「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(108ページ目) - Weblio英語例文検索

The lens specifying device has a measurement optical system 20 which measures optical characteristics of the test lens 30, and a processing circuit 37 which decides which of a spherical lens and an aspherical lens the test lens 30 is based upon sphericities of a peripheral edge part and other parts of the test lens 30.例文帳に追加

被検レンズ３０の光学特性を測定する測定光学系２０と、前記測定光学系２０で測定された被検レンズ３０が単焦点レンズである場合、被検レンズ３０の周縁部と他の部分の球面度数によって被検レンズ３０が球面レンズか非球面レンズかを判別する処理回路３７を有する。 - 特許庁

The gas permeability evaluation device of the film includes a test piece storage chamber 19 as a container having an inside where the test piece is stored; and environment maintenance means for maintaining the environment inside the test piece storage chamber 19 at fixed gas concentration, fixed temperature, and fixed pressure higher than the atmospheric pressure.例文帳に追加

フィルムのガス透過性評価装置は、試験片が保管される内部を有する容器としての試験片保管チャンバー１９と、試験片保管チャンバー１９の内部の環境を一定のガス濃度、一定の温度、かつ大気圧より高い一定の圧力に維持する環境維持手段とを備えている。 - 特許庁

A metal test piece is arranged in a constant-temperature constant-humidity room for realizing the change of the temperature and the relative humidity similar to the actual outdoor environment, and the temperature of the metal test piece is controlled by a temperature control device based on a dew point temperature calculated from the temperature and the relative humidity, to thereby generate condensation on the metal test piece surface.例文帳に追加

実際の屋外環境と同等の温度及び相対湿度の変化を実現する恒温恒湿室内に金属試験片を配置し、温度及び相対湿度から計算される露点温度に基づき、温度制御装置により金属試験片の温度を制御して金属試験片表面に結露を生じさせる。 - 特許庁

To provide a memory board test device which can perform a test by applying a test pattern signal from any connection part side in a memory board having such a structure that a plurality of memory chips are incorporated, these memory chips are connected in parallel and both ends of these connection lines being connected in parallel are connected to the connection parts of one side and the other side.例文帳に追加

複数のメモリチップを搭載し、これら複数のメモリチップを並列接続し、この並列接続した接続線の両端を一方と他方の接続部に接続した構造のメモリボードにおいて、何れの接続部側からでも試験パターン信号を印加して試験を行うことができるメモリボード試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten a verification period of time by automating test bench generation for verifying a DUT by a device which automatically generates a test bench having a library in which verifying devices including models and monitors are registered, and then eliminating misgeneration of the test bench and shortening a generation time to start up the verification fast.例文帳に追加

モデル・モニタを含む検証装置を登録したライブラリを有するテストベンチを自動生成する装置において、ＤＵＴを検証するためのテストベンチ作成を自動化することで、テストベンチの作成ミスの排除と作成時間の短縮がはかれ、検証の立上げが早くなることで検証時間の短縮を行う事を目的とする。 - 特許庁

Design data D101 including circuit data of a test point and information relevant to the test method attached to this test point is input, and design data having undergone code analysis by a design data code analysis section K102 in a data input section K101 is stored in a storage device 700 with a database storage section K103.例文帳に追加

テストポイントの回路データと、このテストポイントに付属するテスト手法に関連した情報を含む設計データＤ１０１を入力し、データ入力部Ｋ１０１における設計データコード解析部Ｋ１０２によるコード解析を経た設計データがデータベース格納部Ｋ１０３により記憶装置７００に格納される。 - 特許庁

A low-speed test signal transmission control part 22 generates a predetermined low-speed test signal to be transmitted to the semiconductor device 4 based on an instruction from the LSI tester 3, and outputs the generated low-speed test signal to a first driver 23 with predetermined timing based on an output instruction from the tester 3.例文帳に追加

低速テスト信号送信制御部２２は、ＬＳＩテスタ３からの指令に基づき、半導体装置４に送信すべき所定の低速テスト信号を生成し、ＬＳＩテスタ３からの出力指令に基づいて所定のタイミングで、その生成する低速テスト信号を第１ドライバ２３に出力する。 - 特許庁

The test head 40 includes: a test head body 50 having a frame 51; an interface device 60 electrically connecting the probe card 20 and test head body 50 to each other; and a brake unit 80 interposed between the probe card 20 and frame 51, and transmitting pressure F, applied to the probe card 20, to the frame 51.例文帳に追加

