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Test deviceの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 8462件
To obtain a semiconductor integrated circuit device which has such an ESD (electro-static discharge) protection capability as to satisfy specifications of a surge test according to the subdivision of a process.例文帳に追加
プロセスの微細化に対応して、サージ試験の規格を満たすESD保護能力を有する半導体集積回路装置を得られるようにする。 - 特許庁
The water quality inspection device and method are characterized in that interminglement of a toxic substance in test water is detected by using biological activity of a heriozoan as an index.例文帳に追加
太陽虫の生物活性度を指標として検水中の毒性物質の混入を検知することを特徴とする水質検査装置および方法。 - 特許庁
To provide a test socket of a semiconductor device which can evaluate a high frequency property well, which saves from cleaning, which has a better maintenance property and which is easy to handle.例文帳に追加
高周波特性の評価が良好に行え、クリーニングに手間が掛からずメンテナンス性が良好で扱い易い半導体装置のテストソケットを提供する。 - 特許庁
To provide a test device capable of improving reaction efficiency while keeping the size of a microchannel as it is, and to provide a reaction apparatus and a method of testing reaction.例文帳に追加
微細流路のサイズは従来のままで反応効率を向上させることのできる試験デバイス、反応装置及び反応試験方法を得る。 - 特許庁
To quickly perform a recovery process in the occurrence of a failure by performing the margin test of a device connected to a fiber channel loop to improve the reliability of the whole loop.例文帳に追加
ファイバチャネルループに接続されたデバイスのマージンテストを行い、ループ全体の信頼性の向上を図り、障害発生の際の回復処理を迅速に行う。 - 特許庁
To provide a driving circuit capable of easily carrying out a test by using a measuring apparatus of a simple structure; and a driving device equipped with the driving circuit.例文帳に追加
簡素な構成の測定機器を用いて容易にテストを行うことができる駆動回路や、当該駆動回路を備える駆動装置を提供する。 - 特許庁
To obtain a small-sized and inexpensive circuit that generates a frame pattern for a test device for high-speed data communication.例文帳に追加
本発明の課題は、上記問題点に鑑み、高速データ通信の試験装置における安価かつ小型なフレームパターンを発生する回路を提供することである。 - 特許庁
To provide an inkjet printing system that can minimize the cost of a device measuring an image formed in a test print for correcting an ink impact position.例文帳に追加
インク着弾位置の補正のためのテストプリントに形成された画像を計測する装置をできるだけコストをかけなくてすむインクジェットプリントシステムを提供すること。 - 特許庁
METHOD AND BODY FOR SUPPORTING WEIGHT-DROPPING DEVICE, METHOD AND PILE HEAD BASE FOR PILE PUSH-IN TEST, AND CONSTRUCTION METHOD FOR BEARING PILE FOUNDATION例文帳に追加
重錘落下装置の支持方法及びその支持体、杭の押込み試験方法及びその試験用の杭頭台座、並びに、支持杭基礎の施工方法 - 特許庁
To provide a thermal mechanical analysis device preventing overturn of a holding member and falling down from a holding member installation part even if a sample breaks in a tension test.例文帳に追加
引張試験において試料が破断しても、保持部材の転倒や保持部材載置部からの脱落が起きない熱機械分析装置を提供する。 - 特許庁
To solve the following problem; since a test disk has a bonded structure of a center piece with a center hole and a disk main body, each eccentricity of an optical disk device cannot be measured.例文帳に追加
センターホールを備えたセンターピースとディスク本体とを接着した構成であるため、光ディスク装置の個々の偏心量が測定できない。 - 特許庁
In this water treating apparatus, the water quality measuring device 2 comprises a test water container 3, to which as-treated water is supplied, and the sensing part 4 which comes into direct contact with water at the time of water quality measurement.例文帳に追加
水質測定器2が処理後の水が供給される検水容器3と水質測定時に水に直接接触する感応部4とを備える。 - 特許庁
To provide a test run device for a man conveyor capable of simplifying the transmission pathway of driving force and reducing parts to be used besides having a function equal to that of a conventional one.例文帳に追加
駆動力の伝達経路を単純化し、使用部品を削減し、従来と同等の機能を有するマンコンベアの試運転装置を提供する。 - 特許庁
To provide a fatigue crack testing device having an inexpensive and simple arrangement, capable of measuring the crack length developed on a test piece easily and highly accurately.例文帳に追加
試験片に生じる亀裂長さを簡易に、しかも高精度に計測することのできる安価で簡易な構成の疲労亀裂試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a novel method and a device capable of detecting not only the number of particulates contained in a test liquid but also a particle size distribution of the particulates and the like.例文帳に追加
被検液中に含まれる粒子の数だけではなく、粒子の粒径の分布等をも検出することができる新規な方法と装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method and device capable of conducting a leakage test of a spout body of which a tip end is closed by seal material, easily in a short period of time.例文帳に追加
