「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(80ページ目) - Weblio英語例文検索

In this device, when a test image for fixing is formed on a recording body (S1), a required toner fixing quantity is calculated by a central control part from test image data acquired at S3 (S4).例文帳に追加

記録体Ｓ上に定着テスト画像Ｔが作成されると（Ｓ１）、統括制御部５４は、Ｓ３で得たテスト画像データからトナー要求付着量を算出する（Ｓ４）。 - 特許庁

To provide a test plan preparation device capable of preparing and changing the test plan of software in which a release schedule of each function is different with little labor and time.例文帳に追加

機能毎のリリース日程が異なるソフトウエアのテスト計画を、少ない労力と時間で作成および変更することができるテスト計画作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an operation synthesis device and a method, and a program, for generating a test bench in which a same test vector can be used in an action simulation and an RTL simulation.例文帳に追加

動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a unit test support device and a program therefor achieved in a function to automatically generate a minimum required test program when a stub is replaced with an actual program.例文帳に追加

スタブを実プログラムに置き換えた際に最低限必要となるテストプログラムを自動生成する機能を実現した単体テスト支援装置およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a display device having improved heat resistance, improved impact resistance and bending resistance that passes falling-ball test and bending test, and having improved reliability.例文帳に追加

本発明は、耐熱性の向上および落球試験や曲げ試験をクリアできる、耐衝撃性、耐曲げ性の向上を図り、信頼性を向上させた表示装置を提供する。 - 特許庁

An inspection test result retrieval database 7 provided in the device 6 retrieves the product inspection results while relating the results to the inspection test result number.例文帳に追加

検査成績書記憶装置６に具備された検査成績書検索データベース７によって検査成績書番号に関連づけて製品検査結果の検索が行われる。 - 特許庁

To provide an image reading apparatus capable of easily creating calibration data of a correction circuit only by setting a test chart to a device even in any sized test chart.例文帳に追加

どのようなサイズのテストチャートであっても、単にテストチャートを機器にセットするのみで容易に補正回路の較正データを作成することができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which damage of terminals due to a test in a wafer state can be reduced and a time required for a test can be shortened.例文帳に追加

ウエハ状態における検査による端子の損傷を低減することができ、検査に要する時間を短縮することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

A test emulation part 140 operates a device test program 112 to be an object to be debugged under the operating system of a general-purpose computer, and a semiconductor testing apparatus is constituted in a pseudo manner.例文帳に追加

テスタエミュレート部１４０は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。 - 特許庁

To provide an electronic device excellent in reliability, which can start to general operation even during abnormal stoppage of a test for starting, by automatically restarting the test.例文帳に追加

起動に際してのテストが異常停止した場合でも、そのテストを自動的に再開して通常動作に入ることができる信頼性にすぐれた電子機器を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of performing a tRCD test adapted to the reduction in time between command inputs even when the test employs a memory testing apparatus inoperable for a high speed clock.例文帳に追加

高速なクロックで動作できないメモリ試験装置を用いる場合でも、短縮化に対応したｔＲＣＤ試験を可能にする半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To perform test more precisely in the test device for testing both or either of a control model and the control program created based on its control model.例文帳に追加

制御モデル及びその制御モデルをもとに作成される制御プログラムの両方又は一方を検査する検査装置において、検査をより精密に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can reduce a circuit size by simplifying a constitution concerning test function while keeping advantages such as a real time test.例文帳に追加

リアルタイムテストなどの利点を維持しながら、テスト機能に係る構成を簡略化して回路規模を縮小することができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

In addition, the provision of the selector in which the ratio between the signal wire and the test stub wiring is N:1 enables obtaining a laminated semiconductor device in which the number of test signal pins is reduced.例文帳に追加

さらに信号線とテスト用スタブ配線との比をＮ：１とするセレクタを設けることでテスト用信号ピンを削減した積層半導体装置が得られる。 - 特許庁

When a parallel test in a semiconductor memory device is performed, write data is held in a dedicated latch circuit by using a command dedicated to the parallel test prior to issuing a WRITE command.例文帳に追加

半導体記憶装置のパラレルテスト実施時は、ＷＲＩＴＥコマンドの発行に先立ちパラレルテスト専用のコマンドにより書き込みデータを専用のラッチ回路に保持しておく。 - 特許庁

A DC unit 3 performs a DC test (DC current precision test) for measuring the output voltage, current applied voltage, and voltage applied current of the measured device 2.例文帳に追加