テストヘッド４０は、フレーム５１を有するテストヘッド本体５０と、プローブカード２０とテストヘッド本体５０とを電気的に接続するインタフェース装置６０と、プローブカード２０とフレーム５１の間に介在して、プローブカード２０に印加される押圧力Ｆをフレーム５１に伝達するブレーキユニット８０と、を備えている。 - 特許庁

When a print control device is commanded to print multiple copies of the same image as test printing, it generates print data of the same image as an actual print, and prints the image in a first test print run (S120-S140, S210-S230) and extracts only the outline of the image and prints the simplified image in test print runs after the first run (S170-S230).例文帳に追加

同一画像の試し刷りが複数部指示された場合に、１部目では本印刷と同一の画像により印刷データを生成して試し刷りし（Ｓ１２０〜Ｓ１４０，Ｓ２１０〜Ｓ２３０）、２部目以降では輪郭部分だけを抽出して簡素化した画像により試し刷りする（Ｓ１７０〜Ｓ２３０）。 - 特許庁

This system includes the exhalation bag capable of connecting the exhalation bag to the test tube by a hollow needle to transfer the expiration to the test tube, allows selection between the transfer of the expiration to the test tube and the direct connection to the testing device without transfer, and is applicable to the plural different types of testing devices.例文帳に追加

呼気バッグと検査管とを中空針で連結して呼気を検査管に移転可能とした呼気バッグを含み、呼気を検査管に移転するか若しくは移転せず直接検査装置に接続するかの選択を可能とし、複数の異なるタイプの検査装置に適応可能としたことを特徴とする。 - 特許庁

In the display device, when a test program is loaded, a test route between the respective design modules of a semiconductor tester described in the test program and the DUT is made in a block diagram, and an initialized value on the program is imaged and outputted on a screen.例文帳に追加

テスタを構成するメインフレームのテスターコントローラに設けられ、ヘッドの操作状態を表示する表示装置において、テストプログラムロード時に、テストプログラムに記述された半導体試験装置の各計測モジュールとＤＵＴ間のテスト経路をブロック図とし、プログラム上の初期設定値をイメージ化して画面に出力する。 - 特許庁

To observe an image having an optimum contrast to suit an objectives by detecting and separating secondary signal particles generated from the surface of a test piece, dark field transmission signal particles transmitted scattered in the test piece, and bright field transmission signal particles transmitted not being scattered in the test piece, in a charged particle beam device.例文帳に追加

荷電粒子線装置において、試料表面から発生した二次信号粒子と、試料内で散乱して透過した暗視野透過信号粒子と、試料内を散乱しないで透過した明視野透過信号粒子を分離して検出し、目的に応じた最適なコントラストの像を観察する。 - 特許庁

To provide a connection work auxiliary device for a compressed-gas cylinder pressure test capable of performing each work process in the compressed-gas cylinder pressure test easily and efficiently without damaging a base of the cylinder, and especially automatizing the pressure test of the compressed-gas cylinder having a soft base or the compressed-gas cylinder having a small base diameter.例文帳に追加

高圧ガス容器耐圧試験の各作業工程が、容器の口金を傷めることなく、容易、かつ能率良く行なえ、特に口金の軟かい高圧ガス容器や口金の直径が小さい高圧ガス容器の耐圧試験を自動化できる高圧ガス容器耐圧試験の接続作業補助装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can greatly shorten test time required for tests by enabling measurement of three or more signals simultaneously and by greatly increasing the number of devices under test (DUT) which can be tested simultaneously, and can largely improve flexibility in the allocation of DUT pins.例文帳に追加

３信号以上の同時測定を可能にするとともに同時試験可能なＤＵＴの数を大幅に向上させることで試験に要する時間を大幅に短縮することができ、更にはＤＵＴのピンの割り付けの自由度を大幅に向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To automatically correct the correspondence between XY coordinates on the side of an automatic jig, which is mounted on the test head of an IC testing device and corrects the operation state of a circuit connected to respective pins of an IC socket arranged on the test head by automatically bringing the probe into contact with the respective pins, and a XY position on the test head.例文帳に追加

