「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(102ページ目) - Weblio英語例文検索

The apparatus for testing semiconductor device for testing a DUT (device under test) while supplying power voltage comprises a voltage detecting part for outputting a detection signal by detecting the voltage of the power source arrival at a threshold voltage set previously, an operation control part for setting the threshold voltage, and a test performing part for starting the test using the detection signal.例文帳に追加

ＤＵＴに電源電圧を供給して試験を行う半導体試験装置において、電源電圧が予め設定された閾値電圧に到達したことを検出して検出信号を出力する電圧検出部と、閾値電圧を設定する演算制御部と検出信号に基づいて試験を開始する試験実行部とを備える。 - 特許庁

A semiconductor probe test apparatus comprises a semiconductor tray housing section 102 for housing a semiconductor tray 104 on which a semiconductor device is placed; a test stage 106 on which the semiconductor tray 104 is positioned; a conveyance section which conveys the semiconductor tray 104 to the test stage 106; and a tester head 108 whose probe comes into contact with the semiconductor device on the semiconductor tray 104.例文帳に追加

半導体装置を載置する半導体トレイ１０４を収容する半導体トレイ収納部１０２と、半導体トレイ１０４が載置される検査ステージ１０６と、半導体トレイ１０４を検査ステージ１０６に搬送する搬送部と、半導体トレイ１０４上の半導体装置とプローブ接触するテスタヘッド１０８とを備える。 - 特許庁

To provide an instantaneous voltage drop generation device and an instantaneous voltage drop generation method, allowing confirmation of operation in time of instantaneous voltage generation of test supply equipment without exerting bad influence on a connected power supply or load device, without cutting off the power supply inside the test supply equipment even when the power supply is included inside the test supply equipment.例文帳に追加

供試機器内に電源が含まれている場合であっても、供試機器内の電源を切り離すことなく、かつ、接続される電源や負荷装置に悪影響を及ぼすことなく供試機器の瞬時電圧発生時の動作を確認することができる瞬時電圧低下発生装置及び瞬時電圧低下発生方法を提供する。 - 特許庁

The burn-in testing device 300 is provided with a test pattern generation means 301 for generating a test pattern for performing a burn-in test, a semiconductor device 302 to be tested, a scan judgement means 303, and a time measurement means 305 controlled by the output signals of the scan judgement means 303 and the output signals of a memory judgement means 304.例文帳に追加

バーンイン試験装置３００は、バーンイン試験を行うためのテストパターンを発生するテストパターン発生手段３０１と、被試験半導体装置３０２と、スキャン判定手段３０３と、スキャン判定手段３０３の出力信号およびメモリ判定手段３０４の出力信号によって制御される時間計測手段３０５を備える。 - 特許庁

This parallel bit test method of the semiconductor memory device comprises a step of writing data in each of many memory cells in the semiconductor memory device, a step of reading the data from each of many memory cells, a step of testing the data from each of many memory cells for a first test mode, and a step of testing the data from each of many memory cells for a second test mode.例文帳に追加

半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法は、半導体メモリ装置の多数のメモリセルのそれぞれにデータを書き込む段階と、多数のメモリセルのそれぞれからデータを読み出す段階と、第１のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、第２のテストモードに多数のメモリセルのそれぞれからのデータをテストする段階と、を含む。 - 特許庁

In a semiconductor device having a test mode for testing, the device is provided with a circuit generating a first signal based on a dummy command signal inputted plural times and generating a second signal indicating entry for a corresponding test mode or exit from a corresponding test mode based on an address signal and the first signal.例文帳に追加

試験を行うためのテストモードを有する半導体装置において、複数回入力されるダミーコマンド信号に基づいて、第１の信号を生成し、アドレス信号及び第１の信号に基づいて、対応するテストモードへのエントリ又は対応するテストモードからのエクジットを指示する第２の信号を生成する回路とを備えるように構成する。 - 特許庁

In this ultrasonic signal processing device for emitting an ultrasonic wave to the test subject, and measuring the thickness of the test subject based on a vertical sensor signal detected by a vertical sensor, a vertical sensor parent metal inner surface detection device 2 detects the position of the test subject inner surface based on the vertical sensor signal acquired from the vertical type sensor.例文帳に追加

