「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(69ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR VERIFYING DISK DEFFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PREFORMING THE SAME例文帳に追加

ディスクの欠陥管理領域情報検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

Landolt rings are shown in a monitor when selecting a visual acuity test mode by a television device.例文帳に追加

テレビジョン装置で視力検査モードを選択すると、モニタにランドルト環３０が表示される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of improving the arrangement density of devices under test.例文帳に追加

被測定素子の配置密度を高めることが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS BURN-IN TESTING METHOD, ITS MANUFACTURING METHOD, BURN-IN TEST CONTROL CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置及びそのバーンインテスト方法、製造方法並びにバーンインテスト制御回路 - 特許庁

A transmission unit of the data transfer device transmits test data by being synchronized with a reference signal.例文帳に追加

データ転送装置の送信部は、テストデータを基準信号に同期させて送信する。 - 特許庁

To perform various environmental tests without having to replace an environmental test device as a whole.例文帳に追加

環境試験装置全体を取り替えずに様々な環境試験が実施可能にする。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DISK DEFECT MANAGEMETN AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

ディスクの欠陥管理領域情報の検出方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

PHOTOINHIBITION EVALUATION DEVICE AND METHOD FOR MEASURING PHOTOINHIBITION RATE OF TEST SUBSTANCE例文帳に追加

光線阻害能の評価装置および被験物質の光線阻害率を測定する方法 - 特許庁

To provide a method for testing an integrated circuit by using an automatic test device.例文帳に追加

自動テスト装置１２を使用して、集積回路１０をテストする方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a grading evaluation supporting device permitting to grade a test result with efficiency.例文帳に追加

テストを効率良く採点することが可能な採点評価支援装置を提供すること。 - 特許庁

TEST BORING DEVICE, CYLINDRICAL MEMBER FOR POSITIONING USED IN IT, AND CYLINDRICAL MEMBER FOR ANCHORING例文帳に追加

試錐装置およびこれに使用する位置決め用筒状部材と固定用筒状部材 - 特許庁

To efficiently make evaluation test for a reproducing function of an optical disk device.例文帳に追加

光ディスク装置の再生機能の評価試験を効率的に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of improving a test efficiency and a production yield.例文帳に追加

テスト効率と製品歩留まり向上ができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THIS例文帳に追加

ディスク欠陥管理領域情報の検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

The administration section then controls to start a test print in the printing device (S105).例文帳に追加

そして、管理部は、印刷装置において試し刷りが開始されるように制御する（Ｓ１０５）。 - 特許庁

To test a mobile station device at a high place without climbing a stand or a ladder.例文帳に追加

台やはしごに登らなくても高所の移動局装置を試験できるようにする。 - 特許庁

VERTICAL DIRECTION WATER PERMEABILITY TEST DEVICE EQUIPPED WITH INTRUSION DISTANCE DECISION MECHANISM OF UNAGITATED SAMPLE例文帳に追加

不攪乱試料の進入量判定機構を備えた鉛直方向透水試験装置 - 特許庁

To provide a test device capable of very efficiently recording log data which show the state of device and state of test, etc., before/after the time when abnormality occurs, by effectively utilizing a limited memory capacity, and to provide a recording method of the log data of the test device.例文帳に追加

限られたメモリ容量を有効に活用し、異常発生時前後の装置状態と試験状態等を示すログデータを極めて効率的に記録することが可能な試験装置と試験装置のログデータ記録方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SELECTING STIMULATION POSITION IN CIRCUIT TEST WITH LIMITED ACCESS例文帳に追加

アクセスを制限した回路テストにおいて刺激位置を選択するための方法及び装置 - 特許庁

To provide a built-in data transmitting device and method in a boundary scanning test interface.例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データ伝送装置及び方法の提供。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PROVIDING CONSTITUTION OF HARDWARE RESOURCE SPECIFIED IN TEST TEMPLATE例文帳に追加

試験テンプレート内に規定されているハードウェアリソースの構成を提供する方法及び装置 - 特許庁

WATER-PERMEABILITY/GAS-PERMEABILITY TEST DEVICE AND SEAL STRUCTURE OF SPECIMEN FOR IT例文帳に追加

透水透気試験装置並びに透水透気試験装置における供試体のシ—ル構造 - 特許庁

PRINTING METHOD AND DEVICE ON CASSETTE FOR HISTOLOGICAL SAMPLE OR TEST SAMPLE SUPPORT例文帳に追加

組織学的標本のためのカセット又は被検試料支持体のプリント方法及び装置 - 特許庁

By this signal, the semiconductor integrated circuit device can be transferred to the test mode.例文帳に追加