ＩＣ試験装置のテストヘッドに装着され、テストヘッド上に配置されたＩＣソケットの各ピンにプローブを自動的に接触させ、ＩＣソケットの各ピンに接続された回路の動作状態を校正する自動治具において、自動治具側のＸＹ座標と、テストヘッド上のＸＹ位置との対応を自動的に校正する。 - 特許庁

The radio communication device is equipped with a transmission part, a reception part, a return test decision part, an interference wave detection part which detects the interference wave, and a control part which makes the transmission part send a signal when the detected interference wave is less than a given value so that the return test decision part makes a return test decision.例文帳に追加

無線通信装置が、送信部、受信部、折り返し試験判定部、干渉波を検出する干渉波検出部、検出された干渉波が所定値以下の場合に送信部から信号を送信させ、折り返し試験判定部が折り返し試験判定を行なうよう制御する制御部を備える。 - 特許庁

In this spraying corrosion testing device using a water-sealing system, a porous water-absorbing material is mounted on either or both of a lower fringe part of an upper lid of the test tank and a bottom part of a groove part of the test tank, and the bottom part of the groove part is tilted downward toward the inside of the test tank.例文帳に追加

ウォーターシール方式を用いた噴霧腐食試験装置において、前記試験槽の上蓋の下方周縁部と前記前記試験槽の溝部の底部とのどちらか一方又は両方に多孔質吸水性物質を取り付け、前記溝部の底部を前記試験槽内部に向かって下方傾斜させること。 - 特許庁

This fatigue tester for testing fatigue of a test body includes an X-ray residual stress measuring device capable of measuring a residual stress of a portion to be measured in the test body, and a stress concentration gage for measuring a stress amplitude of the portion to be measured in the test body.例文帳に追加

試験体の疲労を試験する疲労試験装置であって、試験体における被測定部位の残留応力を測定するＸ線残留応力測定装置と、試験体における被測定部位の応力振幅を測定する応力集中ゲージを備えることを特徴とする、疲労試験機が提供される。 - 特許庁

The write-protection device stores test data in a first register, causes the processor to write the test data read from the first register into a second register, and permits the processor to write data into a third register after a data determination means compares the test data in the first register and the data in the second register to find their matching.例文帳に追加

本発明では、試験データを第１のレジスタに記憶し、プロセッサが第１のレジスタから読み出した試験データを第２のレジスタに書き込み、データ判定手段が第１のレジスタの試験データと第２のレジスタのデータとを比較して一致した時に、プロセッサのデータが第３のレジスタへ書き込み許可される書き込み保護装置を用いる。 - 特許庁

Test adjustment of the measuring instrument 2 at site is performed by inputting a simulated process amount into the measuring instrument 2 at site through a simulated test input pipe 33 by the measuring instrument test device 31 and taking in its output through a simulated signal measuring cable 32 to automatically adjust the measuring instrument 2 at site so that a value is within a predetermined scope.例文帳に追加

そして、現場計器２の試験調整は計器試験装置３１が模擬試験入力管３３を介して当該現場計器２に模擬的プロセス量を入力させ、その出力を模擬信号計測ケーブル３２を介して取り込んで、当該値が所定範囲内になるように現場計器２を自動調整する。 - 特許庁

This plastic discriminating device comprises a sampling part 2 for sampling a test piece 1 from the discriminating object including plastic, a discriminating part 3 comprising a detecting part 4 for discriminating the kind of plastic included in the test piece 1, and a supplying part 5 for supplying the test piece 1 to the detecting part 4 from the sampling part 2.例文帳に追加

プラスチックを含む識別対象物から試験片１をサンプリングするサンプリング部２と、試験片１に含まれるプラスチックの種類を識別する検出部４を備えた識別部３と、試験片１をサンプリング部２から検出部４へ供給する供給部５とを備えるプラスチック識別装置とすればよい。 - 特許庁

A conveyance path 14A for conveying the pallet 16 carrying a specimen 2, and a deadhead path 15A for deadheading an empty pallet 16 after removing the specimen 2 after a test at a speed faster than a speed of conveyance on the conveyance path 14A are arranged in an interior of the test tank 12 of the environmental test device 3.例文帳に追加

環境試験装置３の試験槽１２の内部には被試験品２を載せたパレット１６を搬送するための搬送路１４Ａと、試験終了後に被試験品２が取り除かれた後の空のパレット１６を、搬送路１４Ａを搬送される速度よりも速い速度で回送するための回送路１５Ａとが配置されている。 - 特許庁

