「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(73ページ目) - Weblio英語例文検索

The classified data file forming part 13 analyzes the test result on plural test items by a prescribed logic operation, to classify the semiconductor device.例文帳に追加

分類データファイル作成部１３は、複数の試験項目に対する試験結果を所定の論理演算によって解析し、半導体デバイスを分類する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a test can be performed even after redundancy relief, by using a test pattern used before redundancy relief.例文帳に追加

冗長救済後も冗長救済前に用いたテストパターンを用いてテストすることができる半導体記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

At least one handheld device 102 is provided, typically several, that is capable of performing a first plurality of functions in a non-test mode, and a more limited number of functions in a test mode.例文帳に追加

少なくとも１台の、通常は数台の携帯装置１０２が、非テストモードの第１の複数の機能と、テストモードのより少ない数の機能を作動する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device and its test method in which patterns for test can be reduced when data is supplied in serial to a RAM.例文帳に追加

ＲＡＭにシリアルでデータを供給する際、試験用パターンの削減を実施できる半導体集積回路装置及び、その試験方法を提供する。 - 特許庁

A hard disk current test system includes a hard disk, an adapter board, a test device, a first cable, a second cable, and two clip-on ammeters.例文帳に追加

本発明に係るハードディスク電流のテストシステムは、ハードディスク、アダプターボード、テスト装置、第一ケーブル、第二ケーブル及び２つのクリップオン電流計を備える。 - 特許庁

To provide a burning test device capable of protecting apparatuses on the upstream side and on the downstream side, even if hydrogen leaks and exploded in a test chamber.例文帳に追加

試験室内で水素が漏洩し爆発した場合でも、上流側及び下流側の機器を保護することができる燃焼試験装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device latches an address signal ADD based on the latch signal US1 and generates an internal test signal TEST based on the latched address signal ADD.例文帳に追加

ラッチ信号ＵＳ１に基づいてアドレス信号ＡＤＤをラッチし、ラッチされたアドレス信号ＡＤＤに基づいて内部テスト信号ＴＥＳＴを発生させる。 - 特許庁

An engine cooling water circulation system 1 for test includes a test piece 2 including an engine 3, and a circulation device 5 which circulates and supplies cooling water to the engine 3.例文帳に追加

試験用エンジン冷却水循環システム１は、エンジン３を含む試験体２と、エンジン３へ冷却水を循環供給する循環装置５とを備える。 - 特許庁

To provide a method, a test reagent, and a useful device as a test piece for detecting a toxic ammonia level in a water sample such as water tank water.例文帳に追加

水槽水のような水サンプルにおける毒性アンモニアレベルを検出するための方法、テスト試薬およびテスト片として有用な装置を提供する。 - 特許庁

The method 100 includes a step 110 for executing a timing test with respect to the signal from the device, and a step 120 for conducting a bit level test independently.例文帳に追加

方法１００は、デバイスからの信号に対して、タイミング試験を実施するステップ１１０と、ビット・レベル試験を独立に行うステップ１２０と、を含む。 - 特許庁

This device includes an array of naturally promoted weathering test devices used for collecting light and heat of solar radiation to a test piece formed of a material.例文帳に追加

材料から形成された試験片に太陽熱放射を集光集熱するのに使用されるタイプの自然促進耐候性試験装置の配列を含む。 - 特許庁

When test voltage is added to the circuit device 2, voltage of the varistor 5 is lower than the added test voltage, and an overload of the varistor 5 is prevented.例文帳に追加

試験電圧が前記回路装置２に加えられると、前記バリスタ５の電圧は、加えられた試験電圧よりも低く、バリスタ５の過負荷が防止される。 - 特許庁

The reliability test when manufacturing the semiconductor device is appropriately performed by determining the condition of reliability test based on the substitution rate.例文帳に追加

置換率の高低に基づいて信頼性試験の条件を決定することで半導体装置を製造する際の信頼性試験が適切に行われる。 - 特許庁

To provide a metal detection device capable of being calibrated without bringing a metal test piece into contact with an article to be processed while obviating the need of recovery of the metal test piece.例文帳に追加

金属テストピースの回収を不要にしつつ、処理されるべき物品に金属テストピースが接触することなく、金属検出装置を校正する。 - 特許庁

Therefore, the device makes the test vehicle 14 clashed into the barrier 17 without changing its posture by an external forces after separating the dolly 13 from the test vehicle 14.例文帳に追加

よって、試験用車両14は、ドーリー13との切り離し後、外力の影響による姿勢変化を生じることなくバリア17へと衝突することが可能となる。 - 特許庁

To provide a test apparatus and a test method with a simple configuration for testing a device to be tested which outputs a plurality of modulation signals modulated by carrier signals with one and the same frequency.例文帳に追加

