「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(89ページ目) - Weblio英語例文検索

REPLACEMENT JUDGING CIRCUIT FOR REDUNDANT CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY AND SEMICONDUCTOR MEMORY TEST DEVICE INCORPORATING THIS CIRCUIT例文帳に追加

冗長回路への置換判定回路およびこれを含む半導体メモリ装置並びに半導体メモリ試験装置 - 特許庁

By extracting specified traffic patterns, an analysis device can test a packet data path between elements.例文帳に追加

分析装置は、特定のトラヒックパターンを顕在化させることにより、要素間のパケットデータパスをテストすることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which reduces influences of a prober test, which acts on products, and achieves higher reliability.例文帳に追加

プローバーテストの製品への影響をさらに軽減して、より一層信頼性の高い半導体装置を提供する。 - 特許庁

To surely and stably set the test mode of a semiconductor integrated circuit device without depending on the source voltage.例文帳に追加

電源電圧に依存せず、確実に安定して半導体集積回路装置におけるテストモードの設定を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of facilitating a test by arranging input and output data from an outside.例文帳に追加

外部からの入出力データを揃えることでテストを容易にする半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To detect accurately a memory cell having defect in a test stage in a nonvolatile semiconductor memory device.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置において、不具合を有するメモリセルをテスト段階で精度良く検出すること。 - 特許庁

To provide a versatile bending test device for a wire harness allowing bending tests for plural sample in one procedure.例文帳に追加

一度に複数のサンプルの屈曲試験が可能で汎用性のあるワイヤーハーネスの屈曲試験装置を提供する。 - 特許庁

The simulating steering feel system (10) for a vehicle, a test simulator, or an amusement device uses a servo disk motor (14).例文帳に追加

車両用、試験シミュレーター用又は娯楽装置用の疑似操舵感装置（１０）は、サーボディスクモーター（１４）を用いる。 - 特許庁

The device includes a plurality of emitters, corresponding respectively to the plurality of types of the markers on the lateral flow test strip.例文帳に追加

この装置は、ラテラルフロー・テストストリップ上のマーカの複数のタイプにそれぞれ対応する複数のエミッタを含む。 - 特許庁

The read test image is fetched in an equipment management server 600 by the device controller 840 via the network.例文帳に追加

読みこまれたテスト画像が、デバイスコントローラ８４０によりネットワークを介して機器管理サーバ６００に取り込まれる。 - 特許庁

To provide a method for starting the test mode provided to an optical disk device simply and at high speed.例文帳に追加

光ディスク装置に備わる試験モードを単純かつ高速に起動することができる起動方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testpiece collecting device of an electrical discharge machining method to obtain test pieces from the surface of metal components.例文帳に追加

金属構成部品の表面から試料を得るための放電加工式試料採取装置が提供される。 - 特許庁

To suppress an increase in the number of test patterns in each functional block, regarding a semiconductor device which comprises a plurality of functional blocks.例文帳に追加

複数の機能ブロックを有する半導体装置について、各機能ブロックのテストパターン数の増加を抑制する。 - 特許庁

A semiconductor testing device 100 is provided with a tester processor 100, a tester main body 20, and a test head 30.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、テスタプロセッサ１０、テスタ本体２０、テストヘッド３０を含んで構成されている。 - 特許庁

To provide a flash light emission confirming device by which the result of the test light emission of flash can be easily confirmed.例文帳に追加

フラッシュのテスト発光の結果を容易に確認することができるフラッシュ発光確認装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an integrated circuit device equipped with a built-in self-test circuit suitable for testing a multi-port memory.例文帳に追加

マルチポートメモリをテストするのに好適な組み込み自己テスト回路を備える集積回路装置を実現する。 - 特許庁

To reduce a time required for an abnormality detection test of a disk device without recording all written addresses.例文帳に追加

書き込みされた全アドレスを記録することなく、ディスク装置の異常検出試験に要する時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device, of which the inside RAS width is controllable from the outside at the time of a test mode.例文帳に追加

テストモード時、内部ＲＡＳ幅を外部から制御することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To detect deterioration status of heat resistance without removing a semiconductor element to be tested from a test device.例文帳に追加

