「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(97ページ目) - Weblio英語例文検索

To shorten a scanning test time by operating averagingly the number of stages in a flip-flop of a scanning chain in the scanning test, when a difference is generated in the number of stages in the flip-flop of the scanning chain for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のスキャンチェーンのフリップフロップ段数に差が生じている場合に、スキャンテスト時にスキャンチェーンのフリップフロップの段数を平均化して動作させることにより、スキャンテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a program analysis device, a program analysis method and a program analysis program which automatically identify a factor point preventing generation of a test vector for an optional test item.例文帳に追加

任意のテスト項目に対してテストベクタを生成できない場合にその要因箇所を自動的に特定するプログラム解析装置、プログラム解析方法及びプログラム解析プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

This radar device is constituted so that transmission/reception of the search beam the test beam is controlled by a scheduling controller 16 for controlling the execution of target detection by using the threshold value and irradiation of the test beam.例文帳に追加

このスレッショルド値を用いて目標検出を行い、検定ビームを照射するように制御するスケジューリング制御器１６で捜索ビームと検定ビームの送受信を制御するように構成した。 - 特許庁

Using the test pattern generated by the test pattern generator 4, a resistor level trouble diagnosing device 5 performs the trouble diagnosis of a resistor level so as to generate the information for performing a gate level trouble diagnosis.例文帳に追加

レジスタレベル故障診断器５はテストパタン作成器４が生成したテストパタンを用いて、レジスタレベルの故障診断を行うことにより、ゲートレベル故障診断を行うための情報を生成する。 - 特許庁

To provide a capacitor-testing device that can apply test electric power with a desired frequency and a sufficient high voltage to the capacitor of a test object to surely perform the testing needed.例文帳に追加

試験対象となるコンデンサに対して、所望の周波数での試験電力を充分な高電圧で印加して、必要な試験を確実に行うことが可能なコンデンサ試験装置を提供する。 - 特許庁

To improve the accuracy of test of a semiconductor device (semiconductor package) in which a land for ball to be connected with a solder ball and a land for test not connected with a solder ball are provided on the undersurface of a wiring board.例文帳に追加

配線基板の下面に、半田ボールが接続されるボール用ランドと半田ボールが接続されないテスト用ランドとが設けられた半導体装置（半導体パッケージ）のテスト精度を向上させる。 - 特許庁

To simultaneously test the memory LSI and logic LSI, while limiting the scale of an additional test circuit to absolute minimum for the semiconductor device mounted, within the same package with the memory LSI and the logic LSI.例文帳に追加

メモリＬＳＩとロジックＬＳＩとを同一のパッケージ内に搭載した半導体装置において、追加するテスト回路の規模を最小限に抑えつつ、メモリＬＳＩとロジックＬＳＩとを同時にテストすること。 - 特許庁

To provide a testing apparatus of a semiconductor device and a test board that can perform continuous automatic test inexpensively with a socket for the testing apparatus having a structure capable of responding to many forms and a plurality of manufacturers.例文帳に追加

多品種および複数メーカにも対応可能な構造の、試験装置用ソケットにより、安価で連続的自動試験が可能な、半導体デバイスの試験装置およびテストボードを提供する。 - 特許庁

To reduce man-hours concerning a circuit for testing a gate array provided in a one-chip ASIC microcomputer and automatically convert test vectors for the gate array to test vectors for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

ゲート・アレイ部を備えたワンチップＡＳＩＣマイコンにおいて、ゲート・アレイ部の試験のための回路についての工数を削減し、ゲート・アレイ部のテストベクタを半導体集積回路装置のテストベクタに自動で変換する。 - 特許庁

To provide a bearing testing device capable of reproducing white peeling of a test bearing with high accuracy and in a short time, and reproducing white peeling of any of a rolling element and rolling surface of the test bearing.例文帳に追加

試験軸受の白色はく離再現を短時間で精度良く行えるとともに、試験軸受の転動体、転動面のいずれの白色はく離をも再現できる軸受試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an immunochromatographic test piece, immunochromatographic test piece set, immunochromatographic system and immunochromatographic device which are advantageous for increasing accuracy of measuring the concentration of an object to be measured, even when observing with naked eyes.例文帳に追加

