「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(77ページ目) - Weblio英語例文検索

This testing device is equipped with a plurality of test modules for testing a plurality of devices to be tested, and the central processing unit for controlling test operation of the plurality of test modules based on a designated operation mode.例文帳に追加

複数の被試験デバイスの試験を行う複数の試験モジュールと、指定された動作モードに基づいて複数の試験モジュールの試験動作を制御する中央処理装置とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

To make fitness to a specification coincide with the acceptance result of a test, even when the sequence among communication data or there is a change in timing, in the range of the specification in a test to a test object device accompanied by transmission/reception of data.例文帳に追加

データの送受信を伴う試験対象装置への試験において、通信データ間の順序やタイミングが仕様の範囲内で変化した場合でも、仕様への適合性と試験の合否結果を一致させる。 - 特許庁

To provide a test system and a test method for a plant instrumentation device designed for enhancing quality by preventing a human error at work, and reducing cost ranging from lessening workload of a test staff and starting inspection to quality record creation.例文帳に追加

作業時のヒューマンエラーの防止による品質の向上、試験員の負荷軽減及び点検開始から品質記録作成までのコスト削減を図ったプラント計装品の試験システム及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test facilitation circuit capable of carrying out a desired test for a semiconductor device outputting an analog signal in response to parallel data, and specifically capable of carrying out the test using a digitizer of low precision.例文帳に追加

パラレルデータに応じたアナログ信号を出力する半導体装置の所望の試験を容易に行う、具体的には、精度が低いデジタイザを使用して行うことを可能とする試験容易化回路を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device and a semiconductor test method in which handling of data is made easy while test efficiency is improved by reducing quantity of data relayed between processes.例文帳に追加

工程間で引き継がれるデータの量を削減可能にすることで、そのデータの取り扱いを容易にするとともに試験効率の向上を図ることができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

This evaluation device of a test piece is provided with: one fluid supply source 2 for supplying a reaction gas to test pieces 5A-5C; and a changeover valve 10 for selectively connecting the fluid supply source 2 to the respective test pieces 5A-5C.例文帳に追加

供試体５Ａ〜５Ｃに対して反応ガスを供給する一つの流体供給源２と、流体供給源２を各供試体５Ａ〜５Ｃに対して選択的に接続する切替弁１０とを備える。 - 特許庁

When the user listens a plurality of these test listening pieces in test sequentially and selects the test listening piece that he thinks that it is suitable for an image of the question by pressing a selection button 104b on the screen, this selection information is transmitted to the server device.例文帳に追加

ユーザは、これらの複数の試聴曲を順次試聴して、前記質問のイメージに合うと思う試聴曲を画面上の選択ボタン１０４ｂで選択すると、この選択情報はサーバ装置に送信される。 - 特許庁

The test device two-dimensionally moves a video camera for photographing the alignment mark in a plane parallel to the board supported on a test stage and a camera stage of a test station in first and second directions crossing each other.例文帳に追加

検査装置は、アライメントマーク撮影用のビデオカメラを、検査ステーションにおいてカメラステージ、検査ステージに受けられた基板と平行の面内で互いに交差する第１及び第２の方向に二次元的に移動させる。 - 特許庁

To provide a biaxial tension test device which gives tensile force to a thin tabular test piece to obtain experimental data on even stress-strain at the center part in the surface direction of a part to be measured of the test piece.例文帳に追加

薄肉板状の試験片に引張り力を付与し、試験片の被測定部の面方向中央部に均一な応力−ひずみの実験データを得ることができる二軸引張り試験装置を提供する - 特許庁

The circuit board 16 is placed on a test fixing device 18 with a large number of translator plates and translator pins which come into contact with the second surface of the circuit board 16 for transmitting a test signal to an electric test analyzer.例文帳に追加

該回路板は、試験信号を電気試験アナライザーに移すために、該回路板の第２の面に接触する多数のトランスレーター板７８及びトランスレーターピン８２を有する試験固定装置１８に載せられる。 - 特許庁

This cleaning device ejects the cleaning liquid in the cleaning liquid tank 1 from the point of the nozzle 2 provided in the cleaning liquid tank 1 to an erected test tube 3 or a test tube 3 with the bottom inclined upward to clean the test tube 3.例文帳に追加

