「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(111ページ目) - Weblio英語例文検索

To prevent a device under test(DUT) from receiving stress due to the impression of unexpected voltage when the DUT is connected in a current force voltage measure function (IFVM) mode of a programmable power supply device.例文帳に追加

プログラマブル電源装置の電流印加電圧測定機能（ＩＦＶＭ）モードで、接続の際に予想外の電圧が印加されて被測定デバイス（ＤＵＴ）にストレスがかかるのを防止する。 - 特許庁

To provide an optical head device for arranging a light emitting element in a predetermined position on a device axis without performing correction by a spacer or advance test production, and its manufacturing method.例文帳に追加

スペーサなどによる補正や先行試作を行わなくても、装置光軸上の所定位置に発光素子を配置可能な光ヘッド装置およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To improve a constant-temperature device for performing a burn-in test to develop a constant-temperature device which is capable of reducing the power consumption and has less variance in temperature.例文帳に追加

バーンイン試験を実施するための恒温装置を改良するものであり、消費電力の抑制が可能であり、かつ温度ばらつきも小さい恒温装置の開発を課題とする。 - 特許庁

A concave surface adhesion test device 1 for testing an adhesion state of the adhesive sheet includes a concave surface bonding jig 30 and a concave surface pressing device 10.例文帳に追加

粘着性シートの接着状態を試験する凹曲面接着試験装置１において、凹曲面接着試験装置１は、凹曲面貼り付け冶具３０と、凹曲面押圧装置１０を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a method of testing a semiconductor memory device having a high degree of freedom in setting conditions of a stress test, and detecting various defects.例文帳に追加

ストレス試験の条件設定の自由度が大きく、様々な欠陥を検出可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a test device and a fluid phantom device, capable of evaluating the MRI visibility and adaptability of a long-length sample such as a tube and wire under the fluid.例文帳に追加

チューブやワイヤー等の長尺状の試料の、流体中におけるＭＲＩ視認性および適合性の評価を可能にできる試験器具および流体ファントム装置を提供する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a shock nearly equivalent to that of a fall test to a specimen with high reproducibility without increasing the height of the device.例文帳に追加

装置の高さを大きくすることなく、落下試験と略等価といえる衝撃を高い再現性をもって供試体に加えることが可能な衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a differential device with a motor wherein the ring gear of a differential device is engaged with a driving pinion gear supported on the rotor shaft of a motor, for allowing easy performance test with the single motor.例文帳に追加

モータのロータ軸に支持させたドライブピニオンギヤに、デファレンシャル装置のリングギヤを噛合いさせてなるモータ付デファレンシャル装置において、簡易にモータ単体で性能検査できること。 - 特許庁

In this manufacturing method for the semiconductor device, a prototype chip is tested using the semiconductor device, and the semiconductor chips are mass-produced after analysis-evaluating a test result.例文帳に追加

本発明の半導体装置の製造方法では、前記半導体装置を用いて、試作チップの試験を行ない、前記試験結果を解析評価した後に、半導体チップの量産を行なう。 - 特許庁

When the mobile communication terminal 1 and an external device TV is connected through a connection cable CL, the mobile communication terminal 1 makes the external device TV output prescribed test sound.例文帳に追加

移動体通信端末１と外部装置ＴＶとを接続ケーブルＣＬを介して接続した際、移動体通信端末１は、所定のテスト音声を外部装置ＴＶから出力させる。 - 特許庁

To provide an electric property testing device for a semiconductor device capable of effectively preventing unfavorable appearance due to particles and improper electrical property (shoot, etc.), in the next test process.例文帳に追加

半田屑による概観不良、及び次テスト工程での電気的特性不良（シュート等）を効果的に防止することができる半導体装置の電気的特性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a virtual drawing device for preparing a virtual drawing, and for displaying and storing a standard sequence diagram and necessary connection information of each device in the case of cable engineering and field test.例文帳に追加

