「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(124ページ目) - Weblio英語例文検索

The virtual ALPG transmission type semiconductor test device has virtual ALPG function and real ALPG memory test function, in which a virtual ALPG operated on a hardware simulator and a real ALPG attained on hardware have the function of generating pattern at the same time by interpreting a test program although the real time is differed from each other and generate test patterns for a DUT designated by the program with a designated content at a designated speed.例文帳に追加

仮想ＡＬＰＧ機能と実ＡＬＰＧメモリテスト機能を具備し、ハードウェアシミュレータ上で動作する仮想ＡＬＰＧとハードウェアで実現する実ＡＬＰＧが、実時間は異なるが、テストプログラムを解釈し、プログラムの指定するＤＵＴに対するテストパターンを指定された内容で、指定された速度で発生して、仮想ＡＬＰＧと実ＡＬＰＧが同タイミングでパターンを発生する機能を有する仮想ＡＬＰＧ透過型半導体テスト装置とする。 - 特許庁

The semiconductor device having a test mode for conducting a test is equipped with a first circuit that generates a first signal based upon a first dummy command signal inputted a plurality of times, and a second dummy command signal and a third dummy command signal different from the first dummy command signal and generates a second signal designating an entry into a corresponding test mode or an exit from the corresponding test mode based upon the first signal.例文帳に追加

試験を行うためのテストモードを有する半導体装置において、複数回入力される第１のダミーコマンド信号と、前記第１のダミーコマンド信号とは異なる第２のダミーコマンド信号及び第３のダミーコマンド信号とに基づいて第１の信号を生成し、前記第１の信号に基づいて、対応するテストモードへのエントリ又は対応するテストモードからのエクジットを指示する第２の信号を生成する第１の回路を備えるように構成する。 - 特許庁

This testing handler includes a loading device for loading a device on a testing tray, a posture changing device 100 for posture-changing the testing tray, the soaking chamber 10 for storing sequentially the posture-changed testing trays, temperature control means 150, 180 for preheating/precooling the device mounted on the testing tray, and an unloading device for unloading the test-finished device to a user tray.例文帳に追加

ディバイスをテストトレーにロードさせるロード装置と、テストトレーを姿勢変換させる姿勢変換装置１００と、姿勢変換されたテストトレーを順次収納するソークチャンバー１０と、テストトレーに積載されたディバイスを予熱／予冷する温度制御手段１５０、１８０と、テストが終了したディバイスをユーザートレーにアンロードさせるアンロード装置とを包含して構成される。 - 特許庁

When a virtualization switch device receives a copy request, a virtualization control device performs access tests corresponding to the copy request on each of a plurality of virtual switch devices, selects a virtualization switch device determined to have the best performance by the access test, and transmits the copy request to the selected virtualization switch device.例文帳に追加

仮想化スイッチ装置がコピーリクエストを受信した場合、複数の仮想化スイッチ装置の各々に対し、該コピーリクエストに対応したアクセステストを行ない、該アクセステストによって、最も性能が良いと判断した仮想化スイッチ部を選択し、選択された仮想化スイッチ部へコピーリクエストを送信する。 - 特許庁

To provide a diagnostic device of a rolling bearing unit capable of highly accurate detection without overlooking a defect of a rotating part of a mechanical device, when performing an inspection test periodically, while rotating the device, without decomposing the mechanical device requiring much labor for decomposition.例文帳に追加

分解するのに多くの手間がかかるような機械装置の分解を行なうことなく、回転させながら定期的に検査試験を行う場合、その機械装置の回転部品の欠陥を見落とすことなく高精度な検出が可能な転がり軸受ユニットの診断装置を提供する。 - 特許庁

The master device 2 transmits a command to the slave devices, the slave devices retransmit a command with the same contents as those of the received command to a prescribed device on the basis of a register value, and the master device determines whether response from the prescribed device coincides with expected response to determine that the test is a success or a failure.例文帳に追加

