「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(87ページ目) - Weblio英語例文検索

EXCESS CURRENT PROTECTION CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE COMPRISING THE SAME, AND METHOD FOR OPERATION TEST THEREOF例文帳に追加

過電流保護回路、過電流保護回路を備える半導体装置及び過電流保護回路の動作テストの方法 - 特許庁

A reference signal generating device (22) is connected to an interface (24) of a radio transmitter and a test mode is executed.例文帳に追加

無線送信装置のインターフェース（２４）に基準信号発生装置（２２）を接続し、テストモードの実行を行う。 - 特許庁

To easily perform a test for signal transmission of a transmitting/receiving apparatus without using any expensive testing device.例文帳に追加

送受信装置の信号伝送に関する試験を高価な試験装置を使用することなく簡易に実施する。 - 特許庁

To simplify a test of a semiconductor device having an output buffer with a small pad and a low current driving capability.例文帳に追加

小型パッドおよび低電流駆動能力の出力バッファを持つ半導体装置のテストを容易化する。 - 特許庁

To provide a wafer conveyance device which can position a wafer accurately and test it without using an aligner.例文帳に追加

アライナーを使用しなくても、ウエハを正確に位置決めして検査することができるウエハ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device having both of a self-test function and a self-redundancy function with simple constitution.例文帳に追加

自己テスト機能と自己冗長機能とを併せ持つ半導体記憶装置を簡単な構成で提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can accurately set nodes at inner power source potential to external test potential.例文帳に追加

内部電源電位のノードを外部テスト電位に正確に設定することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test circuit capable of adjusting the SCAN operation period by a simple means.例文帳に追加

簡単な手段でSCAN動作期間を調整することができる半導体素子テスト回路を提供することにある。 - 特許庁

In a test for accessing an external storage device 200, some of pins 10 function as a bus pin.例文帳に追加

外部記憶装置２００との間でアクセスするテスト時において、複数のピン１０の一部はバスピンとして機能する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its test method, enabling high-speed tests at a desired operation frequency.例文帳に追加

所望の動作周波数での高速テストが可能である半導体装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

TEST PATTERN WAFER FOR DEFECT INSPECTING DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND EVALUATION METHOD OF DEFECT INSPECTION APPARATUS USING IT例文帳に追加

欠陥検査装置用テストパターンウエハ、その製造方法及びそれを用いた欠陥検査装置の評価方法 - 特許庁

To provide a signal generating device which can generate non-PCM data with simple constitution replacing a test disk.例文帳に追加

テストディスクに代わる簡単な構成でノンＰＣＭデータを発生することができる信号発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of measuring optical performance without being affected by transmission eccentricity of test lenses.例文帳に追加

被検レンズの透過偏芯に影響されることなく光学性能を測定できる検査装置を提供する。 - 特許庁

A circuit simulator 12 ascertains a circuit operation resting on data stored in the memory device 10 and a test specification 11.例文帳に追加

回路シミュレータ１２は、記憶装置１０と試験規格１１のデータに基づいて回路動作の確認を行う。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INFORMATION COLLECTION SYSTEM AND RECORDING WITH RECORDING INFORMATION COLLECTION SYSTEM TEST PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加

情報収集システム試験装置および方法と情報収集システム試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a fault diagnosis system which does not require the correction of software even if the allocated position of a test device is changed.例文帳に追加

試験器の配置位置を変更しても、ソフトウェアの修正を必要としない故障診断システムを提供する。 - 特許庁

To provide a testing board for a semiconductor device allowing to highly accurately test in an inspection step.例文帳に追加

検査工程において高精度な試験を行うことが可能となる半導体装置の試験用ボードを提供する。 - 特許庁

The semiconductor device 1 has an ordinary mode for performing an ordinary operation and a test mode for performing the various tests.例文帳に追加

半導体装置１は、通常動作を行う通常モードと各種の試験を行うテストモードとを備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of reducing electric power consumption at testing and easily attaining compression scan test.例文帳に追加

テスト時の消費電力の低減と共に圧縮スキャンテストを容易に実現可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a board performing a function test of a semiconductor device having an output buffer with large delay at a high-speed.例文帳に追加

遅延が大きい出力バッファを有する半導体装置の機能試験を、高速に行うボードを提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus in which the timing accuracy of a testing device is calibrated during the test of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路の試験中に試験装置タイミング精度を較正する方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a slider tester that can efficiently test a plurality of sliders to be used for a disk device.例文帳に追加

ディスク装置に使用される複数のスライダを能率良く検査することができるスライダ試験機を提供する。 - 特許庁

Thereby, a relieving rate of redundant cells can be improved and a simultaneous measurement rate of a test device can be improved.例文帳に追加