A closed loop is formed to supply an output data of the digital filter 1 to an input side by multiplexers 2, 3 of the test device, a controller 8 sets the test data in the input side of the digital filter 1 under the condition where the closed loop is formed, and arithmetic processing is executed to carry out a functional test automatically.例文帳に追加

テスト装置１９のマルチプレクサ２及び３によって、デジタルフィルタ１の出力データを入力側に与えるように閉ループを形成し、コントローラ８は、閉ループを形成した状態でデジタルフィルタ１の入力側にテストデータを設定し、演算処理を実行させて機能テストを自動的に行なう。 - 特許庁

While the front of the test piece 2 which was broken in the tension test is irradiated by a 2nd lighting device 40, a CCD camera 20 picks up an image of a part which includes at least two marking-off lines 2a and has the rupture surface interposed between the marking-off lines 2a to obtain the image regarding the test piece 2.例文帳に追加

引張り試験によって破断した試験片２の正面を第二照明装置４０で照らしながら、ＣＣＤカメラ２０で、少なくとも二つのケガキ線２ａを含む部分であってケガキ線２ａ間に破断面が介在する部分を撮像することにより、試験片２についての画像を取得する。 - 特許庁

After a test device 20 writes data for test in the first register 11 of the non-volatile memory 10, transfers the data for test to the second register 12 through each bit line, reads out data of the second register 12, compares this read out data with data written in the first register 11, and discriminates existence of discontinuity of each bit line.例文帳に追加

検査装置２０は、不揮発性メモリ１０の第１レジスタ１１に検査用データを書き込んだのち、その検査用データを各ビット線２を介して第２レジスタ１２に転送させ、第２レジスタ１２のデータ読み出し、この読み出したデータを第１レジスタ１１に書き込んだデータと比較し、各ビット線２の断線の有無を判定する。 - 特許庁

A device is provided with a test head that transmits and receives a signal and tests, a performance board electrically connected to this test head to transmit and receive the signal with the test head, and the DUT card connected to this performance board by switching the output pin of the image activating driver.例文帳に追加

本装置は、信号の授受を行い、試験を行うテストヘッドと、このテストヘッドと電気的に接続し、テストヘッドと信号の授受を行うパフォーマンスボードと、このパフォーマンスボードに映像駆動ドライバの出力ピンを切り替えて電気的に接続するＤＵＴカードとを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a reliable network having no non-test section, where related to a CLAD test system, a test function interlocked with a CLAD part is realized, which is combined with conventional STM and ATM transfer methods, in a device and network having an STM-ATM conversion function.例文帳に追加

本発明はＣＬＡＤ試験システムに関し、ＳＴＭ−ＡＴＭ変換機能を持つ装置及びネットワークにおいて、ＣＬＡＤ部と連動した試験機能を実現し、従来からのＳＴＭ及びＡＴＭ転送方式と組み合わせることによって無試験区間の無い信頼性の高いネットワークを実現することを特徴としている。 - 特許庁

The testing equipment to be attached includes a safety device comprising a shell-like body which surrounds the test container during a test installed on a body along with the body to intercept the approach of the measuring person and is subjected to opening operation after the interruption and completion of the test to move to permit the approach of the measuring person.例文帳に追加

取り付けられる試験機器は、本体上に設置された試験中の試験容器を本体とともに囲繞し測定者の接近を遮断するとともに、試験中断及び試験終了後に開動作して移動し測定者の接近を許容する殻状体からなる安全装置を含む。 - 特許庁

A mobile phone 1 includes an operation part-side enclosure 2, a loud speaker 90 disposed in the operation part-side enclosure 2, and a circuit board 70 which is disposed in the operation part-side enclosure 2 and has a test point to be brought into contact with a test member 125 connected to an external test device 123.例文帳に追加

携帯電話機１は、操作部側筐体２と、操作部側筐体２における内部に配置されるスピーカ９０と、操作部側筐体２における内部に配置され外部の検査装置１２３に接続された検査部材１２５に接触されるテストポイント７７が配置された回路基板７０と、を備える。 - 特許庁

The testing device include: input terminals CN1-CN12 which enable the input of one or more types of test data obtained as a result of a test covering a game machine; and a memory 321 on which inputtable data are stored which represents the types of the test data to be outputted from the game machine involved corresponding to machine type data for identifying the game machine.例文帳に追加

