「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(104ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test device for a semiconductor memory in which a test time can be shortened by interrupting logical comparison after the block when a defect is detected once in a noticing block, in a memory to be tested.例文帳に追加

本発明は、被試験メモリにおいて、注目ブロックで一度不良が検出されたら、以後そのブロックで論理比較を行なわないことにより試験時間の短縮が可能な半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a verification method of verifying an effective test program change time, in the situation where a test is allowed only once or times closely near thereto in a product such as the same magnetic storage device, and a verification system therefor.例文帳に追加

同じ磁気記憶装置などの製造物に対して１回程度しか試験できない状況において有効な試験プログラム変更時の検証方法及びその検証システムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for allowing endurance including scratch resistance to be appropriately and simply evaluated in the state that is close to a real use even when an optical product is coated.例文帳に追加

コーティングされた光学製品であっても、実際の使用に即した状態で、耐擦傷性能を含む耐久性について適切且つ簡易に評価をすることが可能となる試験方法ないし試験装置を提供する。 - 特許庁

This device/method includes the first chamber 2 connected in series to the second chamber 10, the first chamber 2 can transfer a solid test sample to the second chamber 10, and the second chamber 10 can hold the solid test sample.例文帳に追加

第２のチャンバ１０と直列に接続された第１のチャンバ２を含み、第１のチャンバ２は固体試験サンプルを第２のチャンバ１０へと移送可能で、第２のチャンバ１０は固体試験サンプルを保持可能である。 - 特許庁

To provide a test route verifying device which extracts an affected place based upon modification for a program test after program modification and verifies whether or not the affected place is tested.例文帳に追加

本発明の課題は、プログラム変更後のプログラムテストにおいて、変更に基づく影響箇所を抽出すると共に、影響箇所のテストが行なわれたかを検証するテストルート検証装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test device and a test method wherein false detection based on this can be suppressed even in the case of the outer periphery or the like of a sample such as a wafer having a charge change caused by a structural change in the sample.例文帳に追加

試料内の構造変化に起因する帯電変化を有するウエハ等の試料の外周等であっても、これに基づく誤検出を抑えることができる検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

In addition, when the number of abnormal heads is not equal to or more than the prescribed number, the magnetic disk device 10 performs write of only heads that are stored as a normal state with reference to the test write results stored in the test write result table 12a.例文帳に追加

また、磁気ディスク装置１０は、異常なヘッドの数が規定数以上でない場合には、試験ライト結果テーブル１２ａに記憶された試験ライト結果を参照し、正常と記憶されているヘッドのみライトを行う。 - 特許庁

The inspection device is provided with a holding means 3 which holds the test object 1 and background switching means (5, 6, and 8) which switch the brightness of the background when inspecting the irradiated surface of the test object 1.例文帳に追加

この装置は、被検物体（１）を保持する保持手段（３）と、照明光が照射された被検物体（１）の表面を検査する際の背景の明るさを切り換える背景切り換え手段（５、６、８）とを備えている。 - 特許庁

After the solider ball 8 is fused to the ball pad 2, using a reflow device (not shown), a caul plate 10 is bonded to a wire bonding surface 4 of the test piece 11, using a resin system adhesive 9 and loaded to a test board (not shown).例文帳に追加

図示しないリフロー装置を用いて、はんだボール８をボールパッド２に融着後、試験片１１のワイボン面４に、樹脂系の接着剤９を用いて当て板１０を接着し、図示しない試験台に装着する。 - 特許庁

The device 30 acquires a test result of delivery information which has the read configuration management ID as a delivery destination from the delivery management table 354, and determines whether to deliver the resource or not according to the test result.例文帳に追加

リソース管理装置３０は、読み出した構成管理ＩＤを配信先とする配信情報のテスト結果を配信管理テーブル３５４から取得し、テスト結果に応じてリソースを配信するかどうかを決定する。 - 特許庁

The projector device 1 projects a test pattern which is a predetermined image onto a screen 3, causes a camera 12 to image the test pattern projected on the screen 3, and causes a control section 11 to measure the brightness of each of pixels adjacent to one another.例文帳に追加

プロジェクタ装置１は、所定の画像であるテストパターンをスクリーン３へ投射し、スクリーン３上に投射されたテストパターンをカメラ１２で撮像し、隣接する画素毎の明るさを制御部１１で計測する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for a semiconductor integrated circuit capable of verifying the quality of a test pattern, by grasping a voltage condition impressed to each transistor, in a reliability test.例文帳に追加

信頼性試験において各トランジスタに印加される電圧状態を把握することによってテストパターンの良否を検証することができる半導体集積回路の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

An analysis and conversion processing part 1041 reads a test program 310 for another kind of equipment inputted from an input and output device 101 and stored in a storage part 1044, and executes following IC test processing.例文帳に追加