ケーブルエンジニアリング及び現地試験において、仮想図面を作成し、標準シーケンス図と各装置の必要な取り合い情報等を表示、保存できる仮想図面装置を提供する。 - 特許庁

This device is equipped with a control device for controlling the test of the plurality of testing object devices having the same pin arrangement, and a plurality of pin resources provided respectively corresponding to each terminal of the testing object devices.例文帳に追加

同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験を制御する制御装置と、それぞれが被試験デバイスの端子に対応して設けられた複数のピンリソースとを備える。 - 特許庁

The test voltage device 5A is a device integrated into a withstand voltage tester, for applying a DC voltage between the first external terminal 1a and the second external terminal 1b.例文帳に追加

この試験電圧装置５Ａは当該耐電圧試験器の中に組込まれており、前記第１外部端子１ａと前記第２外部端子１ｂとの間に直流電圧を印加する装置である。 - 特許庁

To provide a method and a device for entering the test mode of a semiconductor memory device using an internal clock signal for reflecting the change of an external clock only when predetermined conditions are satisfied.例文帳に追加

所定条件が満たされる場合にのみ外部クロックの変化を反映する内部クロック信号を用いる半導体メモリ装置のテストモード進入方法及び進入装置を提供する。 - 特許庁

To provide a printing system which is capable of simultaneously executing a default setting operation and a test printing of a printing device by transmitting a single printing job from a printing job transmitting device.例文帳に追加

印刷ジョブ送信装置からの一つの印刷ジョブの送信により、印刷装置のデフォルト設定操作とテストプリントとを同時に実行することの可能な印刷システムを提供する。 - 特許庁

The operation tester for the smoke sensor includes a hood which covers the circumferential space of the smoke sensor, a smoking device 2 which generates the test smoke, a housing which houses the smoking device 2, and a column which supports the housing.例文帳に追加

煙感知器の周囲空間を覆うフードと、試験煙を生成する発煙装置２と、発煙装置２を収容するハウジングと、ハウジングを支持する支柱とを備えている。 - 特許庁

To provide an intermittent energization testing device, an intermittent energization testing method, and a heat generating electronic device, which can save power supply and a wire rod cost, and shorten time of a test cycle.例文帳に追加

電源と線材コストを抑え、かつ試験サイクルの時間を短縮することができる断続通電試験装置、断続通電試験方法、および発熱電子デバイスを提供する。 - 特許庁

A device as one of embodiments of the present invention is provided with a control component for controlling a temperature test component for emulating the operation characteristic of the electronic device, to generate the environmental influence.例文帳に追加

本発明の一実施態様による装置は、電子デバイスの動作特性をエミュレートする温度試験構成要素を制御して、環境影響を生成する制御構成要素を備えている。 - 特許庁

To provide a static electrification testing device that can test the relation between electric charges and electrostatic breakdowns, by intentionally electrostatically charging a device and controlling the electric charges.例文帳に追加

意図的にデバイスを帯電させ、また、その帯電量の制御を行なうことができて、帯電量と静電気破壊との関係を試験することができる静電気帯電試験装置を提供する。 - 特許庁

The ground leakage detection device 40 checks a ground-leakage detection function according to a test signal TZCT from a control device 70 prior to the output of the commercial AC voltage Vac.例文帳に追加

また、漏電検出装置４０は、商用交流電圧Ｖａｃの出力前に制御装置７０からのテスト信号ＴＺＣＴに応じて漏電検出機能のチェックを行なう。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which is provided with a JTAG function taking priority of a test function and which can maintain functionally compatibility with existent general purpose semiconductor memory device.例文帳に追加

テスト機能を優先してＪＴＡＧ機能を搭載し、かつ機能的には既存の汎用半導体記憶装置とのコンパチブルを保つことができる半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can perform smoothly a memory test even when an internal circuit is fixed in a non-active state by a chip electing signal taken from a device pin.例文帳に追加

