「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(90ページ目) - Weblio英語例文検索

The strength comparing and experiencing device 2 has two pitons 23 such that the strength comparison of respective test pieces is made possible by individually driving the respective pitons to two kinds of the test pieces D1, R1.例文帳に追加

強度比較体験装置は、２つのハーケン23を備え、各ハーケンを２種類の試験片D1,R1 に対し個々に打ち付けて各試験片の強度比較を体験するようになされたものとする。 - 特許庁

A test table generation device includes: an equipment set input part 1: an upstream book analysis part 3; an equipment characteristic acquisition part 4: an equipment characteristic matching part 5; and a test table generation part 14.例文帳に追加

試験テーブル生成装置は、機器集合入力部１と、上流図書解析部３と、機器特性取得部４と、機器特性マッチング部５と、試験テーブル生成部１４とを備える。 - 特許庁

The high voltage test device 10 having the authorization of a high voltage test laboratory of JAB in accordance with the guide of ISO and an engine power generator 11 are loaded on a running mobile vehicle 9.例文帳に追加

走行移動車９に、ＩＳＯのガイドに準拠したＪＡＢの高電圧試験所認定を受領した高電圧試験装置１０と、エンジン発電機１１とを搭載する。 - 特許庁

The inkjet recording device records test patches 13 in a plurality of positions in the main scanning area of the carriage and measures a dislocation of dot recording position corresponding to each of the position from the test patches 13.例文帳に追加

キャリッジの主走査領域内の複数の位置でテストパッチ１３を記録させ、このテストパッチ１３から、それぞれの位置に対応したドットの記録位置ずれ量を測定する。 - 特許庁

In this test circuit, a determination circuit 13 conducts a function test for determining whether timing in an inclined portion of a waveform in an analogue signal ANS of a measured device is within a specification range or not.例文帳に追加

このテスト回路では、判定回路１３は、被測定デバイスのアナログ信号ＡＮＳの波形の傾斜部分のタイミングが規格範囲内にあるかどうかを判定するファンクションテストを行なう。 - 特許庁

To provide a bending test device of a wire harness, capable of executing proper evaluation of the bending test relative to the wire harness laid on a driver's seat having plural movable parts.例文帳に追加

複数の可動部位を有する運転シートに敷設されるワイヤーハーネスに対して、適切な屈曲試験の評価を行うことができるワイヤーハーネスの屈曲試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a fuel temperature adjusting device capable of supplying fuel adjusted to various temperatures, in order to test a gasoline engine or diesel engine disposed inside an engine test chamber.例文帳に追加

エンジン試験室内に設けられたガソリンエンジン或いはディーゼルエンジンの試験をするために、種々の温度に調整された燃料を供給可能な燃料温度調整装置を提供する。 - 特許庁

The optical unevenness inspection device captures an image corresponding to a transmitted beam of a test object 3 and detects optical unevenness of the test object 3 based on a luminance change of the image.例文帳に追加

この発明は、検査対象３の透過光に応じた画像を撮像し、その画像の輝度変化に基づいて検査対象３の光学ムラを検出する光学ムラ検査装置である。 - 特許庁

To provide a liquid phase-type thermal shock test device capable of eliminating the fluctuation of thermal stress to add to an object to be measured and implementing an original thermal shock test with high precision and reproducibility.例文帳に追加

被測定対象物に加える熱ストレスの変動を無くし、本来の熱衝撃試験を正確で且つ高い再現性で実施できる液相式熱衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor device for executing an operation test of a memory cell array by using test data which has been stored in a ROM-FUSE area in the memory cell array.例文帳に追加

メモリセルアレイ内のＲＯＭ−ＦＵＳＥ領域にテストデータを記憶しておき、このテストデータを用いてメモリセルアレイの動作テストを実行する不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The electron beam device irradiates primary electron beams generated by an electron gun on a test piece and forms the secondary electrons emitted from the test piece on a detector by a map projection optical system.例文帳に追加

