「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(92ページ目) - Weblio英語例文検索

Any of the plurality of capacitors and the power source corresponding thereto are selected in accordance with the content of a test performed after a test using the capacitor from among the plurality of capacitors supplying power source power to the device under test.例文帳に追加

また、複数のコンデンサのうち被試験デバイスに電源電力を供給するコンデンサを用いる試験の後に行う試験の内容に応じて、複数のコンデンサのいずれかと、複数のコンデンサのいずれかに対応する電源とを選択する、試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test piece supply device, not requiring a wide installation area and accurately moving and supplying plenty of test pieces to a supply position and conveying the test pieces securely held by chucks.例文帳に追加

広い設置面積を必要とすることなく、多量の試験片を正確に供給位置まで移動させて供給することができ、さらには、試験片を確実にチャックに保持させて搬送することが可能な試験片供給装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a supercooling test device and a method of a supercooling test capable of creating a state that the liquid included in a test piece is supercooled, and reproducing a situation that a phase of the liquid is changed from the supercooling state to solid and its volume is abruptly expanded.例文帳に追加

供試体に含まれた液体が過冷却される状態を作り出すとともに、その液体が過冷却状態から固体に相変化して急激に体積膨張する状況を再現可能な過冷却試験装置及び過冷却試験方法を提供する。 - 特許庁

A conveyance path 14A for conveying a pallet 16 carrying the specimen 2, and a deadhead path 15A for deadheading an empty pallet 16 after removing the specimen 2 after a test are arranged in an interior of the test tank 12 of the environmental test device 3.例文帳に追加

環境試験装置３の試験槽１２の内部には、被試験品２を載せたパレット１６を搬送するための搬送路１４Ａと、試験終了後に被試験品２が取り除かれた後の空のパレット１６を回送するための回送路１５Ａが配置されている。 - 特許庁

A demultiplexer 7a of the conference room A demultiplexes the inverted test signal from the received signal, a delay time measurement device 8a calculates a delay time that is a time from the transmission of the test signal to reception of the inverted test signal and the delay time is used to control a delay time in a delay memory 3a.例文帳に追加

会議室Ａは、受信信号から反転試験信号を抽出して、試験信号を送信してから反転試験信号を受信するまでの遅延時間を遅延時間測定器８ａで算出してディレイメモリ３ａの遅延時間を制御する。 - 特許庁

To provide a pile loading test method and its loading test device capable of being tested by using a testing pile in a state to make it possible to actually use, simplifying the constitution, extending the flexibility of the test and contributing to shortening of the testing process and reduction of costs.例文帳に追加

実際に使用される状態の試験杭を用いて試験することができ、構成が簡単で、試験の自由度を広げることができ、更には試験工程の短縮及びコストの削減に寄与する杭の載荷試験方法及び載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an assembling device of a cutter for a metallic material test piece in which replacement of a cutter is easy, cutting edge is not damaged and accurately and easily arranged, and provide the cutter for the plate tension test piece and a manufacturing method of the plate tension test piece.例文帳に追加

本発明は、刃物の交換が容易で、且つ刃先を傷めず、刃先を正確に、簡単に揃える金属材料試験片用カッタの組立装置を提供し、平板引張試験片用カッタ及びそれによる平板引張試験片の作製方法を提供する。 - 特許庁

This device is equipped with the reference vessel 12 capable of being inserted airtightly into the test vessel 1, an equalizing valve 3 capable of opening and closing a communicating tube for communicating the test vessel with the reference vessel, and a differential pressure gage 4 for detecting the differential pressure generated between the test vessel and the reference vessel.例文帳に追加

試験容器１内に気密に挿入可能な基準容器１２と、試験容器と基準容器間を連通する連通管を開閉可能な均圧弁３と、試験容器と基準容器間に発生する差圧を検出する差圧計４とを備える。 - 特許庁

This test specimen classification device 100 having a reader/writer 146 has: a supply pipe 112 for supplying a test specimen 10 into a casing; and a first discharge pipe 142 and a second discharge pipe 143 for discharging the test specimen 10 from inside the casing.例文帳に追加

リーダライタ１４６を備える試験体分類装置１００は、その筐体内部に試験体１０を供給するための供給管１１２と、筐体内部から試験体１０を排出するための第１排出管１４２及び第２排出管１４３とを備える。 - 特許庁