本発明の洗浄装置は、洗浄液タンク１内の洗浄液を、洗浄液タンク１に設けられたノズル２の先端から、倒立または底を上面に傾斜させた試験管３に噴射させて洗浄する。 - 特許庁

The optical pickup device is tested by evaluating a reproduction signal using at least two or more types of test disks of a first test disk with one recording layer and a second test disk with two recording layers.例文帳に追加

記録層が１層である第１のテストディスクと、記録層が２層である第２のテストディスクとの少なくとも２種類以上のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査するようにする。 - 特許庁

To provide a photoreceptor deterioration acceleration test device capable of efficiently performing a life test (or deterioration test) in a short time while satisfying a necessary photoreceptor passing current condition in accordance with the diameter of a photoreceptor.例文帳に追加

感光体の径に応じ、必要とする感光体通過電流条件を満たしながら、短時間で効率的に寿命試験（あるいは劣化試験）などを行うことが可能な感光体劣化加速試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation method for a gas sensor capable of carrying out a durability test, using an environmental tester, and a durability test device for the gas sensor capable of carrying out the durability test.例文帳に追加

環境試験器を用いて耐久試験を適切に行うことが可能なガスセンサの評価方法、及び、このような耐久試験を行うことが可能なガスセンサの耐久試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The test device 2 includes a setting change unit 5, a test command sequence generating unit 6, an overtaking determination unit 7, a test command sequence changing unit 8, an SW simulator execution unit 9, and an execution result determination unit 10.例文帳に追加

前記試験装置２は、設定変更部５と、試験命令列生成部６と、追い越し判別部７と、試験命令列変更部８と、ＳＷシミュレータ実行部９と、実行結果判定部１０とを備える。 - 特許庁

In a general test, controller software 11 transfer a command stored in a device test program storage part 12 to a thermostatic bath 20 or tester part 30 according to description order of programs to perform a burn-in test.例文帳に追加

コントローラソフトウェア１１は、通常試験の場合には、デバイステストプログラム記憶部１２に記憶されている命令をプログラムの記述順に従って恒温槽部２０又はテスタ部３０に転送してバーンイン試験を行う。 - 特許庁

When testing is carried out for these driving circuits by connecting a test device with a common driving circuit 20 and a segment driving circuit 30, switches 51-55 of a bias circuit 40 are made on by applying a test signal TEST.例文帳に追加

コモン駆動回路２０及びセグメント駆動回路３０に試験装置を接続してこれらの駆動回路の試験をするとき、試験信号ＴＥＳＴを印加してバイアス回路４０のスイッチ５１〜５５をオンにする。 - 特許庁

To provide an environmental testing device for suppressing surely supply of the outside air containing moisture into a closed space inside a closed space constitution part constituting a test tank, when starting a test from a low-temperature test.例文帳に追加

低温試験から試験を始める場合に試験槽を構成する閉空間構成部の内部の閉空間に湿気を含んだ外気が供給されるのを確実に抑制することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sound interface mechanism which has a simple structure and has good sound shield characteristics, a coupler for speech test which is made small-sized and can be applied to a mass production line, and a speech test device applying the coupler for speech test.例文帳に追加

簡易な構造で音響シールド特性がよい音響インタフェース機構、小型で量産ライン内に適用可能な通話試験用カプラ及び該通話試験用カプラを適用する通話試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a pattern transfer time by minimizing the number of times of test pattern transfer from a buffer memory to a local memory, following a measurement sequence by a test program, and to thereby shorten the measuring time, in a function test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の機能テストに際して、テストプログラムによる測定シーケンスにしたがうバッファメモリからローカルメモリへのテストパターン転送回数を最小化してパターン転送時間を削減し、測定時間を短縮する。 - 特許庁

A semiconductor device includes a test object circuit (700), scan chains (650) that enable scanning of the test object circuit, and a first random generation circuit (100) that forms a test pattern supplied to the scan chains.例文帳に追加

テスト対象回路（７００）と、上記テスト対象回路のスキャンを可能とするスキャンチェイン（６５０）と、上記スキャンチェインに供給されるテストパタンを形成するための第１乱数発生回路（１００）とを設ける。 - 特許庁

