「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(91ページ目) - Weblio英語例文検索

An analysis device 30 is provided, which analyzes the result of the testing of a plurality of devices under test, having the same configuration by a testing device.例文帳に追加

同一の構成を有する複数の被試験デバイスを試験装置により試験した試験結果を解析する解析装置３０を提供する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit device, a display controller, and an electronic device which perform a test on the actual operation frequency of a memory.例文帳に追加

メモリーの実動作周波数でのテスト等を行うことができる集積回路装置、表示コントローラー及び電子機器等を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an integrated radio circuit device which can perform an efficient operation test, an integrated radio circuit device, and electronic equipment.例文帳に追加

効率的な動作試験ができる無線集積回路装置の製造方法、無線集積回路装置及び電子機器等を提供すること。 - 特許庁

To easily and reliably prepare a program of a test device or the like by applying the method, for example, to a semiconductor device.例文帳に追加

本発明は、例えば半導体試験装置に適用して、簡易かつ確実に試験装置等のプログラムを作成することができるようにする。 - 特許庁

A test signal IS from the maintenance testing device X is inspected by the relay inspecting circuit Fi and a maintenance inspecting circuit B of the maintenance testing device X.例文帳に追加

保守試験装置Ｘからの試験信号ＩＳを、中継検査回路Ｆ_i と保守試験装置Ｘの保守検査回路Ｂとで検査する。 - 特許庁

This device includes: a main frame for testing; a plurality of trays; receptacles for chip test; and one or more pick up/placing device.例文帳に追加

本発明の装置は試験用メイン・フレームと複数の器皿と、チップ・テスト・レセプタクルと、１つまたはそれ以上の取り上げ/安置器とを含んでいる。 - 特許庁

To provide a water supply device capable of preventing an excessive increase in secondary side pipe internal pressure of the water supply device in test operation.例文帳に追加

試験運転時における給水装置の２次側の配管内圧の過度の上昇を防止することができる給水装置を提供する。 - 特許庁

To provide an evasion device 5 which does not allow a test device 1 to operate abnormally and never breaks a tested body 2 even if a controller 3 gets out of order.例文帳に追加

制御装置３が故障しても、試験装置１が異常な動作をせず、供試品２を破壊することがない回避装置５を提供する。 - 特許庁

The center monitoring device and the line remote end monitoring device transfer control information required for the test through the monitoring-only communication line.例文帳に追加

センター監視装置及び回線遠端監視装置は、当該試験に必要な制御情報などの授受を、監視専用通信線を介して行う。 - 特許庁

To provide a voltage-applied current measurement device which can make accurate measurement even under internal resistance and also is robust over noise, and test equipment using this device.例文帳に追加

半導体内部配線の内部抵抗でも正確でかつノイズに強い電圧印加電流測定装置および試験装置を提供する。 - 特許庁

A proportional solenoid valve 15 or a proportional solenoid valve device 16 is attached to the oil pressure inspection device 12, and a performance characteristic test of them is conducted.例文帳に追加

油圧検査装置１２は、比例電磁弁１５または比例電磁弁装置１６を取付けてこれらの性能特性試験が行われる。 - 特許庁

The specific contents data for test viewing are sent from the transmission device (center) 1970 to a terminal device 1971 and stored in a storage means.例文帳に追加

送信装置（センタ）１９７０から、所定の試し視聴用のコンテンツデータが端末装置１９７１に送られ、蓄積手段に蓄積される。 - 特許庁

To provide a test socket which can flexibly correspond to a figure of a solid imaging device and can correctly carry out the positioning of the solid imaging device.例文帳に追加

固体撮像装置の形状により柔軟に対応でき、固体撮像装置の位置決めをより正確に実施できるテストソケットを提供する。 - 特許庁

To provide the contact etching method of a semiconductor device for distinguishing the fail of a semiconductor device by a normal wafer test.例文帳に追加

通常のウェハーテストで半導体素子の不良を判別することができる半導体装置のコンタクトエッチング方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an aligner lifting device of a handler capable of correctly accommodating a device in a carrier module of a test tray without generating the deflection.例文帳に追加

テストトレイのキャリアモジュールにデバイスの撓みが発生しないように正確に収容することができるハンドラーのアライナ上昇装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of generating a clock signal of high frequency suitable for a scan test for an internal circuit of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の内部回路のスキャンテストに適した高い周波数のクロック信号を生成できる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