電子銃により発生させた一次電子ビームを試料に照射し、試料から放出される二次電子を写像投影光学系により検出器に結像させる電子線装置。 - 特許庁

To provide a component testing device capable of improving throughput on a test of an electronic component by shortening a time followed by exchange of the electronic component into a test socket.例文帳に追加

電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting semiconductor integrated circuit achieving a significant reduction of the test time and a highly precise test regardless of the measuring accuracy of a judging module.例文帳に追加

判定モジュールの測定精度に関わらず、テスト時間の大幅な削減と高精度な試験を実現する半導体集積回路の検査方法及びその検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a business process test design support device for detecting the matching of BP and a Web service to be called from the BP without asking any help, and for generating an executable test path.例文帳に追加

人手を介さずにＢＰとＢＰから呼び出されるＷｅｂサービスの整合性の検出及び実行可能なテストパスの生成を可能とするビジネスプロセステスト設計支援装置を提供する。 - 特許庁

If the switch device is drawn in a test position, the interlock contact S1 is turned on, the position limit switch LS3 is turned off, and an test position indicating lamp R4 is turned on.例文帳に追加

一方、開閉機器が引き出されて試験位置にある場合は、インターロック接点Ｓ１はオンとなるが位置リミットスイッチＬＳ３はオフなので、試験位置表示ランプＲ４が点灯する。 - 特許庁

The hygrostat B is a device creating the final target environment, having a space to place a test artifact, and composed of a final environment coordinating section 3 and a test room 5.例文帳に追加

装置Ｂ側は、最終目標環境を作ると共に被試験物を設置する空間を有する装置であり、最終環境調節部３及び試験室５によって構成されている。 - 特許庁

To provide an optical head test apparatus that can test an optical head device under the condition of obtaining the same characteristics as that obtainable when incorporated into an actual optical recording medium drive apparatus.例文帳に追加

光学ヘッド装置を、実際の光記録媒体駆動装置に組みつけられている状態と同じ特性が得られる状態で検査することができる光学ヘッド検査装置を提供する。 - 特許庁

The test signal inspection unit 42B is provided in a second device 2B and transmits a response signal A indicating whether or not the test signal A is received correctly to an I/O power supply control unit.例文帳に追加

テスト信号検査部４２Ｂは、第２のデバイス２Ｂに設けられ、テスト信号Ａが正しく受信されたか否かを示す応答信号ＡをＩ／Ｏ電源制御部へ送信する。 - 特許庁

To provide a package for an electronic component, an airtightness test method for it and an airtightness test method for a functional element and a device for it which can reduce time and cost for inspection.例文帳に追加

検査時間の短縮と検査コストの低減を可能とする電子部品用パッケージ及びその気密試験方法並びに機能素子の気密封止方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

A pattern recognition device, upon receiving a test object signal and data for selecting various types of prescribed events, generates an output signal 402 indicating the generation of all the selected events in the test object signal.例文帳に追加

パターン認識器は、被試験信号と種々の所定イベントを選択するデータとを受け、被試験信号内の選択イベントの全ての発生を示す出力信号402を発生する。 - 特許庁

An image processing device 4 acquires the silhouette image of the test object component 2A by irradiation from the fluorescent screen 7 by a CCD image sensor, and performed measurement processing of the outer diameter of the test object component 2A.例文帳に追加

画像処理装置４はＣＣＤイメージセンサで蛍光板７からの照射により検査対象部品２Ａのシルエット画像を取得し、検査対象部品２Ａの外径を計測処理する。 - 特許庁

To provide an event type test system reducing size of memory by compressing and storing event data for generating an event to be used for a test of a tested semiconductor device (DUT).例文帳に追加

被試験半導体デバイス（ＤＵＴ）の試験に使用するイベントを生成するためのイベントデータを圧縮して格納することによりメモリのサイズを減少させるイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method capable of easily measuring and evaluating the transistor characteristic of the same lot or the same wafer, and measuring a high-speed timing with high accuracy.例文帳に追加

