「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(86ページ目) - Weblio英語例文検索

To solve a task of provision of a communication line test device that can test a communication line installed between an exchange of a telephone station and a terminal communication unit as to whether or not the communication line is normal without the need for dispatching the test personnel to the terminal.例文帳に追加

端末側に試験者を派遣しなくても、電話局の交換装置と端末通信機との間に敷設された通信線が正常か異常かを試験することが可能な通信線試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The test piece inserting/removing device 6 allows a test piece 7 to face to each opening 4 through a valve hole 52 of the valve element 51 with its opened state in the auxiliary valve 5 and exposes the test piece 7 to the fluid in the same conditions as those inside the valve casing 1.例文帳に追加

試験片挿脱装置６は、補助弁５における弁体５１の弁開状態で弁体５１の弁孔５２を通して試験片７を各開口４に臨ませて、試験片７を弁箱１の内部と同じ条件で流体に晒すことができる。 - 特許庁

Further, the integrated circuit can include a processor which allows the JTAG test controller to start the at least one test operation based on the reception of at least one test request from the host device via the transceiver.例文帳に追加

更に、該集積回路は、又、該トランシーバを介してホスト装置から少なくとも１個のテスト要求を受取ることに基づいて、該ＪＴＡＧテスト制御器をして該少なくとも１個のテスト動作を開始させるプロセッサを包含することが可能である。 - 特許庁

To provide a spraying corrosion testing device having a hermetically sealing structure by water, capable of preventing mist of corrosive liquid generated in a test tank from leaking to the outside of the test tank, and performing a test excellent in reproducibility and work efficiency in an energy saving state.例文帳に追加

試験槽内で生成させた腐食液のミストが前記試験槽外に漏洩するのを防止し、省エネルギーで、再現性と作業性の優れた試験ができる、水による密閉シール構造を具備した噴霧腐食試験装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain an automatic device for automating a work processing to insert/remove terminal devices from RF connectors of a test specimen in the test specimen having a large number of RF connectors and of shortening time required for manual work in an electrical characteristic test of RF signals.例文帳に追加

多数のＲＦコネクタを有した供試体において、供試体のＲＦコネクタから終端器を抜き差しする作業処理を自動化し、ＲＦ信号の電気特性試験における手作業の所要時間を短縮する自動装置を得る。 - 特許庁

In the test of the semiconductor device, since the clock of the scan chain need not be longer than the cycle of the clock of the pattern generator, increase in the number of the clocks of the pattern generator necessary for the test is avoided, and thereby the test time is avoided from increasing.例文帳に追加

半導体装置のテストにおいて、スキャンチェインのクロックをパタン発生器のクロックの周期よりも長くする必要がないので、テストに必要なパタン発生器のクロック数の増加が回避され、それによりテスト時間が増加するのが回避される。 - 特許庁

The test control logic can be connected to the input pin, and is composed so that a test period is started based on the state of the input pin, and the state of the input pin is stored in a storage device during a test period.例文帳に追加

テスト制御ロジックは、入力ピンに接続することができ、入力ピンの状態に基づいてテスト期間を開始するように構成され、およびテスト期間中に、入力ピンの状態を、記憶デバイスに記録するように構成されている。 - 特許庁

To provide an inspection device and a test method for a rotary electric machine capable of evading the fear of being unable to perform an insulation test under a high voltage since a heavy current flows in a stator coil, when a defect test of the stator is performed in a manufacturing process.例文帳に追加

製造工程におけるステータの不良検査時において、大電流がステータコイル流れるために高電圧での絶縁試験ができないおそれを回避できる回転電機の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which expansion of a test pattern can be performed without changing design of BIST by enabling an operation test in which an address signal supplied from the outside is taken in, in addition to an operation test by BIST.例文帳に追加

ＢＩＳＴによる動作試験に加えて、外部から供給されるアドレス信号を取り込んだ動作試験を可能とすることにより、ＢＩＳＴを設計変更することなく試験パターンの拡充を図り得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.例文帳に追加

マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

This device 10 is provided with a reagent test piece supporting body 22 designed to suport reagent test piece 14 having plural reagent pads 26 containing reagent pads having reagents sensitive to contamination, arranged vertically along the reagent test piece 14.例文帳に追加

装置には、試薬試験片（１４）に沿って縦方向に配置された、汚染に敏感な試薬を有する試薬パッドを含む複数の試薬パッド（２６）を有する試薬試験片（１４）を支持するように設計された試薬試験片支持体（２２）が設けられている。 - 特許庁

As the transfer gate 213 is turned-on responding to a test signal at the time of the device evaluation test, a potential of an output node B1 in an output stage 700 is controlled by applying voltage to the reference node A2 through the pad 401 by a test driver.例文帳に追加

デバイス評価テスト時はテスト信号に応答してトランスファゲート２１３がオンとなるため、パッド４０１を介してテスタドライバで基準ノードＡ２に電圧を印加することで、出力段７００内の出力ノードＢ１の電位を制御する。 - 特許庁

To provide a communication terminal test method and device that reflects time alignment under commercial environment on a test environment, so as to reproduce cases where various relations exist in a distance between a communication terminal to be inspected and a test use pseudo base station.例文帳に追加

商用環境でのタイムアライメントを試験環境に反映させることによって、被検査通信端末と試験用擬似基地局との距離関係が様々な場合を再現し得る通信端末試験方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a tire wear test method and a tire wear testing device capable of appropriately promoting a tire wear test of an inspected tire by preventing the rubber powder shaved from the inspected tire from adhering to the surface of the inspected tire in the tire wear test.例文帳に追加

タイヤの摩耗試験において、被験タイヤから削り取られたゴム粉が被験タイヤの表面に付着することを防止して、被験タイヤの摩耗試験を適正に促進することができるタイヤ摩耗試験方法及びタイヤ摩耗試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an optical measuring device capable of detecting a moving speed of a test piece 3 to change a data sampling interval for a reflected light or a scattered light generated by irradiating the test piece 3 with a measuring light in response to the moving speed of the test piece 3.例文帳に追加

試験片３の移動速度を検知し、試験片３に測定光を照射して発生する反射光または散乱光のデータサンプリング間隔を試験片３の移動速度に応じて変更することのできる光学測定装置を提供する。 - 特許庁

This device is provided with test pins for electrically connecting with an I/V converter at the test time, a switching part for switching pins to the test pins, and switching pins for inputting the switching signal for switching the switching part.例文帳に追加

本装置は、試験時に、Ｉ／Ｖ変換器と電気的に接続する試験ピンと、この試験ピンに、ピンを切り替えて接続する切替部と、この切替部を切り替える切替信号が入力される切替ピンとを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

The test system includes an IC tester for performing a test on a device under test, inputting a trigger signal, and recording the position data of the test program in execution when the trigger signal is input and the oscilloscope for performing waveform observations on the IC tester and outputting the trigger signal to the IC tester.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムにより、被試験対象の試験を行うと共に、トリガ信号を入力し、このトリガ信号入力時のテストプログラムの実行中の位置データを記録するＩＣテスタと、このＩＣテスタを波形観測し、トリガ信号をＩＣテスタに出力するオシロスコープとを備えたことを特徴とするものである。 - 特許庁

A data memory and an analysis part are installed in a test auxiliary device arranged near a test circuit board, and two memory areas are constituted in the data memory, and, while digital test data are stored in one memory area, reading-out for analysis of the digital test data stored beforehand can be executed in the other memory area.例文帳に追加

テスト回路基板の近傍に配置されたテスト補助装置に、データメモリと解析部を設け、データメモリに２つのメモリ区域を構成して、一方のメモリ区域でデジタル試験データの記憶が行われるときに、他方のメモリ区域ですでに記憶されたデジタル試験データの解析のための読み出しを行うようにする。 - 特許庁

