「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(110ページ目) - Weblio英語例文検索

An optical disk device is provided, which is capable of preventing writing twice in a test light emitting area by detecting whether a disk is a write-once type and whether writing occurs twice, and switching a power correction method based on test light emission.例文帳に追加

追記型ディスクであるか否か、２度書きになるか否かを検出して、テスト発光によるパワー補正方法を切り替えることでテスト発光領域への２度書きを防止することができる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a wafer burn-in method, wherein wafer burn-in test having reliability can be executed with alignment precision to some degree, in the case that the number of terminals which make contact in batch in the state of wafer is increased, and the cost for test is low.例文帳に追加

ウェハ状態で一括して接触する端子数が多くなっても、ある程度の位置合わせ精度で信頼性のあるウェハバーンイン試験が実施でき、安価なテストコストで済む半導体装置及びウェハバーンイン方法を提供する。 - 特許庁

In addition, as load is stressed on the counterpart piece 2 by a lever-system counterpart piece load stressing device 12 at the time of contact with the test piece 1 for predetermined time, it is possible to perform a stable thermal impact test.例文帳に追加

相手片荷重負荷装置はレバー方式で、弾性体を介して荷重負荷手段が接続され、あるいはさらに荷重負荷方向に振動吸収手段が付設され転動時に発生する振動を吸収する構造とする。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of obtaining accurate and stable measurement results, when carrying out a measurement test of currents being output from respective output pins of a plurality of current-output type drivers used in a current-output type device.例文帳に追加

電流出力型デバイスの備える複数の電流出力型ドライバの各々の出力ピンから出力される電流の測定テストを行う時に、正確かつ安定した測定結果を得ることができるテスト回路を提供する。 - 特許庁

In the test method, the flicker test is carried out on an electro-optical device performing frame reversal drive for every partial area so that the polarities of partial areas (201, 202) are complementary to each other when displaying an image.例文帳に追加

検査方法は、画像表示時には、１／２フレーム期間毎に、部分領域（２０１、２０２）の極性が互いに相補の極性となるように、部分領域毎にフレーム反転駆動する電気光学装置のフリッカ検査を実行する。 - 特許庁

Then, the management server 50 specifies the implementation date and time information of a self diagnostic test and a device ID for the detected determined result data and transmits the retransmission request of corresponding test result data to the pertinent communication facilities.例文帳に追加

そして、管理サーバ５０は、検出した判定結果データについて自己診断試験の実施日時情報および装置ＩＤを特定し、該当する通信設備に対して対応する試験結果データの再送要求を送信する。 - 特許庁

The operation of an internal circuit 2 is switched to a test mode for burn-in by a test terminal 1 of the semiconductor device 25 during burn-in, and data in the internal circuit 2 are outputted not to an ordinary output terminal 3 but to an output terminal 4 for burn-in.例文帳に追加

バーンイン中に、半導体装置２５のテスト端子１により、内部回路２の動作をバーンイン用テストモードに切り替え、内部回路２のデータを通常の出力端子３ではなくバーンイン用出力端子４に出力する。 - 特許庁

An LED unit 105 is turned off and a transition is made to a test mode by turning on a SWITCH unit 106 provided in a LAN device 100, and the communication protocol 301 of a loopback test startup request is transmitted to a main apparatus 200.例文帳に追加

LAN装置１００内にあるSWITCH部１０６をONに制御することにより、LED部１０５を消灯させて折返し試験モードへ遷移させ、主装置２００に対して折返し試験起動要求の通信プロトコル３０１を送信する。 - 特許庁

To provide an interface board testing device and an interface board testing method which can test an interface board in a short period of time, and obtain an appropriate test result independently of analog characteristics of a member stored in a slot.例文帳に追加

短時間でインタフェースボードを試験することができ、かつ、スロットに格納される部材のアナログ特性に依存せず、適切な試験結果を得ることができるインタフェースボード試験装置及びインタフェースボード試験方法を提供する。 - 特許庁

To perform an excellent failure/no-failure test of devices by measuring the cross point of a differential clock signal output from a device under test (DUT) and the timings of two data signals to obtain a relative phase difference between the two signals.例文帳に追加

ＤＵＴから出力される差動のクロック信号のクロスポイントとデータ信号の両信号のタイミングを測定し、両信号間の相対的な位相差を求めることで良好なデバイスの良否判定が実現可能とする。 - 特許庁

A person in charge of inspections visually measures the position/rotation deviation amount of the test chart image 35a relative to the reference pattern 65 from the mask composite image 67 for the test displayed on a monitor 31, and inputs the measured result to the processor device 12.例文帳に追加

検査担当者は、モニタ３１に表示されるテスト用マスク合成画像６７から、基準パターン６５に対するテストチャート画像３５ａの位置・回転ズレ量を目視で測定し、この測定結果をプロセッサ装置１２に入力する。 - 特許庁