When a synchronization error is detected, a voice processing device 200 sends a synchronization alarm report signal SYAAL to a test result selective output device 100.例文帳に追加

音声処理装置２００は、同期エラーを検出すると、同期アラーム通知信号ＳＹＡＡＬを試験結果選択出力装置１００へ送る。 - 特許庁

The conveyor device 7e transfers the pallet 10 including the brake 4 to be tested from the conveyor device 7a to the test position of the dynamometer 17.例文帳に追加

そして、コンベア装置７ｅにより、被試験ブレーキ４を備えたパレット１０がコンベア装置７ａからダイナモメータ１７の試験位置に移送される。 - 特許庁

To provide a testing device of internal engines that can perform the durability and performance test of different types of engines, using the same testing device.例文帳に追加

同一の試験装置で異なる種類のエンジンの耐久および性能試験を行うことができる内燃機関の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a variable delay device that enables reduction in capacity of its linearizing memory and to provide a semiconductor test device employing it.例文帳に追加

可変遅延装置が備えるリニアライズメモリの容量を低減可能とする可変遅延装置及びこれを用いる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which performs parallel tests while applying test pattern waveforms to a plurality of devices under measurement 12, is equipped with a pattern generator 101 for generating first test pattern data common to each device 12, a storage portion 103 for generating second test pattern data individual to each device 12, and a first selection circuit 105 for choosing either the first test pattern data or the second test pattern data.例文帳に追加

複数の被測定デバイス１２に対し、試験パターン波形を印加して並列試験を行う半導体試験装置において、各被測定デバイス１２に共通の第１試験パターンデータを発生するパターン発生器１０１と、各被測定デバイス１２に個別の第２試験パターンデータを発生する記憶部１０３と、第１試験パターンデータと第２試験パターンデータのいずれかを選択する第１の選択回路１０５とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.例文帳に追加

テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁

A VPN device 101 which is the communication device includes a communication test section for determining the communication possibility with a VPN device 301 which is an opposite device to perform communication through a WAN 200.例文帳に追加

通信装置であるＶＰＮ装置１０１は、ＷＡＮ２００を経由して通信を行う相手装置であるＶＰＮ装置３０１との通信可能性を判定する通信テスト部を有する。 - 特許庁

To reduce the number of components, to simplify a manufacturing process and to improve reliability in relation to a contactor for a semiconductor device test that provides electrical contacts for a semiconductor device, its manufacturing method and a carrier for a semiconductor device test.例文帳に追加

本発明は半導体装置に対して電気的にコンタクトを得る半導体装置試験用コンタクタ及びその製造方法及び半導体装置試験用キャリアに関し、部品点数の削減，製造工程の簡単化，及び信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁

The high voltage test device 10 consists of a transformer 10a for test, a direct current generator 10b, an impulse generator 10c, a change-over device unit 10e, a drive device 10g, and a universal potential divider 10j, and a bushing unit 10k which have sealed tank structures, respectively.例文帳に追加

高電圧試験装置１０を、それぞれ密閉タンク構造の試験用変圧器１０ａ、直流発生器１０ｂ、インパルス発生器１０ｃ、切り替え装置ユニット１０ｅ、駆動装置１０ｇ、万能分圧器１０ｊ及びブッシングユニット１０ｋによって構成する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal device which allows an optical sheet to be prevented from waving in a high-temperature test or a high-temperature high-humidity test without adding a member and without making the optical sheet thicker, and to provide an electronic apparatus including the liquid crystal device.例文帳に追加

部材の追加や光学シートの厚手化を行なわなくても、高温試験や高温高湿試験での光学シートのうねりを防止することのできる液晶装置、および液晶装置を備えた電子機器を提供すること。 - 特許庁

The printing device prepares test data to output a sample of a letter or graphics (circle, rectangle, image or the like), reads the printed test pattern by a scanner or the like, measures the amount of extension of a sheet by dividing the sheet into appropriate blocks and stores the measured results in a storage device.例文帳に追加

文字や図形（円、矩形、イメージ等）のサンプルの出力されるテストデータを用意し、印刷されたテストパターンをスキャナ等で読み込ませ、用紙を適当なブロック毎に分割して用紙の伸び量を測定し記憶装置に格納する。 - 特許庁

