「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(79ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test circuit by which a delay characteristic of a semiconductor device can be measured correctly without being influenced by the load of a wiring to connect the semiconductor device as a test object to an LSI tester.例文帳に追加

テスト対象の半導体装置とＬＳＩテスターとを接続する配線の負荷に影響されることなく、半導体装置の遅延特性を正しく測定することができるテスト回路を提供すること。 - 特許庁

An apparatus for concentrating the test water is composed of a water-permeable semipermeable membrane device 1 for concentrating the test water, a tank 2 for reserving the highly osmotic material, and a water-permeable semipermeable membrane device 3 for concentrating the highly osmotic material.例文帳に追加

検水濃縮用の透水性半透膜装置１と、高浸透圧物質貯留タンク２と高浸透圧物質濃縮用の透水性半透膜装置３とで構成される検水の濃縮装置。 - 特許庁

To provide a testing process and a testing program capable of facilitating a single operation confirmation test of a nuclear power plant control device and an operation confirmation test combined with another control device actual machine.例文帳に追加

原子力発電プラント制御装置の単体での動作確認試験、及び他の制御装置実機と組合せた動作確認試験が容易となる試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

FAILURE LIST AND TEST PATTERN PREPARATION DEVICE, FAILURE LIST AND TEST PATTERN PREPARATION METHOD, FAILURE LIST PREPARATION AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION DEVICE, AND FAILURE LIST PREPARATION AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION METHOD例文帳に追加

故障リスト及びテストパターン作成装置、故障リスト及びテストパターン作成方法、故障リスト作成及び故障検出率算出装置、及び故障リスト作成及び故障検出率算出方法 - 特許庁

To provide a drain pipe blocking device for a leakage test, allowing the blocking device to be easily inserted even into a narrow insertion port after installation of terminal devices for implementation of an air-filling type leakage test.例文帳に追加

端末機器の取付後の狭い挿入口であっても容易に閉塞具を挿入して満空式の漏洩試験を実施可能とした排水管の漏洩試験用閉塞具を提供すること。 - 特許庁

To provide an estimation test apparatus for a semiconductor device capable of executing an accurate estimation test in a short time by automating a series of processes from a baking process for the device to weight measurement.例文帳に追加

デバイスのベーキング処理から重量測定までの一連の処理を自動化し、短時間で且つ正確な評価試験を行うことのできる半導体デバイスの評価試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device capable of detecting an open failure without increasing a test cost, a semiconductor tester for testing this semiconductor device, and a semiconductor test system using this semiconductor tester.例文帳に追加

テストコストを増大させることなく、オープン不良を検出することができる半導体装置、これを試験するための半導体テスタおよびこの半導体テスタを用いた半導体テストシステムを実現する。 - 特許庁

To realize an access timing desired by an operator by varying the timing of access to a file device by a device driver, in a testing device for file device and a test method in the file device testing device.例文帳に追加

本発明はファイル装置の試験装置及び該ファイル装置の試験装置における試験方法に関し、デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを可変にすることで、オペレータが意図したアクセスタイミングを実現する。 - 特許庁

To provide a virtual tape device including a RAS test tool for verifying the operation of a device comprising a plurality of components such as the virtual tape device by program without manual operation, and to provide a test method thereof.例文帳に追加

仮想テープ装置のように複数コンポーネントにて構成される装置の動作検証を人手を介することなく、プログラムにて無人実行できるＲＡＳ試験ツールを含んだ仮想テープ装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in board from which the mounted state of a semiconductor device can be confirmed easily before impressing a voltage for burn-in test upon the device even when the device has no input protective circuit, and to provide a method for burn-in test.例文帳に追加

入力保護回路を持たない半導体デバイスであっても、バーンインの試験用電圧を印加する前に半導体デバイスの装着状態を容易に確認することができるバーンインボードおよびバーンイン試験方法を提供する。 - 特許庁

This test device capable of performing the environment temperature test of the large-size tested object can be realized by equipping, to a thermostat 20, a non-contact temperature measurement device 36 and a control device 37 analyzing a measurement temperature to control a temperature inside the thermostat.例文帳に追加