In this semiconductor device, desired stress can be applied to each capacitor of a constituted pump circuit in stress test, efficiency of a stress test and reliability of a semiconductor integrated circuit can be improved.例文帳に追加

本発明による半導体記憶装置によれば、ストレステスト時に構成するポンプ回路の各キャパシタに対して所望のストレスを掛けることができ、ストレステストの効率向上および半導体集積回路の信頼性向上が図れる。 - 特許庁

At the time of inspecting the contact in this transporting device, a test work WT is placed on the levitation table 12 with its electric conductive surface positioned below, and a tester T is connected with the obverse surface of the levitation table 12 and the test work WT.例文帳に追加

かかる搬送装置の接触検査に際し、テストワークＷＴを導電性面側を下にして浮上テーブル１２に搭載するとともに、浮上テーブル１２の表面部とテストワークＷＴとにテスタＴを接続する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a semiconductor device capable of realizing the cost reduction of an electrical characteristic test and that of a product by using existing test jigs and testing devices, and provide a carrier used for it.例文帳に追加

既存の試験治具や試験装置を流用することによって電気的特性試験のコストダウン、さらには製品のコストダウンを実現することができる半導体装置の製造方法、およびこれに用いられるキャリアを提供する。 - 特許庁

The device for inspecting cigarette is assembled to move a test member (20) to the article, wherein the test member has a mounted and axially movable thrust rods (21).例文帳に追加

軸方向に移動可能なマウントされた押圧ロッド(２１)を備える移動可能なテスト部材(２０)が、物品に向かって移動され、各押圧ロッド(２１)は、それが物品を打つ度に結果として電気的に評価可能な信号‐付勢信号‐を発生する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, a test device for a semiconductor integrated circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit which can judge whether a semiconductor integrated circuit is defective or non-defective rapidly at a low cost by a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で高速かつ低廉に半導体集積回路の良否を判定することが可能な半導体集積回路、半導体集積回路の試験装置、及び半導体集積回路の試験方法を提供する。 - 特許庁

In a test execution process, output data of the target program 18, which are newly obtained on the basis of the test scenario held in the test scenario holding device 11, are compared with the correct answer data held in the correct answer holding device 13 and success decision whether the target program 18 succeeds in the output of the output data matched with the specifications or not is performed.例文帳に追加

そして試験実行工程において、試験シナリオ保持装置１１に保持される試験シナリオに基づいて新たに取得された対象プログラム１８の出力データと、正解保持装置１３に保持されている正解データとを比較して、対象プログラム１８が、仕様に合致する出力データの出力に成功したか失敗したかを判定する成功判定を行う。 - 特許庁

To achieve a scanning test and a delay test including the connection test between a manufacturer provided circuit and a client designed circuit, targeting a semiconductor integrated circuit device installed with the manufacturer provided circuit which is provided to the client by the manufacturer of a semiconductor integrated circuit device and for which the internal circuit information is undisclosed, and the client designed circuit which is designed by the client.例文帳に追加

半導体集積回路装置の製造元が顧客に提供した内部回路情報未公開の製造元提供回路と、顧客側が設計した顧客側設計回路とを搭載する半導体集積回路装置を対象とし、製造元提供回路と顧客側設計回路との間の接続試験を含めたスキャン試験及び遅延試験を可能とする。 - 特許庁

To remarkably shorten a time required for an Iddq test compared with the conventional art, only by adding a simple circuit to a semiconductor testing device, to reduce a using time of the expensive semiconductor testing device to conduct a delivery test economically, and to reduce a cost, in the delivery test of a semiconductor integrated circuit wherein OFF leaks are frequently observed.例文帳に追加

ＯＦＦリークの多い半導体集積回路の出荷試験において、半導体試験装置に簡易な回路を付加するのみで、Ｉｄｄｑ試験に要する時間を従来より大幅に短縮でき、高価な半導体試験装置の使用時間を低減できて、試験を経済的に実施することができ、コストを低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce noise based on blow-down of air and to improve accuracy of performance evaluation of an electronic device, in an environmental test device for evaluating the performance of the electronic device in a temperature environment.例文帳に追加

温度環境に対する電子デバイスの性能評価を行う環境試験装置において、エアーの吹き出しに基づく騒音を低減すると共に電子デバイスの性能評価の精度を向上できるようにする。 - 特許庁

To provide a monitoring system allowing communication between a central processor and a terminal device or between an outside line telephone and the terminal device, enabling an easy communication test in the central processor or the terminal device.例文帳に追加

本発明は、中央処理装置と端末器間あるいは、外線電話と端末器間で通信が可能な監視システムにおいて、中央処理装置あるいは端末器で容易に通信テストが可能な監視システムを提供する。 - 特許庁

