「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(113ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor memory device in which memory sense operation is stabilized, power consumption is reduced, and a leak test time can be reduced.例文帳に追加

メモリセンス動作の安定化及び低消費電力化を図ると共に、リークテスト時間を低減出来る半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of preventing breakage of a test object, while clarifying an exchange time of a mechanical relay.例文帳に追加

機械式リレーの交換時期の明確化を図りつつ、被試験対象の破壊を防止することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

During an acceleration test of a luminescent device 24, a predetermined drive current is supplied from an external power source to an anode terminal A of a lead frame 32.例文帳に追加

発光素子２４の加速試験時において、所定の駆動電流が、外部電源からリードフレーム３２のアノード端子Ａに供給される。 - 特許庁

In the self-weight type handier, in which the device is slid on the tilting chute so as to be conveyed toward a test head, the chute is vibrated by means of a vibrating means.例文帳に追加

傾斜したシュートにデバイスを滑落させ、テストヘッドへ搬送する自重落下式ハンドラにおいて、振動手段でシュートを振動させる。 - 特許庁

To provide a metal body inspection device, capable of executing stable inspection by keeping a sensor holder at an equal distance and in parallel with a metal test body.例文帳に追加

センサホルダを金属被検体と等距離かつ平行に保ち、安定した検査を行なうことができる金属体検査装置を提供する。 - 特許庁

Thus, even in the case of a device operating at a very high speed, a delay time to an input test signal can be measured.例文帳に追加

これにより、超高速で動作するデバイスであっても、入力された試験信号に対する遅延時間を測定することが可能となる。 - 特許庁

To check the display operation of a display unit in detail, based on test display data stored beforehand in a performance image memory device.例文帳に追加

演出画像記憶装置に予め記憶させておいたテスト表示データに基づいて表示器の表示動作を詳細にチェックすることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can reduce a testing cost by carrying out a current leak test while constricting the number of input/output pads.例文帳に追加

入出力パッドの数を圧縮しながら、電流リーク試験を行って、試験コストの低減を図り得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scratch strength testing device and a method thereof for carrying out a scratch test while continuously varying a load at a high speed.例文帳に追加

高速で連続的に荷重を変化させながらスクラッチ試験を行うことが可能なスクラッチ強度試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To automatically and continuously perform a device switching test between an operation system and a stand-by system and to improve the reliability of a duplex computer system.例文帳に追加

運用系と待機系との装置切替試験を自動的に連続して行ない、システムの信頼性向上を図ることを目的とする。 - 特許庁

To efficiently test a reproduction only medium that is designed for reproduction in a reproducing device and has a copy protection function such as a CSS.例文帳に追加

ＣＳＳ等のコピープロテクション機能を備えた再生装置で再生されることを前提にした再生専用媒体を効率よく検査する。 - 特許庁

To test a medium reading device in its horizontal or upright posture on a testing stage of simple structure.例文帳に追加

媒体読み取り装置の試験用ステージに関し、簡単な構造で水平、起立姿勢での装置の試験ができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a guiding sensor monitoring device capable of performing monitoring any time without removing a sensor by improving existing test operation.例文帳に追加

既存の試験作動を向上させ、センサを取り外すことなくいつでも監視を実行することができる誘導センサ監視装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an electric stimulating device for a nervous system, having a low risk that a patient sustain damage in the process of magnetic resonance tomography (MRT) test.例文帳に追加

磁気共鳴断層撮影（MRT）検査中に患者が障害を受ける危険性の低い神経系部分の電気刺激装置を提供する。 - 特許庁

A computing section 23 computes the optical characteristic value of the test lens L in accordance with two or more results of light reception obtained by the light-receiving device 115.例文帳に追加

演算部２３は、受光装置１１５により得られた２以上の受光結果に基づいて、被検レンズＬの光学特性値を演算する。 - 特許庁

To provide a gas sealing device, which is usable in common for both a sealed type and an open type to conduct an airtightness test in the manufacturing line.例文帳に追加

密閉型でもオ−プン型でも製造ライン中で気密試験を行えるように、両者に共用可能な気体封入装置を提供する。 - 特許庁

The positioning device 110 permits a pressure difference generated at upper and lower surfaces of a moving block 30 to be kept unchanged at the time of actual operation and at the time of an evaluation test.例文帳に追加

位置決め装置１１０は、実動作時と評価試験時とで、移動ブロック３０の上下面に発生する圧力の差が不変となる。 - 特許庁

In the mobile device test apparatus 10, the process proceeds to a next confirmation step, only if each of the confirmation steps has been completed normally.例文帳に追加

そして、移動機試験装置１０では、各々の確認ステップが正常に完了した場合にのみ、次の確認ステップに進むようになっている。 - 特許庁

To realize a tester simulation device and a test simulation method that obtain a degree of allowance of determination timing of an expected value in a short time.例文帳に追加

期待値判定タイミングの余裕度を短時間に得られるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

This LSI comprises an external terminal 21 for inputting a wait signal MWAIT from a testing device to be connected at the time of the high-speed test.例文帳に追加

高速試験を行うときに接続する試験装置から、ウエイト信号ＭＷＡＩＴを入力するための外部端子２１を設ける。 - 特許庁

To provide a light wave interference measurement device that measures a shape and the like of test surfaces comprising rotationally symmetrical ruled surfaces in a short time.例文帳に追加

回転対称な線織面で構成される被検面の形状等を短時間で測定することが可能な光波干渉測定装置を得る。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing protection of a power receiving and distributing facility system which can safely and efficiently test various electrical device of a power receiving and distributing facility.例文帳に追加

受配電設備の各種電気機器を安全で効率的に行える受配電設備系統保護試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a connection device having a contact terminal capable of contacting in a multipoint system and with high density to a test object, and its manufacturing method.例文帳に追加