A detector having a low threshold voltage and a detector having a high threshold voltage are provided to a test terminal for controlling a test mode of a semiconductor device, and the detector having the low threshold voltage releases a reset of a logic circuit while the detector having the high threshold voltage controls switching of the test mode.例文帳に追加

半導体装置のテストモードを制御するテスト端子に、低閾値電圧のディテクタと高閾値電圧のディテクタを設け、低閾値電圧のディテクタによって論理回路のリセットを解除し、高閾値電圧のディテクタでテストモードを切替え制御するような構成にした。 - 特許庁

A device for testing the thermal fatigue crack development includes a heating furnace capable of covering and heating the whole test body relative to a circular test body, a cooling pipe bonded to the test body, and a coolant sending mechanism for circulating a coolant into the cooling pipe.例文帳に追加

環状の試験体に対して、その試験体の全体を覆って加熱可能な加熱炉と、 前記試験体と結合される冷却用パイプと、 その冷却用パイプのパイプ内に冷媒を流す冷媒送流機構とを備える熱疲労き裂進展試験装置である。 - 特許庁

A test apparatus 13 is connected to a status signal output terminal that is a normal use output terminal of the digital processing device 11 by using a test jig 14, and the status signal output terminal is forced into its on-state by a test mode switching command generator 13A.例文帳に追加

検査装置１３は、検査治具１４によって、ディジタル処理装置１１の通常使用出力端子になるステータス信号出力端子と接続し、検査モード切換指令発生器１３Ａによってステータス信号出力端子をオン状態に強制する。 - 特許庁

In a post-wafer-sorting stage of device manufacture, a plurality of flash memory devices which each include a flash controller die related to a common housing and at least one flash memory die are passed to a test process such as a batch test process or mass test process.例文帳に追加

デバイス製造のポスト・ウェファ・ソート・ステージ中に、共通ハウジングに関連づけられたフラッシュコントローラ・ダイおよび少なくとも一つのフラッシュメモリ・ダイを各々が含む複数のフラッシュメモリ・デバイスを、例えば、バッチ・テスト・プロセスまたはマス・テスト・プロセス等のテスト・プロセスへ通す。 - 特許庁

A test signal generation circuit 23 generates a prescribed call signal 704 other than a call signal for calling another orderwire communication device 100, as a test signal and sends it to an orderwire line 310, and the prescribed call signal 704 is detected by a test signal detection circuit 20.例文帳に追加

テスト信号発生回路23が、他のオーダワイヤ通信装置100を呼び出す呼出信号以外の所定の呼出信号704をテスト用信号として発生してオーダワイヤ回線310に送出し、この所定の呼出信号704をテスト信号検出回路20が検出する。 - 特許庁

To provide a control device for liquid level position which requires no motive power to adjust the liquid level of test fluid and prevents the test liquid from being volatilized resulting from heating, an environment from becoming worse owing to volatilization, and the test fluid from being oxidized by coming into contact with oxygen.例文帳に追加

試験流体の液面を調整するための動力が不要であり、試験流体の加熱による揮発、揮発にともなう環境の悪化、ならびに酸素との接触による試験流体の酸化が防止される液面位置の調整装置を提供する。 - 特許庁

To provide a blood clinical testing device for performing blood coagulation test, biochemical test, or immune serum test capable of speedily heating specimens and reagents housed in reaction containers to a reaction temperature and further efficiently perfuming tests.例文帳に追加

血液の凝固検査、生化学検査あるいは免疫血清検査を行う臨床検査装置であって、反応容器に収容した検体および試薬を反応温度まで迅速に加温でき、一層効率的に検査を実施し得る血液の臨床検査装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device equipped with a signal formation means to form a plurality of internal test mode signals is provided, according to each voltage level of the plurality of implementation test signals and plural arbitrary pins which receives the plurality of implementation test signals from outside.例文帳に追加

外部から複数の実装テスト信号を受信する複数の任意のピンと、前記複数の実装テスト信号のそれぞれの電圧レベルに応じて、複数の内部テストモード信号を生成する信号生成手段とを備える半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which makes the position of a reel in an automatic handler be at a constant height irrespective of the size of a test head, the footprint of the automatic handler constant, and the position where a cable connected to the test head be drawn out be arbitrarily set.例文帳に追加

