「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(68ページ目) - Weblio英語例文検索

To precisely detect a defect including dropout of a label in a label tape test device.例文帳に追加

ラベルテープの検査装置において、ラベルの脱落を含む欠陥を精度良く検出する。 - 特許庁

To efficiently test a device for transferring data at very high bit rate.例文帳に追加

極めて高いビットレートでデータを転送するデバイスを、効率的に試験することを目的とする。 - 特許庁

METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGING AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

A sub harness inspection device 1 is provided with a probe 13 and performs the conducting test of a sub harness 2.例文帳に追加

サブハーネス検査装置１はプローブ１３を備えサブハーネス２の導通検査を行う。 - 特許庁

To determine in real time whether a test condition of a semiconductor device is set correctly.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト条件が正しく設定されているかをリアルタイムに判断する。 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE COMPRESSIVE STRENGTH TESTING METHOD, STRESS ESTIMATING METHOD AND TEST DEVICE FOR CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの非破壊圧縮強度試験方法及び応力推定方法及び試験装置 - 特許庁

To perform simply and precisely a test to a device both in an abnormal mode and in a normal mode.例文帳に追加

デバイスに対するアブノーマルモード及びノーマルモードのテストを簡単且つ的確に行う。 - 特許庁

The generated test pattern signal is supplied to a semiconductor device 500 to be tested.例文帳に追加

生成されたテストパターン信号は、被試験対象の半導体デバイス５００に供給される。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テストパターン発生方法、テストパターン発生装置及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

The temporary power source device 19 supplies a test power source to the main circuit in this condition.例文帳に追加

仮設電源装置１９は、この状態で主回路に試験電源を供給する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT USING WEIGHTED PSEUDO-RANDOM TEST PATTERN例文帳に追加

重み付けされた擬似ランダム試験パターンを用いた集積回路試験装置および試験方法 - 特許庁

METHOD FOR ANALYZING MEASUREMENT DATA OF DEVICE UNDER TEST, PROGRAM, AND MEASUREMENT DATA ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加

被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム - 特許庁

To provide a method and a device for low torque low speed test in a turbomachinery.例文帳に追加

ターボ機械における低トルク低速度試験のための方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test board device capable of dividing a DUT board.例文帳に追加

ＤＵＴボードを分割することができるテストボード装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

DEVICE FOR INITIALIZING DIGITAL SIGNAL PROCESSING CIRCUIT, TEST PATTERN, TESTING APPARATUS, MEDIUM, AND INFORMATION AGGREGATE例文帳に追加

デジタル信号処理回路初期化装置、テストパターン、テスト装置、媒体及び情報集合体 - 特許庁

To improve the accuracy of a read operation test of a nonvolatile semiconductor memory device.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置の読み出し動作テストの精度を向上させること。 - 特許庁

To efficiently perform a wireless communication performance test of a wireless communication device.例文帳に追加

無線通信装置の無線通信性能試験を効率良く行うことを課題とする。 - 特許庁

The eddy current flaw test device includes an encircling coil, a plurality of delivery rolls and a flaw detector.例文帳に追加

渦流探傷装置は、貫通コイルと、複数の搬送ロールと、探傷器とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device including a test mode entry circuit preventing wrong entry.例文帳に追加

誤エントリを防止できるテストモードエントリ回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test coke oven device which reproduces coke cake in the neighborhood of the bottom of an actual oven.例文帳に追加

実炉底部近傍のコークスケーキを再現する試験コークス炉装置を提供する。 - 特許庁

To reduce development cost of a test program for a memory chip mounted on a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置に実装されたメモリチップの試験プログラムの開発コストを削減する。 - 特許庁

To provide a system and method for graphically actuating a trigger in a test and measurement device.例文帳に追加

試験測定装置にてトリガを図形的に作動させるシステム及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vertical semiconductor device in which a characteristic test can be performed from a first surface side.例文帳に追加

表面側から特性試験が行える縦型の半導体装置を提供する。 - 特許庁

To effectively carry out a memory test at a low cost for a semiconductor device, including a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリを含む半導体装置におけるメモリテストを低コストで、効率よく行う。 - 特許庁

A device driver part 45-1 receiving the message starts a test execution part 44-1.例文帳に追加