The testing device having a plurality of replaceable test modules that supply test signals to devices to be tested is emulated to verify a testing environment without use of the real items such as the devices to be tested and the test modules.例文帳に追加

試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する交換可能な複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートし、被試験デバイスや試験モジュール等の実物を用いることなく試験環境を検証する。 - 特許庁

To provide a performance test support device for easily and accurately grasping improvement circumstances by the tuning of this system based on a plurality of number of times of performance test results in the same test contents.例文帳に追加

同一試験内容における複数回の性能試験結果に基づき、システムのチューニング等による改善状況を容易かつ的確に把握させることを可能とする性能試験支援装置を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor integrated circuit test system performing test of a device X being measured under test conditions corresponding to the ambient temperature, the detection value of a temperature sensor 2a for detecting the ambient temperature at the time of test is compared with a prestored temperature evaluation value and the device X being measured is tested by setting specific test conditions depending on the comparison results.例文帳に追加

周囲温度に応じた試験条件で被測定デバイスＸの試験を実行する半導体集積回路試験装置であって、試験時の周囲温度を検出する温度センサ２ａの検出値を予め記憶された温度評価用しきい値と比較照合し、当該比較照合の結果に応じて特定の試験条件を設定して被測定デバイスＸを試験する。 - 特許庁

In the network test system for transmitting a test frame to a frame exchange device and detecting the alteration error, a pseudo random pattern is inserted into the payload part of the test frame and the value of a pseudo random pattern insertion position is added to an additional information part for test.例文帳に追加

試験フレームをフレーム交換装置に送信して改変エラーを検出するネットワーク試験システムにおいて、前記試験フレームのペイロード部に擬似ランダムパターンを挿入し、試験用付加情報部に擬似ランダムパターンを挿入した位置の値を付加したことを特徴とするもの。 - 特許庁

When the results of the first test are a failure, another piece is selected by the register controller 9 from the multiple pieces of information on test conditions stored in the hardware register 3, and the second test of the device 30 is conducted based on the information on test conditions selected.例文帳に追加

一回目の試験の結果がフェイルである場合、ハードウェア・レジスタ３に格納された複数の試験条件情報のうちの他の一つをレジスタ・コントローラ９で選択し、その選択された試験条件情報に基づいて被試験デバイス３０の二回目の試験を行う。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the event pulse generating part is provided with an address generating means for generating an event pulse to make a plurality of prescribed test items executable continuously, and the storage memory, in a test execution mode where a test for a DUT is executed in order along the plurality of divided test items.例文帳に追加

ＤＵＴの試験実施が複数の試験項目に分割して順次実施される試験実施形態のとき、イベントパルス発生部は所定複数の試験項目が連続的に実施可能とするイベントパルス発生用のアドレス発生手段と格納メモリとを備える、半導体試験装置。 - 特許庁

In an environmental test apparatus that comprises an environmental test room 12 where a vehicle M is placed on chassis dynamometers 11 and then an environmental test is performed, an electric heater type device 15 for radiating heat to a road surface is provided that is capable of moving and heating a vehicle M from below, in the environmental test room 12.例文帳に追加

シャーシダイナモメータ１１上に自動車Ｍを配置して環境試験を行う環境試験室１２を備えた環境試験装置において、環境試験室１２内部に、自動車Ｍを下方から加熱する移動可能な電気ヒータ式路面輻射装置１５を設けた環境試験装置。 - 特許庁

An automatic grip chuck device 4 with a ruptured sample removal function of this invention comprises upper, lower automatic grip chuck parts 4A, 4B for gripping automatically and respectively both end sides of the test sample 12 performed tensile test and for performing the tensile test of the test sample 12.例文帳に追加

本発明の破断サンプル除去機能付き自動把持チャック装置４は、引張り試験を行う試験サンプル１２の両端側をそれぞれ自動的に把持するとともに、該試験サンプル１２の引張り試験を行うための上部，下部自動把持チャック部４Ａ，４Ｂを備えている。 - 特許庁