A testing device 1009 realizes a radio connection by a CDMA radio interface with a mobile terminal device 150 by sending a layer-3 signal and transmits a signal to be measured to conduct the radio reception characteristic test and radio function test.例文帳に追加

試験装置１００は、移動端末装置１５０と、レイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インタフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送して無線受信特性試験及び無線機能試験を行う。 - 特許庁

To provide an image output device capable of storing relatively mass image data for test inside without needing a new storage device and without increasing the storage capacity and relatively fast reading out the image data for test.例文帳に追加

新たな記憶装置を必要とせずまた記憶容量を増やさずに比較的大容量のテスト用画像データを内部に保存可能であり、テスト用画像データを比較的高速で読み出すことのできる画像出力装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which accurately controls, in particular, a temperature in a test tank into a test temperature and to provide a compact variable fin area radiator for use in the electronic component testing device.例文帳に追加

本発明は電子部品試験装置に関し、特に試験槽内の温度を精度よく試験温度に制御する電子部品試験装置と電子部品試験装置に使用するコンパクトなフィン面積可変型ラジエーターに関するものである。 - 特許庁

In accordance with a temperature condition of a test of an electronic device 11; the temperature of a refrigerant flowing through bypasses 15A, 15B, and 23, is controlled, a test temperature range of the electronic device is widened, and an increase of the temperature of the compressor 18 is suppressed.例文帳に追加

電子デバイス１１のテストの温度条件に従って、バイパス路１５Ａ、１５Ｂ、２３を流れる冷媒の温度を制御し、電子デバイスのテスト温度範囲を広くするとともにコンプレッサ１８の温度上昇を抑制する。 - 特許庁

To provide a compression/shear test method and its testing device capable of testing a performance test of compression deformation and/or shear deformation of a large-size sample piece without using large-scale equipment or a device.例文帳に追加

大型の供試体の圧縮変形及び／または剪断変形の性能試験を大掛かりな設備や装置を用いることなく試験することが出来る圧縮・剪断試験試験方法及びその試験装置を提供することにある。 - 特許庁

The toughness monitoring device of the support structure of a reactor vessel has a monitoring device 1 in which a fracture toughness test piece 20 of a compact tension test piece type made of the same material as that producing the support structure.例文帳に追加

原子炉容器の支持構造物の靭性監視装置は、その支持構造物を製作した素材と同一の素材から製作したコンパクトテンション試験片型破壊靭性試験片２０がセットされたモニタリング装置１を有している。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるハード資源（ハードリソース）の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

When this reception device for disaster information receives the emergency earthquake flash (YES at S03 step) during the execution of the test mode (S02 step), the reception device stops a notification of an emergency earthquake flash in the test mode, and changes over the notification to a notification when receiving the emergency earthquake flash.例文帳に追加

テストモードを実行中に（Ｓ０２ステップ）緊急地震速報を受信すると（Ｓ０３ステップのＹＥＳ）、テストモードにおける緊急地震速報の報知を停止し、緊急地震速報を受信した際の報知に切り替える。 - 特許庁

To provide the test equipment of an electromagnetic force supporting device employing a superconducting magnet device in which a test can be carried out conveniently only with a pair of diamagnetic materials (superconducting bulk), a "coupling rod" for coupling them, and a load cell fixed to the coupling rod.例文帳に追加

１対の反磁性体（超電導バルク）と、それらを連結する「連結ロッド」と、その連結ロッドに取り付けたロードセルだけで簡便に試験ができる超電導磁石装置を用いた電磁力支持装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image pickup device which displays a test chart on a liquid crystal screen provided on the image pickup device capable of easily calibrating a color, brightness, a shape or the like by photographing the test chart.例文帳に追加

撮像装置に設けられている液晶画面にテストチャートを表示して、このテストチャートを撮像することによって何時でも容易に色、明るさ、又は形状等のキャリブレーションを実施することが可能な撮像装置を提供する。 - 特許庁

A user selects at least one distributed test device 16 for an update via the user information and the server 14 communicates with the selected at least one distributing test device to download the update from the server 14 and then and downloads the update from the server 14.例文帳に追加

ユーザは、少なくとも一つの分散型テストデバイス１６を更新のためにユーザインタフェースを介して選択し、サーバ１４は、選択された一つの分散型テストデバイス１６と通信して、サーバ１４から更新をダウンロードする。 - 特許庁

