conversion suitable to an automatic test device.例文帳に追加

自動試験装置に適したアナログ・ディジタル変換方法および装置の提供 - 特許庁

Facility symbol information extracted from a display device document or the like is extracted, and a test specification of a full-point test and simulation data to be inputted to a display device are automatically generated.例文帳に追加

表示装置ドキュメントなどから抽出した設備シンボル情報を抽出し、全点試験の試験仕様書と表示装置への入力する模擬データを自動生成する。 - 特許庁

CONTACT FOR ELECTRICAL TEST OF ELECTRONIC DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND PROBE ASSEMBLY例文帳に追加

電子デバイスの電気的試験用接触子、その製造方法及びプローブ組立体 - 特許庁

(b) knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of radio communication device 例文帳に追加

ロ　無線通信機器の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a semiconductor device of which the connection test is facilitated.例文帳に追加

接続試験を容易化できる半導体装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

A device for fixing and rotating the test rod 10 is provided in the box 14.例文帳に追加

試験用ロッド１０の固定と回転のための装置はボックス１４に有している。 - 特許庁

LOAD IMPARTING METHOD AND DEVICE AT OPERATION TEST OF LIFEBOAT例文帳に追加

救命艇作動試験時における積載荷重付与方法及び積載荷重付与装置 - 特許庁

To display a test pattern corresponding to a wide color gamut on a display part of a display device.例文帳に追加

広色域に対応したテストパターンを表示装置の表示部に表示すること。 - 特許庁

TEST SEQUENCE DETERMINATION METHOD, DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

試験順序決定方法、試験順序決定装置および試験順序決定プログラム - 特許庁

SELF ERASE/WRITE DEVICE OF SEMICONDUCTOR MEMORY AND SELF BURN-IN TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリのセルフイレース・ライト装置および半導体メモリのセルフバーンインテスト方法 - 特許庁

The wafer test host 21 transmits the wafer specification code J2 to an electrical inspection device 22, and the electrical inspection device 22 selects a test program and then executes the electrical inspection.例文帳に追加

ウエハテストホスト２１は電気的検査装置２２へウェハスペックコードＪ２を送信し、電気的検査装置２２はテストプログラムを選定した上で電気的検査を実行する。 - 特許庁

The test management device includes storage means, first processing means and second processing means.例文帳に追加

テスト管理装置は、記憶手段、第１の処理手段、第２の処理手段を有する。 - 特許庁

To conduct a loop-back test including the intermediate testing device as an intermediate element even for an exchange where an intermediate element can not be specified as the address of the device conducting the loop-back test.例文帳に追加

ループバック試験を行う装置のアドレスとして中間要素を指定できない交換機であっても、中間試験装置を中間要素としたループバック試験を実施する。 - 特許庁

To test a device whose data rate has risen without allowing the number of bits of pattern data to increase.例文帳に追加

パターンデータのビット数を増加させずに、データレートが増加したデバイスを試験する。 - 特許庁

To provide a measurement device for an immunochromatography test piece, capable of certainly detecting a colored part of the test piece, without having to enlarge size of the device.例文帳に追加

装置を大型化することなく、免疫クロマト試験片の呈色した部分の検出を確実に行うことが可能な免疫クロマト試験片の測定装置を提供すること。 - 特許庁

The multi-display test device 101 receives each performance evaluation element of the multi-display test device 102 at image communication through a maintenance communication cable 109.例文帳に追加

マルチ表示試験装置１０１は、メンテナンス通信ケーブル１０９を介して、画像通信時における画像通信携帯電話１０２の各性能評価要素を受信する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a plurality of test modes, in which a set test mode is reliably determined, and to provide a method for testing the semiconductor device.例文帳に追加

複数のテストモードを有する半導体装置において、設定されたテストモードを確実に判定できる半導体装置及び半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING CARBON COMPONENT IN STEEL BY IMAGE PROCESSING OF SPARK TEST例文帳に追加

火花試験の画像処理による鋼の炭素成分分析装置及びその方法 - 特許庁

A programmable logic device 150 is formed on a burn-in board BIB, and when performing a burn-in test, a test pattern signal and a logical value are supplied to the programmable logic device 150.例文帳に追加

バーンインボードＢＩＢ上に、プログラマブルロジック装置１５０を設け、バーンイン試験の際には、このプログラマブルロジック装置１５０に、テストパターン信号と論理値を供給する。 - 特許庁

To equalize measuring temperature of each device with a prober apparatus for conducting electric test of wafers.例文帳に追加

ウエハの電気テストを行うプローバ装置で、デバイス毎の測定温度を均一にする。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of a semiconductor integrated circuit capable of improving operability and convenience of a BOST device, and shortening a test time.例文帳に追加

ＢＯＳＴ装置の操作性、利便性を向上すると共に、試験時間を短縮することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of shortening a test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

SIMULTANEOUS TEST FOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, USING INTER-DUT COMPARISON AND INTRA-DUT COMARISON例文帳に追加

ＤＵＴ間及びＤＵＴ内比較を用いる、集積回路デバイスの同時テスト - 特許庁

To provide a semiconductor device having a test circuit capable of preventing a defective semiconductor device from being determined as a nondefective one in a test, and capable of detecting surely the defective devices.例文帳に追加

不良の半導体装置がテストで良品と判定されることがなく、確実に不良品を検出することができるテスト回路を有する半導体装置を提供する。 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

Alternatively, the test device is moved on the plane facing the dielectric lens, thereby being observed in a far field from which of the test device the electromagnetic wave is radiated.例文帳に追加

