「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(96ページ目) - Weblio英語例文検索

To perform a test of refresh characteristics in a semiconductor memory device having a function of refreshing without being instructed externally.例文帳に追加

外部から命令されることなくリフレッシュする機能を有する半導体記憶装置でリフレッシュ特性のテストを実施する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING ERROR RECOGNITION OF DIAGNOSIS TEST PIECE IN REFLECTANCE SPECTROMETER USING INFRARED INDICATION例文帳に追加

赤外線の示度を用いて反射率分光計内の診断試験片の誤認を検出するための方法及び装置 - 特許庁

To provide a network testing device capable of performing an integrated network test to a mobile communication network.例文帳に追加

移動体通信ネットワークに対して統括的なネットワーク試験を実施することができるネットワーク試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system which stabilizes a contact condition of contact points between the device under test and a performance board.例文帳に追加

被試験デバイスとパフォーマンスボードとの接点の接触状態を安定させる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

FLASH MEMORY DEVICE HAVING COLUMN PRE-DECODER WHICH CAN CHOOSE ALL COLUMN SELECTING TRANSISTOR AND ITS STRESS TEST METHOD例文帳に追加

全てのコラム選択トランジスタを選択することができるコラムプリデコーダを有するフラッシュメモリ装置とそのストレステスト方法 - 特許庁

Radio waves reflected from the rotary reflecting body 1 are received by a test radio device 10 via a reflection propagation path 9.例文帳に追加

回転反射体１に反射された電波は反射伝搬路９を経由して供試無線機１０に受信される。 - 特許庁

In the 2nd terminal device 2, a 2nd test program 2 is installed and exclusive hardware, firmware and software are integrated.例文帳に追加

第２の端末装置２には、第２のテストプログラム２がインストールされ、専用のハードウエア，ファームウエア，ソフトウエアが組み込まれる。 - 特許庁

To provide an evaluation device of a lens capable of performing accurately performance evaluation on the axis and out of the axis of the test lens.例文帳に追加

被検レンズの軸上軸外の性能評価を正確に行なうことができるレンズの評価装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for formatting data automatically based on the best matched test result type.例文帳に追加

最も適合する試験結果タイプに基づいて自動的にデータをフォーマットする方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a signal generator which generates a test signal for correctly testing a device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスを正確に試験するための試験信号を発生する信号発生装置を提供することができる。 - 特許庁

To provide a support leg vibration test device capable of accurately measuring the stress of a cantilever support leg for a wheel.例文帳に追加

車輪を片持ち保持する支持脚の正確な応力測定が可能な支持脚振動試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test circuit and a semiconductor memory device, of which the number of terminals prepared outside a chip can be reduced.例文帳に追加

チップ外に設ける端子数を少なくすることができるメモリテスト回路及び半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an air filter testing device capable of testing precisely performance, and allowing an efficient test.例文帳に追加

高精度の性能試験を行うことができ、また能率のよい試験を行うことができるエアフィルタ試験装置を提供する。 - 特許庁

To inexpensively perform operation verification of a test program at higher speed at low cost in offline simulation environment of a testing device.例文帳に追加

試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、テストプログラムの動作検証をより高速かつ低コストで実現する。 - 特許庁

The PRBS being checked may be generated by a device (e.g., a device under test) in response to a PRBS received by the device (e.g., from a PRBS generator).例文帳に追加

検査されるＰＲＢＳは、デバイス（例えばテスト対象デバイス）により、このデバイスがＰＲＢＳを（例えばＰＲＢＳ発生器から）受信したのに応答して生成することができる。 - 特許庁

SIGNAL PROCESSING DEVICE, TEST SYSTEM, DISTORTION DETECTION DEVICE, SIGNAL COMPENSATION DEVICE, ANALYSIS SIGNAL GENERATOR, PROGRAM, STORAGE MEDIUM, DISTORTION DETECTION METHOD, SIGNAL COMPENSATION METHOD, AND ANALYSIS SIGNAL GENERATION METHOD例文帳に追加