遊技機による試験の結果であり１以上の種類がある試験データを入力可能な入力端子ＣＮ１〜ＣＮ１２を有するとともに、遊技機を識別するための機種データに対応して、当該遊技機から出力される試験データの種類を表す入力可能データが記録されたメモリ３２１を備える。 - 特許庁

The WUSB device 12 includes test data generated by a PRBS generation part 126 in a payload part according to a test packet transmission request received from the WUSB host 11 and transmits a test packet to which an FCS capable of detecting a coding error of the payload part is added to the WUSB host 11.例文帳に追加

ＷＵＳＢデバイス１２は、ＷＵＳＢホスト１１から受信した試験パケット送信要求に応じて、ＰＲＢＳ生成部１２６によって生成された試験データをペイロード部分に含み、ペイロード部分の符号誤りを検出可能なＦＣＳが付加された試験パケットをＷＵＳＢホスト１１に送信する。 - 特許庁

To provide a tire damage testing device capable of performing a highly accurate damage test having little dispersion when specifying a damaged spot of a test tire by dropping an impact block equipped with a heavy bob to abut surely on a specific spot of a tire tread part from the tire side part side of the test tire.例文帳に追加

試験タイヤのタイヤサイド部側からタイヤトレッド部の特定箇所に重錘を備えた衝撃ブロックを落下させて確実に当接させることで、試験タイヤの損傷箇所の特定する場合にバラツキが少なく、精度の高い損傷試験を行うことが出来るタイヤ損傷試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A high-speed test signal transmission control part 24 generates a predetermined high-speed test signal to be transmitted to the semiconductor device 4 based on an instruction from the LSI tester 3, and outputs the generated high-speed test signal to a second driver 25 in predetermined timing based on the output instruction from the LSI tester 3.例文帳に追加

高速テスト信号送信制御部２４は、ＬＳＩテスタ３からの指令に基づき、半導体装置４に送信すべき所定の高速テスト信号を生成し、ＬＳＩテスタ３からの出力指令に基づいて所定のタイミングで、その生成する高速テスト信号を第２ドライバ２５に出力する。 - 特許庁

The inkjet recoding device performs test printing prior to printing based on image data inputted, prints a plurality of test pattern images on recording medium so as to provide a plurality of drying times, prints drying levels correspondent to the test pattern images on the recording medium and discharges a recording medium to stick undried ink.例文帳に追加

入力された画像データに基づく印字以前にテスト印字を行い、複数の乾燥時間となるように、記録媒体に複数のテストパターン画像各々を印字するとともに、各テストパターン画像に応じた乾燥レベルを印字して排出し、更に、未乾燥のインクを付着するための記録媒体を排出する。 - 特許庁

The multivalent ion irradiation device 30 comprises a multivalent ion generating source 1, a multivalent ion guide 33 for introducing the multivalent ions to a test piece, a movable testpiece table 36 for mounting a test piece 35, and a secondary electron detector 38, and irradiates multivalent ions 34 on a prescribed position of the test piece 35 by controlling the movable testpiece table 36.例文帳に追加

多価イオン照射装置３０は、多価イオン発生源１と、多価イオンを試料に導くための多価イオンガイド３３と、試料３５を搭載する可動の試料台３６と、二次電子検出器３８と、を含み、多価イオン３４を可動の試料台３６の制御により試料３５の所定位置に照射する。 - 特許庁

When a data communication test is performed, a host device 12 outputs test data, indicates that the data is outputted by setting a Strobe signal at a low level and the handshake part 24 replies by setting a Busy signal at a high level by receiving the test data and fetches the data in the FIFO memory.例文帳に追加

データ通信テストを行う場合、上位装置１２はテストデータを出力すると共にＳｔｒｏｂｅ信号をローレベルにしてデータが出力されていることを示し、これを受けてハンドシェイク制御部２４は、Ｂｕｓｙ信号をハイレベルにして応答すると共にデータをＦＩＦＯメモリ２６に取り込ませる。 - 特許庁

To improve the diversity of data and to reduce labor for creating test data in the verification method of a system LSI, related to a test data creating device that is characterized by having a description method for information held by a conversion tool for creating the test data and a script converted by the conversion tool.例文帳に追加

システムLSIの検証方法において、試験データを作成するための変換ツールの保持する情報、変換ツールにて変換するスクリプトの記述方法に特徴がある試験データ作成装置に関し、データの流用性が向上するとともに、試験データ作成の労力を削減することを課題とする。 - 特許庁