肉眼で視認するときであっても、測定対象物の濃度を測定する測定精度を高めるのに有利なイムノクロマト試験片、イムノクロマト試験片セット、イムノクロマトシステム、イムノクロマトデバイスを提供する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method which are capable of reliably testing heat resistance, peel strength, or the like of an adhesive sheet adhered to a concave surface in a stretched state.例文帳に追加

粘着性シートが凹曲面に伸長状態で接着された状態における粘着性シートの耐熱性や剥がれ強さ等を確実に試験できる試験装置と試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a truck testing device capable of keeping truck levelness even if braking force or external force or disturbance input acts on a test truck, and ensuring the straight-ahead stability of the test truck.例文帳に追加

試験台車に制動力や外力や外乱入力が作用しても台車水平度を保持し、試験台車の直進安定性を確保することができる台車試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a flat plate loading test device and an attachment for flat plate loading tests whereby a flat plate loading test is smoothly conducted without requiring workers to get into a hazardous zone.例文帳に追加

危険区域内において、人が立ち入ることなく無人で平板載荷試験を円滑に行うことのできる、平板載荷試験装置及び平板載荷試験用アタッチメントを提供するを提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern detection device which has a high read precision of a test pattern while improving a position precision of an element by suppressing distortion of an element holding part when attaching a detection sensor.例文帳に追加

検知センサ取り付け時の素子保持部の歪みを抑え、素子の位置精度を上げつつ、テストパターンの読み取り精度が高いテストパターン検知装置を提供し、画像品質の高い画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The transmitter 21 of a determination device 20 transmits a complex waveform A/C test signal generated with a test signal generator 23A twice in a row to one ends of 11a, 11b of the balanced transmission path 10.例文帳に追加

判定装置２０の送出部２１は、試験信号生成部２３Ａで生成された複合波形交流試験信号を、平衡伝送路１０の一端１１ａ，１１ｂに立て続けに２回送出する。 - 特許庁

To measure the inertia quantity of an engine in the state where the test object engine is connected to a dynamo of an engine test device, concerning an engine inertia measuring method for measuring the inertia quantity of the engine.例文帳に追加

本発明は、エンジンの慣性量を測定するエンジン慣性測定方法に関し、試験対象のエンジンをエンジン試験装置のダイナモに連結した状態でそのエンジンの慣性量を測定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method capable of shortening furthermore a time required for a burn-in test, and hereby reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バーンイン試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

In the method and the device, defect and error in operations of VSLI simulation and a circuit are discriminated by forming the test and by using the test, and the performance is evaluated by using genetic algorithm.例文帳に追加

テストを生成し、該テストを使用して、ＶＬＳＩシミュレーション及び回路の動作上の欠陥及び誤りを識別し、及び遺伝的アルゴリズムを使用して性能を評価する、方法及び装置。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its control method for shortening the time required for a confirmation test for a drive potential and controlling an increase of the cost of the confirmation test for the drive potential.例文帳に追加

駆動能力の確認試験に要する時間を短縮し、駆動能力の確認試験の費用が増大することを抑制することができる半導体装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus, capable of making an input test pattern associate with an abnormality of voltage in detecting the abnormality of the voltage, when the test pattern is input into a device.例文帳に追加

テストパターンをデバイスに入力した時の電圧の異常を検出する際に、入力テストパターンと電圧の異常との対応付けをすることができる半導体試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a circuit component for performing a load test at an optional timing without depending on the timing of a test signal to a circuit component as an object to be tested.例文帳に追加

被試験体である回路部品に対して試験信号のタイミングに依存することなく任意のタイミングで負荷試験を行うことができる回路部品試験装置および方法を提供する - 特許庁

The device and method for management and maintenance of one or a plurality of periodic calibrations in a test apparatus provide an alert 1200 related to the present calibration status of the test apparatus.例文帳に追加

テスト機器における１つまたは複数の周期的なカリブレーションの管理および維持のための装置および方法が前記テスト機器の現在のカリブレーションステータスに関するアラート（１２００）を提供する。 - 特許庁

To complete derivation of a temperature acceleration coefficient required for an acceleration test for a ferroelectric memory device in a short period of time, and remarkably reduce the time required for the whole acceleration test.例文帳に追加

