「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(81ページ目) - Weblio英語例文検索

The device for dynamically reconfiguring a test case to be executed according to the state of equipment comprises at least a test application of software, an API module and software.例文帳に追加

本発明は、機器の状態に合わせて実行するテストケースを動的に再構成する、ソフトウェアのテストアプリケーションと、ＡＰＩモジュールと、ソフトウェアとを少なくとも備えて構成される。 - 特許庁

To provide an antenna device used for an EMC test which accomplishes the EMC test with a limited number of antennas, while allowing the miniaturization of the antennas themselves.例文帳に追加

少ない本数のアンテナでＥＭＣ試験を行うことのでき、且つ、アンテナ自体を小型化することのできるＥＭＣ試験に用いるアンテナ装置を提供することが課題である。 - 特許庁

To unnecessitate an expensive semiconductor test device and to enable shortening a test time when a semiconductor storage is tested.例文帳に追加

半導体記憶装置の検査を行なうに際し、高価な半導体検査装置を必要とすることがないようにし、また検査時間の短縮を図ることができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which has a nonvolatile semiconductor memory capable of performing a bit line stress test even without any circuit for bit line stress test.例文帳に追加

ビット線ストレス試験用回路が無くても、ビット線ストレス試験を行うことができる不揮発性半導体メモリを有した半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide an event type test system supplying a test signal to a tested device (DUT) for inspecting an output signal of the DUT at the timing of a strobe signal.例文帳に追加

被試験デバイス（ＤＵＴ）にテスト信号を供給してそのＤＵＴの出力信号をストローブ信号のタイミングで検証するためのイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a vehicle crash testing device capable of setting each running speed of test vehicles at mutually different speeds in a crash test of vehicle vs. vehicle.例文帳に追加

車両対車両の衝突試験において、被試験車両の各走行速度を互いに異なった速度に設定することが可能な車両衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To enable input inspection of a test signal of high frequency in a wafer test by a high-frequency receiving device 21 which is used to receive a high-frequency signal and having circuit integration.例文帳に追加

集積回路化され、高周波信号の受信に用いられる高周波受信装置２１において、ウェハテストでの高周波のテスト信号の入力検査を可能にする。 - 特許庁

To reduce a load of a center control part, while utilizing effectively existing hardware resources; to improve efficiency of a device test; and to reduce test cost.例文帳に追加

本発明の目的は、既存のハードウェア資源を有効利用しつつ中央制御部の負荷を軽減し、デバイス試験の効率を向上し、試験コストの低減を図ることである。 - 特許庁

To provide a disk device which can perform test writing at high recording linear velocity surely to a disk on which a test writing area is provided even at an outer peripheral side, a method and a disk.例文帳に追加

外周側にも試し書領域を設けたディスクに、高記録線速度での試し書きを確実に行なえるディスク装置と方法及びディスクを提供する。 - 特許庁

To provide a synchronization test system for a breaker attaining high reliability and economical efficiency by controlling input of a plurality of breakers by one synchronization test device 700.例文帳に追加

１台の同期検定装置７００で複数の遮断器を投入制御することで、高い信頼性と高い経済性を有する遮断器の同期検定システムを提供する。 - 特許庁

To realize a semiconductor device capable of dissolving complicatedness of a quality approval test, reducing a cost of the quality approval test and contriving efficiency.例文帳に追加

品質認定試験の煩雑さを解消することができ、品質認定試験のコストの削減、効率化を図ることが可能な半導体装置の実現を課題とする。 - 特許庁

To provide a test tube, remarkably reducing the equipment cost by eliminating the need of a printer for printing on a discrimination label and a label sticking device for sticking the discrimination label to the test tube.例文帳に追加

識別ラベルに印字する印字装置及び識別ラベルを試験管に貼り付けるラベル貼付装置が不要となり、設備費を大幅に削減できる試験管を提供する。 - 特許庁

The inspection device supplies the test object 1 into the guide part 3 of the disk 2 from the supply mechanism 4, rotates the disk 2, and inspects the test object 1 at the inspection position.例文帳に追加

検査装置は、供給機構４から円盤２の案内部３に被試験体１を供給し、円盤２を回転させて被試験体１を検査位置で検査する。 - 特許庁

To provide a circuit switching device for a CT primary test and its switching method that shortens a working time for the CT primary test and prevent an electric shock to a worker.例文帳に追加

ＣＴ１次試験の作業時間の短縮及び作業員の感電防止を図ることができるＣＴ１次試験用回路切替装置及び切替方法を提供する。 - 特許庁

To provide a compressor performance testing device to serve for an operating characteristics test of a centrifugal or an axial flow type compressor capable of enhancing the testing accuracy and decreasing the test time.例文帳に追加

遠心力式又は軸流式圧縮機の動作特性試験における試験精度の向上と試験時間の削減を図った圧縮機性能試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for simulating a dynamic pressure to an article exposed to caustic/corrosive fluid during actual use.例文帳に追加

本発明は、物品の実際の用途において苛性又は腐食性流体に暴露される物品に動的圧力をシミュレートする試験装置及び方法に関する。 - 特許庁

To realize a logic test circuit testing a logic circuit in a chip and having less over-head by constituting a test circuit in a chip without introducing a new device process named FPGA.例文帳に追加

