「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(74ページ目) - Weblio英語例文検索

The device comprises: a light source 5 which is placed on one side of the test object 3 and radiates light to the test object 3; and imaging means 1 which is placed on the other side of the test object 3 and captures the image corresponding to the transmitted beam through the test object 3.例文帳に追加

そして、検査対象３の一方の面側に配置され検査対象３に光を照射する光源５と、検査対象３の他方の面側に配置され検査対象３を透過した光に応じた画像を撮像する撮像手段１と、を備えている。 - 特許庁

To solve the problem that since trimming data are random data unique to each chip, when a plurality of chips are measured simultaneously by an external device, individual control of chips is required, a test time, a test cost such as man-hour for test program development, and human errors due to complication of a test program are increased.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁

A DB retrieving part 9 retrieves a test execution situation stored in the DB 8, and a test place to a test object program module is presented by such a manner that information notified a test place outputting part 10 is supplied to a program module testing device 11.例文帳に追加

ＤＢ検索部９によってＤＢ８に記憶された試験実施状況が検索され、試験箇所出力部１０に通知された情報がプログラムモジュール試験装置１１に供給されることで試験対象プログラムモジュールに対する試験箇所が提示される。 - 特許庁

To provide a function verification device, a test bench, a simulator program, and a storage medium for avoiding unintended register setting in each verification work and allowing a test designer to design a test without taking register competition with the other test into consideration.例文帳に追加

それぞれの検証作業で意図しないレジスタ設定となることを回避することができ、テスト設計者は他のテストとのレジスタ競合を考えることなくテストを設計することができる機能検証装置、テストベンチ、シミュレータプログラム及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a printer which can suppress a test printing time and an increase of consumption of printing sheets without requiring fixed form printing control exclusive for test printing in the case of carrying out test printing of fixed form printing, and to provide a printing method of test printing and a POS terminal device.例文帳に追加

定形印刷のテスト印刷を実行する場合に、テスト印刷専用の定形印刷制御を必要とせず、テスト印刷時間と印刷用紙の消費の増加とを抑制できる、印刷装置、テスト印刷の印刷方法、及びＰＯＳ端末装置を提供する。 - 特許庁

To provide an airtightness test management system, a mobile device for airtightness test, a computer for airtightness test management, and an airtightness test management method, for inhibiting an unjust act from being made by an airtightness inspector to enhance credit worthiness of airtightness inspection results.例文帳に追加

気密検査員による不正行為を抑止することができ、気密検査結果に対する信用度を高めることが可能な気密検査管理システム、気密検査用モバイル装置、気密検査管理用コンピュータ及び気密検査管理方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a vibration test system capable of exciting simultaneously in each direction of xyz-axes of a test body only by a vibration test in one direction, and exciting to acquire desired accelerations in each direction of the xyz-axes of the test body, by using a uniaxial vibration testing device.例文帳に追加

一軸振動試験装置を用いて、一方向への振動試験のみで被試験体のｘｙｚ軸の各方向に同時に加振でき、被試験体のｘｙｚ軸の各方向に所望の加速度が得られるように加振可能な振動試験システムを提供すること。 - 特許庁

When a microcomputer 2 outputs measurement data stored in a data compression circuit 17 composed of a linear feedback register to this test device 3, by shifting out the measurement data in synchronism with monitor clock signals outputted from the test device, test data outputted from all the microcomputer 2 are synchronously read to the test device 3.例文帳に追加

マイクロコンピュータ２が、リニアフィードバックレジスタからなるデータ圧縮回路１７に格納された測定データをテスト装置３に出力する際に、テスト装置から出力されるモニタクロック信号に同期して測定データをシフトアウトすることにより、全てのマイクロコンピュータ２から出力される試験データを同期させてテスタ装置３に読み込むことができる。 - 特許庁

Subsequently, a light transmitting detection means 90 detects a missing dot in the test pattern printed on the surface of a test medium 32 based on the pattern recognition results from a light receiving device 70 of a light emitted from a light emitting device 80 and passing through the test media 32 discharged from the subplaten 12 while being printed with the test pattern and reaching the light receiving device.例文帳に追加

次いで、発光装置８０から発せられて、サブプラテン１２上から排出されたテストパターンがプリントされたテストメディア３２を透過して、受光装置７０に到達する、該受光装置が認識する光のパターンの認識結果から、テストメディア３２表面にプリントされたテストパターンのドット抜けを、光透過型の検知手段９０により検知する。 - 特許庁

To reduce the influence of thermal jitter generated in the starting of an auxiliary circuit in a semiconductor device testing device constituted so as to perform a test by applying a test signal to a semiconductor device to be tested through the auxiliary circuit.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに対して補助回路を通して試験信号を印加し、試験を行う構成とした半導体デバイス試験装置において、補助回路の起動時に発生する熱ジッタの影響を低減する。 - 特許庁

To provide a probe card and a test method of a device to be inspected, wherein bumps which do not join a package substrate during a reflow time are not generated, even when each height of an electrode group of a device has a difference, and to provide a test method for a device to be inspected.例文帳に追加

