「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(121ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor memory device which can perform a normal operation even when entry is performed erroneously for a test mode and external applying voltage for an internal circuit is low.例文帳に追加

誤ってテストモードにエントリしたときで、内部回路への外部印加電圧が低いときでも、通常動作が可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A terminal device (17) generates test signals for a digital filter circuit (12), operates the digital filter circuit, and selectively observes the internal signal or the like.例文帳に追加

端末装置（１７）はデジタルフィルタ回路（１２）にテスト信号を発生し、デジタルフィルタ回路を動作させ、その内部信号等を端末装置にて選択的に観測する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a test time by shortening an overhead time generated by using a software.例文帳に追加

ソフトウェアを用いることで発生するオーバーヘッド時間を短縮することにより、試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method for evaluating the rigidity and long-term heat resistance of a brake piston made of a resin in a high temperature atmosphere.例文帳に追加

樹脂製ブレーキピストンの高温雰囲気中における剛性、長期耐熱性を評価する試験装置並びにその試験方法を提供する。 - 特許庁

The apparatus and method are particularly useful for digital signal processing in communications and for performing digital transition timing testing on a device under test.例文帳に追加

装置および方法は、通信におけるデジタル信号処理および試験対象デバイスについてデジタル遷移タイミング試験を実行するのに特に有効である。 - 特許庁

A control circuit (CPU) is disposed independently, corresponding to each semiconductor integrated circuit device, in order to simultaneously test the plurality of semiconductor integrated circuit devices.例文帳に追加

制御回路(CPU)は、複数の半導体集積回路装置を同時に検査するため、夫々の半導体集積回路装置に対応して独立に設けられている。 - 特許庁

To achieve an inspecting apparatus which collectively performs burn-in test for each semiconductor device formed on a semiconductor wafer under uniform temperature condition.例文帳に追加

半導体ウエハの上に形成された各半導体デバイスを均一な温度条件下で一括してバーンイン試験を行う検査装置を実現できるようにする。 - 特許庁

To effectively detect bus fight of a data bus when data is written from the outside in a digital processing device such as a test pattern generator or the like in which programming is freely performed.例文帳に追加

試験パターン発生器などのプログラミング自在なデジタル処理装置での外部からのデータの書き込みの際のデータバスのバスファイトを有効に検出する。 - 特許庁

To provide a device for measuring axial displacement quantity of a blade tip of a turbo machine rotor for a ground test, capable of solving conventional faults.例文帳に追加

従来の欠点を克服する、地上試験のためにターボ機械ロータのブレード先端の軸方向変位量を測定するための装置を提供する。 - 特許庁

To provide a coil insulation inspection device capable of exactly obtaining test waveform and its characteristic values and accurately judging good or bad.例文帳に追加

正確なテスト波形およびその特性値を得ることができ，精度が高い良否判定を行うことができるコイル絶縁検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test device for lens array capable of testing a lens array having an eccentric lens in which the optical axis position deviates from the geometrical center of lens.例文帳に追加

光軸位置がレンズの幾何学的な中心からずれている偏心レンズを有するレンズアレイの検査を行うことが可能なレンズアレイの検査装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of suppressing the occupied area of a test circuit from increasing and simultaneously testing operations tests of plural memory circuits.例文帳に追加

試験回路の占有面積増加を抑え、且つそれにより複数のメモリ回路の動作試験を同時に実施することが可能な半導体装置を提供すること。 - 特許庁

RS (RESPIRATORY SYNCYTIAL) VIRUS DETECTING KIT USING ANTI-RS VIRUS MONOCLONAL ANTIBODY, IMMUNO-CHROMATOGRAPHIC TEST DEVICE, AND NEW ANTI-RS VIRUS MONOCLONAL ANTIBODY例文帳に追加

抗ＲＳウイルスモノクローナル抗体を用いたＲＳウイルス検出用キット及びイムノクロマトグラフィー用試験具、並びに新規な抗ＲＳウイルスモノクローナル抗体 - 特許庁

Mechanical relays switching circuits in pin electronics 70 constituting the output part of the semiconductor test device are all composed of semiconductor relays 75.例文帳に追加

半導体試験装置の出力部を構成するピンエレクトロニクス７０内の回路の切換えを行うメカリレーを全て半導体リレー７５で構成する。 - 特許庁

To provide a performance test method for a pressure regulating valve, capable of efficiently and early performing performance decision related to pressure control in a gas supply device.例文帳に追加

ガス供給装置における圧力制御に関する性能判断を効率良く早期に行える圧力調整弁の性能試験方法を提供する。 - 特許庁

To reduce a measuring time for characteristic test or inspection when manufacturing a data driver used for a dot inversion driving type liquid crystal display device.例文帳に追加