解析変換処理部１０４１は、入出力装置１０１から入力されて記憶部１０４４に記憶された他機種用のテストプログラム３０１を読み出して後述するＩＣテスト処理を実行する。 - 特許庁

To provide a test device for semiconductor parts which has high speed signal transmitting function, that structure is simplified and expansion in the direction of pin is superior by limiting a function for generating a test pattern by ALPG.例文帳に追加

ＡＬＰＧによる試験パターンの発生機能を限定することにより、構造を簡略化しかつ高速の信号伝送機能を有し、またピン方向への拡張性に優れた半導体部品の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image display device capable of easily setting an optimum image quality parameter by superimposing a test pattern whose effect caused by a change in an image quality parameter is visually easily recognizable on an OSD and displaying the test pattern.例文帳に追加

画質パラメータ変更に伴う効果が視覚的に分かり易いテストパターンをＯＳＤに重畳して表示することにより、最適な画質パラメータ設定を容易に行える画像表示装置を提供する。 - 特許庁

Current limiting circuits 23, 24 are arranged on the side of a test head 22, and an excessive current which flows when a short circuit occurs is limited by the limiting circuits 23, 24, at least in an interval up to when the current mechanism of a test power supply device starts to function.例文帳に追加

テストヘッド２２側に電流制限回路２３、２４を設け、少なくとも試験電源装置の電流機構が機能するまでの間、電流制限回路２３、２４で短絡時の過大な電流を制限する。 - 特許庁

The determination result is not the basic test/ diagnostic program, a new test/diagnostic program matching a change, addition, or the like of the system specifications is loaded from an external device 20 to be stored in an internal memory inside the control part 15.例文帳に追加

判別した結果が、基本試験・診断プログラムでない場合は、外部装置２０からシステムの仕様変更、追加等に対応した新規試験・診断プログラムをロードし、制御部１５内の内部メモリに記憶する。 - 特許庁

To provide a method and device for creating test patterns for a logic circuit capable of shortening the lengths of the test patterns created by an ATPG system for a sequential circuit and an ATPG system for a sequential circuit.例文帳に追加

本発明は、順序回路用ＡＴＰＧシステム及び組み合わせ回路用ＡＴＰＧシステムが生成するテストパタン長を短縮できる論理回路のテストパタン生成方法及び装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a built-in self-test device for memory circuit which can test the timing specification such as setup time, hold-time, or the like prescribed for a memory to be tested by using plural timing signals having a prescribed phase difference.例文帳に追加

所定の位相差を持つ複数のタイミング信号を用いて、被試験メモリに規定されるセットアップタイムやホールドタイム等のタイミングスペックの試験を可能にしたメモリ回路用の組込み自己試験装置を提供する。 - 特許庁

In a Pachinko game machine 1, in a non-rewritable performance image storage device 340, performance image data to be used in a performance display operation and the test display data to be used in the test of the display operation are stored.例文帳に追加

パチンコ機１において書き換え不可能な演出画像記憶装置３４０には、演出表示動作に用いる演出画像データおよび、表示動作の試験に用いるテスト表示データを記憶している。 - 特許庁

In the image forming device, a reflection-type sensor module 16 employs an ultraviolet LED light source 40, and therefore even if the test pattern is printed in any of C, M, Y, and K colors, a pattern of the highest concentration can be discriminated with high precision from the test pattern.例文帳に追加

反射型センサモジュール１６に紫外ＬＥＤ光源４０を用いているので、ＣＭＹＫいずれの色で印字されたテストパターンでも、高い精度で最も濃度の濃いパターンを判別することができる。 - 特許庁

On the other hand, each test tube with a label stuck thereon having specific information of a patient printed thereon is prepared one by one by a widely-used test tube preparation device, and supplied to the input position of the rack body.例文帳に追加

一方、汎用されている試験管準備装置で患者の特定情報を印字したラベル貼着後の試験管を一本ずつ準備し、これをラック本体への投入位置へ供給するようにしている。 - 特許庁

To provide a magnetic head test device and test method capable of testing the characteristic of a magnetic head with higher precision, and of heightening the quality of the magnetic head by allowing electromagnetic waves to act on the magnetic head.例文帳に追加

磁気ヘッドに電磁波を作用させることによって、磁気ヘッドの特性をさらに精度よく試験することができ、磁気ヘッドの品質向上を図ることができる磁気ヘッドの試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

This pilling image pickup device is composed of a line sensor camera and a cylindrical object around which the test cloth already pilled can be wound, wherein the cylindrical object can be rotated in a direction perpendicular to a sensing line, so that the test cloth is subjected to image analysis.例文帳に追加