デバイスの電極群の高さに差が生じている場合であっても、リフロー時にパッケージ基板と接合しないバンプが発生することのない、プローブカード及び被検査装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test system for quickly investigating the cause of a failure and preventing the use of a semiconductor device in a testing or packing process when the failure occurs to manage the test result of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体製造の検査結果の管理において、不良発生時の原因究明を迅速に行い、且つテスト工程や梱包工程への半導体装置の誤投入を防ぐ、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁

To provide a connection device preventing electric shock on an operator when connecting a specimen to a simulator on the test device side, or when separating electrically the specimen from the simulator, and also to provide the test device therefor.例文帳に追加

試験装置側のシミュレータに供試体を接続するとき、あるいは、シミュレータから供試体を電気的に切り離すときに、作業者への感電を防止することができる接続装置及びその試験装置を提供すること。 - 特許庁

The semiconductor memory device includes a test circuit for generating leakage current in the semiconductor memory device in a standby state in response to a test mode signal and a standby signal that provides standby state information of the semiconductor memory device.例文帳に追加

本発明は、テストモード信号及び半導体メモリ装置のスタンバイ状態情報を提供するスタンバイ信号に応じて、スタンバイ状態で前記半導体メモリ装置に漏れ電流を発生させるテスト回路を含む。 - 特許庁

According to such a device test method, the electrical characteristics of the semiconductor device are tested with high precision without damaging the semiconductor device.例文帳に追加

このような素子試験方法によれば、半導体素子に損傷が与えられず、且つ半導体素子の電気的特性が高精度に試験される。 - 特許庁

To obtain a much information on a semiconductor device determined as a defective, in a burn-in testing device for executing heating test of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスを加熱試験するバーンイン試験装置において、不良品と判定された半導体デバイスについて多くの情報を得る。 - 特許庁

A load torque is applied to the first test gear 16 by a torque application device 46, and a load torque is applied to the second test gear 18 by a torque application device 48, and adjustment is performed so that the first test gear 16 and the second test gear 18 are balanced mutually statistically in a non-operation state, thus each load torque generated in each test gear becomes only each torque caused by each torque application device.例文帳に追加

第１試験歯車１６にはトルク付与装置４６によって負荷トルクを付与し、第２試験歯車１８にはトルク付与装置４８によって負荷トルクを付与し、非作動状態において、第１試験歯車１６および第２試験歯車１８が互いに静的に釣り合うように調整することで、それぞれの試験歯車に生じる負荷トルクは、トルク付与装置によるものだけとなる。 - 特許庁

This semiconductor testing device has a semiconductor testing circuit 101 having a driver 110 for making and outputting a test signal corresponding to a test pattern to a test object device 20, replica drivers 120 and 130 for generating a comparison signal by synthesizing the test signal and a reference signal and resistances 122a, 122b, 132a and 132b.例文帳に追加

本発明にかかる半導体試験装置は、試験パターンに対応する試験信号を生成し試験対象装置２０に出力するドライバー１１０と、試験信号と基準信号とを合成した比較信号を生成するレプリカドライバー１２０，１３０および抵抗１２２ａ，１２２ｂ，１３２ａ，１３２ｂとを備えた半導体試験回路１０１を有する。 - 特許庁

The chip test machine for testing all 6 surfaces comprises a still belt including a first test part for simultaneously testing 3 surfaces of the chip, a reversal device for reversing the chips discharged out of the first test part, and a second test part for simultaneously testing another 3 surfaces of the chips reversed by the reversal device.例文帳に追加

チップの六面を検査するチップ検査機において、チップの３面を同時に検査する第１検査部；第１検査部から排出されたチップを反転させる反転装置；反転装置から反転されたチップの他の３面を同時に検査する第２検査部を含むスチルベルトが備えられたチップ検査機とする。 - 特許庁

To test by a few operators coping with the field, and to test efficiently, accurately and quickly by operating a test terminal by a single operator, when performing an operation test of a comparison protection relay device represented by a transmission line differential current type protection relay device installed in an adjacent power station.例文帳に追加

隣接する電気所に設置される送電線差動電流式保護継電装置代表される比較保護継電装置の動作試験をするにあたり、少ない現場対応要員で試験可能であり、試験端末を一人で操作することにより、試験が効率的に、正確に、迅速に行うことができること。 - 特許庁

To obtain a gaseous corrosion testing device capable of performing a gaseous corrosion test, while performing a hygrothermal cycle test without forming dew on a wall surface of a test tank, capable of improving the gas concentration stability in the test tank and the reproducibility of test results, and capable of performing the hygrothermal cycle test under an atmosphere where gas concentration is controlled at all times.例文帳に追加

この発明は、試験槽内の壁面に結露を生じることなく温湿度サイクル試験を行いながらガス腐食試験を行うことができ、試験槽内のガス濃度の安定性および試験結果の再現性を向上することができ、常にガス濃度を管理されているガス雰囲気下で温湿度サイクル試験を行うことができるガス腐食試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