A plurality of test patterns is set to a test device 6 of a semiconductor memory, a different test pattern is applied to a plurality of semiconductor memories 1 to be tested, while it is discriminated whether test result output of each semiconductor memory 1 to be tested is in the prescribed tolerance or not.例文帳に追加

半導体記憶装置の試験装置６に複数のテストパターンを設定し、試験装置に接続された複数個の被試験半導体記憶装置１に異なるテストパターンを適用すると共に、各被試験半導体記憶装置１の試験結果出力が所定の許容範囲内にあるか否かを判定するようにした方法。 - 特許庁

When item information, the repeated frequency of test data, etc., are inputted, a form program preparing device 11 prepares form item information defining the items of a form and the repeated frequency of test data, test information consisting of test data in each item and link table information defining a link between plural items.例文帳に追加

項目情報、テストデータの繰り返し件数等を入力すると、帳票プログラ作成装置１１により、帳票の項目とテストデータの繰り返し件数を定義した帳票項目情報と、項目毎のテストデータからなるテスト情報と、項目間のリンクを定義したリンクテーブル情報が作成される。 - 特許庁

This pressure regulating device includes: a cylinder 6 communicated with the test body 2 to which a pressure test is executed, while injecting liquid into the test body 2 filled with the liquid; a piston 7 arranged movably in the cylinder 6, and a load loading means 8 for loading a load on the piston 7 toward the test body 2 side.例文帳に追加

液体が充満している試験体２内に液体を注入しながら耐圧試験が実施される試験体２に連通するシリンダ６と、シリンダ６内に移動可能に配置されたピストン７と、ピストン７に、試験体２側に向かって荷重を負荷する荷重負荷手段８と、を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a clock generation circuit, a semiconductor integrated circuit, and a test device therefor which can prevent a decrease in detection rate and an increase in circuit size, reduce the effect of a multi-cycle path, correctly identify problem parts, and test at a higher frequency even if provided with test objects with different frequencies in a non-scanned cell test.例文帳に追加

非スキャンセルの試験において、検出率低下、回路規模の増大を防止でき、マルチサイクルパスの影響を低減でき、不具合箇所を的確に特定でき、異周波数の試験対象があっても高速側の周波数で試験をすることが可能な、クロック生成回路、半導体集積回路およびその試験装置を提供する。 - 特許庁

When the control information for pulling a subscriber line into a tester is transmitted from the new test reception board system 1B, it is converted by the test command conversion part 62, and a subscriber line test is performed by the tester 10 provided inside a remote housing device 5 by the control of the test connection control part 61.例文帳に追加

新試験受付台システム１Ｂから加入者線を試験器に引き込むための制御情報が送信されると、試験コマンド変換部６２により変換されて、試験接続制御部６１の制御により、遠隔収容装置５内に設けられた試験器１０により加入者線試験が行われることを特徴とする。 - 特許庁

This device is provided with a test pattern generating section generating a test pattern consisting of plural steps, a test pattern applying section, a test deciding section, an address conversion section, and plural expansion fail memory section storing pass/fail map information consisting of plural steps converted by the address conversion section distributing for each step.例文帳に追加

本発明は、複数のステップからなるテストパターンを生成するテストパターン生成部と、テストパターン印加部と、テスト判定部と、アドレス変換部と、該アドレス変換部で変換された複数のステップからなるパス／フェイルマップ情報をステップ毎に振り分けて記憶する複数の拡張フェイルメモリ部とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a compression test device for stably arranging a pedestal member used as the base of a test piece, obtaining a more reliable test result, easily and surely adjusting the position of the pedestal member in a preliminary test, and reducing the workload of a person in charge of testing.例文帳に追加

試験体の土台として使用される台座部材を下部ロッド上に安定配置し得、より信頼性の高い試験結果が得られると共に、予備試験における台座部材の位置調整を容易且つ確実に行うことができ、試験担当者の負担軽減を図り得る圧縮試験装置を提供する。 - 特許庁