マスタ機器２はスレーブ機器にコマンドを送信し、スレーブ機器はレジスタの値を元に所定の機器に受信コマンドと同一内容のコマンドを再送信し、マスタ機器はスレーブ機器及びターゲット機器からの応答が期待している応答と一致しているかを判断し、テストの合否を行う。 - 特許庁

When a terminal device PS1 inquires the standard time of a time managing device 11 according to need, the time managing device 11 sends standard time information to the terminal device PS1 having inquired the standard time together with an added flag indicating summertime operation time or test operation time.例文帳に追加

端末装置ＰＳ１が必要に応じて時刻管理装置１１に対し基準時刻を問い合わせると、時刻管理装置１１では、基準時刻を問い合わせた端末装置ＰＳ１に対して、基準時刻情報にサマータイム運用時／試験運用時を示すフラグを付加して送信する。 - 特許庁

The document server 5 receives an instruction to provide service of image formation for the image formation device 1 from the terminal device 2, presents a test of human interactive certification to the image formation device 1 to request a response, and provides the service for the image formation device 1 when accepting the human interactive certification.例文帳に追加

文書サーバ５は、画像形成のサービスを画像形成装置１に提供する指示を端末装置２から受け付け、人間対話証明のテストを画像形成装置１に提示して応答を要求し、人間対話証明を受理する場合に、画像形成装置１にサービスを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester device for testing electronic devices with a fine electrode structure to be tested by keeping a good electric contact, and to provide a contact substrate for testing the semiconductor device, and a test method for the semiconductor device, the semiconductor device, and its manufacturing method.例文帳に追加

微細な電極構造を有する被試験電子部品の試験を良好な電気接触を保持して行うことが可能な半導体試験装置、半導体装置試験用コンタクト基板、半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In a system, where an ATM device 1 is connected to an STM device 2 via an STM-ATM conversion device 3 for transferring information, at least a test means 30 for testing inside a CLAD part 20 is provided in the STM-ATM conversion device 3.例文帳に追加

ＡＴＭ装置１とＳＴＭ装置２とをＳＴＭ−ＡＴＭ変換装置３を介して接続し、情報の転送を行なうシステムにおいて、前記ＳＴＭ−ＡＴＭ変換装置３内に少なくともＣＬＡＤ部２０内の試験を行なう試験手段３０を設けて構成する。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a semiconductor device in which a short circuit caused by fragments of a test pattern is prevented at the time of mounting the semiconductor device by improving the dicing process of a semiconductor wafer, and the yield of an electrooptic device mounting the semiconductor device can be enhanced.例文帳に追加

半導体ウエハの分割工程を改善することによって、半導体装置を実装する場合のテストパターンの破片に起因する短絡不良を防止し、さらに、半導体装置を実装した電気光学装置の歩留まりを向上させることのできる製造方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a device for inspecting the sealed state of a connected pipe joint capable of obtaining reliable test results by speedily supplying and discharging water from a test band for testing the sealed state of the sealed part of the pipe joint and performing pressure-proof tests by a manual pressurization.例文帳に追加

接続した管継手のシール部のシール性を試験するためのテストバンドへの給排水を迅速に行ない、しかも耐圧試験は手動加圧とすることにより確実な試験結果の得られる管継手の密閉性検査装置を得ることを課題とする。 - 特許庁

To enable the test of the other chips during the data holding test period of an SRM in a composite semiconductor device where a SRAM(static RAM) chip and the other IC chips are included and the corresponding output terminals of both chips are connected in common to a single external output terminal.例文帳に追加

ＳＲＡＭチップと他のＩＣチップとを含み、該両チップの対応する出力端子が、単一の外部出力端子に共通接続されて成る複合半導体装置に於いて、ＳＲＡＭのデータ保持テスト期間中に、他のチップのテストを可能とする。 - 特許庁

An electronic component testing device 1, which performs a test pressing an IC terminal against a contact part 51 of a test head 5, comprises a temperature operation means 501 which calculates an actual temperature of the IC based on a signal from a temperature sensor 2D provided in the IC.例文帳に追加

