「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(103ページ目) - Weblio英語例文検索

Thereafter, design data regarding a newly designed semiconductor device is received along with data describing the tester and testing algorithms to be used to test the semiconductor device.例文帳に追加

その後、新しく設計した半導体デバイスに関する設計データを、半導体デバイスをテストするために使用するテスタおよびテスト用アルゴリズムを説明するデータとともに、受け取る。 - 特許庁

To provide an economical semiconductor testing device which can obtain a higher degree of freedom than in conventional techniques and which can easily deal with a device under test (DUT) using an asynchronous signal.例文帳に追加

従来技術よりも高い自由度が得られ、非同期の信号を用いるＤＵＴにも容易に対処することができる経済的な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a debugging system which can debug a redundancy operation program without using a real device of an IC test device and in which its operation can be confirmed simply and quickly.例文帳に追加

ＩＣ試験装置の実機がなくともリダンダンシ演算プログラムのデバッグを可能とし、簡便かつ迅速にその動作を確認することが可能なデバッグシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a collision testing device which assures desk test technique only with a cab without using a real vehicle, relating to a collision testing device for a cab of a track.例文帳に追加

本発明はトラックのキャブの衝突試験装置に係り、実車を使わず、キャブのみの台上試験手法を確立した衝突試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In a discharge test mode, a battery pack 3 supplies a load device 5 with a discharge current whose desired value is a current value covering a short to a current value required by the load device 5.例文帳に追加

放電試験モードの場合、組電池３は、負荷装置５に必要な電流値に満たない電流値を目標値とする放電電流を負荷装置５へ供給する。 - 特許庁

This device is produced by improving a debugging device for an IC tester, capable of debugging a test program for testing a target device with a plurality of display tool means displaying the respective screens on a display unit.例文帳に追加

本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

When receiving the unique ID_2 of the second device 10, the first device sends a signal indicating whether to receive the unique ID_2 of the second device 10 to the decision means 20 for test.例文帳に追加

第１デバイス１が第２デバイス１０の固有ＩＤ_2 を受信すると、第１デバイス１が第２デバイス１０の固有ＩＤ_2 に対する受信の可否を示す信号を試験用判定手段２０に送る。 - 特許庁

To provide a storage device preventing the deterioration of processing capacity even if data stored in a memory is frequently updated and to provide a semiconductor test device equipped with the storage device.例文帳に追加

メモリに記憶されているデータの更新を頻繁に行う場合であっても処理能力の低下を防止するとができる記憶装置、及び当該記憶装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Using the test results on the device and the numerical value simulation result on the device, optimizing technique and data analysis method are used to determine a parameter for optimizing the device.例文帳に追加

装置についての実験結果と当該装置についての数値シミュレーション結果とを用い、最適化手法とデータ分析手法とを使用して、当該装置の最適化を図るためのパラメータの値を決定する。 - 特許庁

To apply an accurate voltage to a power terminal of a semiconductor device, even if a contact resistance between a probe for voltage application and the power terminal of the semiconductor device is heightened, in a test of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験において、電圧印加用プローブと半導体装置の電源端子の間の接触抵抗が増大しても、半導体装置の電源端子に正確な電圧を印加可能とする。 - 特許庁

The second device 10 transmits its unique ID_2 to the first device 1 and also sends a signal indicating whether or not the unique ID_1 of the first device 1 can be received to a decision means 20 for test.例文帳に追加

第２デバイス１０は、自分の固有ＩＤ_2 を第１デバイス１に送信するとともに、第１デバイス１の固有ＩＤ_1 に対する受信の可否を示す信号を試験用判定手段２０に送る。 - 特許庁

To provide a probe card for a semiconductor testing device, improving inconveniences in device test with the interference of a power current between a plurality of DUTs in the prove card applicable to a wafer prober device.例文帳に追加

ウエハプローバ装置に適用するプローブカードにおいて複数ＤＵＴ間の電源電流の干渉に伴うデバイス試験の不具合を改善可能とした半導体試験装置のプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a parallel resistance measuring method and a device therefor capable of determining a value of an equivalent parallel resistance by applying a direct current into a capacitive test device, and reducing cost by reducing a device scale.例文帳に追加