信号処理装置、試験システム、歪検出装置、信号補償装置、解析信号生成装置、プログラム、記憶媒体、歪検出方法、信号補償方法、および、解析信号生成方法 - 特許庁

To provide a transporting and processing device capable of easily, efficiently and safely transporting and processing a test target whose unbalance is measured, and a dynamic balance adjusting device incorporating the transporting and processing device.例文帳に追加

不釣合いを測定する被試験体を容易に、能率よく、しかも安全に移送・加工できる移送加工装置及びこの移送加工装置を備えた動釣合い調整装置を提供する。 - 特許庁

The jack-up device 25 displaces the balancing wheel device 22 upward upon the operational test of an emergency stop device 14, thereby reducing the torque of a motor 5 for idling a sheave 4.例文帳に追加

ジャッキアップ装置２５は、非常止め装置１４の作動試験時に、釣合車装置２２を上方へ変位させることにより、綱車４を空転させるためのモータ５のトルクを低減する。 - 特許庁

To provide a device to easily test a function for communicating with an RFID tag even when data stored in the RFID tag on a component to be attached to the device are varied according to the model of the device.例文帳に追加

装置に装着される部品のＲＦＩＤタグが持つデータが装置の機種ごとに異なる場合でも、装置がＲＦＩＤタグと通信する機能の検査を容易にする。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus, a test method, and a manufacturing method for an electrooptic device reducing the crash of a switching device installed in an electrooptic device arising from static electricity.例文帳に追加

静電気によって、電気光学装置に備えられたスイッチング素子が破壊されることを低減した、電気光学装置の検査装置、検査方法及び製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive temporary switch incorporated in a device of battery driving started up for a test of the device by a consumer during a packed condition of the device.例文帳に追加

デバイスが包装された状態である間、消費者がデバイスを試験するために起動され得る、バッテリー駆動のデバイスに組み込むための低コストの一時スイッチを提供することである。 - 特許庁

TEST METHOD OF CATHODE PANEL FOR COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMISSION DISPLAY DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF COLD CATHODE FIELD ELECTRON EMISSION DISPLAY DEVICE, AS WELL AS COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMISSION DISPLAY DEVICE例文帳に追加

冷陰極電界電子放出表示装置用のカソードパネルの検査方法、冷陰極電界電子放出表示装置の製造方法、並びに、冷陰極電界電子放出表示装置 - 特許庁

To obtain a test method for a semiconductor device and its device for reducing the number of combination tables for a semiconductor device in which rescue ranges of row and column rescue circuits are different.例文帳に追加

行および列冗長回路の救済範囲が異なる半導体装置に対して、組み合わせテーブル数を少なく抑えるための半導体装置試験方法とその装置を得ること。 - 特許庁

The spring contact component is located on a semiconductor device existent on a semiconductor wafer for burn-in and/or test the semiconductor device by performing temporary connection with the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスと一時的な接続を行って半導体デバイスをバーンイン及び／又はテストできるように、ばね接触部品が半導体ウエハに存在する半導体デバイス上に配置される。 - 特許庁

The driver's aid system includes a driver's aid device 5a which causes a display device 4a to display a travel speed pattern which a driver of a test vehicle 6 follows for driving, and a driver's aid auxiliary device 5b which causes an auxiliary display device 4b to display a travel route for performing travel test based on the data for generating a travel speed pattern.例文帳に追加

被試験車両６の運転者が追従して運転するための走行速度パターンを表示装置４ａに表示させるドライバーズエイド装置５ａと、走行速度パターンを作成するデータに基づいて走行試験を行う走行経路を補助表示装置４ｂに表示させるドライバーズエイド補助装置５ｂとを備える。 - 特許庁

CATHODE PANEL UNIT FOR COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, CATHODE PANEL THEREFOR AND ITS MANUFACTURE, COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF ITS UNIT USING TEST DEVICE THEREOF例文帳に追加

冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニット、冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル及びその製造方法、冷陰極電界電子放出表示装置、試験装置、並びに、かかる試験装置を用いた冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニットの試験方法 - 特許庁

Test conditions such as temperature or voltage of each device to be tested are registered in a database 30, and the device to be tested is periodically monitored by a test block equipment control program 44 for obtaining the present conditions of the device and registering them in the database 30.例文帳に追加

データベース３０には各被試験装置ごとに温度や電圧などの試験条件が登録され、また定期的に各被試験装置の状態を取得すべく試験ブロック機器制御プログラム４４によって測定がおこなわれて現在の状態がデータベース３０に登録される。 - 特許庁

A defect analyzing section 30 performs relief analysis of a memory device based on the test result stored in the storage device section 40 and a test result performed for a memory device under second environment (e.g. environment in which temperature is set to 0°C) being different from the first environment.例文帳に追加

不良解析部３０は、保存装置部４０に保存された試験結果と、第１環境とは異なる第２環境（例えば、温度が１００℃に設定された環境）下においてメモリデバイスに対して行う試験結果とに基づいて、冗長メモリを用いたメモリデバイスの救済解析を行う。 - 特許庁

To provide a redundancy relieving circuit and a method therefor, and semiconductor device in which the test time for testing a defective memory cell is shortened, the test device is made inexpensive by dispensing with fail memories having extensive capacity accumulating defective bits, and the device can easily cope with the increase and decrease of the number of IO.例文帳に追加

不良メモリセルをテストするテスト時間を短縮し、不良ビットを蓄積する膨大な容量を有するフェイルメモリを不要としてテスト装置を安価とし、ＩＯ数の増減に対しても容易に対応することができる冗長救済回路、方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

The test pattern signal is further supplied from the programmable logic device 150 to a plurality of devices DUT to be tested, and output signals from the devices DUT to be tested are compared with the logical value in the programmable logic device 150, and the compared results are stored in the programmable logic device 150 as test results.例文帳に追加

テストパターン信号は、プログラマブルロジック装置１５０から、さらに複数の被試験デバイスＤＵＴに供給され、被試験デバイスＤＵＴからの出力信号は、プログラマブルロジック装置１５０で論理値と比較され、その比較結果は、試験結果として、プログラマブルロジック装置１５０に格納される。 - 特許庁

The system 1 for estimating the transparency of water is provided with a preprocessing device 2 which treats test water by using a filtration process or a centrifugal concentration process, a particle amount quantifying device 3 which quantifies the amount of particles in the test water, and a transparency calculating device 4 which calculates the transparency based on the quantified amount of particle.例文帳に追加

検水を遠心濃縮又はフィルターろ過する前処理装置２と、該検水の粒子量を定量化する粒子量定量化装置３と、定量化された該粒子量から透視度を算出する透視度算出装置４とを含む水の透視度評価システム１を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, its testing method and design method with which it can be decided whether or not the semiconductor device is defective or a test mode controller is defective, when the test result of the semiconductor device fails and by which testing time can be shortened and the yield be improved.例文帳に追加

半導体装置のテストが不合格の場合、半導体装置の故障なのか、テストモード制御装置が故障であったのかを判別することができ、またテスト時間の短縮と歩留りの向上を図ることができる半導体装置、そのテスト方法および設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide a penetration testing device securing high reliability of measurement data as the penetration testing device applied to a Swedish sounding test, the penetration testing device being capable of penetrating a penetration test rod into the ground in a mechanically clamped state and automatically conducting loading, load separation, and rotary excavation by mechanical means.例文帳に追加

スウェーデン式サウンディング試験に適用する貫入試験装置として、貫入試験用ロッドを機械的にクランプした状態で地盤中に貫入でき、荷重の負荷及び切り離し、回転掘進を機械的手段で自動的に行って測定データの高い信頼性を確保する。 - 特許庁

To provide a stress corrosion crack test device for accurately and surely evaluating characteristics of a material related to a stress corrosion crack without being influenced by stress relief generated in a test piece.例文帳に追加