これにより，冗長セルの救済率を高くし，試験装置の同時測定率を高くすることができる。 - 特許庁

To provide a method and a device for determining the position of a substrate with respect to a test stage both quickly and accurately.例文帳に追加

試験ステージに対する基板の位置を迅速かつ正確に判定する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a hearing test device allowing easy calibration without requiring a professional adjusting person.例文帳に追加

専門の調整者を必要とせず、簡単に較正を行うことのできる聴力検査装置を提供する。 - 特許庁

To realize an IC test device capable of attaining a high testing rate without any increase in the number of signal conductors.例文帳に追加

信号線の数を増大せずにテストレートの高速化を図るＩＣ試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁

The communication test in a voice communication means of the terminal device and the central processor 40 can be performed.例文帳に追加

また、中央処理装置４０と端末器の音声通信手段の通信テストを行うことも可能となる。 - 特許庁

Therefore, the reliability of the test of the durability of the semiconductor device against the temperature can be improved.例文帳に追加

これにより、半導体素子の温度に対する耐久性テストの信頼性をより向上させることができる。 - 特許庁

A test signal is sent from a main device to a plurality of speaker terminals 11 to 1N through speaker branch wiring 3.例文帳に追加

主装置からスピーカブランチ配線３を介して複数のスピーカ端末１１〜１Ｎに検査信号を送出する。 - 特許庁

The inspecting device 1 selects test and drive pins 17 and 16 from the pins for signals of the integrated circuit 2.例文帳に追加

検査装置1は、集積回路２の信号用ピンの中からテストピン１７及びドライブピン１６を選択する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which incorporates an ECC circuit and can reduce costs required for a memory test.例文帳に追加

ＥＣＣ回路内蔵型で、メモリテストに要するコストを軽減できる半導体装置を提供することにある。 - 特許庁

The semiconductor device 1 is provided with a normal mode, a plurality of test modes, and a setting confirming mode as an operation mode.例文帳に追加

半導体装置１は、通常モードと複数のテストモードと設定確認モードとを動作モードとして備える。 - 特許庁

The testing device 30 has a tester 36 for controlling a prober 32 and an illuminator 34 to acquire a test result.例文帳に追加

検査装置３０は、プローバ３２と照明部３４とを制御して検査結果を取得するテスタ３６を有する。 - 特許庁

To provide a projection lens inspection device for easily modifying the color of illumination light and a test pattern.例文帳に追加

照明光の色及びテストパターンを容易に変更することができる投写レンズ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit for reducing a test time and a semiconductor memory device comprising the circuit.例文帳に追加

テスト時間を短縮化できるテスト容易化回路および当該回路を含む半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory logic compound semiconductor device having a BIST circuit in which a memory test time is shortened.例文帳に追加

メモリテスト時間が短縮されるＢＩＳＴ回路を有するメモリロジック複合半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a memory test device for testing setup time Tds and hold time Tdh of a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリのセットアップ・タイムＴｄｓとホールド・タイムＴｄｈを試験するメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

For that purpose, a measuring device 50 of the radius of curvature includes a thermography 6 for measuring the temperature of the test lens 2.例文帳に追加

このため、曲率半径測定装置５０は、被検レンズ２の温度を測定するサーモグラフィ６を備える。 - 特許庁

A test program generation device 104 designates a security attack from a threat list table 105 by a designation unit 701.例文帳に追加

テストプログラム生成装置１０４は、指定部７０１にて脅威一覧テーブル１０５からセキュリティ攻撃を指定する。 - 特許庁

To provide a device to inspect and evaluate a response characteristic test of a resistive film type touch panel in a very short time.例文帳に追加

抵抗膜式タッチパネルの応答特性試験を極めて短時間で検査・評価しうる装置を提供する。 - 特許庁

APPARATUS FOR GENERATING TEST STIMULATION SIGNAL WITH CURRENT SOURCE IRRELEVANT TO INTERNAL IMPEDANCE CHANGE OF DEVICE TO BE TESTED例文帳に追加

被試験装置の内部インピーダンス変化に関係ない電流ソースを有するテスト刺激信号を発生させる装置 - 特許庁

Since an exclusive drop testing device is used, the content and conditions of a drop test are standardized.例文帳に追加

専用の落下試験装置を使用するので、落下試験の内容や条件の画一化を図ることができる。 - 特許庁

To provide a center unit capable of executing a test for a communication terminal device through a communication line.例文帳に追加

通信回線を介して通信端末装置の試験を実行させることのできるセンタ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a device for testing temperature change which can suitably perform a test for temperature change in a semiconductor chip.例文帳に追加

好適に半導体チップの温度変化試験を行うことができる温度変化試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a cell howl suppressing method and device capable of ignoring effects on engine test conditions.例文帳に追加

エンジン試験条件に与える影響を無視できる、セルハウルを抑制する方法および装置が提供される。 - 特許庁