The control device checks the condition of the stored boiling-up test operation completing flag when powering on the heating hot water supply part 1, and proceeds to a test operation mode which rejects normal operation input from a user, to execute the boiling-up test operation when the boiling-up test operation completing flag is not in the established condition.例文帳に追加

また、制御装置は、加熱給湯部１の電源が投入されたとき、記憶されている沸き上げ試運転完了フラグの状態を確認し、沸き上げ試運転完了フラグが成立状態ではない場合は使用者からの通常運転入力を受け付けない試運転モードに移行して沸き上げ試運転を行わせる。 - 特許庁

When this device is set at a specific use fire protection target, a test number attached to a fire item whose type approval effectiveness is lost is stored, and a prescribed test number is inputted, and the inputted test number is collated with the stored test number, and the collated result is outputted.例文帳に追加

特定用途防火対象物に設置されると、型式承認の効力を失う消防用品に付与されている検定番号を記憶し、所定の検定番号を入力し、この入力された検定番号と、上記記憶している検定番号とを照合し、この照合した照合結果を出力する。 - 特許庁

This device is provided with a test mode discriminating circuit 26 in which a test mode entry signal TME is activated in accordance with an address key in a WCBR cycle of a first time, and test mode signals TM1-TM4 are selectively activated in accordance with an address key in a WCBR cycle of a second time while the test mode entry signal TME is activated.例文帳に追加

１回目のＷＣＢＲサイクルでアドレスキーに応じてテストモードエントリ信号ＴＭＥを活性化し、テストモードエントリ信号ＴＭＥが活性化されている間に２回目のＷＣＢＲサイクルでアドレスキーに応じてテストモード信号ＴＭ１〜ＴＭ４を選択的に活性化するテストモード判別回路２６を設ける。 - 特許庁

The loading device 30 includes a loading shaft 31 falling by a weight 33 to load the piston 15 with test force and a test force variable mechanism continuously altering the test force by the same weight 33, and the test force variable mechanism includes a power point altering mechanism 35 for continuously altering the position of a power point 34 on which the weight 33 acts.例文帳に追加

負荷装置３０は、錘３３により下降し、ピストン１５に試験力を負荷する負荷軸３１と、同一の錘３３による試験力を連続的に変更する試験力可変機構とを有し、試験力可変機構は、錘３３が作用する力点３４の位置を連続的に変更する力点変更機構３５を有する。 - 特許庁

To provide a variable speed three-point bending impact testing device having a small-sized simple structure, capable of performing a test from a static breaking test up to an impact test at high displacement speed of 20 m/s by one testing machine, and detecting a load behavior, a displacement behavior or the like in a test piece breaking process.例文帳に追加

１台の試験機で静的破壊試験から２０ｍ／ｓといった高変位速度での衝撃試験までを行うことができるとともに、試験片破壊過程における荷重挙動、変位挙動などの検出が可能な、小型かつシンプルな構造の可変速三点曲げ衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.例文帳に追加

テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory test device and its test system in which conditions separation of a test program is controlled without measuring a semiconductor memory actually, skewness correction under an arbitrary condition is performed and correction data are stored, skewness compensation can be performed by only read-out of data when a measurement test is performed actually.例文帳に追加

実際に半導体メモリを測定せずともテストプログラムの条件分離を制御し、任意の条件下のスキュー補正を実施して補正データを保存し、実際に測定試験を実行する際にはデータを読み出すだけでスキュー補正が行える半導体メモリ試験装置、及びその試験方式を提供することである。 - 特許庁

A tester processor 10, when conducting a test consisting of a plurality of test items on a semiconductor device 100, reads failure distribution data including the frequency of failure of each test item from a failure distribution data storage part 12 at first, sets the order of execution of each test item in a decreasing order of failure frequency, and executes each test item in the set order thereafter.例文帳に追加