ＩＣの端子をテストヘッド５のコンタクト部５１へ押し付けてテストを行う電子部品試験装置１であり、ＩＣに設けられた温度感応素子２Ｄからの信号に基づいて、当該ＩＣの実際の温度を演算する温度演算手段５０１を有する。 - 特許庁

When testing the console 2, a computer unit 28 of the control device 3 reads a test display command DT from a database 24 to transmit the same to the console 2 via a conversion unit 30, and also reads an exact test video signal DTE to supply the same to a comparison means 40.例文帳に追加

制御装置３のコンピュータ・ユニット２８は、コンソール２の検査時に、データベース２４から検査表示コマンドＤＴを読み出し、変換ユニット３０を介してコンソール２に送信し、また的確検査ビデオ信号ＤＴＥを読み出して、比較手段４０に供給する。 - 特許庁

To provide a temperature elevation apparatus which is reduced in size and low-priced, facilitates temperature control and in addition, can be applied to a temperature elevation test at a high temperature exceeding a temperature limit of a semiconductor device comprised of silicon; and a temperature elevation test method employing the temperature elevation apparatus.例文帳に追加

小型且つ安価で温度制御が容易であり、加えて、シリコンからなる半導体デバイスの温度限界を越える高温での昇温試験に適用することが可能な昇温装置、及び該昇温装置を用いた昇温試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement/test access control device, method and its program enables to access to an application soft ware of one measurement system from a plurality of operation terminals, and also preventing measurement setting from being damaged by performing measurement/test at the other operation terminal.例文帳に追加

測定／試験アクセス制御装置及び方法並びにそのプログラムに関し、１つの測定系アプリケーションソフトウェアに対して複数の操作端末からのアクセスを可能にし、かつ、他の操作端末の測定／試験の実施によって測定設定が破壊されないようにする。 - 特許庁

The test device 1 also has a feedback loop where a signal of a node N21 on the output side of the multiplexer MUX2 is inputted into a determination circuit section 7 of the test circuit 5, and is inputted to one of the input sides of the multiplexer MUX2 via the determination circuit section 7.例文帳に追加

また、マルチプレクサＭＵＸ２の出力側のノードＮ２１の信号が試験回路５の判定回路部７に入力され、その信号が判定回路部７を介してマルチプレクサＭＵＸ２の入力側の一方に入力される帰還ループが形成されている。 - 特許庁

Thus, by comparing the signal in virtual pins PT1 and PT0 based on failure assumed to virtual circuit data with the observed result of the signal in the test output terminal resulting from test implementation in the LSI, the failure diagnosis device diagnoses failure of the LSI.例文帳に追加

そして、故障診断装置は、仮想回路データに対して仮定した故障に基づく仮想ピンＰＴ１，ＰＴ０における信号とＬＳＩにてテストを実行させてテスト出力端子における信号を観測した結果とを比較してＬＳＩの故障を診断する。 - 特許庁

The specimen measuring device includes an instrument and vials of test sensors, and transmits calibration information intrinsic to individual vial of the test sensor from a radio frequency identification (RF or RFID) tag incorporated in the vial to a reader in the instrument at a predetermined time or within the predetermined time.例文帳に追加

検体測定装置は、測定器とテストセンサーのバイアルを含み、テストセンサーの個別のバイアルに固有の較正情報を、バイアル内に組み込まれた無線周波数識別(RFまたはRFID)タグから測定器内のリーダに、所定の時点または所定の時間内に無線で送信する。 - 特許庁

To provide a device for conducting a restoring test of a base isolation floor capable of safely and smoothly conducting the test without generating a flight substance in load tripping by applying a testing load to the base isolation floor, then quickly releasing the load.例文帳に追加

免震床に試験負荷をかけ、次いでその負荷を急激に開放することにより、その免震床の復元試験を行う装置において、負荷引き外し時に飛翔物が発生することなく、安全に且つ円滑に試験を行うことができる装置の提供。 - 特許庁