恒温槽２０に非接触温度測定器３６と、測定温度を分析し恒温槽内の温度を制御する制御機器３７とを備えることで、大型の試験物の環境温度試験が行える試験装置を実現できる。 - 特許庁

In another aspect, the semiconductor memory device includes a test circuit for generating leakage current having the amount of current equal to that of operation current during the operation of the semiconductor memory device when a test mode is activated and the semiconductor memory device is in a standby state.例文帳に追加

また、他の発明は、テストモードが活性化し、半導体メモリ装置のスタンバイ状態時、前記半導体メモリ装置の動作時の動作電流と同一の電流量を有する漏れ電流を発生させるテスト回路を含む。 - 特許庁

To provide a failure analysis system which is capable of indicating the fault circuits of a semiconductor device on physical coordinates resting on a test result obtained through a semiconductor test device and making a user easily judge the features of the defective circuits of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体試験装置の試験結果に基づく半導体デバイスの故障回路を物理座標上に表示し、ユーザが半導体デバイスの不良の特徴を容易に判断できるようにする不良解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for predicting deterioration of a semiconductor device in a short period of time and and a method for predicting deterioration of a semiconductor device with high accuracy by finding a correlation between deterioration prediction of an actual semiconductor device and a DC (Direct Current) stress test method for a simple body TEG (Test Element Group).例文帳に追加

本発明により、実際の半導体装置の劣化予測と単体ＴＥＧのＤＣストレス試験法との相関を求めることにより、短時間で半導体装置における劣化予測を行う方法を提供する。 - 特許庁

In a measurement system using a test piece capable of measuring concentration of an analyte in blood having a whole blood of ≤10 ul and a compact measuring device, the power of the measuring device is turned on by inserting the test piece to the measuring device.例文帳に追加

全血１０ｕｌ以下で血液中の分析対象物濃度を測定可能な試験片と、小型の測定装置を用いた測定方法であり、測定装置に試験片を挿入することで測定装置の電源が入る。 - 特許庁

To inexpensively realize a high performance head inspection by providing a dynamic electric test part and a static electric test part to which an external magnetic field can be applied in an electric tester in a magnetic head inspection device mounting a recording device and a magnetoresistive reproducing device.例文帳に追加

記録素子と磁気抵抗効果再生素子を搭載した磁気ヘッドの検査装置として、エレキテスター内に動的エレキテスト部と外部磁界印加可能な静エレキテスト部を備え、ヘッドの高性能検査を安価に実現する。 - 特許庁

The wafer is provided with a test signal supply line for supplying a semiconductor device of a semiconductor chip with the test signal and a signal output line for outputting an output signal of the semiconductor device to an adjacent semiconductor device.例文帳に追加

ウエハに、各半導体チップの半導体装置へテスト信号を供給するテスト信号供給ラインおよび各半導体装置の出力信号を隣接する半導体装置へ出力する信号出力ラインを形成する。 - 特許庁

To provide a device and a system that are effective when selection of the test mode of an information communication device to be tested is required in the house test for the information communication device comprising e.g. a central processing section, a storage section, a communication control section and a peripheral control section.例文帳に追加

たとえば中央処理部、記憶部、通信制御部、周辺制御部から構成される情報通信機器の社内試験等を行う際に、機器の試験モード切替えが必要な場合に有効な装置、方式を提供する。 - 特許庁

In a test pattern load device 30, the test patterns to be executed are divided into a size storable in the memory 11 for storing the test patterns and stored in parallel and horizontal directions in the memory 11 for storing the test patterns, and test program information indicating the location of storage and division information on the number of divisions etc. are reported to a verification processing part 13.例文帳に追加

テストパターンロード装置３０で、実行すべきテストパターンを、テストパターン格納用メモリ１１に格納可能なサイズに分割してこれをテストパターン格納用メモリ１１の水平方向並列に格納すると共に、その格納位置を表すテストプログラム情報及び分割数等の分割情報を検証処理部１３に通知する。 - 特許庁

This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware.例文帳に追加

テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。 - 特許庁

In the house apparatus A, a CPU 21 has a function as a detecting means of detecting whether the test means 35 receives the test signal within a previously set test time after sending out the test signal, and reporting that a contact of a relay constituting the transmission line to the voice communication device 1 has abnormality when the test signal is not received.例文帳に追加