テスタプロセッサ１０は、半導体装置１００に対して複数のテスト項目からなる試験を行う際に、まずフェイル分布データ格納部１２から各テスト項目のフェイル頻度が含まれるフェイル分布データを読み出して、フェイル頻度が高い順番に各テスト項目の実行順番を設定しており、その後、この設定した順番で各テスト項目を実行する。 - 特許庁

A protocol test device 10 for executing a protocol test for a server or a client on a network comprises determination means 20 for determining whether it must execute the protocol test for the server or client based on the packet input from the server or the client and test execution means 30 for executing the protocol test based on the determination result of the determination means.例文帳に追加

ネットワーク上のサーバまたはクライアントを対象としてプロトコル試験を実行するプロトコル試験装置１０であって、サーバまたはクライアントから入力されたパケットをもとに、サーバの試験を行うべきかクライアントの試験を行うべきかを判定する判定手段２０と、判定手段の判定結果に基づいて試験を行う試験実行手段３０とを備える。 - 特許庁

The test engine is resident in a memory on the wireless device and is operable to collect multimedia test data and, in some aspects, wireless device performance data on the basis of the test configuration and forward the collected data to another device operable to analyze the collected data and generate a multimedia API test report viewable by an authorized user.例文帳に追加

このテスト・エンジンは、無線デバイス上のメモリ中に常駐し、そしてテスト設定に基づいてマルチメディア・テスト・データを収集し、そしてある複数の態様では、無線デバイス性能データを収集するように動作し、そして収集されたデータを解析し認定されたユーザによって見ることができるマルチメディアＡＰＩテスト報告を生成するように動作する別のデバイスに収集されたデータを転送する。 - 特許庁

It is desirable that a step for performing a reinitializing mode while the prescribed defect list existing in DMA of a test disk is removed in the recording/reproducing device by using the test disk having test reference information and generating test information from generated defect management information and a step for comparing reference information predicted by the reference information with test information and supplying a verification result on test information are included.例文帳に追加

テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置にて前記テスト用ディスクのＤＭＡに存在する所定の欠陥リストを除去しつつ再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報を比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階を含むことが望ましい。 - 特許庁

A load at break in deformation of the glass substrate 1 is measured, using the obtained flexural strength test device.例文帳に追加

得られた抗折強度試験装置を使用して、ガラス基板１の変形における破断点荷重を測定する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR IMPLEMENTING IC DEVICE TEST IMPROVED IN SPQL, RELIABILITY, AND YIELD PERFORMANCE例文帳に追加

ＳＰＱＬ、信頼性、および歩留まり性能を向上させたＩＣデバイス試験の実施のための方法および装置 - 特許庁

To provide a remote monitoring device capable of reducing the confirmation test of a telephone line to be periodically performed and cost.例文帳に追加

周期的に行われる電話回線の確認試験及び経費を節減する遠隔監視装置の提供。 - 特許庁

By this method, a group delay within the limit of fixed offset of device under test and chromatic dispersion can be obtained.例文帳に追加

これにより、被測定デバイスの一定オフセットの範囲内までの群遅延と、色分散とを求めることができる。 - 特許庁

To provide a repulsion elasticity-testing device for drastically improving the accuracy in a repulsion elasticity test.例文帳に追加

従来の反発弾性試験の精度を飛躍的に向上可能とした反発弾性試験装置を提供する。 - 特許庁

A facility equipment management device includes a test operation information storage means 66 and a facility position information transmission means 72.例文帳に追加

設備管理装置は、試運転情報記憶手段６６および設備位置情報発信手段７２を有する。 - 特許庁

To provide a device for accurately detecting a liquid level in a test tube 1 without being restricted by use conditions.例文帳に追加

使用条件に制限を受けることなく、試験管１内の液面を正確に検知する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit device which can test many integrated circuits concurrently, and at the same time has a low-cost structure.例文帳に追加

多数の集積回路が同時に試験できると同時に低コスト構造の回路装置の提供を可能にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a controlling method thereof capable of executing a performance limit test for a tRP period.例文帳に追加

ｔＲＰ期間の性能限界試験を実行可能な半導体装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