「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(95ページ目) - Weblio英語例文検索

This overload test device 100 for a CDMA system is provided with a transmitter 103 and a receiver 104.例文帳に追加

本発明のＣＤＭＡシステムの過負荷試験装置１００は、送信装置１０３及び受信装置１０４を具備している。 - 特許庁

To locate a failure point of semiconductor device which has been judged as a defective by IddQ test.例文帳に追加

ＩｄｄＱテストで不良品であると判定された半導体装置の不良箇所を迅速かつ容易に特定する。 - 特許庁

To provide a fail analyzing device in which a time required for changing a display range of a test result can be shortened.例文帳に追加

試験結果の表示範囲の変更に要する時間を短縮することができるフェイル解析装置を提供すること。 - 特許庁

A surface inspection device is constituted to visually inspect the surface of the test object 1 by irradiating the surface with light.例文帳に追加

被検物体（１）の表面に照明光を照射して該表面を目視で検査する表面検査装置である。 - 特許庁

To provide a switch and a switching device, allowing easy continuity test of the switch and easy design of the switch.例文帳に追加

スイッチの導通試験がより容易に行え、スイッチの設計をより容易にし得るスイッチ及びスイッチ装置を提供する。 - 特許庁

In test of the device, first of all, only a single tested pair chip 6 is mounted for testing whether it is good or defective.例文帳に追加

装置の試験を行う場合、先ず、被試験ベアチップ６を一つだけ実装して、良品か否かの試験を行う。 - 特許庁

To provide a device for generating dynamic stream for network analysis which transmits data stream in order to test and analyze a communication network, a communication system and traffic analysis.例文帳に追加

通信ネットワーク、通信システム、およびトラフィック解析を試験及び解析するためにデータストリームを送信すること。 - 特許庁

To surely prevent an IC for FDD device from being changed over to a test mode after it is made to enter into a normal mode.例文帳に追加

ＦＤＤ装置用ＩＣがノーマルモードに入った後は、誤ってテストモードに切り換るのを確実に防止可能にする。 - 特許庁

To provide a substrate inspection method and a device capable of improving the power of test of defects on the substrates.例文帳に追加

基板上における欠陥の検出率の向上を図ることが可能な基板検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

When the print of a test chart is requested, an image-forming device 10 outputs a gradation chart to a recording paper sheet 32.例文帳に追加

テストチャートの印刷要求を行われると、画像形成装置１０は、記録用紙３２に階調チャートを出力する。 - 特許庁

To provide an interlocking type leakage test device which reduces production of defective products and improves the yield in manufacture.例文帳に追加

不良品の発生を低減して製造歩留まりの向上を図ることができる連動型リークテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing chips that allow a more inexpensive function test under high-temperature environment.例文帳に追加

より安価な高温環境下での機能テストを可能とするＩＣチップのテスト方法及びそのテスト装置を提供する。 - 特許庁

To make it easy to load and unload a disk in a head/disk test device where a pneumatic bearing plate is provided in the vicinity of the disk.例文帳に追加

空気軸受板をディスクに近接して設けたヘッド／ディスク試験装置において、ディスクの着脱を容易にする。 - 特許庁

SWITCHING TEST METHOD FOR DUPLEX COMPUTER SYSTEM, MONITORING DEVICE FOR IT, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

二重化コンピュ−タシステムの切替試験方法ならびにそのための監視装置およびコンピュ−タ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide an IC socket capable of preventing an IC device from adhering to a pressing part of the IC socket, and capable of shortening a test time.例文帳に追加

ICソケットの押圧部へのICデバイスの付着を防止し、テスト時間の短縮を図ることが可能なICソケットを提供する。 - 特許庁

The result of the response to the response packet of the communication function which is the test subject is recorded to the 2nd terminal device 20.例文帳に追加

試験対象の通信機能がこの応答用のパケットに対処した結果は、第２の端末装置２０に記録される。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device equipped with a test circuit of high performance while suppressing the increase of an occupied area.例文帳に追加

占有面積の増大を抑制しつつ、高性能のテスト回路を備えた半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electro-optical device, performing continuity test without contact of a probe with an electro-optical panel.例文帳に追加

電気光学パネルにプローブを接触させることなく、導通検査を行うことが可能な電気光学装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor management device which can perform burn-in simplification efficiently in final test process.例文帳に追加

ファイナルテスト工程におけるバーンイン簡略を効率的に行なうことが可能な半導体管理装置を提供すること - 特許庁

To provide a generation device or the like for generating a test vector, capable of effectively reducing consumption electric power at capturing.例文帳に追加

キャプチャ時の消費電力を効果的に削減可能とするテストベクトルを生成する生成装置等を提供する。 - 特許庁

To provide an IC testing device capable of preventing a test cost from increasing in accompaniment to enhancement of performance in a testing object.例文帳に追加

試験対象の性能向上にともなう試験コストの増大を防ぐことが可能なＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁

A pneumatic cylinder device 15 is used as an actuator for loading the test piece TP gripped by a pair of grippers 16, 17.例文帳に追加

一対のつかみ具１６，１７に把持された試験片ＴＰを負荷するアクチュエータとして空圧シリンダ装置１５を用いる。 - 特許庁

To test a device to be tested with accuracy, at high speed, while simplifying a circuit configuration and a circuit amount.例文帳に追加

