「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(93ページ目) - Weblio英語例文検索

This method and device are used when testing an electronic device having source synchronizing signal output by use of an automatic test equipment(ATE).例文帳に追加

源同期信号出力を有する電子デバイスを自動試験装置（ＡＴＥ）を用いて試験するための方法および関連の装置を記載している。 - 特許庁

To control the attitude of an imaging device so that a viewpoint position which is a relative positional relation between a test object and the imaging device becomes identical to a reference viewpoint position.例文帳に追加

検査対象と撮像装置との相対的な位置関係である視点位置が基準視点位置と同じになるように、撮像装置の姿勢を制御する。 - 特許庁

In a digitizer device 40, a plurality of ADCs 102a and 102b convert a plurality of analog signals outputted from a device under test into digital signals.例文帳に追加

デジタイザ装置４０において、複数のＡＤＣ１０２ａ、１０２ｂが、被試験デバイスから出力される複数のアナログ信号をそれぞれデジタル信号に変換する。 - 特許庁

The system is to test dimensions and geometric properties in a shaft 20, provided with both a device supporting/referencing the components to be inspected and an inspection device 40.例文帳に追加

シャフト２０の寸法や幾何特性を検査する装置であって、検査する部品を支持し参照する装置と検査装置４０とを備えている。 - 特許庁

The test device comprises a monitoring function for detecting the abnormal potential of a tester 1, in parallel with the measurement characteristics of an electronic device 3 to be measured.例文帳に追加

電子デバイス試験装置に、テスター１の異常電位の検出を被測定対象電子デバイス３の特性測定と並行してモニターする機能を設ける。 - 特許庁

To provide a testing device for enhancing precision of a test, by making an operation direction of expansion movement in a vibration controller consistent with an operation direction of expansion drive in the testing device.例文帳に追加

防振器の伸縮動と試験装置の伸縮駆動との動作方向を一致させて、試験の精度を向上させる試験装置を提供すること。 - 特許庁

To enable the constitution of a device with minimized test system and terminal number in a debug device for a plurality of processor cores, and the high-speed execution thereof.例文帳に追加

複数プロセッサコアのデバッグ装置において、最小限のテストシステムと端子数で装置を構成可能であり、かつ、高速に実行可能であるようにする。 - 特許庁

To provide an inspection method for an electronic instrument for easily executing a test of a device without occupying storage capacity included in the device while saving time.例文帳に追加

装置内蔵の記憶容量を占有することなく手間が掛からず簡単に装置のテストを実行できる電子機器の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a piezoelectric device which can pass a reliability test, improves adhesion strength with a mount substrate and further can be mass-produced, and a method of manufacturing the piezoelectric device.例文帳に追加

信頼性試験に耐え、実装基板との密着強度も向上し、且つ量産できる圧電デバイスおよび圧電デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a color filter substrate for a liquid crystal display device and a liquid crystal display device in which low temperature foaming and irregularities in a pressure test are effectively prevented.例文帳に追加

低温発泡及び押圧試験時のムラの発生を効果的に防止した液晶表示装置用カラーフィルタ基板及び液晶表示装置を提供すること。 - 特許庁

A test device 900 tests a communication controller 10 functioning as a layer-2 switch device relaying communication data based on information of the layer 2.例文帳に追加

試験装置９００は、レイヤ２の情報に基づいて通信データを中継するレイヤ２スイッチ装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A test device 900 tests a communication controller 10 functioning as a firewall device which passes only necessary communication and block unnecessary communication.例文帳に追加

試験装置９００は、必要な通信のみを通過させ、不要な通信を遮断するファイアウォール装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a radio device capable of evaluating the characteristics of a modulation circuit and a demodulation circuit without having to use an external test device, and to reduce the manufacturing cost.例文帳に追加

外部テスト装置を用いずに変調回路、復調回路の特性を評価でき、製造コストを低減することができる無線機を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method for manufacturing semiconductor device which realizes high accuracy DC current test as well as high integration and high speed.例文帳に追加