ＤＣユニット３は、被測定デバイス２の出力電圧測定，電流印加電圧測定及び電圧印加電流測定を行うＤＣテスト（直流精度試験）を行う。 - 特許庁

The device test program is constituted of a program 12 described in general-purpose programming language and a program 13 described in programming language exclusive for semiconductor test.例文帳に追加

デバイステストプログラムは、汎用プログラミング言語で記述されたプログラム１２と、半導体試験用の専用のプログラミング言語で記述されたプログラム１３によって構成されている。 - 特許庁

After correction, the lens shape measuring device 1 scans the surface and the back of the test lens 20 with laser light, and measures the external shape of the test lens 20.例文帳に追加

そして、レンズ形状測定装置１は、この補正の後、被検レンズ２０の表面、および裏面をレーザ光で走査し、この被検レンズ２０の外形形状を測定する。 - 特許庁

To provide system and method which can generate signals for testing optical device at a time in a plurality of remote test stations to simultaneously test a plurality of optical devices.例文帳に追加

遠く離れた複数の試験局において光学装置を試験するための信号を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験することができるようにする。 - 特許庁

A communication signal conversion circuit for signal processing between each test device and a test board is provided, whereby a plurality of wafer dies can be simultaneously and correctly inspected.例文帳に追加

各試験装置とテストボードとの間の信号処理を行う通信信号変換回路とを備えたことにより、複数のウエハダイを同時に正確に検査することができる。 - 特許庁

The device 22 reciprocates the work carriage 42 or 43 carrying the work 2 between a first position taking in/out to the test machine from its side and a work processing position in the test machine.例文帳に追加

装置22は、ワーク２が載置されたワーク台車42又は43を試験機にその側方から出し入れする第１位置と試験機内のワーク処理位置とにわたって往復移動させる。 - 特許庁

To provide a database for designing an integrated circuit device in which a test strategy is stored at a state that it can be optimized and a designing method to optimize the test strategy.例文帳に追加

テスト戦略を最適化しうる状態で格納した集積回路装置の設計用データベース及びテスト戦略を最適化するための設計方法を提供する。 - 特許庁

A leak test device 50 having a plurality of workpiece capsules 52, and a tracer gas detector connected to the workpiece capsules performs a fine leak test of workpieces in the workpiece capsules 52.例文帳に追加

リークテスト装置５０は、複数のワークカプセル５２と、これらワークカプセルに接続されるトレーサーガス検出器を有し、ワークカプセル５２内のワークの微小漏れ検査を行う。 - 特許庁

For testing an elevator system 10, the test weight conveying device 20 loads a test weight 14 while hoisting it from a floor surface 6, and conveys it toward a car 14.例文帳に追加

エレベータシステム１０のテストのため、テストウェイト運搬装置２０はテストウェイト１４を床面６から引き上げた状態で積み込み、乗りかご１４に向かって運搬される。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a carbon dioxide recovery system, by which more useful data are acquired for the practical application of a carbon dioxide recovery system.例文帳に追加

二酸化炭素回収システムの実用化に向けてより有用なデータを取得することができる二酸化炭素回収システムの試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

A communication test signal is output to the output terminal, read by the diagnostic device 3, and is compared with a tolerance bandwidth transition so as to test a communication function.例文帳に追加

通信検査信号が出力端子へ出力され診断装置３によって読み込まれて、通信の機能を検査するため許容差帯域推移と比較される。 - 特許庁

To provide a Pachinko game machine of third class which can output a test signal so that the operation of the game machine can correctly be confirmed in a test device, or the like.例文帳に追加

試験装置等において正確に遊技機の動作確認を行えるように試験信号を出力することができる第３種パチンコ遊技機を提供する。 - 特許庁

To provide a pile driver equipped with a dynamic load test device capable of performing a load test within a short time and improving efficiency as well as the reduction of a cost by using a function of a pile driver body.例文帳に追加

杭打ち機本体の機能の利用により、載荷試験を短時間に行い、能率向上とコストダウンを図った動的載荷試験装置を備えた杭打ち機の提供。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit device is provided with a cache BIST controller 204 for performing the function test of a cache memory including a function test unique to a cache memory, and for diagnosing the defective part of the cache memory 202.例文帳に追加

キャッシュメモリ固有の機能テストを含めたキャッシュメモリの機能テストを実行しキャッシュメモリ２０２の不良個所を診断するキャッシュＢＩＳＴコントローラ２０４を設ける。 - 特許庁

This diagnostic kit for measuring the characteristic of the fluid sample is provided with a device for measuring a test strip and a characteristic of the test strip.例文帳に追加