回路構成および回路量を簡略化しつつ、高速且つ正確に被試験デバイスの試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device or the like performing a delay fault test of a logic existing between two kinds of clock domains having each different operation frequency.例文帳に追加

動作周波数が異なる２種類のクロックドメイン間に存在するロジックの遅延故障テストを可能にする。 - 特許庁

To achieve device test equipment which can measure distribution of a busy time in a short period of time with a small scale circuit.例文帳に追加

ビジー時間の分布を短時間かつ小規模な回路で測定することができるデバイス試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a device for performing an operation test, while applying a pressure to an electronic component such as an electric double layer capacitor.例文帳に追加

電気二重層キャパシタ等の電子部品に圧力を加えながら動作試験を行うための装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ability to test and 'burn in' device chips that require ultra high pitch I/O pads.例文帳に追加

超高ピッチＩ／Ｏパッドを必要とするデバイス・チップをテストして「バーンイン」することができる能力を提供することである。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PREDICTING TEST RESULT, AND FOR TESTING SEMICONDUCTOR, SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

テスト結果予測装置、テスト結果予測方法、半導体テスト装置、半導体テスト方法、システム、プログラム、および記録媒体 - 特許庁

WORKING POSITION CONFIRMING DEVICE FOR ELEMENT CONVEYOR OF TEST HANDLER OF SEMICONDUCTOR ELEMENT, AND WORKING POSITION CONFIRMING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体素子のテストハンドラの素子搬送装置の作業位置認識装置及びこれを用いた作業位置認識方法 - 特許庁

To shorten a test time for the electrical measurement of a semiconductor device at low cost without impairing the effect of noise attenuation.例文帳に追加

ノイズ減衰の効果を損なうことなく、低コストで、半導体装置の電気的測定のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a strength test device for a bag capable of easily and quantatively testing whether a bag is broken by a prescribed load.例文帳に追加

バッグが所要な荷重で破損するか否かを簡単に定量的に試験できるバッグ強度テスト装置を提供する。 - 特許庁

To increase the test load capable of being applied to the interface between metals to the utmost in the bonding of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの接合における金属間界面に加えることができる試験荷重をできるだけ大きくする。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device and its test method which can suppress increase in circuit size.例文帳に追加

本発明は、回路規模の増大を抑制することができる半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To efficiently perform a connection test of a data transfer apparatus having both of a USB host port and a USB device port.例文帳に追加

ＵＳＢホストポート及びＵＳＢデバイスポートの両方を有するデータ転送装置の接続試験を、効率よく行う。 - 特許庁

To realize a test system capable of testing a tested object for decoding encode data with an IC testing device.例文帳に追加

エンコードデータをデコードする被試験対象を、ＩＣ試験装置で試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a BGA-type TAB tape and a BGA-type semiconductor device which show superior characteristics in a PCT test.例文帳に追加

ＰＣＴ試験において優れた特性を示すＢＧＡ型ＴＡＢテープおよびＢＧＡ型半導体装置を提供する。 - 特許庁

The oil mist in the test vessel 2 is returned and circulated to the oil mist generator 1 by the oil mist circulation device 3.例文帳に追加

テスト容器２内のオイルミストはオイルミスト循環装置３によってオイルミスト発生装置１に戻されて循環する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device, of which the adjustment of input/output timing on various test patterns is possible.例文帳に追加

様々なテストパターンでの入出力タイミング調整が可能な半導体集積回路装置を提供することにある。 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING TEST PROGRAM FOR EVALUATING INFORMATION PROCESSING UNIT, DEVICE AND PROGRAM DESCRIBING PROCESSING THEREFOR例文帳に追加

情報処理装置を評価するためのテストプログラムを作成する方法、装置、およびそのための処理を記述したプログラム - 特許庁

To provide a laser puncture device which enables a user to surely collect blood without test puncture, and a laser puncture method.例文帳に追加

使用者が、テスト穿刺することなく確実に採血可能なレーザ穿刺装置およびレーザ穿刺方法を提供する。 - 特許庁

The output impedance of the semiconductor device at the terminal for test is matched to the impedance of a transmission system at testing time.例文帳に追加

試験用端子における半導体デバイスの出力インピーダンスを、試験時の伝送系のインピーダンスにマッチングさせる。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, DISPLAY PROCESSING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEFECTIVE INFORMATION, AND RECORDING MEDIUM IN WHICH DISPLAY PROCESSING PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加

半導体検査装置、半導体不良情報の表示処理方法及び表示処理プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

As a result, appropriate tests for the external device 102 by the BIST circuit 107 in the initial stage of test can be performed.例文帳に追加

これにより、検査初期におけるＢＩＳＴ回路１０７による外部デバイス１０２の的確な検査を可能にする。 - 特許庁

Such a tray panel 5 is not deformed even when the high temperature test of the device is performed since no spring is used.例文帳に追加

このようなトレイパネル５は、ばねを使用していないので、装置の高温試験を行っても変形することがない。 - 特許庁

BULK CURRENT INJECTION TRANSFORMER, BULK CURRENT INJECTION TEST METHOD, CONDUCTOR EXCITATION MODE MEASURING METHOD, AND TRANSFORMER TESTING DEVICE例文帳に追加

バルク電流注入トランス、バルク電流注入試験方法、導体励起モード測定方法、およびトランス試験装置 - 特許庁