Measurement of a reaction time is started by a measurement start key inputted simultaneously with drop of the test specimen onto the test paper piece, and light measurement is performed when reaching a reaction time inputted into a device as the calibration curve information group, to thereby determine the concentration of an unknown sample.例文帳に追加

試験紙片に被検検体を滴下すると同時に入力される測定開始キーにより反応時間の計測を開始し、検量線情報群として装置に入力された反応時間に至した時に測光し、未知試料の濃度を求める。 - 特許庁

The test result selective output device 100 receives the synchronization alarm report signal SYAAL and inserts alarm indication control information to an empty frame to generate an outgoing highway signal when being selected by a test selection switch 11 and outputs this signal to a radio base station.例文帳に追加

試験結果選択出力装置１００は、同期アラーム表示通知信号ＳＹＡＡＬを受け、試験選択スイッチ１１により選択されるとき、アラーム表示制御情報を空フレームに挿入して下りハイウェイ信号を生成し、無線基地局ヘ出力する。 - 特許庁

This is the test device with which respective pixels in the organic EL panel are tested from the electric signals obtained by driving the organic EL panel, and it is constituted so that a drive monitoring part 4 to monitor the test driving signals applied to the organic EL panel is provided.例文帳に追加

有機ＥＬパネルの検査装置は、有機ＥＬパネルを駆動して得られる電気的信号から有機ＥＬパネル中の各画素を検査する検査装置であって、有機ＥＬパネルに印加する検査駆動信号を監視する駆動監視部４を備える構成とする。 - 特許庁

A measuring method of remaining austenite volume in the invention that includes a step for using an eddy-current measuring device to measure a remaining austenite volume contained in a test object realizes online and low-cost measurement within a manufacturing process of the test object.例文帳に追加

本発明の残留オーステナイト量の測定方法によれば、被検体に含まれる残留オーステナイト量を渦電流方式の測定装置を用いて測定することができるため、該被検体の製造工程内においてオンラインで安価に測定することができる。 - 特許庁

To enable displaying red, green, and blue and to improve test and detection capability for defect caused by patterns of each pixel constitution, wirings, and the like even when pixel electrodes are arranged in delta arrangement in a test method for a liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置の検査方法において、画素電極がデルタ配列に配置された場合でも、赤，緑，青の表示を可能とし、かつ各画素構成および前記各配線などのパターンに起因する不良の検査検出力を向上させることを目的とする。 - 特許庁

To reduce a test vector length and a test time including a maximum and a minimum propagation delay due to an interconnection noise of a signal wiring in a semiconductor integrated circuit device having a configuration to connect a plurality of circuit blocks in an interconnection region.例文帳に追加

複数の回路ブロックを配線領域で接続する構成を持つ半導体集積回路装置において、信号配線の相互接続ノイズによる最大及び最小の伝搬遅延を含む試験のテストベクタ長と試験時間を削減することを目的とする。 - 特許庁

The color vision test device 1 includes: a color matching means 3 for performing color matching processing of a color monitor 2, and an image display control means 4 for successively displaying a plurality of images for color vision test on the color monitor 2 which has been subjected to the color matching processing.例文帳に追加

本発明に係る色覚検査装置１は、カラーモニター２のカラーマッチング処理を行うカラーマッチング手段３と、該カラーマッチング処理が行われたカラーモニター２に複数の色覚検査用画像を順次表示させてなる画像表示制御手段４と、を備えている。 - 特許庁

A test pattern generating unit 10 generates a test pattern having data before conversion such that the same value of bit 0 or 1 in the data converted according to a code conversion table is successively transferred to each of a plurality of serial transfer channels of a high-speed serial transfer device.例文帳に追加

試験パターン作成部１０は、高速シリアル転送デバイスが有する複数のシリアル転送チャネルの各々に、符号変換テーブルによる変換後データでビット０又は１の同値が連続転送されるように変換前データを並べた試験パターンを作成する。 - 特許庁