容量性被試験デバイスに直流を印加して等価並列抵抗の値を求めることができ、装置の規模を小さくしてコストダウンを図る並列抵抗計測方法及びその装置に提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation device or method for evaluating performance of an exhaust gas after-treatment device for an internal combustion engine or the like using the test piece of a DPF and a catalyst for the exhaust gas after-treatment device.例文帳に追加

排気ガス後処理装置用の触媒やＤＰＦのテストピースを用いて、内燃機関等の排気ガス後処理装置の性能を評価する装置または評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a main signal load testing device etc., capable of conducting a load test in the device even if the difference between the packet transfer processing capability in the device and the packet transmission and reception capability of a CPU is ≥255 times.例文帳に追加

装置内のパケット転送処理能力とＣＰＵのパケット送受信能力の差が２５５倍以上であっても、装置内での負荷試験が可能な主信号負荷試験装置等を提供する。 - 特許庁

An instruction to be tested is inputted to an automatic test device 3, which inquires of a state monitoring device 4 whether the instruction from the device 3 can be received or not.例文帳に追加

自動テスト装置３にテストを行いたい命令を入力し、自動テスト装置３が状態監視装置４に、エミュレーション装置２が自動テスト装置３からの命令を受信可能かどうかを問合わせる。 - 特許庁

To obtain accurate fogging evaluation result at bench test and improve the work performance at evaluation test in the fogging evaluation device for evaluating the fogging generated in the lamp chamber of a vehicle lamp.例文帳に追加

車両用灯具の灯室内に発生する水曇りを評価する水曇り評価装置において、精度の良い水曇り評価結果をベンチテストで得るとともに評価試験を効率良く低コストで行えるようにする。 - 特許庁

In order to prevent the plural integrated circuits to be driven during a test mode contrary to each other, an input terminal 10 connected already in any case to a channel of an automatic test device is connected to a circuit means 30.例文帳に追加

テストモード中に複数の集積回路が相反して駆動されてしまうのを避けるため、いずれにせよすでに自動テスト装置のチャネルと接続されている入力端子１０が回路手段３０と接続される。 - 特許庁

To provide a practical press-application observation device enabling the observation of a test material while giving stress to the test material in a closed chamber such as a vacuum or a gaseous atmosphere under temperature control.例文帳に追加

温度制御された真空又はガス雰囲気等の密閉室内で試験材料に応力を付与させながら同試験材料の観察を行うことが可能でしかも実用的な応力付与観察装置を提供すること。 - 特許庁

To prevent the decomposition of a test solution and to reduce noise in a base line regarding a liquid chromatographic device and a flow cell having a mechanism for stabilizing the temperature of a filled test solution.例文帳に追加

本発明は注入される被検液の温度を安定化させる機構を有した液体クロマトグラフィ装置及びフローセルに関し、被検液の変質防止とベースラインにおけるノイズ低減を共に図ることを課題とする。 - 特許庁

To provide a test circuit by which a large-scale semiconductor device is self-tested at an actual operating speed only by additing a few circuits by using a boundary scan register, and which outputs only its test result to the outside.例文帳に追加

バウンダリスキャンレジスタを利用して、ごく僅かな回路の追加だけで、大規模な半導体装置を実動作速度で自己テストし、そのテスト結果だけを外部へ出力することができるテスト回路を提供する。 - 特許庁

When the display position of specific data related to the next test operation is selected from among the memory dumps by using an input device 111, test result information corresponding to the specific memory data are shown on the monitor 115.例文帳に追加

このメモリダンプの中から、次のテスト操作に関係する特定のデータの表示位置を、入力装置１１１を使って選択すると、特定のメモリデータに対応するテスト結果情報をモニタ１１５に表示する。 - 特許庁

SIMULATED BLOOD VESSEL FOR ATHEROSCLEROSIS LESION, ITS PRODUCTION METHOD, ULTRASONIC PHANTOM, TEST DEVICE FOR VERIFYING BLOOD FLOW NUMERICAL ANALYSIS AND SIMULATED BLOOD VESSEL FOR EVALUATION TEST FOR PERCUTANEOUS TRANSLUMINAL CORONARY ANGIOPLASTY例文帳に追加