同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを簡単な構成により試験する。 - 特許庁

A burn-in control device 10 performs convergence determination (finish of a test) of an initial stage defect in the burn-in test relative to each lot (each classification) in the furnace 12.例文帳に追加

バーンイン制御装置１０は、バーンイン試験における初期不良の収束の判定（試験の終了）を炉１２内のロット毎（区分毎）に行う。 - 特許庁

To provide an electric test unit which mounts an electronic component very accurately on a contact performing an electric test, and an electric component inspection device provided with the same.例文帳に追加

電気テストを行うコンタクトに対して高い精度で電子部品を載置する電気テストユニット及びそれを備えた電気部品検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental device capable of bringing a specimen conveyed in a test tank to a state of an environmental test temperature in a short time.例文帳に追加

試験槽内を搬送される被試験品を短時間で環境試験温度の状態に到達させることのできる環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

This mounted chip test/selection device includes a rotation unit 1 used for carrying a plurality of mounted chips C, a chip test unit 2, and a chip selection unit 4.例文帳に追加

実装チップ検査・選別装置は、複数の実装チップＣを搬送するために用いる回転ユニット１と、チップテストユニット２と、チップ選別ユニット４とを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor test method which reduces the test time for the terminal characteristics of a semiconductor device and prevents a decrease in yield.例文帳に追加

半導体素子の端子特性の試験時間を短縮するとともに、歩留まりの低下を防ぐ半導体試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test circuit, a semiconductor device and a method for manufacturing the same, for applying a stress to a node of a combination circuit to which the stress is not applied by only F/F in a burn-in test or a leak test of the semiconductor device, and inhibiting circuit overhead of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のバーンインテストまたはリークテストの際に、F/Fだけではストレスを印加できない組み合わせ回路のノードにストレスを与えるとともに、半導体装置の回路オーバーヘッドを抑えることができるテスト回路、半導体装置及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspecting apparatus for a semiconductor device, for quickly and effectively radiating heat of a semiconductor device generating during a test, and for enabling correct test by keeping a test temperature constant without influence of the heat generating from the semiconductor device.例文帳に追加

テスト中に発生する半導体素子の熱を迅速かつ効果的に放出することができ、半導体素子で発生する熱に影響を受けずに半導体素子のテスト温度が一定に維持されることによって、より正確なテストが可能になる半導体素子検査装置を提供する。 - 特許庁

This device has a constitution wherein an interface 28 for transferring a signal between the BOST device 20 and a CPU of an external control device 40 is installed, and a control signal for a test and a test analysis result signal are transferred through the interface 28, to thereby execute the test and the evaluation.例文帳に追加

ＢＯＳＴ装置２０と外部制御装置４０のＣＰＵとの間で信号のやり取りを行なうインターフェース２８を設け、このインターフェース２８を介してテスト用の制御信号及びテスト解析結果信号をやり取りし、テストと評価を行なう構成とする。 - 特許庁

To obtain a tray conveyance device capable of moving and stopping a testing tray at a comparatively high speed, capable of shortening the index time of the test, and capable of improving the reliability of the test, a testing device and a test method.例文帳に追加

試験用トレイを比較的高速で移動および停止させることが可能であり、試験のインデックスタイムの短縮を図ることができ、且つ試験の信頼性を向上させることができるトレイ搬送装置、試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

An operation test is performed by transmitting transmission data for the operation test by a transmission circuit of the transmission-mode integrated radio circuit device 100a, and receiving the transmission data for the operation test by a reception circuit of the reception-mode integrated radio circuit device 100b.例文帳に追加

送信モード無線集積回路装置１００ａの送信回路により動作試験用の送信データを送信し、受信モード無線集積回路装置１００ｂの受信回路により動作試験用の送信データを受信して動作試験を実行する。 - 特許庁

To provide a full-point test system for a display device screen comprising means for improving test efficiency by automating a full-point test of the display device screen to be used for a control monitoring system for a plant or the like without watching work by a testing person.例文帳に追加

プラントなどの制御監視システムで使用する表示装置画面の全点試験を、試験者の目視作業を要することなく自動化し、試験効率を高める手段を備えた表示装置画面の全点試験方式を提供する。 - 特許庁

The high and low temperature test handler 1 includes, in a chamber 2, the test handler 3 for carrying out various kinds of process treatments for a semiconductor device, and the apparatus 4 for raising/lowering the temperature for transferring the semiconductor device raised or lowered in temperature to the test handler 3.例文帳に追加

高低温テストハンドラ１は、チャンバ２内に、半導体装置に対して各種工程処理を施すテストハンドラ３と、このテストハンドラ３に対して高温又は低温化された半導体装置を受け渡す高低温化装置４とを備える。 - 特許庁

