「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(83ページ目) - Weblio英語例文検索

To supply lubricant to a bearing device on the side of a driver at unit test of a main electric motor.例文帳に追加

主電動機の単体試験時に、駆動装置側の軸受装置への潤滑油の供給を可能とする。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING FLUID TEMPERATURE IN DRIVE SYSTEM PERFORMANCE TEST OF INTERNAL COMBUSTION ENGINE例文帳に追加

内燃機関の駆動系性能試験における流体温度調整方法及び流体温度調整装置 - 特許庁

To easily acquire highly-accurate various operation data in a tunnel excavator model test method and a device.例文帳に追加

トンネル掘削機模型試験方法及び装置において、容易に高精度な各種の運転データを求める。 - 特許庁

The enhanced mechanism is arranged between the probe card and the test device so that the probe card is pressed against the enhanced mechanism.例文帳に追加

強化機構が、プローブカードをそれに押し付けるため、プローブカードおよびテスト装置間に配置される。 - 特許庁

To provide a device for generating a scan path circuit for shortening a time required for a scan test.例文帳に追加

スキャンテストに要する時間を短縮することができるスキャンパス回路を生成する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which makes it possible to properly review wafer test conditions in a short time.例文帳に追加

ウェハテスト条件の見直しを短時間で適切に行なうことが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To perform the data read test of a disk array device without an influence upon the I/O operation of a host computer.例文帳に追加

ホストコンピュータのＩ／Ｏ動作に影響を及ぼすことなくディスクアレイ装置のデータ読み出しテストを行う。 - 特許庁

To provide an aberration measuring device measuring various test optical systems in a wide wavelength region.例文帳に追加

多様な被検光学系を幅広い波長領域で測定できる収差測定装置を提供する。 - 特許庁

The wafer ring having been tested is conveyed by a conveying device 22 from the test section 26 to a selection section 24.例文帳に追加

試験済みのウェハーリングは搬送装置２２によって試験区２６から選別区２４に搬送される。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device in which an operation test for a spare memory cell can be efficiently performed.例文帳に追加

スペアメモリセルに対する動作テストを効率的に実行可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide an emulation circuit with simplified circuit/device structure to create an LSI test program(TP).例文帳に追加

ＬＳＩテストプログラム（ＴＰ）を作成するための回路・装置構成簡易化したエミュレーション回路を提供する。 - 特許庁

To provide a synchronous type semiconductor memory device in which a test can be performed using a low speed tester.例文帳に追加

低速なテスタを用いてテストを行うことが可能な同期型の半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A test auxiliary device (BOST device) is disposed near a test circuit board for giving and receiving a signal to and from the semiconductor integrated circuit to be tested, and the testing D/A converter circuit and testing A/D converter circuit of the test auxiliary device, a measurement data memory and an analyzing part are respectively mounted on separate circuit boards.例文帳に追加

被試験半導体集積回路と信号のやり取りを行うテスト回路基板の近傍にテスト補助装置（ＢＯＳＴ装置）を設け、このテスト補助装置の試験用Ｄ／Ａ変換回路と試験用Ａ／Ｄ変換回路と、測定データメモリと、解析部とをそれぞれ別の回路基板に搭載する。 - 特許庁

FRACTURE TOUGHNESS CHARACTERISTIC EVALUATING METHOD AND DEVICE FOR NON-HOMOGENEOUS MATERIAL CT TEST PIECE例文帳に追加

非均質材ＣＴ試験片の破壊靭性特性評価方法および破壊靭性特性評価装置 - 特許庁

ENVIRONMENT CREATION SUPPORTING DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR CONDUCTING MODEL TEST例文帳に追加

モデル検査実施のための環境生成支援装置、環境生成支援方法、環境生成支援プログラム - 特許庁

A parent metal outer surface detection device 4 detects the position of the test subject outer surface from the section image.例文帳に追加

母材外表面検出装置４は、断面画像から被検体外表面の位置を検出する。 - 特許庁

To provide a dedicated reading device using a test piece capable of measuring multiple samples in a short time.例文帳に追加

短時間で複数の試料を測定できる試験片を用いる専用の読み取り装置の提供。 - 特許庁

An operation indicating part 1e instructs start of test object operation by the movable part 2a to a device 2 to be tested.例文帳に追加

動作指示部１ｅは、被試験装置２に可動部２ａによる試験対象動作の開始を指示する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ACQUIRING IMAGE OF TEST SAMPLE OF BIOLOGICAL ORIGIN USING OPTICAL IMAGING MEANS例文帳に追加

生物由来の被験試料の画像を、光学的結像手段を用いて取得する方法及び装置 - 特許庁

The transmitter 30 receives the test result data created by the automatic testing device 20 and transmits it.例文帳に追加

送信機３０は、自動試験装置２０が生成した試験結果データを受け取ってそれを送信する。 - 特許庁

To execute a test for checking the functions of a programmable controller in a plant monitor and control device only by one operator.例文帳に追加

プラント監視制御装置におけるプログラマブルコントローラの機能確認試験を、１人で実施可能にする。 - 特許庁

To provide a high-temperature corrosion testing device that conducts a precise corrosion test and has superior durability.例文帳に追加

精度のよい腐食試験が可能でしかも耐久性に優れた高温腐食試験装置を提供する。 - 特許庁

(f) Basic methods of handling, maintenance, and test of electronic accessory, electric accessory, and radio communication device 例文帳に追加