一定の流体サンプルの特性を測定するための一定の診断キットが一定の試験片および当該試験片の一定の特性を測定するための装置を備えている。 - 特許庁

To provide a large-size tested object test device capable of measuring a maximum surface temperature of a large-size tested object, in an environment temperature test of an optical module.例文帳に追加

光モジュールの環境温度試験において、大型の被試験物の最高表面温度を測定できることができる大型の被試験物試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a control system, for a test system, in which a plurality of test systems containing respective objects to be measured are tested in parallel so as to be measured efficiently by a measuring device.例文帳に追加

それぞれ被測定物を含む複数の試験システムを並行して試験して、測定器により効率的に測定する試験システムの制御方式を提供する。 - 特許庁

To provide a power train testing device and method which can easily test a test piece of a power train under various road disturbance environments.例文帳に追加

本発明は、パワートレーン系試験装置及び試験方法に関し、様々な路面外乱下で行うパワートレーン系の供試体の試験を簡易に実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a behavioral synthesis device and method, and program, for generating a test bench in which the same test vector can be used in an action simulation and an RTL (register transfer level) simulation.例文帳に追加

動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a sobriety test device capable of accurately detecting an alcohol drinking of divers and reducing a burden of the driver during sobriety test.例文帳に追加

精度良く運転者の飲酒を検知することができると共に、飲酒検知時における運転者の負担を低減させることができる飲酒検知装置を提供する。 - 特許庁

To provide a torsion testing device capable of applying torsional stresses to a test piece, using a servo motor and applying a torsional load to the test piece at high frequency.例文帳に追加

サーボモータを用いて試験片にねじり応力を加え、且つ、高い繰り返し速度でねじり荷重を試験片に加えることができるねじり試験装置を提供する。 - 特許庁

To cope with increase of the number of test ICs testable in one period and the number of input/output pins of the test ICs without increasing the number of channel circuits of a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置のチャンネル回路数を増設せずに、一時期に試験可能な被試験ＩＣ数、被試験ＩＣの入出力ピン数の増加に対応すること。 - 特許庁

To provide a gas analysis test apparatus capable of adjusting the temperature of the test gas to a predetermined value in a short time, and a reaction device used therefor.例文帳に追加

本発明は短時間に所定温度に試験用ガスを調温できるガス分析試験装置及びそれに使用する反応装置を提供することを解決すべき課題とする。 - 特許庁

To provide a device and a method for fabrication of a semiconductor wafer test MAP chart which fabricates a MAP chart by which an user can recognize the test result of a chip on a wafer visually.例文帳に追加

使用者がウエハ上のチップのテスト結果を視覚的に認識できるＭＡＰ図を作成する半導体ウエハテストＭＡＰ図作成装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The internal stress measuring device also comprises a calculation section having an expression for correcting the material and structure of the resin test strip and a test strip restricting section such as the clamp based on a load value acquired from the load cell.例文帳に追加

ロードセルから得られた荷重値から、樹脂試験片とクランプなどの試験片拘束部の材質と構造を補正する式が設けられた計算部を有する。 - 特許庁

To provide a mixing test evaluation device and a method for determining the place of a mixed interface formed in a mixing test, and evaluating physical properties at each place.例文帳に追加

混合試験において形成される混合界面の場所を確定し、各場所における物性を評価する混合試験評価システム装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for a temperature test having suitable controllability and operability for a temperature needed from a normal temperature to a high temperature region, which is small-sized and low-priced in the temperature test.例文帳に追加

温度試験において、必要な常温から高温領域の温度を制御性および操作性がよく、小型で安価な温度試験用半導体装置を提供する。 - 特許庁

CONNECTION TESTING APPARATUS FOR COMMUNICATION DEVICE, CONNECTION TEST SOFTWARE, COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM WITH THE SOFTWARE STORED THEREON, CONNECTION TESTING METHOD AND CONNECTION TEST COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

通信装置の接続試験装置、接続試験ソフトウエア、該ソフトウエアを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、接続試験方法及び接続試験コンピュータシステム - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device and its test method permitting timing control at high accuracy and improving failure detection rate by fewer test patterns.例文帳に追加

高い精度でのタイミング制御を可能にしつつ、少ないテストパタンにより故障検出率の改善を図った半導体集積回路装置とテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test result generating part 39 generates a test result based on information received from the information communication device to be verified and information received from the traffic generator.例文帳に追加

そして、テスト結果生成部３９は、検証対象の情報通信機器から受けた情報とトラフィックジェネレータから受けた情報とに基づいてテスト結果を生成する。 - 特許庁