デバイスピンから取り込んだチップセレクト信号によって内部回路が非アクティブ状態に固定された場合でも、メモリテストを円滑に行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The testing device is provided with a test board having a wiring pattern connected with the channel of the testing device and an IC socket having a plurality of pogo pins that are respectively connected with the land of the wiring pattern.例文帳に追加

テスト装置は、テスト装置のチャンネルと連結される配線パターンを有するテストボードと配線パターンのランドとそれぞれ連結される複数のポゴピンを有するＩＣソケットとを備える。 - 特許庁

To provide a leakage test method and a leakage inspection device improving increase in costs and problems in a vacuum form by changing to an atmospheric form and preventing drop in throughput of the device.例文帳に追加

大気圧方式とすることで真空方式のコストアップやメンテナンスの問題を改善すると共に、装置のスループットの低下を防止できる漏れ検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To dispense with a line testing device exclusive for FCS check and to enable a normal operation confirmation test of FCS check during service in which a subscriber device is constantly stored.例文帳に追加

ＦＣＳチェック専用の回線試験装置を不要にし、かつ、加入者装置を常時収容している運用中でのＦＣＳチェックの正常動作確認試験を可能にする。 - 特許庁

To provide a power receiving control device enabling an efficient test in a non-contact power transmission system, and to provide a power receiving apparatus, a power transmission control device, a power transmission apparatus, and an electronic apparatus.例文帳に追加

無接点電力伝送システムにおける効率的なテストを可能にする受電制御装置、受電装置、送電制御装置、送電装置及び電子機器を提供すること。 - 特許庁

To provide a sound capturing device, and a hammering test device for a can capable of eliminating a reflected sound from a outer shell body to capture satisfactorily an inspection sound emitted from an inspected object by a microphone.例文帳に追加

外殻体からの反射音を排除して、マイクロフォンが、被検査体が発する検査音を良好に捕捉することができる音の捕捉装置及び缶の打検装置を提供する。 - 特許庁

When the operational test of the emergency stop device 14 is performed after a car 8 is paused by the emergency stop device 14, a hoist 3 is operated to a direction of dropping the car 8.例文帳に追加

非常止め装置１４の作動試験を実施する場合、非常止め装置１４によりかご８を停止させた後に、かご８が下降する方向に巻上機３を運転する。 - 特許庁

To provide an inspection method of an electro-optical device and a quality control method of the electro-optical device capable of estimating reliability of an actual product highly accurately with few test samples.例文帳に追加

少ない試験サンプルで、実際の製品の信頼性を高い精度で見積もることが可能な電気光学装置の検査方法及び電気光学装置の品質管理方法を提供すること。 - 特許庁

In order to avoid it, this device comprises an operation margin test means capable of performing an inspection every port to specify the device having the possibility of causing a trouble, and a specifying function of failure site.例文帳に追加

これを回避すべく、不具合の生じる可能性のあるデバイスを特定するため、ポートごとに検査が可能な、動作マージンテスト手段と、障害部位の特定機能を具備する。 - 特許庁

For a burn-in test that energizes a semiconductor device 5 in a high-temperature atmosphere for a specific amount of time, the semiconductor device 5 is supplied to a substrate 4 for testing where a number of sockets 3 are arranged on an insulating substrate l.例文帳に追加

そのため、半導体装置を試験用基板に装着する前に実施しているが、少数の不良品のために全数短絡試験をすることは無駄であった。 - 特許庁

To provide a suction device for an electronic component testing device capable of ensuring a uniform pushing pressure at the time of pressing an electronic component to be tested in an adhered state by suction against the contact part of a test head.例文帳に追加

被試験電子部品を吸着した状態でテストヘッドのコンタクト部へ押し付ける際の押圧力を均一化できる電子部品試験装置用吸着装置を提供する。 - 特許庁

This device has a load cell 27 for detecting a tension applied to the belt 11, and the load cell 27 is arranged and connected to the end of the device body side or the end of the test vehicle V side of the belt 11.例文帳に追加