この信号により半導体集積回路装置をテストモードに移行することができる。 - 特許庁

To improve reproducibility in a vehicle collision simulation test device and method thereof.例文帳に追加

自動車衝突模擬試験装置及びその方法において、再現性を向上可能とする。 - 特許庁

Pattern memory 78 stores test patterns to be supplied for a device to be tested 40 in advance.例文帳に追加

パターンメモリ７８は、被試験デバイス４０に供給するテストパターンを予め格納する。 - 特許庁

ANALOG SIGNAL PROCESSING CIRCUIT, A/D CONVERTER, SEMICONDUCTOR DEVICE TEST UNIT AND OSCILLOSCOPE例文帳に追加

アナログ信号処理回路、ＡＤ変換装置、半導体デバイス試験装置およびオシロスコープ - 特許庁

To efficiently carry out an I/O circuit threshold value test of a semiconductor device by simple circuit constitution.例文帳に追加

半導体装置のＩ／Ｏ回路閾値試験を簡易な回路構成で効率よく実施する。 - 特許庁

METHOD FOR DECIDING PARAMETER FOR RADIO WAVE ENVIRONMENT IN RADIO TERMINAL TEST AND RADIO TERMINAL TESTING DEVICE例文帳に追加

無線端末試験における電波環境のパラメータ決定方法、無線端末試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, CONNECTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT, AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験回路の接続装置および半導体試験方法 - 特許庁

GENERATING DEVICE FOR TEST PATTERN AND STROBE SIGNAL AND INSERTING METHOD FOR DELAY TIME INTO TIMING DATA例文帳に追加

テストパターンやストローブ信号の発生装置及びタイミングデータへの遅延時間の挿入方法 - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATION CIRCUIT, FUNCTION ADDITION CIRCUIT MODULE AND INSPECTION SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テスト信号発生回路、機能追加回路モジュール、および、半導体デバイスの検査システム - 特許庁

To obtain a semiconductor device which can accurately grasps the test temperature after assembly, and its method.例文帳に追加

アセンブリ後のテスト温度を的確に把握できる半導体装置とそのテスト方法を得る。 - 特許庁

To provide an analytical device (1) having a lancet (2) and an analytical test element (9).例文帳に追加

本発明は、ランセット（２）および分析試験要素（９）を有する分析装置（１）に関する。 - 特許庁

METHOD FOR SETTING TEST MODE, MEDIUM STORING ITS PROGRAM, SEMICONDUCTOR DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

テストモード設定方法、そのプログラムを記憶した記憶媒体、半導体装置及び電子機器 - 特許庁

To provide a testing device which integrates a mixed signal processing circuit with a test interface.例文帳に追加

本発明は、混合信号処理回路をテストインターフェースに統合する試験機を提供する。 - 特許庁

TEST CIRCUIT DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路用テスト回路装置およびこれを用いた半導体集積回路 - 特許庁

TEST METHOD FOR DETERMINING OIL SEPARABILITY OF LUBRICATING GREASE, AND TESTING DEVICE FOR EXECUTING METHOD例文帳に追加

潤滑グリースの油分離性を求める試験方法及びこれを実施する試験装置 - 特許庁

To improve increase at efficiency in thermal load test of a semiconductor device of BGA structure.例文帳に追加

ＢＧＡ構造の半導体装置における熱負荷試験の効率化を向上する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device which can shorten test time.例文帳に追加

テスト時間を短縮することが可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Information required for device calibration such as a test chart or the like is displayed on the chip 9.例文帳に追加

チップ９には、テストチャート等、装置校正に必要な情報を表示するようにした。 - 特許庁

This IC tester is acquired by improving on an IC tester for testing a device under test.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

METHOD FOR VERIFYING DISK DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

ディスクの欠陥管理領域情報検証方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SELECTING TARGET COMPONENT IN TEST WITH LIMITED ACCESS例文帳に追加

アクセスを制限したテストにおいて目標コンポ—ネントを選択するための方法及び装置 - 特許庁

To provide a method and a device for facilitating the test and maintenance of a data communication line.例文帳に追加

データ通信回線のテスト及び保守を容易にする方法及び装置を提供する。 - 特許庁