「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(88ページ目) - Weblio英語例文検索

In this device, specified fixing test images TA to TC are formed on a recording medium S in the initial state (S1, S2).例文帳に追加

初期状態にて記録体Ｓ上に所定の定着テスト画像ＴＡ〜ＴＣが作成される（Ｓ１，Ｓ２）。 - 特許庁

To easily equalize the output timings of respective test modules, in a testing device of high general-purpose properties.例文帳に追加

汎用性の高い試験装置において、それぞれのテストモジュールの出力タイミングを容易に略同一にする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, METHOD OF FORMING AUXILIARY CIRCUIT FOR TESTING THE SAME, AND TEST VECTOR CONVERTING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路装置およびその試験用補助回路の生成方法およびそのテストベクタ変換方法 - 特許庁

To provide a testing device capable of identifying a defective optical module, with normal passage of test signal being allowed.例文帳に追加

不良品の光モジュールの特定が可能で、試験信号の正常通過も可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of conducting an IDDS test and debugging in a condition fixed by few pins.例文帳に追加

数ピン程度の固定でＩＤＤＳテストやデバッグを可能とすることができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To move a staple at the head after loading the staple without using a test sheet, in a sheet processing device with staple function.例文帳に追加

ステープル機能付きシート処理装置において、針補充後の針頭出しを、テストシートを用いることなく行う。 - 特許庁

To enable an operation test of a semiconductor device sealed in a package and to downsize the package.例文帳に追加

パッケージ内に封止された半導体装置の動作テストを可能とするとともに、パッケージサイズの小型化を可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of improving the accuracy of an operation test of a second chip.例文帳に追加

第２のチップの動作試験の精度を向上させることができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

An electrically conductive circuit pattern extends between the contact pads of the test device and the contact pads of the printed circuit board.例文帳に追加

導電性回路パターンは、テスト・デバイスのコンタクト・パッドとプリント回路基板のコンタクト・パッドとの間に延びている。 - 特許庁

The loop detection unit determines that a loop has occurred when it has received the test frame that the device including itself transmitted.例文帳に追加

ループ検出部は、自装置から送信された試験フレームを受信したとき、ループが発生したと判定する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR DIAGNOSING TEST OF DEVICE AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

デバイス試験診断システム及びそのデバイス試験診断方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a winding test device capable of detecting a minute insulation defect in the winding.例文帳に追加

被試験巻線内部の微小な絶縁不良部分を検知することのできる巻線試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a smoke detector sensitivity test device for much more accurately testing the sensitivity of a smoke detector.例文帳に追加

煙感知器の感度試験をより正確に行うことのできる煙感知器感度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test learning device expandable ranging over from network learning to a portable network.例文帳に追加

本発明は、ネットワーク学習から携帯式ネットワークまで拡張可能なテスト学習装置を提供すること。 - 特許庁

DEVICE, METHOD, AND SYSTEM FOR IEEE1394 INSPECTION TEST例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４検査試験装置、ＩＥＥＥ１３９４検査試験方法、及びＩＥＥＥ１３９４検査試験システム - 特許庁

To provide a drawing device capable of quickly drawing a test pattern for adjusting alignment, and a drawing method.例文帳に追加

アライメント調整用のテストパターンを高速に描画可能な描画装置、および描画方法を提供すること。 - 特許庁

To test an actual equipment connected to a power distribution system for use, by a space-saving and inexpensive testing device.例文帳に追加

配電系統に接続して使用される実機器を、小スペース，低コストの試験装置で試験できるようにする。 - 特許庁

To provide a test method of an integrated circuit device for improving SPQL, reliability performance, and yield performance.例文帳に追加

ＳＰＱＬ、信頼性性能、歩留まり性能を向上させる集積回路デバイスの試験技法を提供する。 - 特許庁

To provide a device holding a semiconductor chip in a probing condition integrally with a probe card for performing a defect analysis and a burn-in test on a semiconductor integrated circuit in a bear chip condition.例文帳に追加

ベアチップ状態で、半導体集積回路の不良解析やバーンイン試験を可能にする。 - 特許庁

To provide a display device capable of easily discriminating the existence of a defect in a data line on a VI test stage.例文帳に追加

ＶＩテスト段階でデータ線の不良の有無を容易に判別することができる表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an information recording/reproducing device equipped with a tray panel without being deformed even in the case of performing a high temperature test.例文帳に追加

高温試験を行っても変形しないトレイパネルを備えた情報記録再生装置を提供する。 - 特許庁

In this inspection device to be constituted, a test is performed by bringing the probe needle 13 of a probe block 12 into contact with the liquid crystal panel 5.例文帳に追加

液晶パネル５にプローブブロック１２のプローブ針１３を接触させて試験を行う検査装置である。 - 特許庁

In one embodiment, the device is a flushing immunologic assay type for a blood sample under test.例文帳に追加

１つの実施形態において、そのデバイスは、試験する血液サンプルのために流水式免疫アッセイ様式である。 - 特許庁

To provide a mobile wireless device test system for measuring a power loss amount in an RF cable and a connector coupling.例文帳に追加