同一ロットあるいは同一ウェハのトランジスタ特性をテスタ上で容易に測定、評価でき、高速タイミングを高精度で測定することができるテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test device for accelerating the deterioration of a photoreceptor, which is suitable for the deterioration test of a photoreceptor used in an electrophotographic system and whose constitution and operation are simple and accurate.例文帳に追加

電子写真方式で用いる感光体の劣化試験に好適であって、構成および操作が単純でかつ精度の高い感光体劣化加速試験装置を提供する。 - 特許庁

To prevent deviation of a wind test model from a wind tunnel measuring part, to mitigate restriction of a test range, and to reduce a transient phenomenon at the free flight shifting time, concerning a dynamic wind runnel testing device and a method.例文帳に追加

動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁

To provide an experimental device for ignition probability prediction capable of simplifying an ignition probability prediction experiment, shortening a test period, and reducing test cost.例文帳に追加

着火確率予測実験を簡略化することができ、試験期間を短縮化することができて、試験費用を低減化することができる着火確率予測実験装置を提供すること。 - 特許庁

To prevent damaging of a test device in a test process, by cutting off damaging due to separating in a transfer process, since a semiconductor element is not normally installed in an insert.例文帳に追加

半導体素子がインサートに正常に装着されないことにより、移送される過程で離脱して破損することを遮断し、更に、テスト過程でテスト装置を損傷させるのを防止する。 - 特許庁

When a test is performed with a clock signal of 10 MHz from a test device, an enable-signal EN having pulse width of 100 ns is generated by a FF4, and giving to a time adjusting circuit 10.例文帳に追加

試験装置から１０ＭＨｚのクロック信号ＣＬＫで試験を行うと、ＦＦ４でパルス幅１００ｎｓのイネーブル信号ＥＮが生成され、時間調整回路１０に与えられる。 - 特許庁

The hardness test device 10 comprises the sample stocker 2 for stocking a sample S before test, and a hardness testing machine 1 for testing the hardness of the sample S conveyed from the sample stocker 2.例文帳に追加

硬さ試験装置１０は、試験前の試料Ｓをストックしておく試料ストッカ２と、試料ストッカ２から搬送された試料Ｓの硬さ試験を行う硬さ試験機１と、を備える。 - 特許庁

A semiconductor memory device includes a plurality of RAM-macro RAM1 to RAM7 and a test control circuit corresponding the plurality of RAM-macro RAM1 to RAM7 to a plurality of memory test execution period.例文帳に追加

複数のＲＡＭマクロＲＡＭ１〜ＲＡＭ７と、複数のＲＡＭマクロＲＡＭ１〜ＲＡＭ７を複数メモリテスト実施期間に対応付けるテスト制御回路とを備えている。 - 特許庁

To reduce test time and test vector length, when examining access between all the logics (using a register, in the example following) which have storage functions inside a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置内の全ての記憶機能を持つロジック（以下例としてレジスタを用いる）間のアクセス検査を行うに際し、テスト時間及びテストベクタ長の削減を図る。 - 特許庁

ELECTRO-OPTIC MODULATOR ASSEMBLY FOR CONTACTLESS TEST OF FLAT PANEL DISPLAY, DEVICE AND METHOD FOR CONTACTLESS TEST OF FLAT PANEL DISPLAY USING THE SAME AND METHOD FOR MANUFACTURING FLAT PANEL DISPLAY USING THE METHOD例文帳に追加

平面表示装置非接触式検査用電気光学モジュレータ組立体、これを用いた検査装置及び検査方法、並びにこの検査方法を用いた平板表示装置の製造方法 - 特許庁

Consequently, this test manhour estimation device 1 can accurately estimate the manhour of the test repeatedly performed by the evaluator on the basis of data stored in the tables 16a and 16b.例文帳に追加

これにより、テスト工数見積装置１は、評価者が繰り返し実行するテストの工数を、テーブル１６ａ、１６ｂに蓄積されたデータに基づき、正確に見積もることができる。 - 特許庁