An inspecting object 1 is pressed to the test substrate 2 by pushing down a press jig 5 provided in an upper part of the object 1 such as a semiconductor device to connect a high-frequency signal terminal of the inspecting object 1 to a high-frequency signal wiring on the test substrate 2.例文帳に追加

半導体デバイス等の被検査体１の上部に設けられたプレス治具５を押し下げることにより、被検査体１が試験基板２に押し付けられ、被検査体１の高周波信号端子と、試験基板２上の高周波信号配線が接続される。 - 特許庁

By the semiconductor test device 100, a status memory 111 is referred to, and a fail memory storing no fail information on the previous test, is selected, and the fail information on the previous and present tests are ORed and stored to the same address as that of DUT.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、状態メモリ１１１を参照して前回の試験におけるフェイル情報を記憶していないフェイルメモリを選択し、前回および現在の試験におけるフェイル情報のＯＲをとってＤＵＴと同一のアドレスに記憶させる。 - 特許庁

For example, the IC card test device 1 generates a command APDU described with hexadecimal characters according to the program interface specifications of the IC card from the test script described in script language, and tests the IC card program by using the generated command APDU.例文帳に追加

例えば、ＩＣカードテスト装置１は、スクリプト言語で記述されたテストスクリプトから、ＩＣカードのプログラムインターフェース仕様に従い、１６進数のキャラクターで記述されたコマンドＡＰＤＵを生成し、生成したコマンドＡＰＤＵを用いてＩＣカードプログラムをテストする。 - 特許庁

To provide a continuous nonstationary flow rate generator and a continuous nonstationary flow rate generating method for a compressible fluid useful for a dynamic characteristic test for the compressible fluid and a flow characteristic test in an air compressor or the like, and a flowmeter calibration device using the same.例文帳に追加

圧縮性流体の動特性試験や空気圧機器などの流量特性試験に有用な圧縮性流体の連続非定常流量発生装置および連続非定常流量発生方法、ならびにそれを用いた流量計検定装置。 - 特許庁

In the transmission reception test to confirm normality of a plurality of radio equipments in a radio base station device, a transmission radio wave and a reception local frequency are switched to conduct test in a radio idle time slot by control processing in the unit of time slots.例文帳に追加

無線基地局装置２１内の複数の無線機２２について正常性を確認する送受信試験方法において、タイムスロット単位での制御処理により、無線空きタイムスロット中に送信電波及び受信ローカル周波数を切り替えて試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which malfunction never be caused and operation can be performed with low power consumption by performing a test again and detecting optimum operation conditions for a cell being easy to be defect out of cells passing a test, and a method for testing the same.例文帳に追加

テストをパスしたセルのうち最も不良になり易いセルに対し、再びテストを行って最適の動作条件を検出することによって、誤動作せず、低消費電力で動作可能な半導体メモリ装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

The module type test system includes a system controller 102 for controlling at least one site controller 104, and at least one site controller controls at least one test module 108 and a device (DUT 112) to be tested to which the module corresponds.例文帳に追加

モジュール式試験システムは少なくとも１つのサイトコントローラ１０４を制御するためのシステムコントローラ１０２を備え、少なくとも１つのサイトコントローラは少なくとも１つの試験モジュール１０８およびその対応する被試験デバイス（ＤＵＴ１１２）を制御する。 - 特許庁

A semiconductor test device has two fail memories 203, 204 and two analysis memories 107, 108, fail information are accumulated alternately in the analysis memories 107, 108 for each test through an OR circuit 105 from the fail memories 103, 104.例文帳に追加

半導体試験装置は、２面のフェイルメモリ２０３，２０４とともに２面の解析メモリ１０７，１０８を持ち、フェイルメモリ１０３，１０４から論理和回路１０５を通じて、毎回の試験ごとにフェイル情報を交互に解析メモリ１０７，１０８に累積して格納していく。 - 特許庁