試験装置から被試験用半導体素子を取り外すことなく熱抵抗の劣化状況を検出できる。 - 特許庁

To determine a mode spectrum of optical characteristics in main state of polarization of a device under test according to spectral parameters.例文帳に追加

被検デバイスの偏光の主要状態の光学特性のモードスペクトルをスペクトルパラメータに従って求めること。 - 特許庁

To shorten time and reduce fuel consumption, in a test for a particulate filter regenerating device.例文帳に追加

パティキュレートフィルタ再生処理装置の検査を行なう際、時間の短縮及び燃料消費量の低減を図ること。 - 特許庁

The collision test for the safety device such as the air bag is accurately carried out without breaking the vehicle, by this manner.例文帳に追加

これにより、車両を破壊することなく、エアーバッグ等の安全装置の衝突試験を正確に再現できる。 - 特許庁

The cleaning member performs the cleaning of the contact part by being transferred to the test device.例文帳に追加

該クリーニング部材は、半導体製造装置によりテスト装置に搬送されることにより、コンタクト部をクリーニングする。 - 特許庁

To provide a model ground degradation device that forcibly influences physical and chemical weathering on a model ground, which corresponds to the period of a centrifugal force loading test, in a reduced time at the centrifugal force loading test.例文帳に追加

遠心力載荷試験時の短縮された時間内にそれに見合った物理的・化学的風化を模型地盤に強制的に作用させる模型地盤劣化装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device in which cause of 'error' of rewritten data is easy to specify, a test of page-latch and a test of a read-out circuit can be completed in a short time.例文帳に追加

書き換えたデータの“誤り”の原因を特定し易く、かつページラッチの試験や、読み出し回路の試験を、短時間で完了させることが可能な半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

In a verification support device 100, test patterns 213 and 214 are generated by a test pattern generation part 201 to execute simulation and an expected value is judged by an expected value judgement part 204.例文帳に追加

検証支援装置１００では、テストパターン生成部２０１により、テストパターン２１３，２１４を生成してシミュレーションを実行し、期待値判定部２０４により期待値判定する。 - 特許庁

To provide a termination circuit that can measure a DUT(Device Under Test) while coping with both connected/disconnected states of the termination resistors of the termination circuit depending on a test condition of the DUT.例文帳に追加

ＤＵＴのテスト条件に応じて、終端回路における終端抵抗の接続／不接続両方の状態に対応させ、ＤＵＴの測定を可能とすることである。 - 特許庁

To provide an endurance test device for seat back fully making possible endurance test performance even if such a strong load that reclines side section from outside into inside is applied.例文帳に追加

サイド部を外側から内側へ倒し込むような強い負荷が加わったような場合にも、十分な耐久試験をすることができるシートバックの耐久試験装置を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor test device 100, information of the number of fails is extracted every time when bit information including a test result is outputted from a comparator, and they are repeatedly added and summed up.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、コンパレータから試験結果を含むビット情報が出力される毎にフェイル数情報を抽出し、これを繰り返し加算して累計する。 - 特許庁

The evaluation test device evaluates a cell for a fuel battery by holding an evaluation test cell (10) between two gas supply pipes (60 and 61) mutually abutted at the pipe openings.例文帳に追加

互いの管口を突き合わせた２本のガス供給管（６０，６１）の間に評価試験セル（１０）を挟み込んで燃料電池用セルの評価を行うための評価試験装置である。 - 特許庁

An evaluation test apparatus comprises a plurality of first buffer amplifiers each applying a test load signal to each of a plurality of external terminals of a device (object to be tested) having the plurality of external terminals.例文帳に追加

評価試験装置は、複数の外付端子を有するデバイス（被試験体）の前記複数の外付端子それぞれに、試験負荷信号を印加する複数の第１のバッファアンプを備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can eliminate the need for a 16-bit data output port for sending out read data for test even when a data bus is a one-way bus and realize a high-speed test.例文帳に追加

データバスが単方向バスであっても試験用のリードデータを送出する１６ビットのデータ出力ポートを不要にでき、高速のテストを実現できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for acquiring a coordinate for inspection of a printed board that can automatically creating a coordinate required for a clip test from a predetermined object disposed in the printed board and can automate the clip test.例文帳に追加