To provide a line simulation device corresponding to PBX, which can shorten required time for test by automatically and efficiently test-scheduling a plurality of scenarios.例文帳に追加

複数のシナリオの効率的なテストスケジューリングを自動的に行うことで、テスト所要時間を短縮することが可能なＰＢＸ対応用の回線シミュレーション装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a loading test device and its force control method capable of matching a waveform of a response wave showing a displacement of a test object with a target triangular waveform without deviation.例文帳に追加

試験対象の変位を示す応答波の波形を偏差なく目標の三角波形と一致させることができる加力試験装置及びその加力制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a game machine allowing a test device side to precisely grasp a change in a control state of the game machine and perform a test based on the change in the precise control state.例文帳に追加

試験装置側で遊技機の制御状態の遷移を正確に把握して正確な制御状態の遷移に基づいて試験を行うことができるようにした遊技機を提供すること。 - 特許庁

In a communication system 100 based on an OSI reference model, a pattern-body generating circuit 122 for a communication device 120 generates and outputs the main body of a jitter-test pattern for the jitter test.例文帳に追加

ＯＳＩ参照モデルに基づく通信システム１００において、送信装置１２０のパターン本体生成回路１２２は、ジッタテスト用のジッタテストパターンの本体を生成して出力する。 - 特許庁

To provide a heat generation compensating device which is used in a test handler which tests an module IC attached to a test socket, and can efficiently compensate the heat generation of the IC during tests.例文帳に追加

モジュールＩＣをテストソケットに装着してテストを行うテストハンドラに使用され、テスト中のＩＣの発熱補償を効果的に行うことのできる発熱補償装置を提供する。 - 特許庁

To easily conduct a test of the vibration state of an in-plant structure which required a long time from the installation of a device to the evaluation of a measurement and a test result in a short time.例文帳に追加

装置の設置から測定、試験結果の評価まで多大の時間を要していたプラント内構造物の振動状況の試験を容易に且つ短時間で実施できるようにする。 - 特許庁

A test device 1 is provided with a script storage section 2, that stores a message denoting contents of a test and its procedure and a message processing section 3, that reads this message and conducts processing according to the message.例文帳に追加

試験装置１には、試験の内容や手順を表すメッセージを収納するスクリプト収納部２と、このメッセージを読出して、メッセージに従って処理するメッセージ処理部３を設けた。 - 特許庁

To realize the same display quality as that of a plasma display panel in a product state as a display device, and carry out a test with high precision in carrying out a lighting test of the plasma display panel.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの点灯検査を行う際に、表示装置として製品化された状態のプラズマディスプレイパネルと同等の表示品位を実現し、高精度の検査を行うようにする。 - 特許庁

To save work of a car performance test system by totally automating including carriage of the car and efficiently conduct car performance test by linking each device.例文帳に追加

車両性能試験システムにおいて、車両の搬送をも含めた全自動化による省力化を図るとともに、各装置が連携して効率のよい車両性能試験が行えるようにする。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method of a semiconductor test program for automatically conducting inspection of plural conditional branches of a conditional branching instruction in the inspection of the semiconductor test program.例文帳に追加

半導体試験プログラムの検査において、条件分岐命令の複数の条件分岐の検査を自動で行う半導体試験プログラムの検査装置及び検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a test body reaction force estimating device capable of estimating reaction force of a testing body, based on known data such as vibration table oscillation force, without measuring directly a reaction force value of the test body.例文帳に追加

試験体の反力値を直接計測しなくても、振動台加振力等の既知データから試験体の反力を推定することが可能な試験体反力推定装置を提供する。 - 特許庁

A light signal modulated continuously is impressed on the device under test, the signal outputted from the device is measured by an electric power meter (power sensor).例文帳に追加

連続的に変調された光信号を被試験装置に印加し、被試験装置から出力される信号を電力計（パワーセンサ）で測定する。 - 特許庁