「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(115ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a decentralized test system capable of intensively performing tests by a small number of test personnel without visiting each location of installation of control devices only by once installing a false signal generating device to the installation location of each control devices.例文帳に追加

各制御装置の設置場所に模擬信号発生装置を一度設置すれば、あとは各場所に出向かなくとも集中的に試験が実行でき、少数の試験要員によって試験が実施できる分散型試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of irradiating charged particle beams to a test piece by reducing aberration and capable of irradiating charged particle beams without a possibility of discharge even when introducing gas to the surface of the test piece.例文帳に追加

収差を軽減して試料に荷電粒子ビームを照射可能であるとともに、試料の表面にガスを導入する場合などでも、放電のおそれ無く荷電粒子ビームを照射することが可能な荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁

A cyclic redundancy check (CRC) calculator 144 calculates a test CRC value that is a CRC value of a plurality of pictures constituting a moving image obtained by processing test stream data by a moving image processing device 110 for performing moving image processing including stream data decoding.例文帳に追加

ＣＲＣ算出部１４４は、ストリームデータのデコードを含む動画像処理を行う動画像処理装置１１０がテスト用ストリームデータを処理して得た動画像を構成する複数のピクチャのＣＲＣ値であるテストＣＲＣ値を算出する。 - 特許庁

The memory chip of a semiconductor device, especially a DRAM, etc., has a region 15 where a protection film 8 (a first insulation layer) is removed for tests (electrical characteristics test such as a function test), the fine control of characteristics (such as salvation of a fuse), and corrections, etc.例文帳に追加

メモリチップ、特にＤＲＡＭなどの半導体装置であって、検査（機能テスト等の電気的特性検査）や特性微調整（ヒューズ救済等）・修正等の目的のために保護膜８（第１の絶縁層）を除去した領域１５を有する。 - 特許庁

In a control method in a material testing device, a material test piece 1 is housed in a chamber 2, and the pressure in the chamber is made higher than atmospheric pressure and compression load is applied to the material test piece by a compression actuator 9.例文帳に追加

材料試験装置における制御方法は、材料試験片（１）をチャンバー（２）内に収納するとともに、チャンバー内の圧力を大気圧よりも高くし、かつ、前記材料試験片に圧縮用アクチュエータ（９）で圧縮荷重を加えている。 - 特許庁

To provide a member having an excellent resin bonding property that has improved bonding strength in bonding with a resin, with respect to a member for a semiconductor device such as a substrate, and maintained high resin bonding strength even after a reliability test such as a temperature cycle test.例文帳に追加

基板等の半導体装置用部材について、樹脂との接合における接合強度を改善し、温度サイクル試験等の信頼性試験後においても高い樹脂接合強度を維持し得る、優れた樹脂接合性を有する部材を提供する。 - 特許庁

In this sample tablet collapsing device, a sample tablet is collapsed in a collapse test container filled with a collapse test liquid.例文帳に追加

ヒトが実際に口に含んで速崩錠が口腔内で崩壊する時間を測定する方法（官能評価）では、安全性の観点からも容易に実施することに対する懸念があることに加え、データの客観性に欠け、また再現性が良くないという問題があった。 - 特許庁

By image processing on a personal computer 18, a variation in contrast within a monitored range formed in the image is detected, the breakage detection signal 18a is transmitted to the measuring control device 14, and the test force at that time is measured as a breakage test force.例文帳に追加

パソコン１８の画像処理により、この映像中に設けた監視範囲内でのコントラストの変化を検知して破断検出信号１８ａを計測制御装置１４に送信してその時点での試験力を破断試験力として計測する。 - 特許庁

The position of the test capsule 2 is derived after detecting the positions of the magnetic field detectors 6a-6h by the criterion sensor device 7 so that, even of the posture of the subject 1 is changed or the like, the position of the test capsule 2 can be precisely derived.例文帳に追加

基準センサ装置７によって磁場検出装置６ａ〜６ｈの位置を検出した上でテストカプセル２の位置を導出することとしたため、被検体１の姿勢変化等が生じた場合であってもテストカプセル２の位置を正確に導出できる。 - 特許庁

To provide a bending fatigue testing device capable of executing accurately a bending fatigue test, without generating local plastic strains, when restoring bending due to an abnormal force and repeated bending caused by a friction force, or the like, in a test piece.例文帳に追加

被試験体に摩擦力等に起因する異常な応力、繰返し曲げによる曲げ戻し時に局部的な塑性ひずみを発生させることなく、より正確な曲げ疲労試験を実施することができる曲げ疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a means capable of preventing disappearance of stored data of a memory cell during a discrimination period of output data even when a burn-in test is performed using a test device of low speed, for a DRAM operated by a packet system at high speed.例文帳に追加