To enable an automatic test of a semiconductor device by connecting a controller for performing conveyance control of a semiconductor device to be tested and sequence control according to a predetermined test procedure to a semiconductor testing apparatus through a simple interface.例文帳に追加

被試験対象の半導体デバイスの搬送制御と所定試験手順に従ったシーケンス制御とを行うコントローラを、半導体試験装置に簡易なインターフェイスで接続し、半導体デバイスの自動試験を行えるようにする。 - 特許庁

To precisely test a semiconductor integrated circuit device under test, even in the case that the semiconductor integrated circuit device under test which has a power supply pad, a GND pad and an output pad, has a function of outputting a prescribed constant voltage from the output pad, but has no circuit for transmitting any internal voltage correctly.例文帳に追加

電源パッド、ＧＮＤパッド及び出力パッドを備え、出力パッドから所定の定電圧を出力する機能を備えた半導体集積回路装置に対して、半導体集積回路装置が内部電圧を正確に伝える回路を備えていなくても、被試験半導体集積回路装置を高精度に試験する。 - 特許庁

Then, an MODEM device A701 and an MODEM device B702 are switched according to when the test switch of a meter is started as the start method of a gas meter 200, and when the test switch is restarted after start by a restoration switch within a fixed time after interruption with the start of the test swtich so as to be connected to the public line network 400.例文帳に追加

そして、ガスメータ２００の起動方法としてメータのテストスイッチを起動した場合と、テストスイッチの起動で遮断させた後、一定時間内に復帰スイッチで起動をかけて再度テストスイッチを起動した場合とで、モデム装置Ａ７０１とモデム装置Ｂ７０２を切替えて公衆回線網４００に接続できる。 - 特許庁

The TCP handler 2 testing TCPs 50 having test pads 54c formed in the middle of each lead 53, includes: an insulation treatment device 7 for performing insulation treatment of the test pads 54c of the TCPs 50 after being tested; and a surface treatment device 8 provided in the preceding stage to perform insulation surface treatment of the test pads 54c.例文帳に追加

リード５３の中間にテストパッド５４ｃが形成されたＴＣＰ５０を試験対象とするＴＣＰハンドラ２において、試験後のＴＣＰ５０のテストパッド５４ｃを絶縁処理する絶縁処理装置７と、その前段に、テストパッド５４ｃの絶縁下地処理を行う下地処理装置８とを設ける。 - 特許庁

A test pattern is prepared by a data converting part 2 based on the logic simulation result, a test controller 4 makes the device 5 tested based on the test pattern, a waveform displaying part 6 superposes waveforms of a data of the device 5 and the logic simulation data to be displayed, and both waveforms are automatically compared to be evaluated.例文帳に追加

デ−タ変換部２によって論理シミュレーション結果に基づきテストパターンを作成し、テストコントローラ４はテストパターンに基づきデバイス５をテストさせ、波形表示部６はデバイス５のデータ及び論理シミュレーションデータの波形を重ね合わせて表示すると共に、両者の波形を自動比較して評価するようにする。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit incorporates a test circuit testing operation of a non-volatile memory, while the device has an output terminal outputting a test result and an operation terminal indicating operation control of the test circuit, and the device can indicate the number of write-in of the non-volatile memory, a write region, and write data from the operation terminal.例文帳に追加

不揮発性メモリの動作を試験する試験回路を内蔵すると共に、試験結果を出力する出力端子と、試験回路の動作制御を指示する操作端子を有し、その操作端子から不揮発性メモリの書き込み回数、買い込み領域及び書き込みデータを指示できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

In this stencil printing device comprising a device body tray, a tray on a rack, and a tray under the rack, and capable of selectively feeding the printing paper to a printing part from three paper feeding trays, one of plural paper feeding trays is used as a tray for test printing to feed the printing paper on the tray for test printing, in executing the test printing.例文帳に追加

装置本体トレイ，架台上トレイ，架台下トレイを有し、この３つの給紙トレイより選択的に印刷用紙を印刷部に搬送できる孔版印刷装置において、複数の給紙トレイの１つを試し刷り用トレイとし、試し刷り印刷時には試し刷り用トレイの印刷用紙を搬送する。 - 特許庁