ラインセンサーカメラとピリングが発生している被検布帛を巻き付けた円筒状物からなり、円筒状物をセンシングラインと直交方向に回転させ、画像解析するピリング撮像装置および評価方法。 - 特許庁

The semiconductor device 1 includes the semiconductor chip 2, the circuit board 3, a bonding wire 5, the sealing resin 6, an external electrode terminal 7, a test wiring line 8, and external electrode terminals 9a and 9b for test.例文帳に追加

本発明に係る半導体装置１は、半導体チップ２、回路基板３、ボンディングワイヤ５、封止樹脂６、外部電極端子７、テスト配線８、テスト用外部電極端子９ａおよび９ｂを備えている。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device inspection circuit which can cope with semiconductor devices which require different test signals for circuit inspections and call generate different test signals in accordance with the types of semiconductor devices to be inspected.例文帳に追加

回路検査のために異なるテスト信号が必要な半導体装置に対応でき、検査対象となる半導体装置の種類に応じて異なるテスト信号を生成できる半導体装置検査回路を実現する。 - 特許庁

In this measuring device, a test sample electrode 30 is provided with a flat hydrogen damage resistant metal test sample electrode 30 in which a hydrogen is not trapped and is permeated and a second electrode 40 disposed in adjacent to the electrode 30.例文帳に追加

水素原子がトラップされずに通過することができる平板状水素損傷耐性金属試験標本電極３０、及びこの電極に近接して配置される第２の電極４０を具備した装置とする。 - 特許庁

To provide a microplasma generating device which can control the distance between electrodes to generate a microplasma and allows a test piece to be observed, immediately after the test piece is processed by the plasma.例文帳に追加

微小プラズマを発生させるための電極間距離の制御を精度良く行うことが可能であって、且つ試料にプラズマ加工を施した直後の試料観察を可能とするマイクロプラズマ発生装置の提供。 - 特許庁

To provide an ice test device capable of obtaining high accuracy tire data for analyzing in short time, while maintaining a state of ice board that is close to an actual vehicle test, and to provide a method of evaluating on-ice performance of tire.例文帳に追加

実車試験に近い氷盤の状態を維持しながら、精度の高いタイヤデータを短時間で取得、解析することを可能とするタイヤの氷上試験装置および氷上性能評価方法を提供する。 - 特許庁

The organization-side distribution device 100 encrypts voice data to be used for a hearing test, and distributes the voice data as encrypted voice data to controlling computers 201, 202, and N installed in each test site through a network 12.例文帳に追加

機関側配信装置１００は、ヒアリングテストに使用される音声データを暗号化し、暗号化音声データとしてネットワーク１２を介して各試験会場ごと設置された制御用コンピュータ２０１，２０２、Ｎに配信する。 - 特許庁

The focus control device for a camera module to control a focus by using test charts is provided with a magnifying glass 6, and first chart 2 and second charts 3-5 which are used for test charts.例文帳に追加

この発明は、テストチャートを用いてフォーカス調整を行なうカメラモジュールのフォーカス調整装置にかかり、拡大鏡６と、テストチャートとなる少なくとも第１のチャート２および第２のチャート３，４，５とを備える。 - 特許庁

The optical transmission system of this invention is provided with a continuity confirmation circuit 106 for confirming continuity of an input data signal, a test signal generator 105 for generating a test signal, and a changeover device 107 at a transmission side.例文帳に追加

本発明の光伝送システムは、送信側に、入力データ信号の導通を確認する導通確認回路１０６と、テスト信号を発生させるテスト信号発生器１０５と、切替え器１０７とを有している。 - 特許庁

To provide a method, a device and a test piece for testing rubbing strength capable of testing the rubbing strength in a bonding face end part of the test piece between a metal material and a synthetic resin material, without providing an initial crack.例文帳に追加

初期亀裂を設けることなく試験片の金属材料と合成樹脂材料との接着面端部での摺り強度を試験することができる摺り強度試験方法及び装置、試験片を提供する。 - 特許庁

This test system 100 capable of integrating a plurality of modules 108 enabling supply of a test signal to a device to be tested is equipped with a deliverer 150 functioning as an interface when communicating between prescribed two modules.例文帳に追加

被試験デバイスに試験信号を供給可能なモジュール１０８を複数組み込み可能な試験システム１００は、所定の二つのモジュール間で通信を行う際のインタフェースとして機能する配送器１５０を備える。 - 特許庁

The transmission device Tx provided for transmitting a practical signal is also used as the transmitter of the test signal by switching it from transmission mode to test mode, and the transmission device Tx itself is further used as the receiver of the reflected signal MS.例文帳に追加