粥状動脈硬化症病変部の模擬血管およびその製造方法、超音波ファントム、血流の数値解析検証用実験装置、経皮的経血管的冠動脈形成術評価試験用模擬血管 - 特許庁

To provide a contact resistance measuring method of a probe and a test method of a semiconductor device capable of preventing decline of test efficiency, and measuring accurately a contact resistance value.例文帳に追加

試験効率の低下を防ぐことができると共に、正確に接触抵抗値を測定することができるプローブの接触抵抗測定方法及び半導体デバイスの試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A test signal generated by a test signal generating part disposed in the main body of the testing device is outputted for a prescribed time after a power supply is made, and this signal is read out and compared with expectation in each pin card.例文帳に追加

電源が投入されてから一定時間、試験装置本体に配置されたテスト信号生成部が生成したテスト信号を出力し、各ピンカードでこのテスト信号を読み出して期待値と比較するようにした。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory testing device capable of preventing the degradation of defect detection capability by making it possible to test an aimed address or the address other than the aimed address without changing a test pattern and a pattern program.例文帳に追加

テストパターンやパターンプログラムを変更することなく、着目するアドレスまたは該アドレスを除外した試験を可能にして、不良検出能力の低下を防止できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

The device is provided with means (P3, P5, P7, P9 and NOR1) for invalidating the functions of the precharging circuits and the level holding circuits based on the test signal TEST outputted at the time of the address degradation and the abnormality signal read out to the read data buses.例文帳に追加

アドレス縮退時に出力されるテスト信号ＴＥＳＴと、リードデータバスに読み出された異常信号とに基づき、前記プリチャージ回路及びレベル保持回路の機能を無効にする手段（Ｐ３，Ｐ５，Ｐ７，Ｐ９，ＮＯＲ１）を備える。 - 特許庁

The mounting table support shaft 16 is a hollow shaft, and the dry gas supply mechanism 6 supplies dry gas from the outside of the test tank 2 to the inside of the test device 5 through the hollow part 64 of the mounting table support shaft 16.例文帳に追加

載置台支持シャフト１６は中空シャフトであり、乾燥気体供給機構６は載置台支持シャフト１６の中空部６４を通して乾燥空気を試験槽２の槽外から試験装置５内へ供給する。 - 特許庁

To provide a flexural strength test method and a flexural strength test device of a glass substrate for a magnetic disk capable of directly and easily evaluating flexural strength in a surface part of the glass substrate for the magnetic disk.例文帳に追加

磁気ディスク用ガラス基板について、面の部分の抗折強度を直接的かつ容易に評価することが可能な磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度試験方法および抗折強度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a ventilation antistatic device in which antistatic performance and ionic balance characteristic can be improved without giving an electric field to a test subject and without giving an influence on the temperature of a test environment.例文帳に追加

テスト対象物に電界の与えることなく、しかもテスト環境の温度にも影響を与えることなく、除電性能及びイオンバランス特性を向上させることができる送風除電装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an automatic test item creating device which reduces the development time of a program by reducing the test period of a purchased program and reducing the burden of an engineer who is familiar with the function of a program to be developed.例文帳に追加

購入プログラムのテスト期間の短縮と、開発するプログラムの機能に熟知したエンジニアの負担を軽減することでプログラムの開発期間を短縮するテスト項目自動作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a small-sized drying test device not only capable of testing the presence of fly of fine powder in an actual double cone dryer, deposition onto a wall face thereof, and generation of a granule therein, but also capable of facilitating an operation in a test.例文帳に追加

実機のダブルコーンドライヤにおける微粉の飛散、壁面への付着や造粒の発生の有無を試験することができるだけでなく、小規模で且つ試験時の操作が容易である乾燥試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device of inspecting a test object for accurately determining and inspecting the boundary position between the plane region of the surface of the test object irradiated with a laser beam and a predetermined region corresponding to an edge part.例文帳に追加

本発明の目的は、レーザービームを照射する被検査物の表面の平面領域とエッジ部に該当する所定領域との境界位置を正確に判別して検査する被検査物の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a toughness evaluation method and a toughness evaluation device evaluating toughness of a steel product easily in a short time without performing an impact test by preparing a test piece as in the past.例文帳に追加