A laser generating device 10 generates a pulsed laser beam that can pass through a semiconductor material forming a substrate of a semiconductor device 15, such as silicon, and irradiates the semiconductor device 15 that is a test subject.例文帳に追加

レーザ発生装置１０は、半導体装置１５の基板を構成するシリコン等の半導体材料を透過可能なパルス状のレーザ光を発生して検査対象となる半導体装置１５に対して照射する。 - 特許庁

To provide an evaluation/inspection system of a high speed bus capable of performing a test by the worst pattern in consideration of the maximum transfer load and crosstalk by a single device for the high speed bus in the device without requiring an external device.例文帳に追加

装置内の高速バスについて最大転送負荷やクロストークを考慮した最悪パターンでの試験を外部装置を必要とせず装置単体で行うことが可能な高速バス簡易評価／検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection signal generating device and a semiconductor test device equipped with the inspection signal generating device concerned capable of reducing the time needed to inspection due to enhancement of the degree of freedom for address control.例文帳に追加

アドレス制御の自由度を高めることにより、検査に要する時間を短縮することができる検査信号生成装置、及び当該検査信号生成装置を備える半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To constitute a removable detection module so that radiation light from a light emitting device in an oven is guided to the outside of an oven without affecting a high temperature environment in a testing device in a screening test of the light emitting device.例文帳に追加

取外し可能な検知モジュールにおいて、発光素子の選別試験で試験装置内の高温環境に影響を与えずにオーブン内の発光素子からの放射光をオーブン外部に誘導するように構成する。 - 特許庁

When a computer device 10 is connected to the kiosk terminal 20, a user support center terminal 30 transmits a starting up file to the computer device 10 for starting it up, acquires a model number of the device, and transmits a corresponding operation test file.例文帳に追加

ユーザサポートセンタ端末３０は、コンピュータ装置１０がキヨスク端末２０に接続されると起動ファイルを送信してコンピュータ装置１０を起動させ、装置型番を取得して対応する動作テストファイルを送信する。 - 特許庁

To provide a chromatography quantitative measurement device capable of accurately placing an immune chromatography test specimen to the chromatography quantitative measurement device without using a casing and preventing a sample from adhering to a measuring device.例文帳に追加

ケーシングを用いることなしに、クロマトグラフィー定量測定装置に免疫クロマトグラフィー試験片を精度良く取り付け可能で、かつ、測定器への試料の付着を防止可能な測定装置を提供するものである。 - 特許庁

To easily detect relative positions among a coating nozzle, an imaging device, a board support device which positions a printed board, and a test coating device which applies an adhesive on trial.例文帳に追加

接着剤塗布装置において、塗布ノズルと、撮像装置と、プリント基板を位置決めして支持する基板支持装置と、接着剤を試し塗布するための試し塗布装置との相対位置を容易に検出し得るようにする。 - 特許庁

The controller for testing 50 delivers operation commands to a device for driving load 60 acting as a tested device during an operating test, and receives predetermined data, indicating the status of the device for driving load 60 from the loads 60, as well.例文帳に追加

試験用コントローラ５０は、動作試験時、被試験装置である負荷駆動装置６０へ動作指令を出力するとともに、負荷駆動装置６０の状態を示す所定のデータを負荷駆動装置６０から受ける。 - 特許庁

The reporting device 20 is connected to the monitoring device 10 by radio communication and, upon receiving the delay process start signal, conducts a temporary operation test to see whether the monitoring device 10 is operating normally.例文帳に追加

通報機器２０は、監視機器１０とは無線通信によって接続され、遅延処理開始信号を受信すると、監視機器１０が正常に動作しているか否かを確認する臨時動作試験を実行する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a package wherein a good result can be obtained when the semiconductor device incorporating a Peltier element is tested for temperature by using a test handler, concerning the semiconductor device with temperature control function.例文帳に追加

温度制御機能を有する半導体装置に関し、ペルチェ素子が組み込まれた半導体装置をテストハンドラで温度試験した場合に好結果が得られるパッケージを備えた半導体装置を提供しようとする。 - 特許庁

The programmable device 21 is mounted on the board 20, receives the test signals transmitted from the programmable device 11, inspects the connection conditions of the respective signal lines, and transmits the inspected results to the programmable device 11.例文帳に追加

プログラマブルデバイス２１は、ボード２０に搭載され、プログラマブルデバイス１１から送信されたテスト信号を受信し、信号線それぞれの接続状況を検査するとともに、その検査結果をプログラマブルデバイス１１へ送信する。 - 特許庁

The monitoring software application 112 in the remote proctor device 200 may send a mode interrogation message to the handheld device 102, and the handheld device 102 generates the non-test mode signal in response to the mode interrogation message.例文帳に追加