ドット反転駆動方式の液晶表示装置に用いられるデータドライバにおいて、製造時の特性試験または特性検査での測定時間を短縮させる。 - 特許庁

To provide a memory device that can generate the reference voltage not affected by the voltage fluctuations of the power supply and is suitable for a burn-in test.例文帳に追加

電源電圧の変動の影響を受けない参照電圧が生成される記憶装置であって、バーンインテストを行うのに適した記憶装置を実現する。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of carrying out a stable vibration test all the time, without being affected by a temperature change in a thermostatic oven.例文帳に追加

恒温槽内の温度変化に影響を受けることなく、常に安定した振動試験を行うことのできる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method and its device for fuel cell capable of measuring a flow rate of humidifying gas supplied to a fuel cell without using a dew-point instrument.例文帳に追加

露点計を用いることなく、燃料電池に供給される加湿ガスの流量を測定できる燃料電池の試験方法とその装置の提供。 - 特許庁

After the test printing, when regular printing is instructed to be done, only the developed data, which are stored in the storage device 13, are output to be printed on the format paper.例文帳に追加

試し印刷を行った後、本印刷が指示されると記憶装置１３に格納された展開データのみを出力してフォーマット用紙に印刷する。 - 特許庁

The foam discharge testing device includes a foam test tank 10 for storing an agent T for the inspection separately from an undiluted solution storage tank 1 for storing a foam extinguishing undiluted solution E.例文帳に追加

泡消火薬原液Ｅを貯留する原液貯留タンク１とは別に、点検用薬剤Ｔを貯留する泡試験用タンク１０を備えている。 - 特許庁

The wind test model 50 is supported by a support rod 102 and a lower support device 4 in a space of the measuring part 71 between a wind panel front part 70 and a wind panel rear part 72.例文帳に追加

風洞前部７０と風洞後部７２間の計測部７１の空間に支持棒１０２、下方支持装置４で風試模型５０を支持する。 - 特許庁

In this auto-handler 1, a device 40 which is a test body is sucked by a suction part (illustration is omitted) installed on the lower end part of a rod 11, and transferred to a prescribed position.例文帳に追加

オートハンドラ１は、ロッド１１の下端部に設けた吸着部（図示略）で被試験体となるデバイス４０を吸着し、所定の位置に移載する。 - 特許庁

A circuit board inspection system 100 comprises a circuit board 10 as a test object, a signal converter 20, and an image display device 30.例文帳に追加

回路基板検査システム１００は、検査対象としての回路基板１０と、信号変換装置２０と、画像表示装置３０とから構成される。 - 特許庁

To provide an LED display device having a screen test function to efficiently identify visually a failure point on an LED unit constituting a screen.例文帳に追加

スクリーンを構成するＬＥＤユニットの異常箇所を目視によって効率良く特定できるスクリーンテスト機能付きＬＥＤ表示装置を提供する。 - 特許庁

An electronic voting terminal is provided with a lock device for using a prescribed key to be unlocked and further inputting a prescribed password to make the printer 20 perform test printing.例文帳に追加

所定のキーを用いて開錠し、さらに所定のパスワードを入力することによりプリンタ２０がテスト印字を行なえるようにするロック装置を備える。 - 特許庁

To provide a method and a device for generating a test pattern capable of preventing a trouble detection ratio from lowering or preventing a cost of tester from increasing.例文帳に追加

故障検出率の低下あるいはテスタのコスト増加を防止することが可能なテストパターン発生方法及びその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an assembling device of a form for a prism-shaped test piece to simply enhance the assembling precision of the form.例文帳に追加

本発明は、角柱形供試体用型枠の組立装置に関し、当該型枠の組立精度を高精度に且つ簡易にできるようにすることが課題である。 - 特許庁

To provide an environmental testing device capable of carrying out a stable compound environmental test all the time, without being affected by a temperature change in a thermostatic oven.例文帳に追加

恒温槽内の温度変化に影響を受けることなく、常に安定した複合環境試験を行うことのできる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fare verification device capable of checking the operation of a fare calculation means even if test data limited to a necessity minimum is used.例文帳に追加

必要最小限に絞り込んだテストデータを用いても、運賃算出手段の動作を十分に確認できる運賃検証装置を提供する。 - 特許庁

A control unit 21 of an image quality adjusting device 20 generates a test pattern, supplies it to a liquid crystal panel 10 and acquires an output image from a photographing camera 30.例文帳に追加

画質調整装置２０の制御部２１は、テストパターンを生成し、液晶パネル１０に供給し、撮影カメラ３０から出力画像を取得する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device for preventing a fall of a performance board by using an inexpensive sensor to detect a small inclination of a test head.例文帳に追加

安価なセンサを使用してテストヘッドの小さな傾きを検出し、パフォーマンスボードの落下を防止することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a drop tester, performing a drop and impact test close to a working environment of an electronic device operated by a user by a simple method.例文帳に追加

