「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(85ページ目) - Weblio英語例文検索

The boundary-scan cells connected to a second circuit terminal 38 of the device 33 is operated as a sensor by the processing unit of the test device 42.例文帳に追加

デバイス３３の第２回路端子３８に接続されたバウンダリスキャンセルが、テスト装置４２の処理ユニットによってセンサとして作動される。 - 特許庁

Also, the voice data of proper quality that matches the system's installation environment can be distributed from the server device to the client device because of the distribution test.例文帳に追加

また、配信テストによりシステムの設置環境に応じた適正な品位の音声データをサーバ装置からクライアント装置へ配信できる。 - 特許庁

To provide a device capable of performing a corrosion test of a metal material in the same state as an actual environment, using a comparatively simple device.例文帳に追加

比較的簡単な装置を用いて、実環境と同じ状況下で金属材料を腐食試験できる装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING TEST FUNCTION, CHARGING/ DISCHARGING PROTECTION CIRCUIT, BATTERY PACK COMPRISING THE CHARGING/DISCHARGING PROTECTION CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE UTILIZING THE BATTERY PACK例文帳に追加

テスト機能を有する半導体装置、充放電保護回路、該充放電保護回路を組み込んだバッテリーパック、該バッテリーパックを用いた電子機器 - 特許庁

To reduce the cost of a jig and tool employed for the electrical test of a semiconductor device by making positions of terminals in the semiconductor device common.例文帳に追加

半導体装置における端子位置を共通化して、半導体装置の電気的試験に用いられる治工具のコストを低減する。 - 特許庁

To provide a device with a low-cost and simple device structure and method for easily and accurately detecting the position of test vehicle placed on chassis dynamometer.例文帳に追加

シャシーダイナモメータ上に載置された試験車両の位置を、安価で簡易な装置構成において容易且つ精度良く検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can be subjected to a collective wafer test, while the self-heating value of the device is being adjusted.例文帳に追加

自己発熱量を調整しつつウエハ一括テストが可能な半導体装置および半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a striking device for a hammering sound test of concrete capable of reducing the power of a rotational driving device for driving a camshaft and the number of hammers.例文帳に追加

カム軸を駆動する回転駆動装置の動力及びハンマーの数を低減し得るコンクリートの打音検査用打撃装置の提供。 - 特許庁

INPUT/OUTPUT TRANSFORMER, TEST METHOD OF POWER PROTECTION CONTROL DEVICE, AND ELECTRICAL QUANTITY INPUT/OUTPUT METHOD OF POWER PROTECTION CONTROL DEVICE例文帳に追加

入出力変成器、電力用保護制御装置の試験方法、並びに電力用保護制御装置の電気量入出力方法。 - 特許庁

A switching device is turned on when performing normal read of data of the memory array, and the switching device is turned off when performing test read of the data of the memory array.例文帳に追加

メモリアレイのデータの通常読み出し時にはスイッチ素子をオンし、メモリアレイのデータのテスト読み出し時にはスイッチ素子をオフする。 - 特許庁

A test device 900 tests a communication control device 10 serving as an SIP server processing a message of a session establishment protocol.例文帳に追加

試験装置９００は、セッション確立プロトコルのメッセージを処理するＳＩＰサーバとして機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

This semiconductor device concerned in the present invention generates the clock signal SCANCLK used for the scan test for the internal circuit 500 of the semiconductor device.例文帳に追加

本発明に係る半導体装置は、半導体装置の内部回路５００のスキャンテストに用いられるクロック信号SCANCLKを生成する。 - 特許庁

To supply a high-quality clock signal to a device to be tested without having an influence on test speed or a device constitution.例文帳に追加

試験速度や装置構成に影響を与えることなく、高品質なクロック信号を被試験デバイスに供給することを目的とする。 - 特許庁

Test data read out from the memory device 46 is compared with an expected value by the comparator 50, and it is discriminated whether the memory device 46 is good or not.例文帳に追加