検査対象について、多点かつ高密度で接触できる接触端子を有する接続装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection device and its method capable of detecting a linear defect on a test object with high accuracy.例文帳に追加

検査対象物上の線状欠陥を高精度に検出することができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a capacity measurement device which can measure the capacity of a test object with high accuracy by enhancing the measurement accuracy of leak current.例文帳に追加

リーク電流の測定精度を上げて被測定対象の容量値を精度良く測定することのできる容量測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can easily analyze the operation of a RAM, allowing a test method to have the degree of freedom.例文帳に追加

ＲＡＭのテスト手法に自由度をもたせＲＡＭの動作解析が容易な半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A sensor 3 includes a movement- detecting solid-state image pick up device and picks up the periphery image of a part where the border 6 passes on the surface of the test body 1.例文帳に追加

センサ３は、動き検出用固体撮像装置を含み、検体１の表面で境界６が通過する部分の近傍を撮像する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a test program for reducing the amount of correction in a program when a measuring device to be used is changed.例文帳に追加

使用する測定器に変更が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

SIMPLE VERIFICATION DEVICE OF EXISTENCE OF RESISTIVITY AGAINST PHYTOTOXIC COMPONENT OF TEST GRASS BODY, ITS MANUFACTURING METHOD AND SIMPLE VERIFICATION METHOD USING IT例文帳に追加

被検草体の殺草性成分に対する抵抗性の有無の簡易検定装置、その製造方法及びそれを使用した簡易検定方法 - 特許庁

To provide a multiaxial load testing device and method capable of carrying out an accurate load test in a multiaxial state.例文帳に追加

本発明は、多軸状態で精度のよい負荷試験を行うことができる多軸負荷試験装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the transmission test, history information of the photography seal formation device is transmitted to the server (S74), and the acquisition of server information (S85) is performed.例文帳に追加

また、送信テストにおいて写真シール作成装置の履歴情報のサーバへの送信（Ｓ７４）や、サーバ情報の取得（Ｓ８５）が行なわれる。 - 特許庁

To provide an image reading device capable of easily performing skew correction, when the deviation of a reading line is detected in a reading test.例文帳に追加

読取試験において読取ラインのずれが検出された場合に、スキュー補正をより簡便に行うことができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for evaluating the reliability of a thermoelectric conversion system, which can test the reliability of the thermoelectric conversion system in an actual environment.例文帳に追加

実環境での熱電変換システムの信頼性試験を行うことができる熱電変換システム信頼性評価装置を提供する。 - 特許庁

INDUCTOR RECOGNIZING METHOD, LAYOUT TESTING METHOD, COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDED WITH LAYOUT TEST PROGRAM, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

インダクタ認識方法、レイアウト検査方法、レイアウト検査プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体および半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide an EEPROM in which a data rewriting test can be performed in the worst condition of voltage stress when the device has a verify- function.例文帳に追加

ベリファイ機能を有する場合に電圧ストレスワースト条件でデータ書き換えテストを行うことを可能としたＥＥＰＲＯＭを提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which is capable of performing a test at an accurate temperature in consideration of self-heating of an electronic component during testing.例文帳に追加

テスト時における電子部品の自己発熱を考慮して正確な温度で試験を行うことができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To carry out a test of a semiconductor device having a plurality of transmission circuits (TX circuit) and receiving circuits (RX circuit) in low cost and short time.例文帳に追加

複数の送信回路（ＴＸ回路）及び受信回路（ＲＸ回路）を持つ半導体装置のテストを低コストかつ短時間で実施する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device for quickly executing the test of an incorporated memory circuit without reading data to the outside part.例文帳に追加

内蔵されたメモリ回路のテストを外部にデータを読出すことなく高速に実行することが可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To test a path state in short working time and in less working man-hours even when a cross connect device has many channels.例文帳に追加

クロスコネクト装置が多数のチャネル数を有する場合でも、短い作業時間と少ない作業工数でパス状態を試験することを可能にする。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit device having an ability of ESD protection satisfying the specification of surge test in correspondence with miniaturization of process.例文帳に追加

プロセスの微細化に対応して、サージ試験の規格を満たすＥＳＤ保護能力を有する半導体集積回路を得られるようにする。 - 特許庁

To provide an electric contact shoe unit capable of performing an electric characteristic test for a semiconductor device in which narrow electrode pads are disposed at narrow pitches.例文帳に追加

狭小な電極パッドが狭ピッチで配置された半導体デバイスの電気的特性試験が可能な電気的接触子ユニットを提供する。 - 特許庁

To detailedly check the display behavior of a display based on test display data prestored in a performance picture storage device.例文帳に追加

演出画像記憶装置に予め記憶させておいたテスト表示データに基づいて表示器の表示動作を詳細にチェックすることができる。 - 特許庁

To provide a device including a testing circuit formed on a wafer to perform a radio test of a wafer having an integrated circuit and a method.例文帳に追加

集積回路を有するウェーハの無線試験を行うためのウェーハ上に形成された試験回路を含む装置および方法を提供する。 - 特許庁

A device is provided for simultaneously supplying a test signal to a plurality of IC terminals of an IC circuit during testing the integrated circuit (IC).例文帳に追加

集積回路（ＩＣ）のテスト中に前記ＩＣの複数のＩＣ端子にテスト信号を同時に供給するための装置が提供される。 - 特許庁

A construction site document preparing apparatus 1 that is the concrete quality test result table preparing apparatus is provided with a CPU 11, and an output device 15.例文帳に追加

コンクリート品質試験結果表作成装置である建築現場書類作成装置１は、ＣＰＵ１１と出力装置１５を備えている。 - 特許庁