超音波を被検体に発し、垂直型センサにより検出される垂直センサ信号に基づいて被検体の肉厚を計測するための超音波信号処理装置において、垂直センサ用母材内表面検出装置２は、垂直型センサから得られる垂直センサ信号に基づいて被検体内表面の位置を検出する。 - 特許庁

This semiconductor device includes the semiconductor chips in a plurality, and each semiconductor chip has a circuit block to be tested according to a test signal and a transfer circuit which outputs a test result outputted from the circuit block to at least either of adjacent semiconductor chips and a test result output terminal, while outputting the test result transferred from one adjacent semiconductor chip to another adjacent semiconductor chip and the test result output terminal.例文帳に追加

半導体装置は複数の半導体チップを有し、各半導体チップは、試験信号に応じて試験される回路ブロックと、回路ブロックから出力される試験結果を、隣接する半導体チップの少なくともいずれかと試験結果出力端子とに出力するとともに、隣接する半導体チップから転送される試験結果を隣接する別の半導体チップと試験結果出力端子とに出力する転送回路とを有する。 - 特許庁

CALCULATION METHOD AND CALCULATION DEVICE FOR CORRECTION PARAMETER, IMAGE CORRECTION DEVICE AND IMAGE CORRECTION METHOD UTILIZING THE CORRECTION PARAMETER, AND STANDARD TEST SAMPLE USED FOR THEM例文帳に追加

補正パラメータの算出方法及び算出装置、該補正パラメータを利用した画像補正装置及び画像補正方法、並びに、これらに使用される標準試料 - 特許庁

When the last tested pair chip 6 is mounted, a function test as an electronic circuit device is carried out, and when it is determined to be good, the electronic circuit device is completed.例文帳に追加

最後の被試験ベアチップ６を実装した場合は、電子回路装置としての機能テストを行い、良品であると判定された場合は、電子回路装置の完成品とする。 - 特許庁

Also, this failure detecting device is configured so that a server request control part temporarily stops the execution of a disk input/output instruction from a server device from the start to the end of the access test.例文帳に追加

また、サーバ要求制御部がアクセス試験の開始から終了までサーバ装置からのディスク入出力指示の実行を一時的に停止するよう構成する。 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTING TEST PATTERN BOARD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PHOTO MASK MANUFACTURING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING DISPLAY DEVICE SUBSTRATE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法、パターン欠陥検査用テストパターン基板、及びパターン欠陥検査装置、並びにフォトマスクの製造方法、及び表示デバイス用基板の製造方法 - 特許庁

To provide a data carrier semiconductor device capable of expecting highly reliable operation even when the device is loaded with a test command for optionally rewriting contents.例文帳に追加

任意に内容を書き換えるテストコマンドを搭載した場合であっても、信頼性の高い動作を期待できるデータキャリア半導体装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test method for testing a semiconductor integrated circuit device by using a tester where the number of terminals is smaller than the number of input terminals of the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の入力端子数よりも少ない端子数のテスタを用いて半導体集積回路装置のテストを行うテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device manufacturing method which can proceed a semiconductor device manufacturing process, without a test piece, as desired process or while correcting the process.例文帳に追加

半導体装置製造プロセスを、テストピースなしに、所望の工程通り又は修正しながら進行することを可能とする半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of securing the freedom of expected values in a function evaluation test and incorporating a self-diagnosis function capable of simplifying a device configuration.例文帳に追加

機能評価テストにおける期待値の自由度を確保し、且つ、装置構成を簡略化することができる自己診断機能を内蔵する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To achieve multiple blood sample tests on a single strip in a blood sample test device having a continuous strip sensor which is advanced through the device.例文帳に追加

装置を通って進行する連続したストリップ状のセンサを有する血液サンプルの検査装置にあって、単一のストリップ上で複数の血液サンプルの検査が行えるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of effectively deteriorating a gate oxide film of the semiconductor device in a short period of time in a burn-in test, and to provide a method for testing the same.例文帳に追加

バーンイン試験において、半導体装置のゲート酸化膜を短時間で効果的に劣化させることができる半導体装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