シール材で先端を閉じた注出口本体を簡単に且つ短時間でリークテストすることを可能とする方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide an evaluation method of a semiconductor test sample capable of nondestructively evaluating the surface state of a semiconductor part, and to provide a manufacturing method of a semiconductor device.例文帳に追加
半導体部分の表面状態を非破壊で評価できる半導体試料の評価方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a shielding-type article inspection device capable of inspecting a test object accurately without being influenced by outside light, and capable of executing highly precise inspection.例文帳に追加
外光の影響を受けることなく、被検査物を正確に検査することができ、精度の高い検査が行える遮光式物品検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a device and a method for measuring a rim displacement, capable of precisely measuring the rim displacement in an actual vehicle test.例文帳に追加
実車試験においても、リムずれ量を精度良く測定することができるリムずれ量測定装置およびリムずれ量測定方法を提供すること。 - 特許庁
Improvement is added on the memory testing device which stores test results of the memory to be tested in a fail memory and counts the number of fails of the fail memory.例文帳に追加
本発明は、被試験メモリの試験結果をフェイルメモリに格納し、このフェイルメモリのフェイル数をカウントするメモリ試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
To provide a device and method for automatically producing test pattern by which a corrected part can be activated by detecting the difference between an uncorrected circuit and a corrected circuit.例文帳に追加
修正前回路と修正後の回路の差分を検出し、修正箇所を活性化しうるテストパタンを自動生成する装置及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide a simulated obstacle device capable of evacuating quickly a simulated obstacle just before collision of a test vehicle against the simulated obstacle.例文帳に追加
試験車両が模擬障害物に衝突する直前に、この模擬障害物を速やかに退避させることができる模擬障害物装置を提供する。 - 特許庁
To reduce a cost of a device for testing a vacuum degree of a vacuum circuit breaker, also to reduce a working man-hour and working time of the vacuum degree test of the vacuum circuit breaker.例文帳に追加
真空遮断器の真空度を試験する装置のコストを低減し、かつ、真空遮断器の真空度試験の作業工数、作業時間を低減する。 - 特許庁
To obtain a display system by which test data generated by a boundary scanning testing device is displayed in a form which is easily understood by a debugging engineer in the production field of an electronic circuit.例文帳に追加
電子回路製造分野において境界走査テスト装置によって生成されるテスト・データをデバッグ技術者が理解し易い形式で表示する。 - 特許庁
To provide a test method and device that can confirm which of segmentation/reassembly functions of an ATM adaptation layer AAL1-cell division assembly SAR function block has a fault.例文帳に追加
AAL1−SAR機能ブロックのセグメンテーション/リアセンブリ機能のどちらに障害が発生しているかを判別する試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To detect a positional deviation of an object when conveying in a handling device for grasping and conveying the object such as a test tube.例文帳に追加
試験管などの対象物をつかんで搬送するハンドリング装置において、搬送時における対象物の位置ずれなどを検出できるようにする。 - 特許庁
A test pattern generating device 6 generates a basic pattern rawD1 which repeats alternately a signal '0' in which value of all bits are 0 and a signal '1' in which values of all bits are 1.例文帳に追加
テストパターン生成装置6は、全ビットが値0の「0」信号と値1の「1」信号とを交互に繰り返す基本パターンrawDIを生成する。 - 特許庁
The device is simulated without applying a large current load and a sure test is provided by finding usual results and utilizing an exiting data base.例文帳に追加
本発明は、大きな電流負荷を掛けることなく該装置を模擬し、通常のよくある結果を出し、既存のデータベースを利用し、より確実なテストを提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device that can suppress an increase in manufacturing period and cost thanks to its simplified circuit structure and wherein a burn-in test can be conducted in a wafer status.例文帳に追加
簡易な回路構成によって工期および費用の増大を抑えたウェハ状態でのバーンイン試験を実施可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide a coverage measurement device for providing a proper coverage measurement result for a test about the input/output result of functions in a program.例文帳に追加
プログラム中の関数の入出力結果に関するテストについて、適切なカバレージ測定結果を提供するカバレージ測定装置を提供する。 - 特許庁
To provide method and system for planarizing of semiconductor contactor, attaining flatter relation, with regard to probe card assembly, and more specifically, between contacting element and device under test on the probe card assembly.例文帳に追加
プローブカードアセンブリに関し、より具体的には、プローブカードアセンブリ上の接触要素と被試験デバイスとの間で、より平坦な関係を達成する。 - 特許庁
To provide a connector insertion-pull out testing device enabled to perform an insertion-pull out test of a pair of connectors in the temperature ranging from low temperature to high temperature, having small size, at low cost.例文帳に追加
低温から高温の温度範囲で被試験コネクタ対の挿抜試験が実施可能な小型且つ安価なコネクタ挿抜試験装置を提供する。 - 特許庁