強誘電体メモリ装置の加速試験に必要な温度加速係数の導出を短時間に完了させると共に、加速試験全体に要する時間を大幅に短縮できるようにする。 - 特許庁

For such a stocker, because an apparatus-conveying test tubes can be constructed with an all-in-one type for one kind of test tubes, the number of conveyer device can be limited as an absolute minimum.例文帳に追加

このようなストッカーであれば、試験管を搬送する装置を一種類の試験管について一つもので構成することができ、搬送装置の数を必要最小限のものとすることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a scan test circuit, which can perform a scan pass test at a substantially high speed using a low speed tester by suppressing a cost, is integrated.例文帳に追加

コストを抑えながら、低速なテスターを用いて実質的に高速な動作速度においてスキャンパステストを実施することができる、スキャンテスト回路が組み込まれている半導体装置を提供する。 - 特許庁

Each of the fitting units 610 is detachably fitted with a nozzle stocker for replacing the suction nozzle with the mounting head and a test application device for performing test application of the adhesive by the coating head.例文帳に追加

取付部６１０には、装着ヘッドとの間で吸着ノズルの交換を行うノズルストッカや、塗布ヘッドによる接着剤の試し打ちを行うための試し打ち装置を着脱可能に取り付ける。 - 特許庁

Therefore, without the need for manufacturing the test device (an iron bird) imitating the actual machine for testing the stiffness or the durability of a steering system of the aircraft, a test with high precision can be inexpensively carried out.例文帳に追加

これにより、飛行機の操縦系統の剛性や耐久性を試験するための実機を模した試験装置（アイアンバード）を作成することなく、低コストで高精度の試験を行うことができる。 - 特許庁

A display control device 40 displays a first test pattern including a black first area and a white second area, and a second test pattern including a halftone area, on the electrooptical apparatus D1.例文帳に追加

表示制御装置４０は、黒色の第１領域と白色の第２領域とを含む第１テストパターン、および、中間調の領域を含む第２テストパターンを電気光学装置Ｄ1に表示させる。 - 特許庁

Also, the test device main body 1 is so configured that a waveform of a pattern signal is multiplied in the socket substrate and is connected to terminals of the ICs as test objects through a scramble part which can selectively change over the signal accelerated by the multiplication.例文帳に追加

ソケット基板においてパターン信号の波形を逓倍し，逓倍により高速化した信号を選択切替えられるスクランブル部を介して試験対象のＩＣの端子と接続するよう構成する。 - 特許庁

The device is equipped with a pressure vessel (test chamber) 2, which stores humidifying water 4 and also is capable of having a test sample 8 to be installed therein, and the inside of the pressure vessel 2 is constituted to have an additive gas to be introduced.例文帳に追加

加湿水４を貯溜するとともに内部に試料８を設置可能な圧力容器（試験槽）２を備え、この圧力容器２の内部には添加ガスを導入可能に構成されている。 - 特許庁

To provide an optical pulse test method and an optical pulse test device, capable of accurately executing the OTDR measurement of an optical fiber to be measured of a long distance using a short dummy fiber.例文帳に追加

本発明は、短いダミーファイバを用いて長距離の被測定光ファイバのＯＴＤＲ測定を精度よく行うことのできる光パルス試験方法及び光パルス試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To prevent an external RESET signal or external power OFF and an access to a nonvolatile memory from conflicting with each other, when a result of device test in a clock BT (Burn in Test) environment is recorded on the nonvolatile memory.例文帳に追加

クロックＢＴ環境におけるデバイス試験の結果を不揮発性メモリに記録する際に、外部ＲＥＳＥＴ信号または外部電源オフと不揮発メモリへのアクセスとの競合を防ぐ。 - 特許庁

This device 1 for conveying the test piece 2 with the attitude orthogonal to the conveyance direction D1 is provided with a pair of constraining faces 70A, 70B for constraining the test piece 2 in the D3, D4 directions.例文帳に追加

搬送方向Ｄ１に直交した姿勢で試験片２を搬送するための装置１において、Ｄ３，Ｄ４方向において試験片２を拘束するための一対の拘束面７０Ａ，７０Ｂを設けた。 - 特許庁