ユーザによる電子機器の使用環境に近い落下衝撃試験を簡易な方法で行うことが可能な落下試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To remove a moisture content mixed in engine oil during test by installing an oil moisture content removing device in a system of an engine oil temperature control device and switching a system during completion of a text, in a low temperature environment testing device for an internal combustion engine.例文帳に追加

内燃機関の低温環境試験装置において、エンジンオイル温調装置の系内に油内水分除去装置を増設し、試験終了時に系統を切り替えて、試験中にエンジンオイルに混入した水分を除去する。 - 特許庁

To easily and highly precisely conduct an electric test of a device in an electrode substrate for an active matrix type liquid crystal display device without deteriorating the function of protecting the device from static electricity.例文帳に追加

アクティブマトリクス型液晶表示装置に用いられる表示装置用電極基板において、静電気からデバイスを保護する機能を損なうことなく、デバイスの電気的テストを容易且つ高精度で行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device, by which a precise test corresponding to an actual using state can be performed to an accelerated semiconductor device, even if using a testing device of slow operation which is used conventionally.例文帳に追加

従来から使用していた動作速度の遅いテスト装置を用いても高速化された半導体装置に対して実際の使用状態に即した正確なテストを行うことができる半導体装置のテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To securely check a semiconductor device even when a connection electrode of the semiconductor device is disposed in a very narrow space, and easily check characteristics and the like of the semiconductor device by simplifying constructions of a test pad and the like of a checking apparatus.例文帳に追加

半導体装置の接続電極の配置がきわめて狭くなった場合でも確実に検査することができ、検査装置のテストパッド等の構成を簡易にして半導体装置の特性等を容易に検査可能とする。 - 特許庁

A device to be tested 20 is pressed against the one surface side of the metal block 1 to bring electrode terminals 21-24 of the device to be tested 20 each into contact with tip parts of the probes 3-5 to test the characteristics of the device to be tested 20.例文帳に追加

この金属ブロック１の一面側に被検査デバイス２０が押し付けられ、その被検査デバイス２０の各電極端子２１〜２４とそれぞれプローブ３〜５の先端部とを接触させて被検査デバイス２０の特性検査がなされる。 - 特許庁

To provide a testing device of an electronic part substrate, capable of aiming miniaturization of the device, and capable of increasing the number of trays storable in the device, a test method and trays for the electronic part substrate used therefor.例文帳に追加

装置の小型化を図ることができると共に、装置内に収容できるトレイ枚数を増大させることができる電子部品基板の試験装置、試験方法およびそれに用いられる電子部品基板用トレイを提供すること。 - 特許庁

The first clocking device 1 transmits information to the first communication device 3 as test information including a value specifying a transmission time of the information when transmitting the information specifying the transmission time to the first communication device 3.例文帳に追加

第１計時装置１は、伝達時間を特定するための情報を第１通信装置３に送信するとき、その情報を、その情報の送信時刻を特定する値を含む試験情報として第１通信装置３に送信する。 - 特許庁

To provide a power supply device capable of easily and efficiently performing voltage adjustment work required for replacing an abnormal power supply and a semiconductor integrated circuit test device including the power supply device.例文帳に追加

異常が生じた電源の交換作業時に行う必要のある電圧調整作業を容易に且つ効率的に行うことができる電源装置及び当該電源装置を備える半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a semiconductor device that can conduct a test while the semiconductor device is connected to a lead frame and the lead frame used for the manufacturing method for the semiconductor device.例文帳に追加

本発明は、半導体装置をリードフレームに繋がった状態で試験を行うことのできる半導体装置の製造方法及びそのような半導体装置の製造方法に使用するリードフレームを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a test device for dynamic tests for combustion engines, which is advantageously connected to a control device where set values relating to transitions of a rotational frequency and rotation torque are adjusted and controlled by an electric driving/load device.例文帳に追加

有利には、電気式の駆動・負荷機器が回転数と回転トルクの推移に関する設定値を調整、制御する制御機器と接続された、燃焼式動力機関の動力学的な試験課題のための試験装置である。 - 特許庁

To provide an optical transmission device which controls the phase difference of an optical signal passed through a data modulation section to a predetermined phase difference without causing a deterioration in a phase-modulated optical signal, and to provide an optical test device having the device.例文帳に追加

位相変調光信号の劣化を生ずることなく、データ変調部を介する光信号の位相差を所定の位相差に制御することができる光送信装置、及び当該装置を備える光試験装置を提供する。 - 特許庁

When mounted on a cradle 70, an information code reading device 10 executes reading test for a bar code 85 for inspection and an RFID tag 87 for the inspection using an inspection device 80, and transmits the result to a terminal management device 60 side.例文帳に追加

情報コード読取装置１０は、クレードル７０に載置されると、検査装置８０を使って、検査用バーコード８５と検査用ＲＦＩＤタグ８７との読み取り検査を行い、この結果を端末管理装置６０側へ送信する。 - 特許庁