ヘ　電子装備品、電気装備品及び無線通信機器の取扱い、整備方法及び検査方法の基礎 - 日本法令外国語訳データベースシステム

A test carrier signal is attenuated by a first attenuator 114 and subsequently transmitted to a center device 10.例文帳に追加

テストキャリア信号は第１アッテネータ１１４によって減衰された後センター装置１０に送信される。 - 特許庁

Then, the magnetic disk device 10 stores inspection results in a test write result table 12a of a RAM 12.例文帳に追加

そして、磁気ディスク装置１０は、検査の結果をＲＡＭ１２の試験ライト結果テーブル１２ａに記憶する。 - 特許庁

To provide a visual target presentation device realizing a highly precise binocular vision test in a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で精度良く両眼視機能検査を実現できる視標呈示装置を提供すること。 - 特許庁

The relaying device 11 is provided with a test use connection terminal 15, to inspect the sensor 18.例文帳に追加

中継器１１には、試験用の接続端子１５が設けられ、センサ１８の点検を行うことができる。 - 特許庁

A control rod friction measurement test device 28 is connected to communicate with a hydropressure control unit 19.例文帳に追加

水圧制御ユニット１９と連通するように制御棒摩擦測定試験装置２８を接続する。 - 特許庁

A recessed fitting part for positioning the test boring device 1 in the horizontal direction on the ground E by pressing the test boring device against a side face part of the cylindrical member 81 for positioning in the horizontal direction while fitted into the side face part of the cylindrical member 81 is formed on a pedestal 3 of the test boring device 1 for drilling hole in the ground E.例文帳に追加

位置決め用筒状部材８１の側面部に嵌合させた状態で該側面部に水平方向に押し当てて試錐装置１の地面Ｅに対する水平方向の位置決めを可能とする凹形状の嵌合部を、地面Ｅに穴を穿つための試錐装置１の台座３に形成する。 - 特許庁

An address/data generator 9, a buffer 10 and a command generator 11 are provided in a memory test device.例文帳に追加

メモリテスト装置には、アドレス／データ発生器９、バッファ１０、およびコマンド発生器１１が設けられている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a test mode for a user can be easily set by using a tester.例文帳に追加

テスタを用いてユーザ用のテストモードを容易に設定することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

ADHESION RESISTANCE TEST METHOD TO SEALED LIQUID OF RUBBER COMPOUND PRODUCT FOR SEALING LIQUID, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

液体密封用ゴム複合製品の密封液体に対する接着耐性試験方法およびその装置 - 特許庁

A second switch (55) routes a signal from the optical device to be tested to a test signal output port (26).例文帳に追加

第２のスイッチ（５５）は被試験光学装置からの信号を試験信号出力ポート（２６）に導く。 - 特許庁

To provide an in-line direct connection boost water supply device easily conducting a performance test at a low cost.例文帳に追加

低コストで、簡易に性能試験を行うことができる直結型増圧給水装置を提供すること。 - 特許庁

A control unit 11 of a test device 1 outputs a signal for controlling testing of an integrated circuit 6.例文帳に追加

テスト装置１の制御部１１は、集積回路６のテストを制御するための信号を出力する。 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING PATTERN FRAME, METHOD FOR COLLATING TEST PATTERN, METHOD FOR TESTING JITTER, COMMUNICATION DEVICE, AND COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

パターンフレーム生成方法およびテストパターン照合方法、並びにジッタテスト方法、通信装置、通信システム - 特許庁

ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC TESTING DEVICE HAVING THE SAME, AND ULTRASONIC TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

超音波探触子並びにこれを有する超音波試験装置及びこれを用いた超音波試験方法 - 特許庁

To monitor a current flowing to a device to be measured, even in tests which are other than a test for measuring current consumption.例文帳に追加

消費電流を測定する以外の試験でも被測定デバイスに流れる電流を監視する。 - 特許庁

To provide a testing system capable of carrying out a motion test of a relief valve of a pressure rise supply device.例文帳に追加

昇圧供給装置のリリーフ弁の動作試験を行うことができる試験システムを提供すること。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DETECTING CHANGE OR DAMAGE TO PRESSURE VESSEL DURING OR AFTER PRESSURE TEST例文帳に追加

圧力テスト中またはテスト後の圧力容器の変化または損傷の検出装置と検出方法 - 特許庁

The rotational drive device 17 drives the rotation of a main axis 2 fastening the inner wheel of the test bearing 1.例文帳に追加

回転駆動装置１７は、供試軸受１の内輪を嵌合させた主軸２を回転駆動する。 - 特許庁

To provide a switching power supply device which passes an overload test and meets safety standards with a simple structure.例文帳に追加

簡単な構造で過負荷試験に対応し安全規格に適合したスイッチング電源装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a test circuit of a little power consumption at the time of normal operation.例文帳に追加

通常動作時において消費電力の少ないテスト回路を有する半導体装置を提供する - 特許庁

To provide a semiconductor device which carries out a contact test without erecting a probe needle on all pads.例文帳に追加

全パッドにプローブ針を立てなくとも、コンタクトテスト行うことのできる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image-forming device capable of easily conducting a boundary scan test at a place where it is installed.例文帳に追加

設置された場所で、容易にバウンダリスキャンテストが行える画像形成装置を提供することである。 - 特許庁