パケット方式により高速で動作するＤＲＡＭに対して、低速のテスト装置を用いてバーンインテストを行う場合でも、出力データの判定期間中にメモリセルの記憶データが消失するのを防止することができる手段を提供する。 - 特許庁

To provide a test pad arrangement device and a program capable of arranging favorably a number of test pads as much as possible on a wiring pattern after lay-out design is finished, and capable of contributing to the facilitation of a trouble analysis and to the shortening of a trouble analysis time.例文帳に追加

レイアウト設計終了後の配線パターンにできるだけ多くのテストパッドを好適に配置することができ、故障解析の容易化および故障解析時間の短縮化に寄与することができるテストパッド配置装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

In this control device of the rack for test tubes, a rack body is fixed on a placing table, and the placing table is moved and controlled in the X-axis direction and in the Y-axis direction, and thereby each holding hole of the rack body can be positioned on each input position of the test tubes.例文帳に追加

本発明の試験管用ラックの制御装置では、ラック本体を載置テーブルへ固定し、載置テーブルをＸ軸方向及びＹ軸方向へ移動制御することで、ラック本体の各保持孔を試験管の投入位置へ位置させることができる。 - 特許庁

To provide a ceramic heater for a semiconductor manufacturing and test device aiming at the improvement of corrosion resistant property of an electrode part of the same and whole part of a base plate at a semiconductor manufacturing and test process.例文帳に追加

半導体製品の製造・検査工程において、半導体製造・検査装置用セラミックヒータの電極部分およびセラミック基板全体の耐腐食性を向上させることを目的とする半導体製造・検査装置用セラミックヒータを提供すること。 - 特許庁

A thermal shock testing device 1 has a high temperature tank 2 and a low temperature tank 3, and is able to alternatively perform heating test control in which a sample body is exposed under a high temperature atmosphere and cooling test control in which the sample body is exposed under a low temperature atmosphere.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置１は、高温槽２と低温槽３を有し、試料体を高温の雰囲気温度にさらす加熱試験制御と、低温の雰囲気温度にさらす冷却試験制御とを交互に実行することができる。 - 特許庁

In different aspects, a root key test value, which is utilized to test the root key, and other security features such as a re-purpose number and a cipher block chaining re-purpose value are included to protect the electronic device from unauthorized access.例文帳に追加

本発明の別の特徴は、ルート鍵をテストするために使用されるルート鍵テストの値およびその他のセキュリティ・フィーチャー、例えば、再利用回数および暗号ブロック・チェイニング再利用値を、電子デバイスを不正アクセスから保護するために含むことである。 - 特許庁

To provide a lens performance inspection device and a lens performance inspection method capable of detecting highly accurately even in a high-frequency domain, an optical performance of a test lens in an optical unit constituted of the test lens and an imaging element collectively.例文帳に追加

被検レンズと撮像素子とが一体に構成された光学ユニットの被検レンズの光学性能を、高周波領域においても高精度に検出することができるレンズ性能検査装置及びレンズ性能検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device for performing a propagation delay test on an input cell, an output cell, or an input/output cell at a capacity comparable with that of a printed circuit board (PCB) when performing the delay test before mounting it to the PCB.例文帳に追加

プリント回路基板（ＰＣＢ）に搭載する前の伝搬遅延試験時に、ＰＣＢと同程度の容量下で、入力セル、出力セル又は入出力セルの伝搬遅延試験を行うことができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

The apparatus generates a test pattern for the operation test of the built-in memory, which is used for a device having a memory macro, a serial input interface and a latch circuit for latching signals input serially and outputting them in parallel to the memory macro.例文帳に追加

メモリマクロと、シリアル入力インターフェースと、当該シリアル入力された信号をラッチしメモリマクロにパラレルに出力するラッチ回路とを有するデバイスに対する、当該内蔵メモリの動作試験用のテストパターンを発生するテストパターン発生装置に関する。 - 特許庁

To provide a tool for generating test data on a corresponding cycle base having a format characteristic to specific ATE for testing a physical serial device by extracting and removing timing irregularity such as drift or jitter from simulation test data on an event base.例文帳に追加

イベントベースのシミュレーション試験データからドリフトやジッタなどのタイミング不規則性を抽出及び除去し、物理的シリアルデバイスを試験する特定のＡＴＥに固有のフォーマットを有する対応するサイクルベースの試験データを生成するツールを提供する。 - 特許庁