ＲＦケーブル及びコネクタ結合における電力損失量を測定する移動無線機テストシステムを実現する。 - 特許庁

THERAPY SYSTEM WITH LOW-FREQUENCY CURRENT GENERATOR WHICH IS INTEGRATED WITH THERAPY SYSTEM WITH RAW BLOOD TEST DEVICE USING MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡による生血液検査装置治療システムと一体化の低周波電流発生装置治療システム - 特許庁

To easily position a probe from a tester even for a fine circuit of a device under test.例文帳に追加

被試験装置が小さな回路細部であっても、試験機器からのプローブを容易に位置決めできるようにする。 - 特許庁

To provide a mixed signal LSI tester which can input an analogue signal having proper and arbitrary wave shape, to an under test device.例文帳に追加

適正な任意の波形を有するアナログ信号を被検査デバイスに入力可能なミックスドシグナルLSIテスタを提供。 - 特許庁

A magnetic disk device 10 executes test write before storing system information, and inspects the state of each head.例文帳に追加

磁気ディスク装置１０は、システム情報を保存する前に、試験的にライトを実施し、各ヘッドの状態を検査する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which consumes less power, requires a shortened test time and is miniaturized.例文帳に追加

消費電力が低減され、テスト時間が短縮されると共に、小型化される半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

AUTOMATIC STORAGE FACILITY EQUIPPED WITH TEMPERATURE AND HUMIDITY CONTROL DEVICE FOR BIOLOGICAL TEST MATERIAL, CULTURE, GENE, AND THE LIKE例文帳に追加

生物科学用試験材料、培養物、遺伝子などの温度、湿度制御装置を取り付けた自動保管設備 - 特許庁

To provide an airflow measuring device capable of measuring accurately the quantity of the wind sent out from a test machine.例文帳に追加

供試機から送出される風の風量を正確に測定することができる風量測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of automating determination of an electromagnetic interference wave level and suspension of an experiment of an electrically-operated immunity test.例文帳に追加

電動イミュニティ試験の電磁妨害波レベルの決定と実験の停止を自動化した試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can perform a multi-bit test by which a defective word line can be detected.例文帳に追加

ワード線不良の検出が可能なマルチビットテストを行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a system test device which can reduce a workload for a system designer and obtain a reliable system.例文帳に追加

システム設計者の負担を軽減し、かつ、信頼性の高いシステムを実現することのできるシステムテスト装置を得る。 - 特許庁

To provide a memory system for making test-free a memory device on which an error detection/correction system is loaded.例文帳に追加

エラー検出訂正システムを搭載したメモリデバイスを、テストフリー化することを可能としたメモリシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a test method for rupture strength and durability under an operation condition of a plastic gear, and a device therefor.例文帳に追加

プラスチック歯車の動作状態での破壊強度、耐久性の試験方法及びその試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lubricity test device capable of simulating excellently lubricity of emulsion rolling oil in high-speed rolling.例文帳に追加

高速圧延におけるエマルション圧延油の潤滑性を良好にシミュレ−トできる潤滑性試験装置を得る。 - 特許庁

During the period of reuse, additional use, or test use of the instrument, the operation data are sent to a data acquisition device.例文帳に追加

器具の再使用又は追加の使用やテスト使用の期間中、操作データをデータ取得装置に送信する。 - 特許庁

The priority is set on the test device side in a type-of-service (TOS) area of the header of the packet data.例文帳に追加

優先度は、試験装置側で、パケットデータのヘッダにおけるタイプ・オブ・サービス（ＴＯＳ）の領域に設定される。 - 特許庁

To provide an automatic inspecting device capable of shortening a time required for the power source test of an on-vehicle electronic controller.例文帳に追加

車載電子制御装置の電源試験の時間短縮を実現できる自動検査装置を提供する。 - 特許庁

A mounting table 6, a cooling tube (auxiliary cooling device) 7 and a heating plate 8 are disposed inside of a test tank 2.例文帳に追加

試験槽２の内部に載置台６、冷却チューブ（補助冷却装置）７及び加熱板８が設置されている。 - 特許庁

To increase the number of parallel tests more than hitherto without enlargement of a device or complication of a test program.例文帳に追加

装置の大型化やテストプログラムの複雑化を来たすことなく並列試験個数を従来よりも増大させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which erroneous entry can be easily recognized by a user when a test mode is erroneously entered.例文帳に追加

テストモードが誤ってエントリーされた時にはユーザから容易に認識できる半導体装置を提供するにある。 - 特許庁

This allows the defect of the memory cells to be accurately detected, when the parallel bit test of the semiconductor memory device is performed.例文帳に追加

これにより、半導体メモリ装置の並列ビットテスト時にメモリセルの欠陥を正確に検出することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of testing test elements with high frequency modulation drive.例文帳に追加

高周波変調駆動により被試験素子の試験を行うことができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