高集積化あるは高速化を図りつつ、高精度での直流電流試験を実現した半導体装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for automatically testing stored urine capable of improving operationality of a device by a patient and securely conducting a desired test.例文帳に追加

患者による装置の操作性を向上させることができ、所望の検査を確実に行うことができる自動蓄尿検査装置を提供すること。 - 特許庁

The high production or cost reduction of the semiconductor device is attained by performing an element test of the semiconductor element 20 with this element testing device 1.例文帳に追加

このような素子試験装置１を用いて、半導体素子２０の素子試験を行うことにより、半導体装置の高生産または低コスト化が実現する。 - 特許庁

To provide a module for testing that does not damage an electrode pad of a semiconductor device and restrains test costs, and to provide a testing method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の電極パッドへの損傷を与えず、且つ、試験コストを抑える試験用モジュール及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

SEALABILITY TESTING DEVICE OF JOINT OF PIPE MADE OF BONDED SYNTHETIC RESIN, AND SEALABILITY TEST METHOD OF JOINT OF PIPE MADE OF BONDED SYNTHETIC RESIN USING THE DEVICE例文帳に追加

接合合成樹脂製配管の接合部の密封性試験装置及びこれを用いた接合合成樹脂製配管の接合部の密封性試験方法 - 特許庁

A means is also provided, for cutting-off a current supply to the semiconductor device when detecting the overcurrent flow in the semiconductor device during the test.例文帳に追加

また試験中に半導体装置に過電流が流れたことが検知されたときに当該半導体装置への通電を遮断する手段を有する。 - 特許庁

To provide a wind tunnel simulation device for improving efficiency in designing by a wind tunnel test and a method for designing an airframe using the device.例文帳に追加

風洞試験による設計の効率化が得られる風洞シミュレーション装置及び風洞シミュレーション装置を用いた機体設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a constitution for performing an actual operation test of a data storage device inexpensively at a high speed.例文帳に追加

データ記憶装置の実働試験を安価にかつ高速に行うことができる構成を持った半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a platform for supporting metallic test access in a switching device or a multiplexing device such as a digital subscriber line access multiplexer(DSLAM).例文帳に追加

デジタル加入者回線アクセスマルチプレクサ（ＤＳＬＡＭ）などのスイッチング装置内または多重化装置内でメタリックテストアクセスをサポートするプラットフォームを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and a method of testing a semiconductor device reliably finding a failure caused by a measurement system before testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスを試験する前に測定系起因の故障を確実に発見する半導体試験システム及び半導体デバイスの試験方法を提供する。 - 特許庁

To quickly fill a test gas into an electric component and to quickly transport the electric component to an inspection device, by automating a process of filing the gas and transporting the device.例文帳に追加

電子部品へテスト用ガスを充填して検査装置へ移送する過程を自動化し、テスト用ガスの充填と検査装置への移送を速やかに行う。 - 特許庁

To store an output pattern of a device under test in the main memory, without increasing the band width request for the main memory by a testing apparatus.例文帳に追加

試験装置のメインメモリの要求バンド幅を増やすことなく、被試験デバイスの出力パターンをメインメモリに格納する。 - 特許庁

To set an optional value in a boundary scan register to facilitate a test, without operating an internal logic, in a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

内部ロジックを動作させることなく、任意の値をバウンダリスキャンレジスタに設定可能とすることにより、テストを容易にする。 - 特許庁

To provide a device for performing a test in vessel, achieving improved observation of important image and signal.例文帳に追加

重要な画像及び信号の改善された観察を可能にする脈管内検査を実施するための装置を提供する。 - 特許庁

The bit error inspecting device 100 is equipped with a test signal generating means 10 and bit error detecting means 21 and 22.例文帳に追加

ビットエラー検査装置１００は、テスト信号生成手段１０と、複数のビットエラー検出手段２１，２２とを備える。 - 特許庁

The test device includes storage sections 21, 22 at both the sides of the microchannel 11, and an oscillator 28 is stuck to the storage section 21.例文帳に追加