実用信号を伝送するために設けられた伝送装置Ｔｘが、伝送モードから試験モードに切り替えられることによって、試験信号の伝送部としても使用され、また、伝送装置Ｔｘ自体が、反射信号ＭＳの受信部としても使用される。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor device in which fault can be recognized even when a switching circuit and a memory are broken down simultaneously, when output from plural memories incorporated in each semiconductor device is switched and tested using the same signal for test.例文帳に追加

同一のテスト用信号を用いて各半導体装置に内蔵されている複数のメモリからの出力を切り替えて検査する際に、切り替え回路とメモリが同時に故障した場合でも、故障の認識が可能な半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device and method and a simulation device for semiconductor test capable of easily performing cause investigation at low cost when in fail by enabling various timings to be set to negative values without a large increase of costs.例文帳に追加

コストの大幅な上昇を伴わずに各種タイミングを負の値に設定することを可能にすることで、フェイル時の原因究明を容易且つ安価に行うことができる半導体試験装置及び方法並びに半導体試験シミュレーション装置を提供する。 - 特許庁

To acquire a highly-accurate measurement result in a tire testing machine having a spindle device 2 for holding rotatably a test tire T and provided with a detector 29 capable of measuring a load generated from the test tire T to the spindle device 2.例文帳に追加

供試タイヤＴを回転自在に保持するスピンドル装置２を有し、このスピンドル装置２に対して供試タイヤＴから発生される荷重を測定可能な検出器２９が設けられたタイヤ試験機において、高精度の測定結果を得ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a device and method for testing semiconductor integrated circuit device by which test items can be set more efficiently by setting the items based on test results and, consequently, an object to be measured can be tested efficiently.例文帳に追加

試験結果に基づいて試験項目を設定することにより効率的に試験項目を設定することができ、その結果として効率的に被測定対象の試験をすることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To solve a problem that if following diagnoses are not carried out by using a data acquisition device with an appropriate procedure having an appropriate diagnostic instance UID, a different test is generated in an input device and combining a new verified artifact with the appropriate test will not be implemented.例文帳に追加

後続する診察が適切な検査インスタンスUIDを持つ適切な要求プロシージャを備えた取得装置を用いて行われない場合、異なる検査は前記入力装置に生成され、新しい照合されたアーチファクトが適切な検査と組み合わされることはない。 - 特許庁

The projection type video display device 100 calculates the positional relationship between the projection type video display device 100 and the projection surface 400, on the basis of three or more intersections in a stored test pattern image and three or more intersections in an imaged test pattern image.例文帳に追加

投写型映像表示装置１００は、記憶テストパターン画像における３つ以上の交点及び撮像テストパターン画像における３つ以上の交点に基づいて、投写型映像表示装置１００と投写面４００との位置関係を算出する。 - 特許庁

To realize a memory module in which electrical an assembly check of a memory device and a test for write-in and read-out operations of simple data can be performed with an inexpensive tester, the number of input/output pins for test is small and data input/output characteristics of a memory device is not deteriorated.例文帳に追加

安価なテスタでメモリデバイスの電気的なアセンブリチェックと簡単なデータの書き込みおよび読み出し動作の検査とが行え、検査用の入出力ピン数が少なく、メモリデバイスのデータの入出力特性を悪化させないメモリモジュールを実現する。 - 特許庁

Test results of performance test of a manufactured actual device and those in an actual operation environment are successively reflected on a virtual carrying device designed on the basis of the requested carrying route and carrying performance, and an actual operation process is executed on the basis of the reflected result.例文帳に追加

要求される搬送経路及び搬送能力に基づいて設計した仮想の搬送装置に、製造した実機の性能のテスト結果及び実稼働環境における実機の性能のテスト結果を順次反映させ、これに基づいて実稼働工程を実施する。 - 特許庁

The fuel cell device carrying out power generation by electrochemical reaction of fuel gas and oxidant gas is made provided with a leak test treatment means 71 executing a leak test of a fuel reforming line 61, and a control unit 55 controlling operation of each part of the device.例文帳に追加

燃料ガスと酸化剤ガスとの電気化学的反応により発電を行う燃料電池装置において、燃料改質ライン６１のリーク検査を処理実行するリーク検査処理手段７１を、装置の各部の動作を制御する制御装置５５に設ける。 - 特許庁

The microphone 115 is provided near the speaker in headphones 110, the microphone 115 obtains voice to which a test examinee 100 wearing the headphones listens during test execution, and the obtained voice is stored as a recorded voice signal in a storage device provided in a voice reproducing device.例文帳に追加

ヘッドホン内のスピーカー近くにマイクを設け、これにより試験実施中ヘッドホンを装着した試験受験者が聴取する音声を採音し、採音した音声信号を音声再生装置の内部に設けた記憶装置内に録音音声信号として蓄積する。 - 特許庁