メモリデバイス４６から読み出されるテストデータが、期待値データと比較器５０で比較され、メモリデバイス４６の良否を判定する。 - 特許庁

To provide a separation device capable of acquiring easily a blood component measuring device capable of efficiently measuring a trace amount of test material.例文帳に追加

微量の被検物質を効率よく測定することが可能な血液成分測定デバイスが容易に得られる分離デバイスを提供する。 - 特許庁

To provide a device hardly influenced by a noise or the like, capable of executing a high-speed test of a semiconductor device, concerning an external test auxiliary device suitable for improvement of measuring performance of a tester or for extension of its function.例文帳に追加

本発明はテスタの測定性能の向上やその機能の拡張を図る上で好適な外部試験補助装置に関し、ノイズ等の影響を受けにくく、かつ、半導体装置の高速試験を可能とする装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

The test device 1 generates N-sets of data packets given respective priorities 1,..., M, sequentially extracts K-sets of data packets at random and supplies them to K-sets of inputs of a relaying device 2 in parallel from K-sets of outputs of the test device 1.例文帳に追加

試験装置1において1...Mまでの各優先度を与えたデータバケットを、各優先度についてN個生成し、順次ランダムにK個のデータパケットをとりだして試験装置1のK個の出力より中継装置2のK個の入力に並列に供給する。 - 特許庁

A minute test piece stress loading device comprises a tool 10 for loading stress; a minute test piece 14 inserted into a sample insertion hole 12; and a heating device 16 that accommodates them and is capable of simultaneously increasing temperature at nearly the same temperature increase rate.例文帳に追加

応力負荷用治具１０と、その試料挿入穴１２に挿入される微小試験片１４と、それらを収納し且つ等しい昇温率で同時昇温可能な加熱装置１６とを具備している。 - 特許庁

Then, a test sequence is executed, meanwhile, a signal transferred between the device representation and one or more of the test components is monitored, and the data on the result indicating the compliance of the device with the bus protocol are produced.例文帳に追加

次に、テスト・シーケンスを実行させ、その間に前記デバイス表現と１個以上の前記試験部品との間で受け渡される信号をモニタして、前記バス・プロトコルへの準拠性を示す結果のデータを作成する。 - 特許庁

In the semiconductor testing device including a test head having the pin card inside it and an interface device above it, the pin card can be inserted or removed from a side surface of the test head.例文帳に追加

内部にピンカードが収納され上部にインターフェース装置が設けられているテストヘッドを含む半導体試験装置において、前記ピンカードの挿抜を前記テストヘッドの側面から行えるようにしたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an inspection probe which can respond to a narrow pitch of the input terminals and the output terminals of a semiconductor device, and to properly test the semiconductor device and the manufacturing method for the test probes.例文帳に追加

半導体装置の入力端子及び出力端子の狭ピッチに対応可能であるとともに、半導体装置を良好に検査できる検査プローブ及び半導体装置の検査プローブの製造方法を提供すること。 - 特許庁

The temperature test device 1 is the temperature test device of an inline system for measuring the performance of the crystal oscillators CR while transferring the crystal oscillators CR along X direction in one temperature bath 11.例文帳に追加

温度試験装置１は、１つの温度槽１１内において水晶振動子ＣＲをＸ方向に沿って搬送しながら水晶振動子ＣＲの特性を測定するインライン方式の温度試験装置である。 - 特許庁

To reduce the size of a device by integrating individual lancets with a test means and to provide a structure capable of preventing a problem in mutual contamination when one test sensor device is shared with two persons.例文帳に追加

従来装置における、別々のランセット及び試験手段を一体化して小型化すると共に、一つの試験センサ装置を二人以上で共用したとき相互汚染の問題を生じない構造にすること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can perform a device test for a shorter time by applying a bank memory provided in an AFM and being not used and storing fall information from a DUT.例文帳に追加

ＡＦＭ内に備える使用されていなかったバンクメモリを適用して、ＤＵＴからのフェイル情報を格納させることで、より短時間にデバイス試験が実施可能な半導体試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁

The individual temperature controller may operate the individual heaters before the start of a test for the device, to heat each device up to the target temperature, and may stop the operation of the individual heaters when the test is started.例文帳に追加

個別温度制御部は、被試験デバイスに対して試験が開始される前に個別ヒータを動作させて被試験デバイスの各々を目標温度まで加熱させ、試験が開始されると個別ヒータを停止させてもよい。 - 特許庁

This radiography system includes: the holding device holding a radiography part performing radiography on a test subject; the bed whereon the test subject is placed; and a drive part moving the holding device and the bed.例文帳に追加

実施形態に記載のＸ線撮影システムは、被検体に対してＸ線撮影を行うＸ線撮影部を保持する保持装置と、被検体が載置される寝台と、保持装置及び寝台を移動する駆動部とを有する。 - 特許庁

To provide a communication system in which a time for maintenance or test can be shortened by improving efficiency in the maintenance or the evaluation test in the communication system provided with a communication control unit, a base station device, a terminal device and attached devices.例文帳に追加

回線制御装置、基地局装置、端末装置、付属装置を含む通信システムにおいて、保守作業や評価試験の効率化を図り、保守作業や試験時間の短縮化が可能な通信システムを提供する。 - 特許庁

The image-forming device 10 operates in an addition mode or a deletion mode, thus determining the mode of the image-forming device 10 by the test chart control section 204 for adding or deleting a color contained in a test chart.例文帳に追加

画像形成装置１０は、追加モード又は削除モードで動作するので、テストチャート制御部２０４は、画像形成装置１０のモードを判定して、テストチャートに含まれている色の追加又は削除を行う。 - 特許庁

An external semiconductor memory test device 5 provided with data holding circuits F/F11-14 and switching circuits MUX21-24 is connected to a semiconductor memory test device 6, and devices MUT1-MUT4 to be tested are tested.例文帳に追加

半導体メモリ試験装置６にデータ保持回路（Ｆ／Ｆ１１〜１４）と切換回路（ＭＵＸ２１〜２４）とを備えた外付け半導体メモリ試験装置５を接続して、被試験デバイス（ＭＵＴ１〜４）の試験を行う。 - 特許庁

To provide a scan flip flop, which enables a test device to be designed without user's consideration of the state of reset signal/set signal, in a scan shift operation mode in a test of a semiconductor integrated device.例文帳に追加

半導体集積装置のテストにおいて、ユーザがスキャンシフト動作モードにおけるリセット信号／セット信号の状態を考慮することなくテスト装置を設計することができるスキャンフリップフロップを提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of a semiconductor device capable of performing a test, while optional one of a plurality of semiconductor devices is pressed onto a contactor from the back side.例文帳に追加

本発明は、複数の半導体装置のうち任意の一つを背面側からコンタクタに対して押圧しながら試験を施すことができる半導体装置の試験装置及び試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To make a toggle ratio 100% in all of circuits constituting a semiconductor device while minimizing an increase in circuit cost by reducing the number of test patterns used in an IDDQ test of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のＩＤＤＱ試験において、使用するテストパターン数を減少させ、回路コストの増加を最小限に抑えながら、半導体装置を構成する全ての回路のトグル率を１００％とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device for shortening a time required for cause search when a failure occurs by displaying information related to a test result of a semiconductor device according to need.例文帳に追加

半導体デバイスの試験結果に関連する関連情報を必要に応じて表示することで、異常が生じた場合の原因究明に要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and its test method which can perform a manufacturing test easily and surely by simple constitution and method in a semiconductor memory device making a latch circuit a storage element.例文帳に追加

ラッチ回路を記憶素子とする半導体記憶装置であって、簡易な構成及び方法により容易かつ確実に製造テストを実施することのできる半導体記憶装置とその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a speed monitoring device capable of monitoring the speed of generation of a test pattern with high precision in response to a set speed, and a pattern generator and a semiconductor test apparatus equipped with the device.例文帳に追加