住戸機Ａは、試験手段３５が試験信号を送出した後、予め設定されている試験時間に試験信号を受信したか否かを検出し、試験信号を受信しなかった場合には、通話装置１との間の伝送線路を構成するリレーの接点に異常があることを通知する検出手段としての機能をＣＰＵ２１に有する。 - 特許庁

A CPU 61 of a sound field support device 40 outputs test sound into a sound field 1, obtains a test signal which is a signal of the test sound itself and a response signal which is a collection signal of response sound of the test sound in the sound field 1, and calculates a simplified amplitude characteristic R'(ω) based on difference of power spectrums between the test signal and the response signal.例文帳に追加

音場支援装置４０のＣＰＵ６１は、音響空間１へテスト音を放射させ、そのテスト音そのものの信号であるテスト信号と、音響空間１におけるそのテスト音の応答音の収音信号である応答信号とを取得し、テスト信号と応答信号のパワースペクトルの差を基に簡略振幅特性Ｒ’（ω）を算出する。 - 特許庁

A test card 33 loaded on a slot instead of a storage device loaded on a slot generates test data, and transmits the generated test data to an interface board 30, and receives response data from the interface board 30, and compares the transmitted test data with the received response data, and determines whether the test data and the response data are matched with each other.例文帳に追加

スロットに搭載される記憶装置に代えてスロットに搭載されるテストカード３３が、テストデータを作成し、作成したテストデータをインタフェースボード３０に対して送信し、インタフェースボード３０からの応答データを受信し、送信されたテストデータと受信された応答データとを比較し、テストデータと応答データとが一致するかを判断する。 - 特許庁

To provide a console system for an IC test device, its control method, and a storage medium wherein the usage environment for conventional display device and input device is utilized with new display device and input device by setting a software, without changing the control program for an IC test device.例文帳に追加

本発明は、ＩＣ試験装置の制御プログラムを変更することなく、従来使用していた表示装置・入力装置の使用環境を、ソフトウェアの設定によって新規に導入した表示装置・入力装置で実現可能なＩＣ試験装置用のコンソール装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a bacteriological test method capable of simplifying the step from the suspension of bacteria in a specimen liquid to the test without using a separate suspension device.例文帳に追加

懸濁装置を別途用いることなく、試料液中における細菌の懸濁から検査までの工程を簡素化することが可能な細菌検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an impact test device and an impact test method capable of obtaining an impact stress-strain characteristic or the like when applying impact force onto an impact absorbing material.例文帳に追加

衝撃吸収材料の衝撃力作用時における衝撃応力—歪み特性等を得ることができる衝撃試験装置及び衝撃試験方法を提供する。 - 特許庁

When the magneto-optical disk device 200 is forcibly stopped by some or other reason, the controller 114 restarts the test by returning back to the top of the band whereon the test is performed.例文帳に追加

また、コントローラ１１４は、何らかの原因によって光磁気ディスク装置２００が強制停止されたとき、テストを行なっていたバンドの先頭に戻ってテストを再開する。 - 特許庁

To provide a test cost calculation system which reduces a burden of a person who is in charge of calculating a test cost of a semiconductor device and also increases reliability in calculated results.例文帳に追加

半導体装置のテストコストを算出する場合の担当者の負担を軽減するとともに、計算結果の信頼性を高めたテストコスト算出システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which damage of terminals caused by a test in a wafer state can be reduced and a time required for a test can be shortened.例文帳に追加

ウエハ状態における検査による端子の損傷を低減することができ、検査に要する時間を短縮することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission signal generating circuit that can test each function block of a reception circuit in detail without the need for provision of a special test device other than a transmitter-receiver.例文帳に追加

送受信装置以外に特別な試験装置を用意することなく、受信回路の詳細な機能ブロック毎の試験を可能にする送信信号生成回路を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of measuring efficiently an input/output characteristic of a test object circuit equipped with a plurality of input terminals, synchronously with a clock.例文帳に追加

クロックに同期して、複数の入力端子を備えたテスト対象回路の入出力特性の測定を効率良く行えるテスト装置及びテスト方法の提供。 - 特許庁

The changing over of the IC 1 for FDD device into the test mode is carried out, provided that there is the input of a test mode shifting command within a fixed period posterior to the applying of the power source.例文帳に追加