ＦＰＧＡという新規デバイスプロセスの導入することなく、チップ内にテスト回路を構成して、チップ内のロジック回路をテストするオーバヘッドの少ないロジックテストを実現する。 - 特許庁

To provide a charge/discharge control circuit that switches a normal application state and a test state without using an external test terminal, and also to provide a charging-type power supply device.例文帳に追加

テスト用外部端子無しで、通常応用状態及びテスト状態を切り替えることが可能な充放電制御回路及び充電式電源装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which shortening and optimization of a write time are realized, and area can be reduced, and to provide a test board, and a test method.例文帳に追加

書き込み時間の短縮及び最適化を実現し、電源回路の面積縮小を図ることができる半導体記憶装置、検査ボード、検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which current consumption of a memory can be measured accurately without being affected by current consumption of a test circuit used only at the time of a test.例文帳に追加

テスト時にのみ使用するテスト回路の消費電流に影響されずにメモリの消費電流を正確に測定することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test creation device capable of reducing work burden in creation of a test for verification on a logic circuit for improvement of development efficiency.例文帳に追加

論理回路の検証のためのテストを作成する際の作業量を軽減することができ、ひいては開発効率を向上させることができるテスト作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pseudo clutter addition device, a target reception device and a radar device capable of facilitating test/adjustment of the target detection function of the radar device by simulating a meteorological condition in the device.例文帳に追加

気象条件を装置内で模擬し当該レーダ装置の目標検出機能の試験・調整を容易にすることが可能な擬似クラッタ付加装置、目標受信装置及びレーダ装置を提供する。 - 特許庁

The peripheral equipment 1 is provided with a switch 15 for selectively setting either the device driver for the general operation or the device driver for the test and a function for writing the attribute information data of either the device driver for the general operation or the device driver for the test in the attribute memory 13a according to the switch setting.例文帳に追加

周辺機器１は、一般運用又はテスト用のいずれか一方を選択設定するスイッチ１５と、スイッチ設定に応じて一般運用又はテスト用のいずれか一方の属性情報データをアトリビュートメモリ１３ａに書き込む機能を有している。 - 特許庁

To easily supply a test liquid from a supply port into a flow passage, in a chemical micro device provided with the flow passage for passing the test liquid to a base material and provided with the supply port for supplying the test liquid into the flow passage.例文帳に追加

基材に試験液を通す流路が設けられると共に、この流路に試験液を供給する供給口が設けられた化学マイクロデバイスにおいて、供給口から試験液を流路に簡単に供給できるようにする。 - 特許庁

To provide a test data generation device which generates test data having attributes equivalent to actual data from taking-out data, from which personal information can not be identified, to prevent personal information from being fraudulently leaked and improve efficiency in test data generation.例文帳に追加

テストデータ作成装置に関し、本番データの個人情報を特定できない持出データから本番データと同等の属性を持つテストデータを作成し、個人情報の不正流出の防止と、テストデータの作成の効率化を図る。 - 特許庁

Test results obtained with the small medical device is collected by the mobile phone and the test results and temporal change (change in the test results) are graphed and displayed on the LCD of the mobile phone to understand pathological condition at the present moment.例文帳に追加

小型医療機器で測定した検査結果を携帯電話で吸収し、携帯電話の液晶画面にて検査結果並びに経時変化（検査結果の変化）をグラフ形式で表示し、現時点での病態を把握する。 - 特許庁

The relay node device (1) generates a first call for a test telephone, generates a second call for a telephone to be tested, and performs a connection test between the test telephone and the telephone to be tested by connecting the first call and the second call.例文帳に追加

中継ノード装置（１）は、試験電話機との間の第１の呼の生成と、被試験電話機との間の第２の呼の生成とを行い、第１の呼と第２の呼とを結んで試験電話機と被試験電話機との接続試験を行う。 - 特許庁

The input for the product under test (11, 46, 55, 77-79) is transferred to a process that presents the input to the product under test as if the input came from an input device directly connected to the product under test.例文帳に追加

テスト対象製品(11,46,55,77−79)に対する入力は、その入力がテスト対象製品に直接接続された入力装置によってもたらされたかのように、入力をテスト対象製品に与えるプロセスに転送される。 - 特許庁

Namely, the test solution on the surface of the specimen penetrates successively from the antibody holding film side of the detection device, to thereby progress the antigen-antibody reaction, and the test material is detected when being included in the test solution.例文帳に追加

つまり、被検体の表面の被検液は、本発明の検出装置の抗体保持膜側から順次浸透していくことで抗原抗体反応が進行し、被検物質が被検液中に含有される場合に検出されることになる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device with test point inserted thereto capable of improving the test easiness to the full and minimizing the deterioration of performance by insertion of a test point and an additional overhead such as increase in required area or the like.例文帳に追加

テスト容易度を最大限に改善し、かつテストポイントの挿入による性能の低下及び所要面積の増加等の付加的なオーバヘッドを最小化できるテストポイントを挿入した半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, the inkjet printer 1 has a controller 4 which controls the belt conveying device 20 so that the test pattern and a reading surface 41 of the image sensor 40 may be opposed to each other after the test pattern is formed to the test pattern formation region.例文帳に追加