又、供試装置を誘電体レンズと対抗した平面上で動かすことにより、供試装置のどこから電磁波が放射しているのかを、遠方界で観測可能となる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of setting plural test modes arbitrarily.例文帳に追加

任意に複数のテストモードを設定することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

A test simulate part operates a device test program 112 to be debugged under the operating system of a general computer, and constitutes a pseudo semiconductor testing device.例文帳に追加

テスタシミュレート部は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成するものである。 - 特許庁

A device under test (DUT) (126) is inserted from a handler (132) to a socket (124).例文帳に追加

被試験デバイス（ＤＵＴ）（１２６）はハンドラ（１３２）からソケット（１２４）に挿入される。 - 特許庁

To provide a built-in data access device and method in a boundary scanning test interface.例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法の提供。 - 特許庁

A control register 31 essentially contained in an IC test device in which a control result that a control program 64 imitates an operation of the IC test device to obtain is stored.例文帳に追加

制御用レジスタ３１は本来ＩＣ試験装置に内蔵され、制御プログラム６４がＩＣ試験装置の動作を模倣して得た制御結果が格納される。 - 特許庁

In addition, the communication device includes a test frame transmission unit and a loop detection unit.例文帳に追加

さらに、通信装置は、試験フレーム送信部およびループ検出部を有している。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING PROGRAM TEST AND STORAGE MEDIUM STORING PROGRAM ON METHOD例文帳に追加

プログラムテスト支援装置、方法、および該方法に係るプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To provide a test printing control device which can shorten a working time by raising the efficiencies of test print preparing and executing work for confirming the function of a printing device.例文帳に追加

印刷装置の機能を確認するテスト印刷の準備および実施の作業を効率化して、作業時間を短縮することができるテスト印刷制御装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR NONDESTRUCTIVE INSPECTION FOR HAMMERING TEST WORKPIECE AND QUALITY MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

打音検査物の非破壊検査方法、非破壊検査装置及び品質管理方法 - 特許庁

A wiring 44 to electrically connect the bump 45 to an external test device is formed.例文帳に追加

バンプを外部試験装置に電気的接続を行う配線４４を形成する。 - 特許庁

TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION PROGRAM, MODEL BASE DEVELOPMENT PROGRAM, DEVICE AND PROGRAM FOR DIAGNOSING VALIDITY OF SOURCE CODE GENERATION, AND METHOD FOR DEVELOPING MODEL BASE例文帳に追加

テストケース生成装置、テストケース生成プログラム、モデルベース開発プログラム、ソースコード生成妥当性診断装置、ソースコード生成妥当性診断プログラム、およびモデルベース開発方法。 - 特許庁

To provide a device test equipment and a device test method which can secure stable thermal contact between a stage and a device to be tested, while being able to suppress a need for load and a contamination of the device to be tested.例文帳に追加

荷重の必要性および被試験デバイスの汚染を抑制できるとともに、ステージと被試験デバイスとの熱的な安定接触を確保することができるデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。 - 特許庁

The mixed signal processing circuit is integrated with the test interface, especially the mixed signal processing circuit is integrated with the test interface of a probe card or a device under test, moreover the mixed signal processing circuit is integrated with the pin electric channel of the testing device, and the motion process of the mixed signal process circuit is integrated with the system software of the test device.例文帳に追加

混合信号処理回路をテストインターフェースに統合し、特に混合信号処理回路をプローブカードまたは被試験素子カードのテストインターフェースに統合し、かつ混合信号処理回路と試験機のピン電気チャンネルを統合し、混合信号処理回路の動作プロセスを試験機のシステムソフトウェアに統合する。 - 特許庁

To prevent an oversight in a test of error caused by improper contact in a circuit device for a burn-in test of a semiconductor module including a memory circuit provided with a connection terminal allowing a burn-in test signal of a burn-in test device having active/inactive conditions to be applied.例文帳に追加

活性／非活性状態を有しているバーン・インテスト装置のバーン・インテスト信号Ｔ１；Ｔ６が印加可能である接続端子を備えたメモリ回路１を含んでいる半導体モジュールのバーン・インテストのための回路装置において、コンタクト不良に起因するエラーの検査漏れを克服する。 - 特許庁

To provide an inexpensive semiconductor testing device which saves a test pattern storage memory by generating a fast clock while generating a test pattern in slow test cycles and is further slow and small in the storage capacity of a test pattern storage circuit, and a semiconductor testing method using the device.例文帳に追加

低速なテスト周期でテストパターンを作成しながら高速なクロックを発生させることでテストパターン格納メモリの節約を実現し、さらに低速かつテストパターン記憶回路の記憶容量が少ない安価な半導体試験装置及びその装置を用いた半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a RAID (Redundant Arrays of Inexpensive Disks) test system with which a disk controller of a RAID device is substituted with a conventional testing computer to perform a test of another RAID device about a shipping test of RAID devices, a RAID test program and a RAID testing method.例文帳に追加

ＲＡＩＤ装置の出荷試験に関し、より詳細にはＲＡＩＤ装置のディスクコントローラを従来の試験用コンピュータと代替し、他のＲＡＩＤ装置に対して試験の実施を行うＲＡＩＤ試験システム、ＲＡＩＤ試験プログラムおよびＲＡＩＤ試験方法に関する。 - 特許庁

To enable sure application of test signals from desired signal levels, even when applying test signals with low amplitude to an object to be tested, by especially applying a test device of integrated circuits formed on a semiconductor wafer, with respect to the test device.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、特に半導体ウエハ上に形成された集積回路の試験装置に適用して、小さな振幅により試験信号を試験対象に印加する場合でも、確実に所望する信号レベルにより試験信号を印加することができるようにする。 - 特許庁