「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(78ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a network testing apparatus which when testing whether or not a relay device for establishing an Ethernetwork mounts an Ethernet-OAM, easily carries the test and carries out the test only with the relay device which is minimally necessary for a various test.例文帳に追加

イーサネットワークを構築する中継装置がＥｔｈｅｒｎｅｔ−ＯＡＭを実装しているか否かを試験するのに際して、簡単に試験を実施することが可能であることと、各種試験に必要な最低限の中継装置のみで試験を実施することを課題とする。 - 特許庁

This system detects the existence of the hindrance of the path that the above optical signal for a test has passed, by receiving this looped-back optical signal for a test with the network node device 10a at the root of transmission and determining the quality of the optical signal for a test with a determining device 11a.例文帳に追加

このループバックされた試験用光信号を送信元のネットワークノード装置１０ａが受信し、判定装置１１ａで試験用光信号の信号品質を測定することにより、試験用光信号が通過した経路の障害の有無を検出する。 - 特許庁

To provide an accelerated surface deterioration test method capable of reproducing the surface deterioration sufficiently in a short time, and a accelerated surface deterioration test device capable of performing the test method with a simple device configuration.例文帳に追加

試料の劣化状態を短期間で十分に再現可能な表面状態劣化促進試験方法、並びに、簡単な装置構成で前記表面状態劣化促進試験方法を実施可能な表面状態劣化促進試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a foreign matter inspection device that can cope with shape variation of a test object without needing detection of positional deviation of the test object, and can cope with minute shape variation due to the positional deviation of the test object on a transporting device such as a conveyer.例文帳に追加

検査対象の形状バラツキに対応でき、検査対象の位置ズレ量を検出する必要がなく、また、コンベア等の搬送装置上での検査対象の位置のバラツキによる微細な形状変化にも対応できる異物検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a forming method of a developable test program tool for allowing even an inexperienced engineer to make a test pattern program in a short period in the forming method and the device of the developable test program tool, and a device thereof.例文帳に追加

本発明は展開型試験プログラムツールの生成方法及び装置に関し、経験の浅い技術者でも短期間でテストパターンプログラムを作成することができる展開型試験プログラムツールの生成方法及び装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

At a request from a terminal device 1973, the transmission device 1970 sends a request to transfer the specific contents data for test viewing to the terminal device 1971 and the specific contents data for test viewing are transferred from the terminal device 1971 to the terminal device 1973.例文帳に追加

端末装置１９７３からの要求に応じて、送信装置１９７０は、端末装置１９７１に上記所定の試し視聴用のコンテンツデータの転送要請を出し、端末装置１９７１から端末装置１９７３に上記所定の試し視聴用のコンテンツデータが転送される。 - 特許庁

This test equipment for a memory device has a pattern generator 60, a pin data selector 70, a waveform forming device 30, a memory device insertion section 40, and a comparator 50.例文帳に追加

本発明によるメモリデバイス装置は、パターン発生器６０、ピンデータセレクタ７０、波形整形器３０、メモリデバイス差込部４０および比較器５０を有する。 - 特許庁

A carrying device 26 transfers a semiconductor device 12 and makes a terminal 14 of the semiconductor device 12 contact a test contact point 16 of a socket 18.例文帳に追加

搬送装置２６は、半導体デバイス１２を搬送し、半導体デバイス１２の端子１４とソケット１８の試験用接点１６を接触させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor defect analysis support device which supports improvement of fail bit map preparation efficiency in the test device of a semiconductor device, and a support method.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト装置におけるフェイルビットマップ作成効率の向上を支援する半導体不良解析支援装置および支援方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a testing method for the semiconductor device and tester for the semiconductor device, capable of realizing a high speed timing test at a low cost.例文帳に追加

低コストで高速なタイミングテストを実現できる半導体装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a loading test device of an seismic isolation device capable of being mounted with a load in a vertical direction following the horizontal deformation of the seismic isolation device.例文帳に追加

免震装置の水平変形に追随しながら鉛直方向に荷重を載荷することができる簡素な免震装置の加力試験装置を提供する。 - 特許庁

This semiconductor testing device 1 tests a semiconductor device 40 based on a signal acquired by applying test signals S1-Sn to the semiconductor device 40.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体デバイス４０に試験信号Ｓ１〜Ｓｎを印加して得られる信号に基づいて半導体デバイス４０の試験を行う。 - 特許庁