To solve the following problem: test costs such as test time and test program development man-days increase, and human errors increase due to test program complications, because control by individual chips becomes necessary in the case where a plurality of chips are simultaneously measured by an external device, because trimming data is a random data peculiar to each chip.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁

To provide a software test support device, a software test support method and a program, for extracting information on a GUI (Graphical User Interface) such as a direct button from an application and determining a factor or a level so as to create a test item of the application having the GUI, and automatically executing a test.例文帳に追加

ＧＵＩを持つアプリケーションのテスト項目作成のため、当該アプリケーションから直接ボタン等のＧＵＩに関する情報を抽出して因子・水準を決定し、テストの実行を自動的に行うソフトウェアテスト支援装置、ソフトウェアテスト支援方法、及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a test method of side slip or the like of a vehicle and its testing device having a simple formation and a small size, capable of improving test precision by releasing before the test an initial stress of wheels loaded on a test roller, being manufactured inexpensively, and improving its service life.例文帳に追加

テスト用ローラに乗り込んだ車輪の初期応力を試験前に解放し、試験精度の向上を図るとともに、構成が簡単で小形かつ安価に製作でき、その寿命の向上を図れるようにした、車両のサイドスリップ等の試験方法及びその試験装置の提供。 - 特許庁

The printing processing means conserves a test chart in the storage section 36 when the test chart as image data for image quality adjustment of the printing means is inputted from an external device by an input and output section 22 and registers the identifier of the test chart in a test chart list holding section 38.例文帳に追加

印刷処理手段は、外部装置から前記印刷手段の画質調整用の画像データであるテストチャートが入出力部２２により入力された際にその記憶部３６に保存を行うとともに、テストチャートの識別子をテストチャートリスト保持部３８に登録する。 - 特許庁

The control device controls the heating hot water supply part 1 to execute boiling-up test operation for checking the operation of the heating hot water supply part 1, and stores a test operation completing flag to be in an established condition showing that the boiling-up test operation is completed when the boiling-up test operation is completed.例文帳に追加

制御装置は、加熱給湯部１を制御して加熱給湯部１の動作を確認するための沸き上げ試運転を行わせ、沸き上げ試運転が完了した場合には沸き上げ試運転が完了したことを示す沸き上げ試運転完了フラグを成立状態として記憶する。 - 特許庁

The IC tester is acquired by improving the IC tester wherein a tester controller in which a test program is operated is communicated with a card on which a hardware function for executing a test by accessing a test object device is mounted, and a test command is transmitted from the tester controller to a firmware for controlling the hardware function in the card.例文帳に追加

テストプログラムが稼動するテスタコントローラと、テスト対象デバイスにアクセスしてテストを実行するハードウェア機能が実装されたカードとが通信し、カード内のハードウェア機能を制御するファームウェアに対してテスタコントローラよりテスト指令が送信されるＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

A black panel assembly for an accelerated weathering test device having the test piece table is provided with a platform having a plurality of support legs and one attaching face and arranged on the test piece table, the plurality of support legs lays the attaching face in an elevated position with respect to the test piece table.例文帳に追加

試験片テーブルを有する促進耐候性試験装置用ブラックパネルアセンブリが、複数の支持脚および１つの取付面を有する、前記試験片テーブル上に配置されたプラットホームを具備し、前記複数の支持脚は、前記試験片テーブルに対して前記取付面を高設する。 - 特許庁

Since the test head does not interfere with the member of the prober body, while the test head is being rotated or lowered, the test head can be surely mounted on the prober body, thereby the hinge mechanism of the test head can be loaded on the upper surface of the prober body; and thus the device can be reduced in size.例文帳に追加

テストヘッドの回転中や下降中にプローバ本体の部材にテストヘッドが干渉しないので、テストヘッドをプローバ本体に確実に装着することができ、そのためにテストヘッドのヒンジ機構をプローバ本体の上面に搭載でき、従って装置の小型化を図ることができる。 - 特許庁

Based on a test method D102 specified from the outside, data of an unnecessary test point is deleted from the design data stored in the storage device 700 by a test point delete section K104, and design data D103 including no unnecessary test point is output by a data output section K105.例文帳に追加