The test machine 4 determines the quality of the function of the electronic control device 2 for the vehicle based on the execution result of the function tests transmitted from the electronic control device 2 for the vehicle.例文帳に追加

試験機４が、車両用電子制御装置２から送信された機能検査の実行結果に基づいて、車両用電子制御装置２の機能の良否を判定する。 - 特許庁

Further, the driver's aid auxiliary device 5b causes the auxiliary display device 4b to display the travel route for travel test which is superposed with a map data corresponding to the travel route.例文帳に追加

さらに、ドライバーズエイド補助装置５ｂは、補助表示装置４ｂに走行試験を行う走行経路と、この走行経路に対応する地図データを重ねて表示させる。 - 特許庁

An evaluation test device 10 includes a cooling water supply device 14 for supplying cooling water to the testing object 12, and a heater 16 for heating the testing object 12.例文帳に追加

評価試験装置１０は、試験体１２に冷却水を供給する冷却水供給装置１４と、試験体１２を加熱する加熱装置１６とを備える。 - 特許庁

To provide a connection testing method in replacing a railway electronic interlocking device capable of shortening the total number of working days required for a connection test of a new electronic interlocking device.例文帳に追加

新設の電子連動装置の接続試験に要する延べ作業日数を短縮化できる鉄道用電子連動装置取替時の接続試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for a D/A converter shortening a required time for a test even when the bits of the D/A converter are increased, and also to provide a testing method for the testing device.例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータが高ビット化しても、試験の所要時間を短縮することができるＤ／Ａコンバータの試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for repulsive type hardness meter, dispensing with a computer or a control device and which becomes inexpensive by mechanically renewing and moving a test hitting position.例文帳に追加

検定打撃位置を機械的に更新移動させることにより、コンピュータや制御機器が不要で安価となる反発式硬度計の検定装置を目的とする - 特許庁

To provide a test method to reduce a data obtaining period for deriving frequency characteristics regarding normal/defective condition of a semiconductor memory device and to provide a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体記憶装置の動作の良否に関する周波数特性を導出するためのデータ取得時間を短縮する試験方法及び半導体記憶装置。 - 特許庁

A test device 900 tests a communication controller 10 functioning as a virtual private management network device in order to construct a virtual private network between a plurality of networks.例文帳に追加

試験装置９００は、複数のネットワーク間で仮想プライベートネットワークを構築するための仮想プライベートネットワーク管理装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus which can, while operating a printing device in a test mode, supply a changed transfer field to a marking material transfer device.例文帳に追加

印刷装置をテストモードで操作する間に、マーク付け材料転写装置に、変更された転写領域を供給することができる方法および装置を提供する。 - 特許庁

And the pick and place device is installed in the input/output area between the transfer device and the input/output tray so as to take in and out for the waiting component for test or the tested component.例文帳に追加

また、テスト待ち部品またはテスト済み部品を出し入れするように、移載装置とインプット／アウトプット・トレイの間にインプット・アウトプットエリアに取放装置を設ける。 - 特許庁

To provide an electronic part-sealing device capable of withstanding reflow at high temperatures and an electronic part-sealing device sealed with the subject resin composition and having high reliability in PCT test.例文帳に追加

高温でのリフローに耐え得る封止用樹脂組成物およびこの樹脂組成物で封止されてＰＣＴ試験など高信頼性の電子部品封止装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern evaluating device and method shortening a development TAT (turn around time) and having high developing efficiency, and to provide a semiconductor inspecting device.例文帳に追加

本発明は、開発ＴＡＴを短縮でき、開発効率の良いテストパターン評価装置及びその方法、半導体検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device for automatically creating multiple-choice questions, the device automatically creating, in cooperation with electronic dictionary data, multiple-choice questions to test the level of comprehension of a word.例文帳に追加

電子辞書データと連携して単語の理解度をテストするための選択問題を自動生成することのできる選択問題自動生成装置を提供する。 - 特許庁

Test systems (10, 25) contain generators (12, 22) and analyzers (13, 21) that co-operate for testing a device (11) provided with a plurality of device communication channels.例文帳に追加