To provide a method of a leak test and a device for the leak test which are constituted with a simple constitution and capable of determining a compensation value easily, quickly surely, and precisely and determine an existing of the leak correctly.例文帳に追加

簡単な構成で、補正値を容易に短時間で精度良く的確に求めてワークの漏洩の有無の判定を正確に行うことができるリークテスト方法およびリークテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide an endurance test device for seat back fully providing endurance test performance even if such a strong load that compresses the top of a side section lengthwise along the side section is applied.例文帳に追加

サイド部の長手方向に沿ってサイド部の頂部を押し込むような強い負荷が加わったような場合にも、十分な耐久試験をすることができるシートバックの耐久試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a contour shape inspection method of a component and its device capable of acquiring an accurate silhouette image of a test object component even if another component is arranged on the position near the test object component.例文帳に追加

検査対象部品の近傍位置に別の部品が配置されていても検査対象部品の正確なシルエット画像が得られる部品の輪郭形状検査方法及びその装置を供すること。 - 特許庁

Test terminals 101 are formed outside terminals for driving a liquid crystal device, and test lines 102 are formed on a TFT substrate 100 arranged downside of the TFT substrate 100.例文帳に追加

液晶表示装置を駆動する端子の外側に検査用端子１０１を形成し、検査用配線１０２を当該ＴＦＴ基板１００の下側に配置されたＴＦＴ基板１００に形成する。 - 特許庁

After that, a magnetic disk device 10 determines whether the state of the head is abnormal from a test write result stored in a test write result table 12a, and finishes processing as it is when the state is not abnormal.例文帳に追加

その後、磁気ディスク装置１０は、試験ライト結果テーブル１２ａに記憶された試験ライト結果から、ヘッドの状態が異常であるか判断し、異常でない場合には、そのまま処理を終了する。 - 特許庁

To provide a device and method for issuing a non-contact information storage medium which is capable of quickly performing issuing processing and test in the same process, and performing a test suitable for its actual use.例文帳に追加

発行処理と試験とを同じ工程において短時間で行え、かつ、実使用と合った試験を行うことができる非接触情報記憶媒体の発行装置及び発行方法を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor storage device, sense amplifiers SA1-SAn, a switch part YSW4, and an input/output control circuit IOC are activated for a test cell to read data out of the test cell first (process 1).例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置では、（処理１）まず、テストセルに対してセンスアンプＳＡ１〜ＳＡｎとスイッチ部ＹＳＷ４と入出力制御回路ＩＯＣとを活性化させて、テストセルからデータを読み出す。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a test circuit of a multivalued logic circuit preventing increase of transmission delay of an output signal without providing newly an output terminal for a test signal.例文帳に追加

新たにテスト信号用の出力端子を設けることなく、かつ出力信号に伝達遅延の増加が生じない、多値論理回路のテスト回路を有する半導体装置を提供すること。 - 特許庁

A test program is analyzed by an emulator program internal block, and the analysis result is compared with computer-filed semiconductor device standards to find an error contained in the test program at its early stage and proofread it.例文帳に追加

テストプログラムをエミュレータプログラム内部ブロックにて解析し、解析された結果をコンピュータファイル化された半導体素子規格と相互比較してテストプログラムに含まれたエラーを初期に発見し、それを校正する。 - 特許庁

A test device 1 of a semiconductor integrated circuit comprises the input/output circuit 2, the tested circuit 3 formed of a SRAM, a logic circuit 4, a test circuit 5, a multiplexer MUX1, and a multiplexer MUX2.例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置１には、入出力回路２、ＳＲＡＭからなる被試験回路３、論理回路４、試験回路５、マルチプレクサＭＵＸ１、及びマルチプレクサＭＵＸ２が設けられている。 - 特許庁

To prevent a damage of a measuring probe needle when performing a large-numbered parallel test, and to heighten inspection efficiency, concerning a probe card, a semiconductor integrated circuit testing device and a semiconductor integrated circuit test method.例文帳に追加

プローブカード、半導体集積回路試験装置及び半導体集積回路試験方法に関し、多数個並列テストを行う際の測定プローブ針の損傷を防止するとともに、検査効率を高める。 - 特許庁