This method includes a step in which a reinitialization mode is performed without verifying the recording and reproducing device by using a disk for test having test reference information and test information is subsequently generated from generated defect management information, and a step in which reference information predicted by the test reference information is compared with the test information and verification results about the test information is provided.例文帳に追加

テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検証をせずに再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device for driving a magnetic recording and reproducing device and a magnetic recording and reproducing device, where the circuit device can be put into a test mode by inputting a test signal for putting each function of the semiconductor integrated circuit device into the test mode to a terminal to be used at ordinary operation.例文帳に追加

半導体集積回路装置の各機能のテストモードにするためのテスト信号を通常動作時に使用される端子に入力することによって、半導体集積回路装置をテストモードにすることのできる磁気記録再生装置ドライブ用半導体集積回路装置及び磁気記録再生装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To suppress the vibration of a model under ventilation in a vibration suppressing device for wind tunnel test model.例文帳に追加

風洞試験模型の振動抑制装置に関し、通風中の模型の振動を抑制する。 - 特許庁

To obtain a mobile phone voice input test device with a high efficiency without losing the operability.例文帳に追加

効率性が高く、且つ作業性を損なわない携帯電話機音声入力試験装置を得る。 - 特許庁

To perform easily automatic self-test and diagnosis of an electromechanical type lock device without operation of an operator.例文帳に追加

オペレータの介入なしに電気機械式ロック装置の自動自己試験及び診断を容易にする。 - 特許庁

A test pattern 34A is inputted in maximum paper size that can be processed by the image forming device 16.例文帳に追加

テストパターン３４Ａは画像形成装置１６が処理可能な最大用紙サイズに入力する。 - 特許庁

DEVICE FOR OPENING DOOR OF CLIMATIC TEST CABINET, INCUBATOR, ENVIRONMENTAL SIMULATION CHAMBER, FREEZER OR THE LIKE例文帳に追加

気候試験キャビネット、培養器、環境シミュレーションチャンバ、または冷凍庫などのドアを開くための装置 - 特許庁

To provide a leak test device capable of specifying with high accuracy a leak position generated in a measuring object.例文帳に追加

被測定物に生じたリーク位置を精度高く特定できる漏れ試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CONFIRMING DEFECT MANAGEMENT AREA INFORMATION OF OPTICAL DISK AND TEST DEVICE FOR PERFORMING THE SAME例文帳に追加

光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びこれを行うためのテスト装置 - 特許庁

ADMINISTRATION METHOD AND ADMINISTRATION DEVICE OF FLUID INTO RECEPTACLE CHANNEL OF TEST ELEMENT FOR BODY FLUID ANALYSIS例文帳に追加

流体を体液分析用のテストエレメントの受承流路内に投与する方法および投与装置 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a mode is hard to be entered to a test mode in normal use.例文帳に追加

通常使用中にはテストモードにエントリーされにくい半導体装置を提供することにある。 - 特許庁

To reduce a cost required for a test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験に要するコストを低減することができるテストモード設定回路を提供する。 - 特許庁

This performance test device 100 has a workpiece palette 120 for supporting the valve body VB.例文帳に追加

性能試験装置１００は、バルブボデーＶＢを支持するためのワークパレット１２０を備えている。 - 特許庁

To provide a wiring switching device which can switch the test wiring of a switchboard easily.例文帳に追加

配電盤の試験配線を容易に切替えることが可能な配線切替装置を提供する。 - 特許庁

To provide an elevator balance adjusting device capable of shortening the working time without using any test weight.例文帳に追加

テストウエイトを用いることなく作業時間を短縮するエレベータの秤調整装置を得る。 - 特許庁

To provide a pressure-sensitive sensor testing device for effectively performing an accurate test.例文帳に追加

精度の高い試験を効率的に実施することが可能な感圧センサ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device capable of shortening a test time of a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップのテスト時間を短縮可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device reduced in test cost and improved in accuracy of failure analysis.例文帳に追加

テストコストの低減及び不良解析の精度向上を図った半導体装置を提供する。 - 特許庁

The test device 100 performs conditional branch processing depending on the N second determination signals.例文帳に追加

試験装置１００は、Ｎ個の第２判定信号に応じて条件分岐処理を実行する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR FORMATTING DATA AUTOMATICALLY BASED ON BEST MATCHED TEST RESULT TYPE例文帳に追加

最も適合する試験結果タイプに基づいて自動的にデータをフォーマットする方法及び装置 - 特許庁

DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR SUPPORTING GENERATION OF TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターン生成支援装置、テストパターン生成支援方法、テストパターン生成支援プログラム、および記録媒体 - 特許庁

TEST INFORMATION MANAGEMENT SYSTEM, DEVICE, METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

試験情報管理システム、試験情報管理装置、試験情報管理方法及び試験情報管理プログラム - 特許庁

To provide a fatigue testing device capable of executing a fatigue test by load in actual conditions.例文帳に追加

実機条件の負荷による疲労試験を実施することが可能な疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a Fretting corrosion testing device capable of implementing micro-sliding wear test correctly.例文帳に追加

微摺動摩耗試験を正確に行うことができるフレッチング腐食試験装置を提供する。 - 特許庁