A semiconductor testing system has: a semiconductor testing apparatus 1 for executing a predetermined test on a semiconductor device 11a; and a control apparatus 2 for setting testing conditions and instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test.例文帳に追加

半導体試験システムは、半導体デバイス１１ａに対して所定の試験を行う半導体試験装置１と、試験条件を設定するとともにこの試験の実行を半導体試験装置１に対して指示する制御装置２とを有する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of removing a load increase caused by compression of air in the buckling deformation, and capable of easy measurement of essential load characteristics of the honeycomb block test piece, by securing permeability between the inside of a honeycomb block test piece and the open air.例文帳に追加

ハニカムブロック供試体の内部と外気との通気性を確保することにより、座屈変形時の空気の圧縮による荷重増加を排除でき、ハニカムブロック供試体本来の荷重特性を容易に測定できる衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing drain-up function of an air conditioner, which can test the drain-up function of the air conditioner before power source construction applied to the air conditioner, and thus can efficiently conduct the relevant test before busy season for interior construction.例文帳に追加

空調機に対する電源工事前に当該空調機のドレンアップ機能の試験を行うことができ、よって内装工事の煩雑期前に、効率的に当該試験を行うことが可能となる空調機のドレンアップ機能の試験装置を提供する。 - 特許庁

A testing device 100 judges test items and, when performing the wireless transmission characteristics test, transmits a layer-3 signal to mobile terminal equipment 150 to realize a wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

To facilitate the construction of I/F(interface) between a burn-in test device and an insertion and extraction machine and facilitate a burn-in test without causing a mistake in exchanging data in each information file such as installation position information on burn-in board and measurement result and the like.例文帳に追加

バーンイン試験装置と挿抜機との間のＩ／Ｆ（インターフェイス）の構築を容易にし、また、バーンインボードの実装位置情報および測定結果等の各情報ファイルのデータの受け渡しの際にミスを発生することがなく、バーンイン試験を容易にする。 - 特許庁

To provide a solder resistant resin layer having the thermal fatigue resistance to a heat history and temperature cycle test(TCT) in packaging, the moisture resistance to a high acceleration test (HAST), etc., and a wiring board using the same and an electronic device.例文帳に追加

実装時の熱履歴や温度サイクル試験（ＴＣＴ）に対する耐熱疲労性および高加速度試験（ＨＡＳＴ）に対する耐湿性等に優れた耐半田樹脂層およびそれを用いた配線基板ならびに電子装置を提供することにある。 - 特許庁

The semiconductor device comprises an input terminal into which test pattern data is input in series at a first speed, and an output terminal that corresponds to the input terminal one to one and outputs test pattern data to the outside in series at a second speed different from the first speed.例文帳に追加

第１の速度でテストパターンデータが直列に入力される入力端子と、入力端子と一対一に対応し、第１の速度と異なる第２の速度でテストパターンデータを直列に外部に出力する出力端子と、を含む。 - 特許庁

To enable increasing the number of simultaneous measuring remarkably and to reduce a cost required for a test by reducing the number of input terminals and output terminals to be controlled by a test device (IC tester) largely in a semiconductor memory.例文帳に追加

本発明は、半導体記憶装置において、試験装置（ＩＣテスタ）が制御すべき入力端子、出力端子数を大幅に削減することにより同時測定数を著しく増加することができ、テストにかかるコストを低減することを目的とする。 - 特許庁

The system is configured such that a stocker controller and a PLC are connected in series with a conveyance controller comprising a main control device, a collected data display device, a data recording device, and a request data display device, and a test program for testing a PLC program is connected thereto.例文帳に追加

主制御装置、収集データ表示装置、データ記録装置及び要求データ表示装置からなる搬送コントローラに、ストッカー制御装置とＰＬＣとを直列的に接続し、これにＰＬＣプログラムのテストを行うテストプログラムを接続して構成する。 - 特許庁

Besides, the communication control unit is provided with a control means for stopping the prescribed base station device when a stop command is received from the terminal device or the like, and the prescribed base station device is stopped and started from the terminal device to perform a line test.例文帳に追加

また、回線制御装置は、端末装置等から停止コマンドを受信したとき、所定の基地局装置を停止せしめる制御手段を備え、端末装置から、所定の基地局装置を停止、起動させ、回線試験を行えるように構成したものである。 - 特許庁

This torque measurement device for an electric motor having a stator and a rotor has: a holding device for holding the stator of an electric motor test body; a drive device for the rotor; and a torque sensor connected to the drive device.例文帳に追加