遠隔試験監督装置２００の監視アプリケーション１１２は、モード問い合わせメッセージを携帯装置に送信することができ、携帯装置１０２は、モード問い合わせメッセージに応じて、非テストモード信号を生成する。 - 特許庁

In a programmable device or a device for changing dynamically a logic constitution of data processing, a route delay test capable of corresponding to connection between processor elements changed according to the logic constitution is mounted beforehand on the device.例文帳に追加

プログラマブルデバイスあるいは動的にデータ処理の論理構成を変更するデバイスにおいて、論理構成に従って変更されるプロセサエレメント間の接続に対応可能な経路遅延テストをデバイスにあらかじめ実装しておく。 - 特許庁

To reduce an influence of dullness and strain of a signal in an input for an inspection device to conduct a quick function test, when executing an inspection for a semiconductor device, using the inspection device.例文帳に追加

検査装置を用いて半導体装置の検査を行う際に、検査装置の入力における信号の鈍りや歪みの影響を低減して高速なファンクションテストを行うことができる検査補助装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical transmission device which suitably compensate for operation point variation of an optical modulator without causing a deterioration in the phase-modulated optical signal, and to provide an optical test device having the device.例文帳に追加

位相変調光信号の劣化を生ずることなく、光変調器の動作点変動を適切に補償し得る制御を行うことができる光送信装置、及び当該装置を備える光試験装置を提供する。 - 特許庁

A focus deviation detection device according to the present invention detects the focus deviation of an imaging device in a surface defect inspection device inspecting surface defects based on image data that is produced by imaging the surface of a test subject being transported with the imaging device.例文帳に追加

本発明の焦点ズレ検出装置は、搬送される被検査体の表面を撮像装置により撮像した画像データに基づいて、表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置において、撮像装置の焦点ズレを検出する。 - 特許庁

To provide a conveying device and a combination weighing device having it changing the order of containers during conveyance for speedup of discharge processing in the combination weighing device and rank selection processing and the like in a quality test device.例文帳に追加

搬送中に容器の順番を入れ替えることで、組合せ計量装置における排出処理や品質検査装置におけるランク選別処理等を高速化することが可能な搬送装置およびこれを備えた組合せ計量装置を提供する。 - 特許庁

The inspecting apparatus for a semiconductor device for testing durability of the semiconductor device against a temperature, comprises: a match plate; and a contact module connected with the match plate, and having a radiating part radiating the heat generating from the semiconductor device to the outside and a test part for press-contact of lead wires of the semiconductor device.例文帳に追加

このように正確なテストが行われ、テスト時発生する半導体素子の熱によって良品の半導体素子を不良品と判定する誤判定が抑制されることにより、生産性向上及び費用を節減することができる。 - 特許庁

To test and diagnose a storage device, more precisely to provide a testing/diagnosing method and a testing/diagnosing device for testing the storage device and performing diagnosis for specifying a repair location for the storage device which is determined as being a failure.例文帳に追加

本発明は、記憶装置の試験と診断とに関し、より詳細には記憶装置を試験し、不良と判定された記憶装置に対して修復箇所を特定する診断を行う試験・診断方法および試験・診断装置に関する。 - 特許庁

To provide a communication device which can monitor a signal line all the times by a loopback test and can remotely be controlled, a media converter, and a maintenance managing method for the communication device.例文帳に追加

ループバック試験により信号線を常時監視することができ、また、遠隔から制御することのできる通信装置、メディアコンバータ、および通信装置の保守管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a connection device minimizing a probability of leakage from a pressing device connection part by wholly flare-connecting, in an air-conditioner connection airtightness test.例文帳に追加

この発明は、空調機器接続気密テストにおいて、全てをフレアー接続する事により加圧装置接続部からの漏れる確率を最小限に抑えた接続装置に関するものである。 - 特許庁

To prevent a damage caused by an electromagnetic force at the time of operation, by improving a shock resistant performance of electric insulating members arranged on a port part of a nuclear fusion device or a nuclear fusion test device.例文帳に追加

核融合装置乃至核融合試験装置のポート部に配設される電気絶縁部材の耐衝撃性能を向上して、運転時の電磁力による損傷を防止する。 - 特許庁

LOAD TESTING DEVICE, COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH LOAD TEST PROGRAM RECORDED THEREON, FAILURE DIAGNOSING DEVICE AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH FAILURE DIAGNOSTIC PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

負荷試験装置、負荷試験プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、障害診断装置、および障害診断プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

A tool for adjustment is put on the image reading device to read a test pattern by the imaged element of the image reading device, and a mounting position of a positioning member is adjusted by its image.例文帳に追加

調整用治具を画像読取装置上に載置して画像読取装置の撮像素子によってテストパターンを読みとり、その画像により位置決め部材の装着位置を調整する。 - 特許庁