「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(82ページ目) - Weblio英語例文検索

This device has an extraction means which extract parameter data to be used for an analog test model from the test program, and an analog simulation means which performs simulation using an analog DUT model for simulation of operations of the analog circuit of the test object and an analog test model connected to the analog DUT model for simulation of operations of an analog test part to be used for the analog test of the tester.例文帳に追加

本装置は、テストプログラムからアナログ試験モデルに用いるパラメータデータを抽出する抽出手段と、被試験対象のアナログ回路の動作をシミュレーションするアナログＤＵＴモデル、このアナログＤＵＴモデルに接続し、テスタのアナログ試験に用いるアナログ試験部の動作をシミュレーションするアナログ試験モデルを用いて、シミュレーションを行うアナログシミュレーション手段とを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

In a device for performing constituent concentration measurement of an object of analysis by utilizing transmitted light or reflected light from a chromatography test piece, code information on the test piece recorded with respect to the test piece is read by utilizing movement of relative positional relation between irradiating light to the test piece and the test piece, as well as by using transmitted light or reflected light from the test piece.例文帳に追加

クロマトグラフィー試験片からの透過光もしくは反射光を利用して分析対象物の成分濃度測定を行う装置に、前記クロマトグラフィー試験片への照射光と前記クロマトグラフィー試験片との相対的な位置関係の移動、及び前記クロマトグラフィー試験片からの透過光もしくは反射光を利用して、試験片に関して記録された試験片上のコード情報を読み取る。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device contributing to an improvement in yield in addition to a reduction in test time.例文帳に追加

テスト時間の短縮に加えて歩留まりの向上に寄与する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a benchmark test device handling a change in the architecture of an OS (Operating System) or hardware.例文帳に追加

ハードウエアやＯＳのアーキテクチャの変更に対応することが可能なベンチマークテスト装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a high- and low-temperature test device capable of efficiently performing temperature testing on an object to be temperature-tested.例文帳に追加

効率的に温度試験対象物の温度試験ができる高低温度試験装置を提供する。 - 特許庁

The server device transmits the test data indicating audio and/or video to the transmission-side terminal unit (112).例文帳に追加

サーバ装置は、音声及び／又は映像を表す試験データを送信側端末装置へ送信する（１１２）。 - 特許庁

To perform a test further close to actual traveling in a device for supporting development of traveling control unit.例文帳に追加

走行制御ユニットの開発支援装置において、より実際の走行に近い試験を可能にする。 - 特許庁

To provide a vibration-free pedestal evaluating device for easily performing a performance evaluation test of a vibration-free pedestal.例文帳に追加

除振台の性能評価試験を容易に行うことができる除振台評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device using a test piece, especially a tire or a retread tire to perform an electronic sheargraphy.例文帳に追加

試験物、特にタイヤ又はトレッド再生したタイヤにて電子せん断グラフィを行う装置を提供する。 - 特許庁

To perform a loop back test precisely in which a jitter proof strength of a device to be tested is tested with a sufficient accuracy and a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で、被試験デバイスのジッタ耐力を試験するループバック試験を精度よく行う。 - 特許庁

To provide a testing apparatus capable of greatly reducing the amount of time required to test a solid-state image pickup device.例文帳に追加

固体撮像装置のテストに要する時間の大幅な短縮化が可能なテスト装置を提供する。 - 特許庁

Additionally, the leak current is measured after the temperature cycle test of the semiconductor device.例文帳に追加

また、半導体素子の温度サイクル試験を行った後にリーク電流の測定を実行することとした。 - 特許庁

TEST PATTERN FOR STEREOSCOPIC IMAGE EXTINCTION EVALUATION, STEREOSCOPIC IMAGE CROSSTALK EVALUATION METHOD AND COMPUTER STORAGE DEVICE例文帳に追加

立体画像消失評価用試験パターン、立体画像クロストーク評価方法及びコンピュータ記憶装置 - 特許庁

To provide a test program preparing device and method which is capable of performing failure analysis of a tested LSI.例文帳に追加

試験後のＬＳＩの故障解析を考慮したテストプログラム作成装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

IC MEMORY DEVICE AND OPERATING METHOD THAT ARE CONFIGURED TO OUTPUT DATA BIT AT LOW TRANSFER RATE IN TEST MODE OF OPERATION例文帳に追加

テストモードにおいて低い転送速度でデータビットを出力するＩＣメモリ装置及びその動作方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device that can test each IC chip installed in an interposer.例文帳に追加

インターポーザに搭載された個々のＩＣチップのテストを行うことが可能である半導体装置を提供する。 - 特許庁

To heighten test work efficiency, and to heighten versatility, in a testing device of an electronic component.例文帳に追加

電子部品の試験装置に関し、試験作業効率を高め、かつ、汎用性も高めることを目的とする。 - 特許庁

FUNCTION VERIFICATION DEVICE, TEST BENCH, MODEL DESIGNED BY HARDWARE DESCRIPTION LANGUAGE, SIMULATOR PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

機能検証装置、テストベンチ、ハードウェア記述言語により設計されたモデル、シミュレータプログラム及び記憶媒体 - 特許庁

TEST METHOD FOR DETECTING DEFECT IN RECORDING DISK AND DATA STORAGE DEVICE FOR EXECUTING THE SAME例文帳に追加

記録ディスクにおける欠陥を検出するためのテスト方法及びそれを実行するデータ記憶装置 - 特許庁

A power supply unit 10 alternately energizes the semiconductor device TE under test and the resistor part DE.例文帳に追加