ステータ及びロータを備えている電気モータのトルク測定装置が提案され、当該トルク測定装置においては、電気モータ試験体のステータを保持するための保持装置と、ロータのための駆動装置と、当該駆動装置に連結されたトルクセンサとが備えられている。 - 特許庁

The device select signal output circuit includes a mask setting memory in which mask setting data are stored and masks the device select signal so that a device to be tested specified by the mask setting data is not selected as a device to be tested about the function test.例文帳に追加

前記デバイスセレクト信号出力回路は、マスク設定データを格納しているマスク設定メモリを有し、前記マスク設定データで特定された被試験デバイスが、前記機能試験が行われる被試験デバイスとして選択されないように、前記デバイスセレクト信号をマスクする。 - 特許庁

To display simultaneously addresses before scramble and after scramble on a display device as one part of a result of a function test by an IC tester.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテスタによるファンクションテスト結果の一部として、スクランブル前とスクランブル後のアドレスを表示装置に同時表示することである。 - 特許庁

To provide an antireflection film which is capable of keeping the reflectance low and is excellent in scratch resistance after durability (moisture and heat resistance) test, and to provide a polarizing plate and an image display device using such an antireflection film.例文帳に追加

本発明の目的は、反射率が低く抑えられ、耐久性（耐湿熱）試験後の耐擦傷性に優れた反射防止フィルムを提供すること。 - 特許庁

The image recording condition when the dot diameter D becomes the predetermined size in the test pattern image can be inputted into the control device 9.例文帳に追加

この制御装置９には、テストパターン画像においてドット径Ｄが所定の大きさとなるときの画像記録条件を入力可能となっている。 - 特許庁

The cushioning material of the device for quick loading test of the pile can use material for suppressing generation of a weighted component of high frequency.例文帳に追加

また、上記した杭の急速載荷試験装置において、前記緩衝材は高周波の加重成分の発生を抑制できる材料を使用することができる。 - 特許庁

To provide a program inspection device, a program inspection method, and a program inspection program, shortening test time while reducing an inspector's labor.例文帳に追加

検査者の労力を減じ、また、テスト時間を短縮することができる、プログラム検査装置、プログラム検査方法、及びプログラム検査プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a vehicle wheel load adjusting device which measures performance of a vehicle or a tire and the vehicle accurately in a traveling performance test of the vehicle.例文帳に追加

車両の走行性能テストにおいて車両又はタイヤと車両の性能を正確に測定できる車両輪荷重調整装置を提供する。 - 特許庁

The method generates the test pattern that is hardly perceptible to human observation, but detectable by an imaging device in a printer on an image receiving member.例文帳に追加

方法が、人間観察に知覚されにくく、それにもかかわらずプリンタの中の画像装置により検出可能なテストパターンを受像部材上に生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device whose transistor, etc., will not be broken down due to a voltage boosted by a boosting circuit in a burn-in test.例文帳に追加

バーンインテスト時に昇圧回路によって昇圧された電圧によりトランジスタ等の破壊が生じることのない半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a refresh apparatus for a semiconductor memory device in which normal cell and a redundant cell can be a simultaneously refreshed and a test time can be shortened, and a refresh method.例文帳に追加

ノーマルセルとリダンダントセルとを同時にリフレッシュさせ、テスト時間の短縮が可能な半導体メモリ素子のリフレッシュ装置及びリフレッシュ方法を提供する。 - 特許庁

A testing part is formed in an alarm device arranged in each dwelling unit of the apartment house, and the testing part executes automatically a test on the fire sensor or the like.例文帳に追加

共同住宅の各住戸内に配置される警報装置に試験部を設け、試験部は、火災感知器などに対する試験を自動的に実施する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which has improved characteristics evaluated by a bias test or the like under high temperature and high humidity, has a long life, and has excellent moisture-resistant reliability.例文帳に追加

高温高湿下でのバイアステスト等で評価される特性が向上して長寿命になり、耐湿信頼性に優れた半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a judgement method and a device suitable for judgement of roughness of a line and a space pattern formed on a test piece.例文帳に追加

本発明の目的は、特に試料上に形成されたライン＆スペースパターンの凹凸判定に好適な判定方法、及び装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a temperature/humidity adjusting means in a humidity conditioning performance measuring device capable of efficiently and accurately performing a humidity conditioning performance test of a humidity conditioning building material.例文帳に追加

調湿建材の調湿性能試験を効率よく且つ正確に行える調湿性能測定装置における温湿度調整手段を提供する。 - 特許庁