「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(101ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST CENTER SYSTEM, TERMINAL DEVICE, AUDITION COMPENSATION METHOD, AUDITION COMPENSATION METHOD PROGRAM RECORDING MEDIUM, AND PROGRAM FOR AUDITION COMPENSATION METHOD例文帳に追加

検査センター装置、端末装置、聴力補償方法、聴力補償方法プログラム記録媒体、聴力補償方法のプログラム - 特許庁

To provide a surface acoustic wave device which can improve moisture resistance and prevent a change in electrical characteristics in a moisture resistance test.例文帳に追加

耐湿性が向上し、耐湿試験での電気特性の変化を防止することができる弾性表面波デバイスを提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING TEST QUESTION AND ITS PROGRAM AND STORAGE MEDIUM WITH ITS PROGRAM STORED THEREON例文帳に追加

試験問題評価方法及び装置及び試験問題評価プログラム及び試験問題評価プログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

The network device 10 has an input means 12, a storage means 14, a communication means 16 and a communication test means 18.例文帳に追加

ネットワーク装置１０は、入力手段１２と記憶手段１４と通信手段１６と通信テスト手段１８を有する。 - 特許庁

To provide an actual device tester for a portable telephone which improves the control function of indication data in an actual telephone test.例文帳に追加

実機テスト時における表示データの管理機能を高めることのできる携帯電話用実機テスト装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus capable of accurately and efficiently discriminating normal/defective products of a device to be tested.例文帳に追加

被試験デバイスの良品・不良品の判定を精度良く且つ効率的に行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device such that a defect detection test can be conducted even in a product state after a packaging process.例文帳に追加

パッケージング工程後の製品状態においても欠陥検出試験を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and its testing method and device capable of accomplishing an effective test of the integrated circuit and generating a scan design involving less entanglement of the wiring.例文帳に追加

半導体集積回路の効果的なテストを実現し、且つ、配線の錯綜の少ないスキャンデザインを提供する。 - 特許庁

MEASURING DEVICE FOR MEASURING SOUND INSULATING PROPERTY OF CABIN COMPARTMENT OF AUTOMOBILE OF TEST OBJECT OR INSERTABILITY OF SOUND INSULATING MATERIAL例文帳に追加

試験対象物である自動車の乗客室区画の防音性又は防音材の挿入性を測定するための測定装置 - 特許庁

To provide a pipe testing device which can easily and accurately test the finishing of a steel pipe before lining by a simple data measuring.例文帳に追加

簡単なデータ測定により容易にかつ正確に原管の仕上り検査を可能にした原管検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a switching device which does not cause a voltage drop upon switching, and a test system using it.例文帳に追加

切り替え時に電圧低下を起こすことがない切り替え器およびそれを用いたテストシステムを提供することを目的にする。 - 特許庁

To provide a hydrant device for improving inspection efficiency and accuracy by allowing a water discharge test and discharge of water for fire-fighting thereafter.例文帳に追加

放水試験とその後の消火用水の水抜きを可能として点検効率と精度を高める消火栓装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device of a network license system which is usable without lowering production efficiency/test efficiency.例文帳に追加

生産効率・テスト効率を低下させることなく使用できるネットワークライセンス方式の半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁

To provide a voltage detection circuit test device for testing a voltage detection circuit simply, accurately in a short time.例文帳に追加

本発明は電圧検出回路を短時間に簡単かつ正確に試験する電圧検出回路試験装置を提供する。 - 特許庁

An input channel 210 fetches digital data from the device under test, and an event detection circuit 220 detects a plurality of events.例文帳に追加

入力チャネル２１０が被試験装置からのデジタル・データを取り込み、イベント検出回路２２０が複数のイベントを検出する。 - 特許庁

To achieve uniform temperature conditions of a semiconductor device during a burn-in test, with a simple structure without increasing the cost.例文帳に追加

バーンインテスト時における半導体デバイスの温度条件の均一化を簡単な構造で、且つコストアップすることなく達成する。 - 特許庁

To shorten time mainly required for testing with a testing device for testing an object from a plurality of visual test fields.例文帳に追加

検査対象物を複数の検査視野にて検査する検査装置において、主として、検査に要する時間の短縮を図る。 - 特許庁

To provide a test circuit, a semiconductor integrated circuit and a power supply device, capable of testing correctly a signal to be tested.例文帳に追加

被テスト信号のテストを正しく行うことが可能なテスト回路，半導体集積回路および電源装置の提供を図る。 - 特許庁

To provide a testing mode control circuit of a semiconductor device that can execute plural kinds of test mode in an arbitrary order.例文帳に追加

複数種類のテストモードを任意の順番で実施することができる半導体装置のテストモード制御回路を提供する。 - 特許庁

The probe device for integrated circuit devices includes a probe holder for supporting the probe card, a test head, and a temperature control mechanism.例文帳に追加

集積回路デバイス用プローブ装置は、プローブカード、プローブカードを支持するためのプローブホルダー、テストヘッド及び温度調節機構を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of carryung out a test accurately for guaranteeing a setup time and a hold time.例文帳に追加

セットアップ時間及びホールド時間を保証するためのテストを正確に実施できる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic load device, used for driving performance test of an audio power amplifier, and for independently setting load impedance and phase.例文帳に追加

オーディオパワーアンプの駆動能力試験に用い、負荷インピーダンスと位相とを独立して設定できる電子負荷装置を提供する。 - 特許庁

To provide a methodology and a device for detecting, monitoring or identifying a chemical test substance or a microbial specimen.例文帳に追加