ＦＤＤ装置用ＩＣ１のテストモードへの切り換えを、電源投入後の一定期間内にテストモード移行コマンドの入力があることを条件に実行する。 - 特許庁

To provide an evaluation method and an evaluation test device capable of conducting easily an evaluation test for the condition where a worked material is welded onto a material for a tool or the like.例文帳に追加

工具などの材料へ被加工材料が溶着する状態の評価試験を簡単に行うことができる評価方法および評価試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pulse abnormal voltage applying test device capable of reliably executing a malfunction bearing test even if impedance of an AC power source line varies.例文帳に追加

交流電源線のインピーダンスが変動しても、誤動作耐力試験を高い信頼性をもって実施できるようにしたパルス性異常電圧印加試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a test method by which a simultaneous non-contact test of a plurality of non-volatile memory chips can be performed without providing wireless receiving circuits in respective chips.例文帳に追加

各チップに無線受信回路を設けることなく、複数の不揮発性メモリチップの同時非接触テストが可能な半導体装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device in which a read test can be performed by the path same as that of normal read without adding a test circuit to a read path.例文帳に追加

読み出し経路にテスト回路を追加することなく、通常読み出しと同じ経路で読み出しテストが可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

An equipment diagnostic device preliminarily acquires data on an acceleration deterioration test of an insulation material, and creates a master curve and a threshold curve from test data to be stored as graph data 76C.例文帳に追加

機器診断装置は、事前に絶縁材料の加速劣化試験のデータを取得し、試験データからマスターカーブ及び閾値曲線を作成し、グラフデータ７６Ｃとして記憶する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which can quickly discriminate defect of read-out data of a test in a wafer test.例文帳に追加

本発明の目的は、ウェハテストにおいて、テストの読出データの不良判定の結果を早期に判定することが可能である半導体記憶装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a program, device and method for software test management, which are utilized between test support functions by unifying management of information related to tests.例文帳に追加

テストに関する情報を一元管理することにより、テスト支援機能間で活用するソフトウェアテスト管理プログラム、ソフトウェアテスト管理装置、ソフトウェアテスト管理方法を提供する。 - 特許庁

To improve furthermore electric connection between an external terminal and a test printed circuit, in a test socket applied for a BGA, CSP (FBGA) package-type IC device.例文帳に追加

ＢＧＡ，ＣＳＰ（ＦＢＧＡ）パッケージ型のＩＣデバイスに適用される試験用ソケットにおいて、外部端子と試験用プリント回路との間の電気的接続を更に向上する。 - 特許庁

To provide an adhesion resistance test method to sealed liquid of a rubber compound product for sealing liquid, and a device therefor, for shortening a test time.例文帳に追加

試験時間の短縮を図ることのできる液体密封用ゴム複合製品の密封液体に対する接着耐性試験方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

An external testing device 17 as a logic tester outputs a test start command to the automatic rewriting circuit 16, and then starts the operation test of the logic circuit 14.例文帳に追加

そして、ロジックテスタとしての外部の試験装置１７は、上記自動書換え回路１６に試験開始指令を出力した後、ロジック回路１４の動作試験を開始する。 - 特許庁

A test processor 1 of the memory testing device is capable of simultaneously writing, reading, or erasing a test signal for each memory block with respect to a plurality of devices (DUT) to be tested.例文帳に追加

メモリ試験装置のテストプロセッサ１は、複数の被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して同時に、メモリブロック単位で試験信号を書き込み、読み出し、あるいは消去が可能である。 - 特許庁

The electronic control device 2 for the vehicle executes function tests following the command transmitted from the test machine 4, and transmits the execution result of the function tests to the test machine 4.例文帳に追加

車両用電子制御装置２が、試験機４から送信されたコマンドに従って機能検査を実行し、機能検査の実行結果を試験機４に送信する。 - 特許庁

To provide an environment testing device, capable of enhancing the acceleration properties of a test while ensuring the reproducibility of trouble produced in a test specimen under an actual use state.例文帳に追加

実際の使用状況下で試験体に生じる不具合の再現性を確保しつつ、試験の加速性を向上することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