微細流路１１の両側に貯留部２１，２２を有し、貯留部２１には振動子２８が貼着されている。 - 特許庁

MEASUREMENT METHOD AND MEASUREMENT DEVICE FOR EACH COMPONENT CONCENTRATION IN INSPECTION LIQUID TO BE USED FOR WET TYPE FLUORESCENT MAGNETIC POWDER FLAW DETECTION TEST例文帳に追加

湿式蛍光磁粉探傷試験に用いる検査液における各成分濃度の測定方法および測定装置 - 特許庁

To provide a testing device highly accurately simulating a load applied to a fluid pressure actuator being a test body.例文帳に追加

試験体である流体圧アクチュエータに加える負荷の模擬を精度良く行うことが可能な試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory in which a highly reliable test is conducted to sort out a defective device.例文帳に追加

不良デバイスを選別する信頼性の高いテストを行なうことができる不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a spring contact suitable for high-speed transmission of mutual connection and the like between a semiconductor package and a test device.例文帳に追加

半導体パッケージとテスト装置との間の相互接続等の高速伝送に好適なスプリングコンタクトを提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for using a single electrical fuse (eFuse) bank in order to preserve test data continuously.例文帳に追加

テスト・データを連続的に保存するために単一の電気的ヒューズ（eFuse）バンクを使用するための装置および方法の提供。 - 特許庁

To conduct a test such as defect analysis normally by decreasing the wiring of the semiconductor device which has a plurality of banks.例文帳に追加

複数のバンクを有する半導体記憶装置の配線数を削減し、不良解析等のテストを正常に行う。 - 特許庁

To provide a user information registration method and an online test device for facilitating user information registration.例文帳に追加

ユーザ情報の登録を容易化できるユーザ情報登録方法及びオンライン試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

MEMORY DEVICE CAPABLE OF ADJUSTING BIT LINE SENSING MARGIN TIME FOR TEST MODE, ITS BIT LINE SENSE AMPLIFYING METHOD AND CONTROLLER例文帳に追加

テストモード用ビットラインセンシングマージン時間の調節が可能なメモリ装置、そのビットラインのセンス増幅方法及び制御装置 - 特許庁

To provide a semiconductor memory permitting to perform an efficient burn-in test in a logic-consolidated device or the like.例文帳に追加

ロジック混載デバイス等において、効率的なバーンイン試験を実行することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for eddy current flaw detection, in which a flaw detection test can be performed at a higher speed.例文帳に追加

探傷試験をより高速化することができる渦電流探傷装置および渦電流探傷方法を提供する。 - 特許庁

The LSI inspection device 101 comprises a signal saving circuit 104 and a test bench circuit 103 comprising an FPGA.例文帳に追加

ＬＳＩ検査装置１０１は、信号保存回路１０４とＦＰＧＡで構成されたテストベンチ回路１０３とを備える。 - 特許庁

A user does not generate signal data 32 itself through an input device 1, but specifies environmental conditions of a test.例文帳に追加

利用者は、入力装置１から、信号データ３２そのものを作成するのではなく、試験の環境条件を指定する。 - 特許庁

Further the above output device 208 can output amount of capacitance 210, 212 associated with the above test object.例文帳に追加

また、前記出力装置２０８は、前記被験物に関連付けられたキャパシタンスの量２１０，２１２を出力可能である。 - 特許庁

Thus, it is not required for an external device to directly measure the voltage Vout and the test can efficiently be performed.例文帳に追加

これにより、外部装置は、Ｖｏｕｔを直接計測する必要がなく、テストを効率的に行うことができる。 - 特許庁

To efficiently perform a mutual notification function test when an alarm and an emergency warning device are cooperated.例文帳に追加

警報器と緊急警報装置とを連携させた場合の相互報知機能の試験を効率よく行うことを可能とする。 - 特許庁

To shorten a test time for detecting failure in a plurality of data holding circuits mounted in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置に搭載される複数のデータ保持回路の故障を検出するためのテスト時間を短縮すること。 - 特許庁