The measuring device is composed of the pressure sensing device inserted into the pit for the test of the frozen ground and an instrument receiving a detecting signal transmitted from the pressure sensing device.例文帳に追加

凍結地盤の試験用孔の中に挿入される感圧装置と、感圧装置から発信された検出信号を受信する計測装置とから成る。 - 特許庁

To monitor power supply voltage supplied to a measured device 80 with an external connecting device 60 still put in the connecting state while a device test is performed.例文帳に追加

デバイス試験の実行中、外部接続機器６０を接続させた状態のまま、被測定デバイス８０に供給されている電源電圧のモニタを可能とする。 - 特許庁

An analyzing means analyzes an operation mode of the device from the test signal to be supplied to the device or the output signal of the device.例文帳に追加

解析手段は、被測定デバイスへ供給される試験信号又は良品デバイスの出力信号から、被測定デバイスの動作モードを解析する。 - 特許庁

DEVICE CONNECTED TO FIBER CHANNEL, MARGIN TEST METHOD FOR THIS DEVICE, FAILURE SITE SPECIFYING METHOD FOR SYSTEM PROVIDED WITH DEVICE CONNECTED TO FIBER CHANNEL例文帳に追加

ファイバーチャネルに接続されるデバイス、及びこのデバイスのマージンテスト方法、並びに、ファイバーチャネルに接続されるデバイスを有するシステムの障害部位特定方法 - 特許庁

To provide a trunked system capable of testing a radio terminal device by switching the device to a test mode remotely from a base station device.例文帳に追加

本願発明は、基地局装置から遠隔で無線端末装置をテストモードに切り替えてテストをすることのできるトランクドシステムの提供を目的とする。 - 特許庁

To confirm whether an accessory device is effective and can be supported before power is supplied to the accessory device when the accessory device is connected to measuring test machinery.例文帳に追加

測定試験機器にアクセサリ・デバイスが接続された際、このデバイスに電力を供給する前に、このデバイスが有効で支援可能であるか否かを確認する。 - 特許庁

To provide a test device capable of inspecting the characteristics of a semiconductor device provided with a plurality of power supply pins to a power supply environment.例文帳に追加

複数の電源ピンを備える半導体デバイスの、電源環境に対する特性を検査可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device testing equipment capable of constantly maintaining a contact pressure for a device as a test object at an optimal value.例文帳に追加

被試験対象のデバイスに対するコンタクト圧力を、常に最適値に維持することが可能なデバイス試験装置を実現する。 - 特許庁

The control unit executes the radio device measuring instrument control program to instruct the radio device measuring instrument to perform the test and adjustment.例文帳に追加

制御部は、前記無線機測定器制御プログラムを実行して、前記無線機測定器に前記試験・調整の指示を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor device allowing a test even under the condition where the device is mounted on an electronic equipment to be used by an end user.例文帳に追加

電子機器に実装されエンドユーザによって使用されていてもテストを行うことができる半導体装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus for a power device, which is capable of suppressing damage to an electrode of the power device to be tested and is easy to maintain.例文帳に追加

テスト対象のパワーデバイスの電極の損傷を抑制できかつメインテナンスが容易な、パワーデバイスのテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing circuit that can realize a high- speed test for semiconductor device even by using a low-speed testing device.例文帳に追加

低速の試験装置を使用しつつも半導体装置の高速試験を可能にした半導体試験回路を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for sealing devices capable of performing a performance test, in matching with the actual usage conditions of a sealing device.例文帳に追加

シール装置の実際の使用条件に合わせて性能試験を行うことができるシール装置用の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a measuring device having high reliability of an electric characteristic test, capable of testing in a short time.例文帳に追加

電気的特性試験の信頼性が高く、短時間で試験可能な半導体試験装置および測定装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device 10 is provided with the test circuit 14 for observing the internal signal by outputting the internal signal out of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置は、内部信号を半導体装置の外部へ出力して観測するためのテスト回路を備えている。 - 特許庁

REPAIR DEVICE AND ITS REPAIR METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE SELECTIVELY PROGRAMMED IN TEST OF WAFER LEVEL OR POST PACKAGE例文帳に追加

ウェーハレベルのテストまたはポストパッケージのテストで選択的にプログラムされる半導体メモリ装置のリペア装置及びそのリペア方法 - 特許庁

The printed-board mounting device is one obtained by improving a printed-board mounting device in which a printed board is attached to a contact pin at a test head.例文帳に追加