本発明のテストシステム（１０，２５）は、複数の装置通信チャネルを有する装置（１１）をテストするために共働動作する発生器（１２，２２）及び解析器（１３，２１）を含む。 - 特許庁

To provide a test module used for verifying proper arrangement of a light-emitting device on an electronic assembly, by testing light color and light intensity on the light-emitting device.例文帳に追加

発光デバイス上で色及び光度試験を実施することにより、電子アセンブリ上の発光デバイスの適正な配置を検証するために用いられるテストモジュールを提供する。 - 特許庁

An evaluation device 104 evaluates the test prediction result, determines parameters for actual prediction according to the evaluation result, and stores the parameters in a parameter storage device 111.例文帳に追加

評価装置１０４がテスト予測結果を評価し、上記評価結果に基づいて実予測用パラメータを決定し、上記パラメータをパラメータ記憶装置１１１に格納する。 - 特許庁

The load testing device 202 is configured so that pseudo monitor data 206 can be included in the pseudo agent 203 so that the test can be executed without installing any actual monitored device 106.例文帳に追加

負荷試験装置２０２は、実際の監視対象装置１０６が無くても試験が実施できるよう、疑似エージェント２０３内に疑似監視データ２０６を持つよう構成する。 - 特許庁

Preferably one or more steps of obtaining the test result on the device using the value of the parameter for optimizing the device are further included in some case.例文帳に追加

この装置の最適化を図るためのパラメータの値を使用して、前記装置についての実験結果を得るステップをさらに１回以上含めることがより好ましい場合がある。 - 特許庁

By controlling input to equipment according to the 3D position information of the test object detected by this position detection device, an input device can be configured.例文帳に追加

この位置検出装置による被検物体の３次元の位置情報に応じて機器への入力を制御することにより、入力装置を構成することが出来る。 - 特許庁

A correction data generating device 60 is coupled to a print sample reading device 70 for reading a test pattern on a print sample PS formed by using an LPH (light emitting diode print head) 14.例文帳に追加

補正データ生成装置６０は、ＬＰＨ１４を用いて作成されたプリントサンプルＰＳ上のテストパターンを読み取るプリントサンプル読取装置７０に接続されている。 - 特許庁

The image pickup device 11 picks up an image of a test pattern displayed in white on the color CRT 3 and a VRAM123 in a measurement device main body 12 stores the picked-up image.例文帳に追加

カラーＣＲＴ３に白色表示させたテストパターンは撮像装置１１で撮像され、その撮影画像は測定装置本体１２内のＶＲＡＭ１２３に格納される。 - 特許庁

When a game ball passes through the special area, a conditional device operation area passing signal is outputted as a test signal and a conditional device operation signal is outputted.例文帳に追加

遊技球が特別領域を通過すると、試験信号として条件装置作動領域通過信号が出力されるとともに、条件装置作動信号が出力される。 - 特許庁

To provide a system and a method for specifying the fault location of a semiconductor device which can specify a fault in function during scanning test of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のスキャンテストのファンクション不良を特定する半導体装置の故障箇所判定システム及び半導体装置の故障箇所特定方法を提供する。 - 特許庁

An oil bath device for lubricating the test pieces attached to two rotary shafts at the time of tumbling contact is provided, and the AE sensor is provided to the oil bath device.例文帳に追加

二つの回転軸に取り付けられた試験片の転がり接触時の潤滑のための油浴装置を設けて、その装置にＡＥセンサを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

A test signal is fed into the transmission line gF from the direction of the optical transmission and reception device TRx, and the signal MS reflected back to the optical transmission and reception device is analyzed.例文帳に追加

試験信号が、光送受信装置ＴＲｘの方向から伝送路ｇＦに入射され、反射して光送受信装置に戻る信号ＭＳが解析される。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device with high reliability, capable of stably carrying out a test of the semiconductor device, after forming an electrode.例文帳に追加

電極を形成後において、半導体装置のテストを安定的に実施することができるとともに信頼性の高い半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of integrating, into a process control program or a safety control program using a field device, online test function of its field device.例文帳に追加

フィールドデバイスを用いるプロセス制御プログラムまたは安全制御プログラムに対して、それらのフィールドデバイスのオンライン試験機能を統合するような方法を提供する。 - 特許庁