The tape cartridge 10 for a hand-held device for analyzing a body fluid has a test tape 30 that can be unwound from a storage unit 20 and wound onto a waste unit 24 where the waste unit 24 can be driven in order to wind forward the test tape 30.例文帳に追加

体液分析用手持ち式装置のためのテープ・カートリッジ１０であって、保管ユニット２０からの繰り出しおよび廃棄ユニット２４への巻き取りが可能なテスト・テープ３０を有しており、テスト・テープ３０を前方へと巻くべく廃棄ユニット２４を駆動することができる。 - 特許庁

To provide a method and device for finding recording condition of optical disk being suitable for high speed recording even when trial writing of high speed recording cannot be performed in an inner peripheral test track, and even when relationship between a property of an outer peripheral test track and a property of a user data track is unknown.例文帳に追加

内周テストトラックで高速記録の試し書きが不可能な場合や、外周テストトラックの特性とユーザデータトラックの特性の関係が不明な場合でも、高速記録に適した光ディスクの記録条件を求める方法および装置を提供する。 - 特許庁

Also, the CPU 11 creates concrete quality test result table image data having a display column for displaying the extracted placement information, and an input column for inputting the quality test result by an inputting device 14 as a result table image data creation means.例文帳に追加

また、ＣＰＵ１１は、結果表画像データ作成手段として、抽出された打設情報を表示する表示欄と、品質試験結果を入力装置１４により入力可能な入力欄と、を備えるコンクリート品質試験結果表画像データを作成する。 - 特許庁

Thus, it is not required to build in a test program as an F/W in a DSP (CPU) in the card 101 to be collected without the need for using a test device such as a logic analyzer so as to simply collect the digital signal.例文帳に追加

こうすることにより、ロジックアナライザ等試験機器を使用することなく、また被試収集カード１０１内におけるＤＳＰ（ＣＰＵ）内に予めＦ／Ｗとして試験用プログラムを内蔵しておく必要がなくなり、簡単にディジタル信号の収集が可能となる。 - 特許庁

These waste liquid test chemical and waste water test device using it are characterized by being used by being added to the waste liquid, and having a long cylindrical body and a capturing structure bonded to the long cylindrical body, for capturing specifically a capturing object included in the waste liquid.例文帳に追加

廃液に添加されて使用され、棒状体と、該棒状体に結合し該廃液中に含まれる捕捉対象物を特異的に捕捉する捕捉構造体とを有してなることを特徴とする廃液検査薬及びそれを用いた廃液検査装置である。 - 特許庁

The driving operation assistance device for the vehicle generates a test pattern from a side support of a seat back part of a driver's seat when a main switch is turned on and presumes the physique of the driver on the basis of a side support angle and a motor input current during generation of the test pattern.例文帳に追加

車両用運転操作補助装置は、メインスイッチがオンされると運転席シートのシートバック部のサイドサポートからテストパターンを発生し、テストパターン発生中のサイドサポート角度およびモータ入力電流とに基づいて、運転者の体格を推定する。 - 特許庁

The cleaning device includes a cleaning member which removes a test patch formed on a transferred medium, and in the cleaning member, the cleaning performance corresponding to a position on the transferred medium where the test patch is transferred is set higher than that in other areas.例文帳に追加

被転写媒体上に形成されたテストパッチを除去するクリーニング部材を備え、前記クリーニング部材は、前記テストパッチが転写される被転写媒体上の位置に対応したクリーニング性を他の領域に比べて高く設定するように構成して課題を解決した。 - 特許庁

The test pattern of an LSI for control is stored in a memory LSI as expected value data, and when the input/output timing is adjusted, the device is coped with all of the test patterns in a common discrimination circuit by means of discriminating with comparison of expected value data in the memory LSI and input data.例文帳に追加

制御用ＬＳＩのテストパターンをメモリＬＳＩに期待値データとして記憶し、入出力タイミング調整時には、入力データとメモリＬＳＩ内の期待値データを比較判定することで、共通の判定回路で全てのテストパターンに対応する。 - 特許庁