メッセージを受取ったデバイスドライバ部４５−１は試験実行部４４−１を起動する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE WHICH INCORPORATES MEMORY CHIP AND LOGIC CHIP, AND IN WHICH TEST OF MEMORY CHIP CAN BE PERFORMED例文帳に追加

メモリチップとロジックチップとを搭載し，メモリチップの試験を可能にした半導体装置 - 特許庁

This test device which inspects glass bottles formed inside a glass molding machine by using a camera.例文帳に追加

ガラス成形マシーン内で形成されたガラスボトルを検査するためのカメラによる検査装置。 - 特許庁

The trigger is then employed in connection with subsequent monitoring of signals within the test and measurement device.例文帳に追加

次に、試験測定装置内の信号の後続のモニタに関連して、トリガを用いる。 - 特許庁

To implement an efficient scan test for a semiconductor device using a gated clock.例文帳に追加

ゲーティッドクロックが用いられている半導体装置の効率の良いスキャンテストを実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device shortening a loading time of a test program.例文帳に追加

テストプログラムのロード時間を短くすることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

LOG COLLECTION AUTOMATED DEVICE, LOG COLLECTION AUTOMATION TEST SYSTEM AND LOG COLLECTION CONTROL METHOD例文帳に追加

ログ収集自動化装置、ログ収集自動化試験システム、及びログ収集制御方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which stress can be applied effectively by a burn-in test.例文帳に追加

バーンインテストにより効果的にストレスを印加可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

This workpiece inspection device comprises conveyer for feeding components under test, mechanism for rotating the components, and probe.例文帳に追加

検査すべき部品を送るコンベヤと、部品を回転させる機構と、プローブとを含む。 - 特許庁

COLLIMATION DEVICE, RADIOLOGY APPARATUS, TEST KIT, AND METHOD OF TESTING RADIOLOGY APPARATUS例文帳に追加

コリメーション装置、放射線装置及び試験キット、並びに放射線装置を試験する方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH OPEN INSPECTION CIRCUIT AND OPEN TEST METHOD USING THE INSPECTION CIRCUIT例文帳に追加

オープン検査回路を備えた半導体装置及び該検査回路を用いたオープン検査方法 - 特許庁

To obtain a semiconductor device that can easily and accurately test the internal clock generation operation.例文帳に追加

内部クロック生成動作を容易かつ正確にテストできる半導体装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor testing system 1 includes: a test board 2 on which a semiconductor device 4 of an object to be tested is mounted; and a semiconductor testing device 3 which outputs test signals of the semiconductor device 4 to the test board 2.例文帳に追加

本発明の一形態に係る半導体試験システム１は、試験対象の半導体装置４が搭載される試験ボード２と、試験ボード２に半導体装置４の試験信号を出力する半導体試験装置３と、を備える半導体試験システムである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of easily performing a multiple and simultaneous test with high definition.例文帳に追加

多数個同時テストを容易かつ高品位に行える半導体装置を実現する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, AND TOOL FOR CUTTING AND CONNECTING TRANSMISSION CABLE例文帳に追加

被試験機器テスト装置、被試験機器テスト方法及び通信ケーブル切断／接続治具 - 特許庁

REFERENCE HEAT SOURCE FOR ELECTROMAGNETIC WAVE TEST TO INFRARED RADIATION MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THEREOF例文帳に追加

赤外放射計測機器の電磁波試験用参照熱源及びその試験方法 - 特許庁

To test a device on the fly, right-click on the project and choose RunWith. 例文帳に追加

デバイスを簡単にテストするには、プロジェクトを右クリックし、「指定して実行」を選択します。 - NetBeans

TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェハのテスト装置、半導体ウェハのテスト方法及び半導体ウェハ用プローブカード - 特許庁

To efficiently and inexpensively perform a memory test in a semiconductor device that includes a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリを含む半導体装置におけるメモリテストを低コストで、効率よく行う。 - 特許庁

This semiconductor device 1000 includes plural test mode circuits 1A, 1B.例文帳に追加

本発明に係る半導体装置１０００は、複数のテストモード回路１Ａ、１Ｂを含む。 - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

プローブカード、半導体集積回路試験装置、及び、半導体集積回路試験方法 - 特許庁