In a test mode, a CPU 10 can output register information to an external device 16 by transferring a certain program from an external device to a RAM 11 in accordance with a test program stored in a test ROM 12, and executing the program.例文帳に追加

テストモードでは、ＣＰＵ１０が、テストＲＯＭ１２に記憶されたテストプログラムに基づいて外部機器から任意のプログラムをＲＡＭ１１に転送し、このプログラムを実行することでレジスタ情報を外部機器１６に出力することができる。 - 特許庁

To provide a dynamic horizontal loading test method and device for a pile capable of carrying out a test by the reduced number of persons, capable of obtaining a great energizing force by the compact device, and capable of regulating an impact force in the dynamic horizontal loading test using a weight and rails.例文帳に追加

重錘とレールを用いた動的水平載荷試験において、少人数で試験を行うことができ、コンパクトな装置で大きな加振力が得られ、打撃力の調整も可能な杭の動的水平載荷試験方法・装置を提供する。 - 特許庁

To enable to retrieve failure factors by automatically changing test conditions at a high speed, regarding a device test estimating system and its method which retrieve failure factors of a device to be measured like an LSI (large scale integrated circuit) and perform test estimation.例文帳に追加

ＬＳＩデバイス等の被測定デバイスの不良要因を検索して試験評価を行うためのデバイス試験評価システムおよびその方法に関し、自動的にかつ高速に試験条件を可変にして不良要因を検索することを目的とする。 - 特許庁

In this weatherproofness test device concentrates solar rays to radiate them to the sample inside the device via an optical fiber.例文帳に追加

更に試料が上向きの為安定した水スプレーモード設定も可能となる耐候性試験装置を提供すること。 - 特許庁

This testing device for testing a DUT (Device Under Test) comprises a first electric terminal and a first optical terminal.例文帳に追加

第１の電気端子及び第１の光端子を備えた、ＤＵＴを試験するための試験デバイスが提供される。 - 特許庁

The object specifying means 3a of this subscriber transmitting device 3 specifies an network terminating device to be a test object.例文帳に追加

加入者伝送装置３の対象特定手段３ａは、試験の対象となる網終端装置を特定する。 - 特許庁

Concerning the method and a system for testing existence of a leakage in the electronic device, the electronic device is not broken in the test.例文帳に追加

電子デバイスにおける漏れの有無を試験するための方法及びシステムであり、該試験は、該電子デバイスを破壊しない。 - 特許庁

To provide a testing device capable of preventing the test of a tested device using a false output data signal.例文帳に追加

誤った出力データ信号を用いて被試験デバイスを試験することを防ぐことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of setting a test voltage applied to a device to be inspected easily and highly accurately.例文帳に追加

被検査デバイスに印加する試験電圧を高い精度で容易に設定することができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

To confirm the operation when an external device is connected to an integrated circuit test apparatus without using an actual device.例文帳に追加

実機を用いることなく、集積回路試験装置に外部機器接続時の動作確認をすることを可能とする。 - 特許庁

To provide a method and a device for properly carrying out a burn-in test of a semiconductor device such as an image sensor or a fingerprint sensor.例文帳に追加

イメージセンサや指紋センサなどの半導体デバイスを適切にバーンイン試験を行う方法及び装置を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING THERMAL FATIGUE CRACK DEVELOPMENT, AND TEST BODY USED FOR THE DEVICE例文帳に追加

熱疲労き裂進展試験装置、熱疲労き裂進展試験方法および熱疲労き裂進展試験装置に用いる試験体 - 特許庁

A power supply device 100 for a test device, which supplies a power supply signal S2(Vdd) to a DUT 1, is provided.例文帳に追加

ＤＵＴ１に電源信号Ｓ２（Ｖｄｄ）を供給する試験装置用の電源装置１００が提供される。 - 特許庁

DEVICE FOR MEASURING AXIAL DISPLACEMENT QUANTITY OF BLADE TIP IN TURBO MACHINE FOR GROUND TEST, AND METHOD FOR USING THE DEVICE例文帳に追加

地上試験にためにターボ機械のブレードの先端の軸方向変位量を測定する装置および装置の使用方法 - 特許庁

A game machine testing device is a device for carrying a pachinko machine 10 and making a functional test for the pachinko machine 10.例文帳に追加

遊技機検査装置は、パチンコ機１０を搬送するとともに、パチンコ機１０の機能検査を行うための装置である。 - 特許庁

A deciding means compares the output signal of the device with the test signal or the output signal of the good device.例文帳に追加

判定手段は、被測定デバイスの出力信号を試験信号又は良品デバイスの出力信号と比較する。 - 特許庁

To provide a testing device for performing an efficient test by preventing writing of an individual pattern unnecessary for a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体メモリデバイスに不要な個別パターンを書き込むことを防ぎ、効率よく試験を行う試験装置を提供する。 - 特許庁