プリント板に設けられた所定の対象物からクリップ試験に必要な座標を自動生成し、もってクリップ試験を自動化できるプリント板検査用座標取得装置を得る。 - 特許庁

To provide a device for performing an elusion test in which it is unnecessary that a sample (formulation) is completely fragmented or dissolved in a filtration cell for continuous and exact progress of a test.例文帳に追加

試験が連続的にかつ正確に進むのにサンプル（剤形）が濾過セル内で完全に崩壊するかまたは溶解する必要のない溶出試験を行うための装置を提供する。 - 特許庁

This measuring device of the deformation behavior has characteristics wherein a test is performed by allowing particles P to adhere to the surface of a test piece S, and deformation between adhering specific particles is measured.例文帳に追加

この変形挙動の測定方法は、試験片Ｓの表面に粒子Ｐを付着させて試験を行い、付着させた特定の粒子間の変位を測定することを特徴とする。 - 特許庁

A reduction data obtaining section 40 reads out reduction logical data to which detail logical data being a test result from a CFM 120 in a semiconductor test device 100 is reduced and obtains it.例文帳に追加

縮小データ取得部４０は、半導体試験装置１００内のＣＦＭ１２０から試験結果としての詳細ロジカルデータを縮小した縮小ロジカルデータを読み出して取得する。 - 特許庁

To provide a driving device of an elevator governor for easily conducting an operation test of the elevator governor and suppressing cost required for the operation test of the elevator governor to be inexpensive.例文帳に追加

エレベータ調速機の動作試験を容易に行うことができ、また、エレベータ調速機の動作試験に要する費用を安く抑えることができるエレベータ調速機の駆動装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which allows acceleration test for a signal line impressed with a certain voltage, at normal times of an ordinary operation mode simultaneously with an acceleration test for a peripheral circuit.例文帳に追加

通常動作モード時に一定の電圧が印加される信号線の加速試験を、周辺回路の加速試験と同時に行なうことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The system for testing the semiconductor device comprises the steps of referring to a table 710 of a test pattern signal, by using a test result of a sample testing unit 110, and outputting testing conditions to a wafer level burn-in testing unit 210.例文帳に追加

サンプルテスト試験装置１１０の試験結果を用いて、テストパターン信号のテーブル７１０を参照し、テスト条件をウェハレベルバーンインテスト試験装置２１０に出力する。 - 特許庁

To provide an air cleaning device and its test system capable of cleaning the air, and executing a leakage test having high precision and reliability on the cleaning state of the air.例文帳に追加

空気を浄化することができ、かつ空気を浄化する状態について精度及び信頼性の高いリークテストを実施することができる空気浄化装置及びその試験システムを提供する。 - 特許庁

To make a tester for outputting a digital signal for test of high frequency unnecessary in a semiconductor device having a DAC, and realize tests in various test modes of high frequency.例文帳に追加

ＤＡＣを有する半導体装置において、高周波のテスト用ディジタル信号を出力するテスタを不要とし、かつ高周波の種々のテストモードでのテストを実現すること。 - 特許庁

To find bonding strength of a semiconductor bump electrode by replacing the attachment for fixing a sample of a bonding strength testing device, which makes full test of a wire bonding and the share test of the wire bonding.例文帳に追加

半導体バンプ電極のボンディング強度を、ワイヤボンディングのプルテスト及びシェアテストを行うボンディング強度試験装置の試料固定用アタッチメントを付け替えることによって可能にする。 - 特許庁

To provide a testing device of existence of cable disconnection and a test method of existence of the cable disconnection capable of testing with high reliability on a neutron detector and a test of existence of the cable disconnection.例文帳に追加

中性子検出器とケーブルの断線有無の試験について信頼性の高い試験ができるケーブル断線の有無試験装置およびケーブル断線の有無試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an environmental test method capable of reproducing an approximately same phenomenon as frost formation generated in a natural world, and to provide an environmental testing device capable of forming frost on a test object.例文帳に追加

自然界で生じる着霜と略同一の現象を再現できる環境試験方法、及び被試験物に着霜させることができる環境試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that executes burn-in test, and facilitates specifying the time of execution of burn-in test, information indicating the quality of a local host.例文帳に追加

バーンイン試験が実施される半導体装置であって、自装置の品質を表す情報であるバーンイン試験の実施時間を特定することが容易な半導体装置を提供する。 - 特許庁