本発明は、テストヘッドのコンタクトピンにプリント基板を取り付けるプリント基板取付装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide an exposure device, tilt equipment, a method for conducting a tilt convergence test, and a device manufactured by the same.例文帳に追加

露光装置、傾斜機器、傾斜集束試験を実行するための方法及びそれによって製造されたデバイスを提供すること。 - 特許庁

The distortion correction device 14 is provided with a test video display means 16, a coordinate entry device 18, a pointer 20 and a distortion correction circuit 22.例文帳に追加

歪み補正装置は、テスト映像表示手段１６、座標入力装置１８、ポインタ２０、歪み補正回路２２を備える。 - 特許庁

In order to confirm that a monitoring device 150 is normally functioning, a function test is automatically executed within the monitoring device.例文帳に追加

監視デバイス１５０が正常に機能していることを確認するために、監視デバイス内で自動的に機能テストが実行される。 - 特許庁

This tester 100 controls the temperature of a device 120 under test in testing electrical characteristics of the device 120.例文帳に追加

試験装置１００は、被試験デバイス１２０の電気的特性試験を行う際に、被試験デバイス１２０の温度を制御する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING FUSION BONDING TEST PIECE, AND DEVICE AND METHOD FOR MEASURING FUSION BONDING FORCE例文帳に追加

融着試験片製造装置および融着試験片製造方法、ならびに融着力測定装置および融着力測定方法 - 特許庁

The device-independent image data set of the printed test image is compared with the device-independent image data set of the sample image.例文帳に追加

印刷されたテスト画像の、装置に依存しない画像データ組と、見本画像の、装置に依存しない画像データ組を比較する。 - 特許庁

To provide a method and a device for rapidly and sensitively measuring an microorganism being an object of a microorganism test in a detecting device.例文帳に追加

微生物検査の対象となる微生物を検出装置において迅速に感度良く計量することを目的とする。 - 特許庁

RELIEVING AND ANALYZING METHOD FOR DEFECT OF MEMORY AND MEMORY TEST DEVICE INCORPORATING DEFECT RELIEVING AND ANALYZING DEVICE APPLYING THIS ANALYZING METHOD例文帳に追加

メモリの不良救済解析方法及びこの解析方法を適用した不良救済解析器を搭載したメモリ試験装置 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法、プローブカード、半導体集積回路装置と半導体集積回路装置の製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device for improving the refresh control of a dynamic type semiconductor storage device and shortening test time.例文帳に追加

ダイナミック型半導体記憶装置のリフレッシュ制御を改良し、テスト時間の短縮を図る半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

To overcome contact failure between the probe terminal of a probe card for a semiconductor test device and the electrode pad of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体試験装置のプローブカードのプローブ端子と半導体装置の電極パッドとの間の接触不良を解消する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing device for concurrently testing a plurality of semiconductor devices in a short test time.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に試験する装置であって、試験時間を短縮した半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To accurately carry out a test of a man-powered steering device of an aircraft without the need for a testing device imitating an actual machine.例文帳に追加

飛行機の人力操縦装置の試験を、実機を模した試験装置を必要とせずに精度良く行えるようにする。 - 特許庁

To form a load test program for a large computer device while reducing a development labor, and to create various load states for the large computer device by the load test program.例文帳に追加

開発の労力を抑えた上で、大規模コンピュータ装置の負荷試験プログラムを作成可能とし、当該負荷試験プログラムによって大規模コンピュータ装置に対して多様な負荷状態を作ることを課題とする。 - 特許庁

To provide a biological substance test device, particularly to provide a microreactor for testing biological substances enabling multi-item test in high reliability by changing a loaded probe as appropriate, and to provide a related device.例文帳に追加

生体物質検査デバイス、特に搭載するプローブを適宜変更することにより多項目検査を高い信頼性で可能とする生体物質検査用マイクロリアクタおよびデバイスを提供する。 - 特許庁

The controller of an evaluation server 5 controls the distribution of test images from an image server 4 to an X-ray interpretation device 1, and obtains the information of an X-ray interpretation report on the test images from the X-ray interpretation device 1.例文帳に追加

評価サーバ５の制御部は、画像サーバ４から読影装置１へのテスト用画像の配信を制御し、そのテスト用画像に対する読影レポート情報を読影装置１から取得する。 - 特許庁