電源部１０は、試験対象の半導体装置ＴＥと抵抗部ＤＥとに交互に通電する。 - 特許庁

To measure respectively output voltage values from a device to be measured for a test pattern for every AD start.例文帳に追加

ＡＤスタートごとのテストパターンに対する被測定デバイスからの出力電圧値をそれぞれ測定する。 - 特許庁

An image for test print is transferred from a file server 700 to a device controller 840 via a network.例文帳に追加

ファイルサーバ７００からテストプリント用の画像がネットワークを介してデバイスコントローラ８４０に転送される。 - 特許庁

To provide a test device of a signal security system capable of automatically testing the signal security system.例文帳に追加

信号保安システムの試験を自動で行うことを可能とする信号保安システムの試験装置を得ること。 - 特許庁

To provide an efficient sensing module for light emitting devices for performing a burn-in test of the light emitting device.例文帳に追加

発光素子のバーンイン試験を行うための効率的な発光素子用検知モジュールを提供する。 - 特許庁

To provide a chromosome test learning device which can realize an extremely high learning effect.例文帳に追加

極めて高い学習効果を実現することができる染色体検査学習装置を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device capable of reducing the test time for high reliability.例文帳に追加

高信頼性に向けたテスト時間の短縮化が可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR PREVENTING ADHESION OF RESIST TO BACKSIDE OF TEST SAMPLE AND CHUCKING DEVICE OF SAMPLE USED FOR SAME METHOD例文帳に追加

試料裏面に対するレジストの付着防止方法及び同方法に使用する試料のチャック装置 - 特許庁

To provide a combination test data generation device for efficiently improving the quality of a computer system.例文帳に追加

コンピュータシステムの品質向上を効率的に図るための組み合わせ試験データ生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a data transfer control device and an electronic apparatus that can implement an efficient compliance test.例文帳に追加

効率的なコンプライアンステストを実現できるデータ転送制御装置及び電子機器を提供すること。 - 特許庁

An information processor 1 connected to a communication device 4 with Bluetooth communication units 27 and 45 interposed therebetween transmits a condition setting request of a test and a test request to the communication device 4, determines whether characteristics of the communication device 4 are acceptable or not on the basis of received test results, and displays determination results on a display unit 21.例文帳に追加

ブルートゥースの通信部２７，４５を介して通信機器４に接続された情報処理装置１が、通信機器４に試験の条件設定要求及び試験要求を送信し、受信した試験結果に基づいて通信機器４の特性の良否を判定して判定結果を表示部２１に表示する。 - 特許庁

The test circuit is combined with the combination circuits 31 and 32 and disposed in the semiconductor device.例文帳に追加

本発明によるテスト回路は、組み合わせ回路３１、３２と結合して半導体装置内に配置される。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for processing a user defined-event generated during the test of a device etc.例文帳に追加

デバイス等のテスト中に生成されたユーザ定義イベントの処理方法および処理装置を提供する。 - 特許庁

In this IC testing system, an IC testing device 150 impresses a test pattern signal to a tested IC.例文帳に追加

ＩＣ試験システム１０において、ＩＣ試験装置１５０は、被試験ＩＣに試験パターン信号を印加する。 - 特許庁

To supply air current mixed with fine solid particles at an arbitrary numerical density to a test device.例文帳に追加

気流中に微小な固体粒子を任意の数密度で混入させて試験装置に供給すること。 - 特許庁

ANISOTROPIC CONDUCTIVE CONNECTOR AND TEST DEVICE HAVING THE SAME, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

異方導電性コネクターおよびそれを有する検査装置並びに異方導電性コネクターの製造方法 - 特許庁

The semiconductor device requires thereby no internal ROM for the test and no command code therefor in an inside thereof.例文帳に追加

これにより、半導体装置は内部にテスト用の内部ＲＯＭ及びその命令コードを必要としない。 - 特許庁

To provide a probe card which increases a measurement precision in a probing test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスのプロービング試験時における測定精度を向上させるプローブカードを提供すること。 - 特許庁

To provide an improved substrate test device for testing a substrate having a large area, and a method.例文帳に追加

大面積を有する基板の試験をさらに改良した基板の試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To simplify a differential pressure detecting passage in a device for a leakage test which includes a temperature-sensitive member for temperature compensation.例文帳に追加

温度補正のための感温部材を含むリークテスト装置において、差圧検出路を簡素化する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of efficiently verifying the operation of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの動作を効率的に検証することができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device by time for writing patterns in test is shortened.例文帳に追加

テスト時におけるパターンの書き込み時間を短縮することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To correctly carry out alignment of a testing pin with a terminal of a measured device, in an electrostatic breakdown test.例文帳に追加

静電破壊試験において被測定デバイスの端子と試験用ピンとの位置合わせを正確に行う。 - 特許庁

In a measuring device, an alignment module executes alignment as it is by receiving a test video frame and a reference video frame.例文帳に追加

アライメント・モジュールは試験ビデオ・フレーム及び基準ビデオ・フレームを受けてそのままのアライメントを実行する。 - 特許庁

The receiver sensitivity simplified evaluation system comprises a GTEM cell 1, a test set 2 and a simulation wiring device 4.例文帳に追加

受信感度簡易評価システムはＧＴＥＭセル１とテストセット２と模擬配線装置４とを備える。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING HEAVY LOAD IN ENCRYPTION SYSTEM AND RECORDING MEDIUM STORING HEAVY LOAD TEST PROGRAM例文帳に追加

暗号化システムにおける高負荷試験方法及び装置と高負荷試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