テストヘッドの大きさにかかわらずオートハンドラにおけるリールの位置を一定の高さにするとともにオートハンドラの設置面積も一定にでき、テストヘッドに接続されるケーブルの引き出し位置を任意に設定できる半導体テスト装置を提供すること。 - 特許庁

In the semiconductor device, at first, the high temperature test is performed, and the high temperature test result of the high temperature test of the memory cell arrays 11a to 11n is written on the acceptance or rejection discrimination fuse circuits 13a to 13n provided respectively of the memory cell arrays 11a to 11n.例文帳に追加

この半導体装置において、まず、高温試験を行い、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎのそれぞれに設けられた合否判定ヒューズ回路１３ａ，１３ｂ，〜，１３ｎに、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎの高温試験の高温試験結果を書き込む。 - 特許庁

A conveyance path 14A for conveying a pallet 16 carrying a specimen 2, and a deadhead path 15A for deadheading an empty pallet 16 after removing the specimen 2 after a test are arranged in an interior of the test tank 12 of the environmental test device 3.例文帳に追加

環境試験装置３の試験槽１２の内部には、被試験品２を載せたパレット１６を搬送するための搬送路１４Ａと、試験終了後に被試験品２が取り除かれた後の空のパレット１６を回送するための回送路１５Ａとが配置されている。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device in which occurrence of a malfunction and breakage of a control circuit of the liquid crystal display device is suppressed in an electrostatic breakdown test.例文帳に追加

、静電破壊試験の際に液晶表示装置の制御回路の誤動作及び破壊が生じることを抑制できる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a label pasting device for test tube which aims at the space saving for the installation area, the simplification of the device structure, and the reduction of the equipment cost.例文帳に追加

設備面積の省スペース化と装置構造の簡素化及び設備費の低減を図った試験管ラベル貼付装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method for supplying burn-in power and a burn-in board, which allow efficient burn-in test operation for a semiconductor device, and to provide a semiconductor device suitable therefor.例文帳に追加

半導体装置のバーンインテスト工程の効率化に向けたバーンイン電源供給方法、バーンインボード及びそれに好適な半導体装置を提供する。 - 特許庁

The test result of the optical fiber to be tested is transmitted to the communication device 30 from the communication device 50 via the optical switch 71 and the optical fiber 18 for communication.例文帳に追加

被試験光ファイバの試験結果は、通信装置５０から光スイッチ７１および通信用光ファイバ１８を経て通信装置３０へ送信される。 - 特許庁

To provide a testing device for a vibration controller for preventing the vibration controller and the testing device from being damaged, by liberating an excessive load during a test of the vibration controller.例文帳に追加

防振器の試験中の過大な荷重を逃がし、防振器や試験装置の破損を未然に防止する防振器用の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an on-vehicle organic pollutant measuring device equipped with a movable large-sized test chamber, and an organic pollutant measuring method using the device.例文帳に追加

移動可能な大型の試験用チャンバを備えた車載型有機汚染物質測定装置およびこれを用いた有機汚染物質測定方法を提供する。 - 特許庁

To realize equipment for testing semiconductor device, capable of improving wave form quality, without having leakage voltage superimpose on the signal waves that has being impressed on the DUT (device under test).例文帳に追加

ＤＵＴへ印加する信号波形に漏れ電圧波形が重畳されず、波形品位の向上が可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of a semiconductor integrated circuit capable of facilitating control of a BOST device, and improving versatility.例文帳に追加

ＢＯＳＴ装置の制御の容易化を図ると共に、汎用性を向上することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can store address data of a defective memory cell and which is inexpensive, a method for testing a semiconductor, and a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

不良メモリセルのアドレスデータを記憶可能で、且つ安価な半導体試験装置、半導体試験方法、および半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for protecting a secondary battery which can generate two test signals in the device without adding a new terminal, and a battery pack incorporating the same and electronic equipment.例文帳に追加

新たな端子を追加せずに、装置内で２つのテスト信号を生成できるようにした二次電池保護用半導体装置、バッテリパック、電子機器の提供。 - 特許庁

Since a test can be performed without installing a device for exclusive use inside a vehicle, when only the breaker is tested, the device is very useful.例文帳に追加