そして、外部から指定されたテスト手法Ｄ１０２に基づいて、記憶装置７００に格納された設計データから、不要なテストポイントのデータがテストポイント削除部Ｋ１０４により削除され、不要なテストポイントを含まない設計データＤ１０３が、データ出力部Ｋ１０５により出力される。 - 特許庁

In the test pattern generation supporting device 310, if the acquisition part 311 acquires the connection information 301 of testing circuit 200 and a path exempt out of test, the detection part 312 detects paths between all FFs constituting the test objective circuit 200, and forms the extra test objective path list 400.例文帳に追加

テストパターン生成支援装置３１０では、取得部３１１がテスト対象回路２００の接続情報３０１およびテスト対象外パスが取得された場合、検出部３１２はテスト対象回路２００を構成する全ＦＦ間のパスを検出し、テスト対象外パスリスト４００を作成する。 - 特許庁

This device is provided with a compression means for forming only the change portion from the previous pattern, while paying attention to a test pattern file used for a semiconductor test every pattern vector, to compress the test pattern file, and a memory means for storing the test pattern file compressed by the compression means.例文帳に追加

また、半導体の試験に使用するテストパターンファイルをパターンベクタ毎に着目し、前のパターンベクタからの変更分のみをファイル化して上記テストパターンファイルの圧縮を行う圧縮手段と、該圧縮手段で圧縮されたテストパターンファイルを記憶する記憶手段とを備える。 - 特許庁

This steel product end automatic flaw detection device is characterized by enabling flaw guarantee of the whole length by rotating once a test material or a sensor, moving the test material or the sensor as much as the inspectable width of the sensor in the axis direction of the test material, and rotating once again the test material or the sensor.例文帳に追加

被検材またはセンサーが１回転した後に、被検材またはセンサーを被検材の軸方向にセンサーの探傷可能な幅分だけ移動させ、再度１回転させることにより全長の疵保証を可能としたことを特徴とする鋼材端部自動探傷装置。 - 特許庁

An automatic test device 1 includes a test procedure execution engine part 12 for performing the automatic test of a picture program 23 of a programmable display unit 2 by reading a test scenario 11 in which the operation procedure of the programmable display unit 2 and a procedure for confirming the response display state and the timing are written.例文帳に追加

自動試験装置１は、プログラマブル表示器２の操作手順とその応答表示状態を確認するための手順とそのタイミングを記した試験シナリオ１１を読み込んで同表示器２の画面プログラム２３の自動試験を行う試験手順実行エンジン部１２を含む。 - 特許庁

The test device 1 has a feedback loop where a signal of a node N13 on the output side of the multiplexer MUX1 is inputted into a test signal generating section 6 of the test circuit 5, and is inputted to one of the input sides of the multiplexer MUX1 via a test signal generating section 6.例文帳に追加

マルチプレクサＭＵＸ１の出力側のノードＮ１３の信号が試験回路５のテスト信号発生部６に入力され、その信号がテスト信号発生部６を介してマルチプレクサＭＵＸ１の入力側の一方に入力される帰還ループが形成されている。 - 特許庁

This event type test system has a plurality of pin units assigned to a device pin to be tested, a test finishing signal generator for generating a signal for indicating finishing of the test for a corresponding pin unit independently of the other pin unit, and a system controller for controlling an entire operation of the event type test system.例文帳に追加

イベント型テストシステムは、被試験デバイスピンに割り当てられる複数のピンユニットと、対応するピンユニットについてのテストの終了を示す信号を他のピンユニットと独立して発生するテスト終了信号発生器と、イベント型テストシステムの全体的動作を制御するシステムコントローラとを有する。 - 特許庁

The adapter device for an IC tester, which is detachably electrically connected to a test head and electrically connected to a target under test, has an exclusive OR circuit for subjecting a plurality of digital signals from the test head to an exclusive OR operation and outputting the result to the target under test.例文帳に追加

本発明は、テストヘッドに着脱可能に電気的に接続し、被試験対象に電気的に接続するＩＣテスタのアダプタ装置であって、テストヘッドからの複数のデジタル信号を排他的論理和して被試験対象に出力する排他的論理和回路を有することを特徴とするものである。 - 特許庁