化学物質検体または微生物検体を検出し、モニターし、または同定するための方法論およびデバイスが記載される。 - 特許庁

To provide a testing device and testing method for efficiently executing the operation test of codec software.例文帳に追加

本発明は、コーデックソフトウェアの動作試験を効率的に実行可能な試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device, whose test time can be reduced by simultaneously testing a plurality of memory devices.例文帳に追加

同時に複数個のメモリ装置をテストすることによってテスト時間を減らすことができる半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

CARTRIDGE FOR MONITORING FUNCTION OF DEVICE FOR TESTING BLOOD PLATELET ACTION, METHOD FOR FUNCTION MONITORING, AND USE OF TEST FLUID例文帳に追加

血小板の働きを検査する装置の機能をモニタするためのカートリッジ、機能をモニタする方法および検査流体の使用 - 特許庁

The optical radio collecting and distributing device sends an answer to the test packet and the optical radio communication terminal receives the answer.例文帳に追加

光無線集配装置は、このテストパケットに対する応答を送信し、光無線通信端末はその応答を受信する。 - 特許庁

To provide a waveform comparison method and a test device for determining equivalence between waveforms.例文帳に追加

本発明の課題は、波形間の等価性を判定するための波形比較方法及び試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To downsize a semiconductor integrated circuit device used for monitoring a secondary battery by reducing a test pad used for trimming.例文帳に追加

トリミング設定に用いられるテストパッドを削減し、二次電池の監視用に用いられる半導体集積回路装置を小型化する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device in which a test of its interface part can be performed especially for a memory LSI.例文帳に追加

とりわけメモリＬＳＩに対して、そのインターフェース部のテストを行うことが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

This device is for measuring the axial displacement quantity of a blade 2 in the turbo machine rotor for a ground test.例文帳に追加

本発明は、地上試験のためにターボ機械ロータのブレード２の軸方向変位量を測定する装置に関するものである。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE TESTING ON/OF STATE OF ODT CIRCUIT DURING DATA READ MODE AND TEST METHOD OF STATE OF ODT CIRCUIT例文帳に追加

データ読出モードでＯＤＴ回路のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法 - 特許庁

To enhance measuring precision for an electric characteristic test, without bringing two contacts into contact with chip electrodes of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のチップ電極に２本のコンタクトを接触させずに電気的特性試験の測定精度を向上させる。 - 特許庁

The IC socket, for testing an IC having many electrodes, is mounted on a test device through a socket board.例文帳に追加

ＩＣソケットは、ソケットボードを介して試験装置に設置され、多数の電極を配列したＩＣを試験するために設けられている。 - 特許庁

SHORTEST DISTANCE CALCULATION METHOD, PEDESTRIAN PROTECTING TEST LINE GENERATION METHOD, PROGRAM, DESIGN SUPPORT DEVICE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

最短距離計算方法および歩行者保護用試験線作成方法およびプログラムおよび設計支援装置および記録媒体 - 特許庁

A logic device 100 comprises: a data input 112; a scan test input 114; a clock demultiplexer 108; and a master latch 104.例文帳に追加

論理装置１００はデータ入力１１２、走査試験入力１１４、クロックデマルチプレクサ１０８、およびマスタラッチ１０４を含む。 - 特許庁

A scan pass test circuit 20 of the semiconductor device 10 includes scan chains 102, 107, an EXOR 201, and an SC control circuit 402.例文帳に追加

半導体装置１０が備えるスキャンパステスト回路２０は、スキャンチェーン１０２，１０７、EXOR２０１、及びＳＣ制御回路４０２を含む。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, BIST CIRCUIT, DESIGN PROGRAM FOR BIST CIRCUIT, DESIGN DEVICE FOR BIST CIRCUIT, AND MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、ＢＩＳＴ回路、ＢＩＳＴ回路の設計プログラム、ＢＩＳＴ回路の設計装置及びメモリのテスト方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can avoid false detection of a memory cell having a small cell capacitance, thereby preventing an increase in test time.例文帳に追加

セル容量が小のメモリセルの誤検出を回避可能とし、テスト時間の増大を防ぐ半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

To stably maintain test conditions and suppress deviations in the evaluation of delayed fracture in a device for testing delayed fracture.例文帳に追加

遅れ破壊試験装置において、試験条件を安定に維持して、遅れ破壊の評価のばらつきを抑制することである。 - 特許庁

When the fault is generated in the subscriber's circuit, a device managing part 1 outputs subscriber fault information to a test managing part 2.例文帳に追加

装置管理部１は加入者回路に障害が発生すると、加入者障害通知を試験管理部２に出力する。 - 特許庁

To provide a running test device for a vehicle for carrying out travelling testing in an environment near to the state of a practical road surface.例文帳に追加

実際の路面の状態に近い環境で走行試験を実施可能な、車両用走行試験装置を提供する。 - 特許庁

A space transformer includes contact pads of a test device formed on a first side and contact pads of a printed circuit board formed on a second side.例文帳に追加

第１の面にテスト・デバイスのコンタクト・パッドを、また第２の面にプリント回路基板のコンタクト・パッドを形成されて有する。 - 特許庁

To provide an adjustment device capable of carrying out balance adjustment of a counter weight without using a test weight.例文帳に追加

テストウェイトを使用せずにカウンターウェイトのバランス調整を行うことのできる調整装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a measurement method and measurement device of the component concentration of an inspection liquid to be used for a wet type fluorescent magnetic powder flaw detection test.例文帳に追加

湿式蛍光磁粉探傷試験に用いる検査液の成分濃度の測定方法および測定装置を提供する。 - 特許庁