従来のように試験片を作成して衝撃試験を行う必要がなく、短時間で容易に鋼材の靭性を評価することのできる靭性評価方法及び靭性評価装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an exposure test device and method using aqueous hydrogen peroxide, with its operation simplified and test condition uniformity further improved, and capable of recycling resources.例文帳に追加

過酸化水素水を用いる耐候光試験装置及び方法に関するものであって、作業をより簡便化し、資源を再利用可能で、試験の均一性を更に向上させた耐候光試験装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

Then the access server 6 receives a test result from the test device 7, instructs a support department to make fault repair and informs the personal computer 2b of the customer about the end of repair after receiving the fault repair end notice from the support department.例文帳に追加

次に、試験装置７からの試験結果を受け、サポート部門へ故障修理の指示を行い、サポート部門からの故障修理終了通知を受けて顧客のパーソナルコンピュータ２ｂへ修理終了を通知する。 - 特許庁

The apparatus for performing an electrical test is used wherein the one or more terminals 19 of the device under test 18 are brought into contact with one or more vertical probe pins 16 which constitute the vertical probe card and move in the vertical direction.例文帳に追加

垂直プローブカードを構成する垂直方向に可動な１以上の垂直プローブピン１６に検査対象素子１８の１以上の端子１９を接触させて電気的試験を行う装置が使用される。 - 特許庁

To provide a dynamic horizontal loading test device capable of preventing a weight from returning due to reaction force after the weight collides against a pile in a dynamic horizontal loading test of weight system and rail wheel system.例文帳に追加

重錘方式でレール・車輪方式の動的水平載荷試験において重錘が杭と衝突した後に反力で戻ってくるのを防止することができる動的水平載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test, while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time, in a comparatively narrow footprint.例文帳に追加

比較的狭い設置面積で、衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

A control circuit 110 generates burn-in test signals BI, BI_-0, BI_-1 and a signal Get add2, and output them to a pre-decoder 120 according to an address ADB for shifting a semiconductor memory device to a burn-in test mode.例文帳に追加

制御回路１１０は、半導体記憶装置をバーンインテストモードへ移行させるためのアドレスＡＤＢに基づいてバーンインテスト信号ＢＩ，ＢＩ＿０，ＢＩ＿１および信号Ｇｅｔ ａｄｄ２を生成してプリデコーダ１２０へ出力する。 - 特許庁

A test data generation device performs processing for generating a large amount of test data corresponding to many document files including plural words, that is, data including word frequency and document frequency, on the basis of the so-called Monte Carlo method.例文帳に追加

テストデータ作成装置は、所謂モンテカルロ法を基づいて、複数の単語を含む多数の文書ファイルに相当するテストデータ、つまり単語頻度及び文書頻度を含むデータを大量に作成する処理を行う。 - 特許庁

To provide a device and a method for dust-proofing test capable of evaluating quantitatively a dust-proofing characteristic or the like in the inside direction, namely in the direction vertical to a punched section, from the side face part of a frame body-shaped test piece.例文帳に追加

枠体状の試験片の側面部から内側方向、即ち打抜き断面に垂直な方向での防塵性等を定量的に評価できる防塵試験装置及び防塵試験方法を提供する。 - 特許庁

The projector 1 projects, onto a screen 3, a white or gray test pattern (color adjustment image) formed on a projection device 14 by an image processing unit 15, and the test pattern projected on the screen 3 is imaged by a camera 12.例文帳に追加

プロジェクタ１は画像処理部１５が投射デバイス１４上に形成させた白又は灰色系のテストパターン（色調整用画像）をスクリーン３へ投射し、スクリーン３に投射されたテストパターンをカメラ１２で撮像する。 - 特許庁

As the result, a charged particle beam device using the X-ray reduction mirror 10 can perform highly accurately when it evaluates and analyzes a test-piece using a digital data obtained from the visible image of the test-piece.例文帳に追加

その結果、このＸ線低減ミラー１０を使用する荷電粒子線装置によれば、試料の可視化像に基づいて試料をデジタルデータで評価および分析を行う際に高精度で行うことができる。 - 特許庁

A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program.例文帳に追加

半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。 - 特許庁