設定された速度に応じて試験パターンの発生速度を高精度に監視することができる速度監視装置、並びに当該装置を備えるパターン発生装置及び半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To realize a test device having a loop antenna of which the size can be easily changed corresponding to the change of the size of a tested device, with respect to the test device having the plurality of loop antennas mounted in X, Y and Z axial directions so as to surround the tested device placed on a pedestal.例文帳に追加

台座上に置かれた被試験装置の周囲をかこむようにＸ、Ｙ、Ｚ軸方向に設けられた複数のループアンテナを有する試験装置において、被試験装置の大きさの変化に対し容易に大きさを変えられるループアンテナを有する試験装置を実現する。 - 特許庁

The test tube preparation device for pasting labels to test tubes necessary for inspecting patients includes a test tube storage in the lower side of a device body, a label pasting unit having a label printer and a label pasting means after printing in the upper side of the device body, and a tray unit for recovering test tubes after pasting labels every patient in the intermediate portion of the device body.例文帳に追加

患者の検査に必要な試験管にラベルを貼着し、ラベル貼着後の試験管を患者ごとにトレイへ収納して準備する試験管の準備装置において、装置本体の下部側に試験管収容部を配置し、装置本体の上部側にラベルプリンター及び印字後のラベル貼付手段を備えたラベル貼付ユニットを配置し、装置本体の中間部にラベル貼着後の試験管を患者ごとに回収するトレイユニットを配置する。 - 特許庁

When the adjustment mode switch of the radar device is turned on, the radar device is shifted to self adjustment mode and is automatically calibrated through loopback test using the testing device.例文帳に追加

そして、レーダ装置の調整モードスイッチをＯＮすると、レーダ装置が自己調整モードに移行し、試験装置を介したループバック試験で自動的にキャリブレーションが行われる。 - 特許庁

To provide a development support device improving debugging efficiency of a program by improving usability of a user, and to provide a semiconductor test device having the device.例文帳に追加

ユーザの使い勝手の向上を図ってプログラムのデバッグ効率を高めることができる開発支援装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

An image processing device 50 outputs to a printing device 10 a test chart data to measure the density unevenness of an image in the main scanning direction printed on the printing device 10.例文帳に追加

画像処理装置５０は、印刷装置１０で印刷される画像の主走査方向の濃度ムラを測定するためのテストチャートのデータを、印刷装置１０に出力する。 - 特許庁

To provide a development support device enhancing debug efficiency of a program by improving usability of a user, and to provide a semiconductor test device having the device.例文帳に追加

ユーザの使い勝手の向上を図ることでプログラムのデバッグ効率を高めることができる開発支援装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device inspection method for highly reliably managing rewriting times in a test process concerning each semiconductor device, and to provide the semiconductor device.例文帳に追加

個々の半導体装置について、試験工程での書き換え回数を信頼性高く管理できるようにした半導体装置の検査方法及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TEST PATTERN GENERATING METHOD FOR IT, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置のテストパターン作成方法、半導体集積回路装置、半導体集積回路装置のテスト方法、および、半導体集積回路試験装置 - 特許庁

A standardized test device for a device function 12 of a field control device 1 is used in a method and computer system for configuring a facility control system, and a display 23 of a visible device is generated at a graphic output device.例文帳に追加

設備制御システムの構成のための方法及びコンピュータシステムであって、フィールド制御デバイス（1）のデバイス機能（12）の標準化されたテキストデバイスを使用し、可視のデバイスの表示（23）がグラフィック出力デバイスに生成される。 - 特許庁

As for the question, a user selects one piece of music from among a plurality of test listening pieces of music, and when a test listening piece button 104a on a screen is operated, the test listening piece corresponding to the operation is transmitted to the terminal unit from the server device.例文帳に追加

この質問は、複数の試聴曲の中から一つの曲をユーザが選択するものであり、画面上の試聴曲ボタン１０４ａが操作されると、同操作に対応した試聴曲がサーバ装置から端末装置に送信される。 - 特許庁