ベルト１１に付与される張力を検出するロードセル２７を有し、ロードセル２７をベルト１１の装置本体側の端部又は試験車両Ｖ側の端部に配置連結する。 - 特許庁

To provide a labeling device for an automatic test tube preparation device capable of double-labeling with an identification label on a label already affixed to a blood collection tube with a simple structure.例文帳に追加

簡単な構造で、採血管に既に貼り付けられているラベルへの識別ラベルの重ね貼りをすることができる試験管自動準備装置用ラベル貼付装置を提供する。 - 特許庁

The data processor 200 inputs successively pictures of test patterns having the discontinuous gradation which are projected and displayed on a screen 53 by the picture display device 51, via the image pickup device 52.例文帳に追加

データ処理装置２００は、画像表示装置５１によってスクリーン５３上に投射表示される飛び飛びの階調のテストパターンの画像を、撮像装置５２を介して順次入力する。 - 特許庁

To provide a multi-chip pressure-welding type semiconductor device constituted so as to modify the ununiformity of the internal pressure distribution in the device due to the effect of a thermal stress when a thermal fatigue test is performed.例文帳に追加

熱疲労試験を行ったときに、熱応力の影響による内部圧力分布の不均一性を改善するように構成されたマルチチップ圧接型半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device not using an expensive semiconductor test device with high performance for producing a strain waveform and not requiring a jig with special devising in circuit and the like.例文帳に追加

ひずみ波形を生成するのに高機能で高額な半導体試験装置を用いずに済み、かつ、回路等に特別な工夫が施された冶具を必要としない半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of suppressing the amount of cables between a body section and test heads to 1/2 or less as compared to a conventional device, and making an optional configuration of a fail memory have flexibility.例文帳に追加

本体部とテストヘッド間のケーブル量を従来に比較して１／２以下に抑えると共に、フェイルメモリのオプション構成に柔軟性を持たせることが可能な試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a subscriber line terminal station device that can prevent notice of an alarm from a subscriber line interface to a management side when the device is under construction or test.例文帳に追加

工事中又は試験中等の状態にあるとき、加入者線インターフェースからの警報が管理側に通知されるのを抑止することが可能な加入者線端局装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device in which an open check test can be carried out on input/output pins, each of which is shared by a plurality of device chips by suppressing leakage currents in the input/output pins.例文帳に追加

入出力ピンにおけるリーク電流を抑制し、複数のデバイスに共有される入出力ピンのオープンチェックテストの実行が可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the cost and size while enhancing regeneration efficiency of a motor drive for driving an AC motor and having a function for regenerating excessive energy during brake operation as electric energy, a load test supporting device for setting predetermined load test conditions to these AC motor and motor drive and a generator driven through the AC motor entirely or partially, and a load test device for achieving the load test.例文帳に追加

本発明は、交流モータを駆動し、制動時における余剰のエネルギーを電気エネルギーとして回生する機能を有するモータ駆動装置と、これらの交流モータおよびモータ駆動装置と、この交流モータによって駆動される発電機との全てまたは一部に所定の負荷試験の条件を設定する負荷試験支援装置と、その負荷試験を実現する負荷試験装置とに関し、回生の効率の向上に併せて、低廉化および小型化が図られることを目的とする。 - 特許庁

A predetermined test color and several correction colors are indicated on a display device in a predetermined order in a step S202 and are measured in a step S203.例文帳に追加

ステップS202で所定の試験色および複数の補正色を所定順で前記表示装置に表示し、ステップS203でこれらを測色する。 - 特許庁

The load test device has a caterpillar structure provided with a shape capable of gripping the fixing part of steps and has length equal to a plurality of steps.例文帳に追加

負荷試験装置は、踏段の固定部分を把持可能な形状を備えたキャタピラ構造であって、複数の踏段分の長さを有する。 - 特許庁

To provide a vibration characteristics testing device and a vibration characteristic test method suitable for investigating a characteristic of vibration damping by an elastic member.例文帳に追加

弾性部材による振動減衰特性を調べるのに好適な振動特性試験装置および振動特性試験方法を提供する - 特許庁