In the capacitor test device 1, a series resonance circuit is formed, by connecting a coil 12 series to the capacitor 11 of the test object, and then the test electric power of a high frequency and the high voltage is applied to the capacitor 11 by generating a resonance condition with applying electric power with the high frequency from an applied electric power generating part 2.例文帳に追加

コンデンサ試験装置１において、試験対象となるコンデンサ１１に対してコイル１２を直列に接続して直列共振回路を構成し、印加電力生成部２から高周波電力を印加しつつ共振状態を発生させて、コンデンサ１１に対して高周波かつ高電圧の試験電力を印加する。 - 特許庁

A test rod 9 is mounted on the lower part of the hammer device 3, and a ram 17 built in the hammer device 3 is lifted up through a cylinder 24 by the engagement of a claw member 21, the engagement of the claw member 21 is released at the rise end, and the ram 17 is freely fallen to strike the test rod 9.例文帳に追加

ハンマー装置３の下部に試験用ロッド９を取り付け、爪部材２１の係合によりハンマー装置３内に内蔵するラム１７をシリンダ２４により持ち上げ、上昇端でこの爪部材２１の係合を解除しラム１７を自由落下させ試験ロッド９を打撃する。 - 特許庁

The fluid, when contained in the fluid containing structure 509, presses the flexible wiring layer 507 towards a device 505 under test to form electrical interconnections between the first contact elements 533 and the corresponding second contact elements 532 on the device 505 under test.例文帳に追加

流体内蔵構造体５０９に収容された場合の流体は、フレキシブル配線層５０７を被試験デバイス５０５の方へ押し付け、第１の接触要素５３３と被試験デバイス５０５上の対応する第２の接触要素５３２との間で電気相互接続を行う。 - 特許庁

To provide a sealing testing device for an air conditioning pipe capable of conducting a precise sealing test and recording pressure change during the sealing test and a sealing testing method of the air conditioning pipe using the sealing testing device for the air conditioning pipe.例文帳に追加

精度のよい気密試験を達成することができ、かつ、気密試験を実施している間の圧力変化を記録することができる空調配管用気密試験装置と、その空調配管用気密試験装置を用いた空調配管の気密試験方法を提供すること。 - 特許庁

While the device-test-conducting control device is conducting a predetermined test, the board handler section 30 carries, out of the chamber 40, a tester board 12 whose semiconductor devices 11 have been tested, and sets another tester board 12 in a vocant space in the chamber 40.例文帳に追加

ボードハンドラ部３０は、デバイステスト実施制御装置による所定のテストの実施中において、テストが終了した半導体デバイス１１を搭載したテスタボード１２をチャンバ４０から搬出するとともに、チャンバ４０における空き領域に新たなテスタボード１２をセットする。 - 特許庁

When testing software, at first in a correct answer registration process, output data of a target program 18 are obtained on the basis of a test scenario held in a test scenario holding device 11, and output data matched with predetermined specifications are registered in a correct answer holding device 13 as correct answer data.例文帳に追加

ソフトウェアの試験を行うとき、初めに、正解登録工程において、試験シナリオ保持装置１１に保持される試験シナリオに基づいて、対象プログラム１８の出力データを取得し、予め定める仕様に合致する出力データを正解データとして正解保持装置１３に登録しておく。 - 特許庁

To provide a device for a safety evaluation test which not only simultaneously executes different safety evaluation tests for a power storage device but also needs no changeover of equipment corresponding to the safety evaluation tests for each safety evaluation test executed.例文帳に追加

本発明は、蓄電デバイスに対して異なる安全性評価試験を同時に実施することが可能となるばかりか、異なる安全性評価試験を実施する都度、安全性評価試験に対応した設備の入れ替えを要さない安全性評価試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Based on the test signal arrival time of the speaker of the display device and the test signal arrival time of the speaker connected to the AV amplifier, the delay time of the speaker of the display device and the delay time of the speaker connected to the AV amplifier are calculated and stored in relation to each other.例文帳に追加

ディスプレイ装置のスピーカーのテスト信号到達時間と、ＡＶアンプに接続されたスピーカーのテスト信号到達時間とに基づいて、ディスプレイ装置のスピーカーの遅延時間およびＡＶアンプに接続されたスピーカーの遅延時間を関連づけて算出して記憶する。 - 特許庁