試験片に生じる応力緩和の影響を受けることなく、応力腐食割れに関する材料の特性を正確且つ確実に評価することが可能な応力腐食割れ試験装置を提供する。 - 特許庁

When a test key of a control panel or a remote control device is operated by the user, a control part controls to superpose and display a test pattern TP (horizontal line Lh and vertical line Lv) on an input image Pi.例文帳に追加

制御部は、ユーザによって操作パネル又はリモコンのテストキーが操作されると、入力画像Ｐｉ上にテストパターンＴＰ（水平ラインＬｈ及び垂直ラインＬｖ）を重畳表示させる。 - 特許庁

To remarkably reduce traffic of a test cell without lowering the conventional confirmation accuracy regarding a bi-directional conduction confirming method and a device by a test cell in an ATM network.例文帳に追加

本発明は、ＡＴＭネットワークでの試験セルによる双方向導通確認方法と装置に関し、従来の確認精度を落とすことなく試験セルのトラフィックを大幅に低減することを目的とする。 - 特許庁

To provide an operational test apparatus for a USB interface capable of testing an operation of the USB interface solely by an electric device, without using a specific additional test apparatus.例文帳に追加

ＵＳＢインターフェースの動作試験を実施するに際して、特別な付加的試験装置を用いることなく、当該電子機器単独で実施することが可能なＵＳＢインターフェースの動作試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of performing a connection test of an LSI internal part even when the number of external terminals is larger than the number of pins of a tester for performing a test of an internal logic circuit.例文帳に追加

外部端子数が内部論理回路のテストを行うテスタのピン数より多い場合であってもＬＳＩ内部の接続テストを可能にする半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, the user can know not only whether the result of the connection test for the test mobile device 20 has been normal, but also can know the details of the causes, if troubles occur.例文帳に追加

これにより、ユーザは、単に試験用移動機２０の接続試験の結果が正常であったか否かを知るだけではなく、不具合が発生した場合にその要因を詳細に把握することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a test state judging circuit capable of suppressing the influence to a wiring area for realizing inherent functions to the minimum without providing an exclusive test terminal.例文帳に追加

専用のテスト端子を設けることなく、又本来の機能を実現するための配線領域への影響を最小限に抑制できるテスト状態判定回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To allow a manager to arbitrarily select an output destination of a test print result, and to collect the test print result to an arbitrary number of output devices from the output device desired by the manager in a lump.例文帳に追加

テストプリント結果の出力先を管理者が任意に選択して、任意台数分の出力装置に対するテストプリント結果を管理者が望む出力装置から一括して収集することである。 - 特許庁

To provide a testing device of an examined product which can reduce a time required for a test of an examined product, realize an automatization of a testing procedure, and improve a reliability of a determination of a test result.例文帳に追加

被試験製品の試験に要する時間を短縮し、試験手順の自動化を実現し、試験結果の判定の信頼性を向上させることができる被試験製品の試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable a test cost of a device under test to be suppressed without depending on a probing operation using an oscilloscope, a sampling scope, and the like, and to enable the production cost of a semiconductor testing apparatus to be suppressed.例文帳に追加

オシロスコープやサンプリングスコープ等によるプロービングに依存することなく、被試験体の試験コストを抑制できるようにすると共に、半導体試験装置の製造コストを抑制できるようにする。 - 特許庁

To provide a device for a drawing test for performing the drawing test equal to a continuous production condition by a drawing machine to obtain a film sample equal to a film continuously produced by the drawing machine.例文帳に追加

延伸機による連続生産状態と同等の延伸試験を行い、延伸機により連続生産されるフィルムと同等のフィルムサンプルを得ることができる延伸試験装置を提供すること。 - 特許庁

To unite and miniaturize separate lancet and test unit of conventional devices, and to prevent cross-contamination when one test sensor device is used by more than one user.例文帳に追加

従来装置における、別々のランセット及び試験手段を一体化して小型化すると共に、一つの試験センサ装置を二人以上で共用したとき相互汚染の問題を生じない構造にすること。 - 特許庁