遮断機のみの試験を実施する場合においては、車両内部に専用の装置を設置せずに試験を実施することができるので、非常に有用である。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device test circuit where a defect detection rate has been improved and a semiconductor memory device where a repair efficiency has been improved.例文帳に追加

不良検出率を向上させた半導体メモリ装置のテスト回路及びリペア効率性を向上させた半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electrooptic device which can locate the short-circuited position of the wiring within a short time, and provide its test method and an electronic device.例文帳に追加

配線の短絡不良位置を短時間で特定することができる電気光学装置、電気光学装置の検査方法及び電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for measuring metal contaminants capable of measuring contamination of substrates or contamination condition of test liquids even with simple device construction.例文帳に追加

基板の汚染又は試験液の汚染状況を簡易な装置構成で測定することができる、金属汚染物質測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which enable use of a test device which is used has been used conventionally, even if the necessary number of terminals increases as the capacity becomes large.例文帳に追加

大容量化等に伴って必要な端子数が増えても、従来まで使用していたテスト装置がそのまま使用可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

By using the built-in memory instead of the semiconductor memory device it is possible to test the interface part and circuits related to the same with the semiconductor device as a single body.例文帳に追加

内蔵メモリを半導体メモリ装置の代わりに使用することで、半導体装置単体でインタフェース部およびそれに関連する回路を試験できる。 - 特許庁

A host computer verifies the operation of a target device by allowing the target device to execute n kinds (n≥2) of test scenarios successively a plurality of times.例文帳に追加

ホストコンピュータは、ｎ（ｎ≧２）種類のテストシナリオを順次ターゲットデバイスに実行させることを複数回行うことによってターゲットデバイスの動作検証を行う。 - 特許庁

Then, the main protection device 2 and the terminal device 3 simultaneously output and supply a signal of a trigger OUT to the test devices 1_M and 1_S as a state change signal.例文帳に追加

すると、主保護装置２と端末装置３は、試験装置１_M，１_Sに対してトリガＯＵＴの信号を同時出力し、状変信号として供給する。 - 特許庁

A test device 900 tests a communication controller 10 functioning as a speed conversion device which converts communication speeds between networks different in communication speed.例文帳に追加

試験装置９００は、通信速度の異なるネットワーク間で通信速度を変換する速度変換装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

The semiconductor device having a BGA in a package form is formed, and a burn-in process and a test process are carried out to the BGA (the semiconductor device) 8.例文帳に追加

パッケージ形態がＢＧＡである半導体装置を形成し、このＢＧＡ（半導体装置）８に対してバーンイン工程およびテスト工程を実施する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR GIVING COMBINATION OF AUTOMATIC AND MANUAL MOTIONS OF NONDESTRUCTIVE TEST (NDT) SENSOR, AND DEVICE FOR MOVING SENSOR ON WORK例文帳に追加

非破壊試験（ＮＤＴ）センサの自動および手動の動きの組合せを与えるための装置および方法、ならびにワークの上でセンサを動かすための装置 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting a semiconductor device, which reduces the test time by making an apparatus for in inspecting the semiconductor device operate efficiently.例文帳に追加

半導体デバイスの検査に関する装置を効率的に稼動させて、テストの時間を短縮させることのできる半導体デバイスの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for supporting display data item test, capable of automatically collating and list-displaying an allocation relation between form data and data storage areas of a database device.例文帳に追加

帳票データとデータベース装置のデータ格納領域との割付関係を自動的に照合し、一覧表示する表示データ項目試験支援装置を得る。 - 特許庁

To provide the wafer map display device of a semiconductor test device, which can display a chip and a character in sizes corresponding to the window size of wafer map display.例文帳に追加

ウエハマップ表示のウィンドウサイズに対応した大きさでチップと文字を表示可能とする半導体試験装置のウエハマップ表示装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device, having a built-in terminal for test that can easily evaluate the operation condition of a semiconductor device unit on a packaging substrate.例文帳に追加

容易に実装基板上での半導体装置単体の動作状況について評価することができる試験用端子内蔵半導体装置を得る。 - 特許庁