ELECTRIC POWER SUBSTATION MONITORING CONTROL SYSTEM, AUTOMATIC PHONE ANSWERING DEVICE IN ELECTRIC POWER SUBSTATION MONITORING CONTROL SYSTEM AND TEST METHOD IN ELECTRIC POWER SUBSTATION MONITORING CONTROL SYSTEM例文帳に追加
変電所監視制御システム、変電所監視制御システムにおける電話自動応答装置および変電所監視制御システムにおける試験方法 - 特許庁
To provide a system and a method for obtaining statistical data by using a high-speed and simple method in a wafer level while using a wafer level test device.例文帳に追加
ウェーハ・レベルの試験装置を使用しながら、ウェーハ・レベルで高速で簡単な方法を使って統計データを得るシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁
To provide a material testing apparatus enabling a load to be easily applied to a material test piece at a desired rate of change by operation of a remote control device.例文帳に追加
リモートコントロール装置を操作して簡単に、材料試験片に負荷を所望の変化速度で加えることができる材料試験装置を提供する。 - 特許庁
To easily perform an access test on a storage device by means of a simple arrangement without depending on a state in which other system elements are mounted.例文帳に追加
他のシステム構成要素の組み付け状態に依存することなく、記憶装置に対するアクセス試験を簡易な構成で効率的に実行すること。 - 特許庁
To provide an X-ray CT system for CT photographing by irradiating a test sample with X rays from multiple directions, without having to install a rotation device.例文帳に追加
回転装置を設けることなく被検体に対して多方向からX線を照射してCT撮影を行うX線CT装置を提供する。 - 特許庁
To simulate an integrated circuit device as if provided with a known defect; and to verify that a test actually catches the defect.例文帳に追加
集積回路デバイスが既知の不良を具備しているかのような集積回路デバイスのシミュレーションを可能にし、試験が実際に不良を捕捉することを検証する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device, reducing a test time for outputting a result of comparing a data pattern for testing with a data read out from a memory cell array.例文帳に追加
テスト用のデータパターンとメモリセルアレイから読み出したデータとの比較結果を出力するテスト時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method and a device for promptly measuring pattern dependence in film thickness, etc., by using nondestructive test of surface shape for an optional chip section on a semiconductor wafer.例文帳に追加
半導体ウェハ上の任意のチップ領域の表面形状を非破壊で検査することによって膜厚のパターン依存性等を迅速に計測すること。 - 特許庁
To provide a program production system of a semiconductor testing device which reduces the trouble of developing an OS and a test program and simplifies debugging work.例文帳に追加
OSやテストプログラムの開発の手間を低減でき、デバッグ作業を簡略化することができる半導体試験装置のプログラム作成方式を提供すること。 - 特許庁
The endoscope has an insert part 4 for being inserted in a test object space, a laser light source for generating laser light, and a control device for controlling the operation of the laser light source.例文帳に追加
検査対象空間内に挿入される挿入部4と、レーザ光を発するレーザ光源と、レーザ光源の動作を制御する制御装置とを設ける。 - 特許庁
To provide a miniaturizable inverter testing device capable of switching collectively connection between an inverter which is a test object and a withstand voltage testing circuit or a function testing circuit.例文帳に追加
被試験体であるインバータと耐圧試験回路、機能試験回路との接続を一括で切り換えでき、かつ小型化できるインバータ試験装置を得る。 - 特許庁
To provide an interface apparatus, for which a test whether an interface device pin is connected to a substrate terminal normally or not is easily carried out.例文帳に追加
インターフェースデバイスのピンと基板端子との間が正常に接続されているか否かを容易に試験することのできるインターフェース装置を提供すること。 - 特許庁
The image output device 101 creates and prints a color mixture patch group on the basis of a determined prescribed density adjustment value, and outputs a test chart 201.例文帳に追加
また、画像出力装置101は、決定された所定の濃度調整値に基づいて、混色パッチ群を作成および印刷し、テストチャート201を出力する。 - 特許庁
As the device for evaluation, characteristics of the test pieces of the battery members are measured, and a failure battery or the like is analyzed based on the measured data.例文帳に追加
これを評価用装置として、その電池および電池部材試片の特性を測定し、それらの測定データから故障電池などの解析を行う。 - 特許庁
To provide an automatic Web page test device for quickly testing a Web page by automatically executing redundant components in the Web page.例文帳に追加
Webページに重複部品が存在する場合でも、重複部品の自動実行を可能とし、迅速にWebページのテストが行えるWebページテスト自動化装置を提供する。 - 特許庁
Next, the operator displays (outputs) data on the picture of the test sheet read by the medium processor on the display screen of a display device (step S3).例文帳に追加
次に作業員は、媒体処理装置が読み取ったテストシートの画像のデータを表示装置の表示画面上に表示(出力)させる(ステップS3)。 - 特許庁
To provide a method and a device for estimating a bleeding channel, which can economically bring about a result equivalent to that of a simple permeability test in a short period of time.例文帳に追加
短時間で経済的に、簡便な透水試験と同等の結果を得ることができる水みち推定方法および水みち推定装置を提供すること。 - 特許庁
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