さらに、インクジェットプリンタ１は、テストパターン形成領域にテストパターンが形成された後に、テストパターンと画像センサ４０の読取面４１とが対向するように、ベルト搬送装置２０を制御する制御装置４を有している。 - 特許庁

To conduct a tolerance against identical code succession with a clear criterion and high measurement precision without using any complicated circuit in an identical code succession tolerance testing device which conducts a test with test data including a specific identical code succession tolerance test pattern.例文帳に追加

所定の同符号連続耐力テストパターンを含む試験データで試験を行う同符号連続耐力試験装置に関し、判定基準が明確であり測定精度の高い同符号連続耐力試験を複雑な回路を用いずに行う。 - 特許庁

When starting measurement, the computer body drives a loading/unloading device, arranges an integrated circuit waiting to be measured on a test module, and polls whether the state of a test stage connected to the test module is abnormal or not.例文帳に追加

測定始動の際に、コンピュータ本体は積み下ろし装置を駆動して、測定待ちの集積回路をテストモジュールの上に配置するとともに、テストモジュールと接続しているテストステージの状態が異常であるか否かをポーリングする。 - 特許庁

To provide an image processor and its method which takes into consideration printing of a color test chart solving the problem that although the color test chart has many signals of ≥300% in the sum of density signals that a printer do not guarantee, simple toner reduction results in that a color test chart which is effective in grasping device colors can not be obtained.例文帳に追加

カラーテストチャートにはプリンタが保証しない、濃度信号の和が３００％以上の信号も多数存在するが、単純にトナーリダクションすると、デバイス色を把握するために有効なカラーテストチャートは得られない。 - 特許庁

To heat a circuit element up to a test temperature with a simple structure without requiring a large scale thermostat, in a circuit device, which is a test object, for measuring electrically a life time of the circuit element at the prescribed test temperature.例文帳に追加

回路要素の寿命時間が所定の試験温度で電気的に測定される試験対象の回路装置において、大規模な恒温槽を必要とすることなく簡単な構造で回路要素を試験温度にできるようにする。 - 特許庁

To provide a vehicle running test device not having influence on a vehicle test, having a constitution wherein a vehicle running test is required to be performed safely, and capable of performing preparation or post-treatment for securing safety.例文帳に追加

車両走行試験を安全に行わざるを得ない構成にするとともに、その安全確保のための前準備や後処理を容易にでき、しかも車両試験に影響を与えない車両走行試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scatter-preventing device, capable of stably preventing a test member from scattering to the surroundings when the test member is fractured, suppressing damage in a fractured object itself, and obtaining stable test results.例文帳に追加

試験部材が破断した際の周囲への飛散を安定して防止することができるとともに、破断物体自体の損傷を抑え安定した試験結果を得ることができる飛散防止装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To make smoothly and quickly testable and measurable the electric characteristics of each IC device loaded on each test board by turning two test boards into a vertical state, and simultaneously connecting/disconnecting them with/from a test head with a small-scaled and compact constitution.例文帳に追加

小型でコンパクトな構成によって、２つのテストボードを垂直状態にして、同時にテストヘッドに接離して各テストボードに載置した各々のＩＣデバイスの電気的特性の試験・測定を円滑かつ迅速に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a test device capable of performing a comparative treatment test under different operating conditions by the same treatment system, and dealing with a plurality of different treatment systems by a simple change in a small activated sludge test machine.例文帳に追加

小規模の活性汚泥テスト機において、同じ処理方式で運転条件が異なる比較処理テストが可能な装置であり、且つ異なる複数の処理方式に、簡単な変更で対応可能であるテスト装置を提供する。 - 特許庁

A transmission/reception message 13 described for configuring a test as a message to be transmitted and a message to be received is inserted to a test signal to be transmitted/received between a testing device 1 and a test object 7.例文帳に追加

試験装置１と試験対象７との間で送受信される試験信号のなかに、試験を構成するために記述された、送信されるメッセージと受信されるべきメッセージである送受メッセージ１３が挿入されている。 - 特許庁

The LAN device 100 reads the loopback test termination request information as well as test result information from the received communication protocol 302, dissolves the loop construction of a transmit/receive circuit part 101, and displays the test result on the LED unit 105.例文帳に追加

LAN装置１００は、受信した通信プロコトル３０２から折返し試験終了要求情報および試験結果情報を読み出し、送受信回路部１０１のループ構成を解除し、LED部１０５に試験結果の表示を行う。 - 特許庁

To provide a photometric device capable of executing accurate photometry by easily adjusting the position of a test object so that the condensing position of an illumination light flux condensed on a test surface is set to a face top position of the test surface.例文帳に追加

測光装置において、被検面上で集光される照明光束の集光位置が被検面の面頂位置になるように被検体の位置を容易に調整して精度よく測光を行うことができるようにする。 - 特許庁

A CPU 21 of the CPU board 2, on the basis of a test list showing a list of two or more pieces of test data to be input from a controller 3, reads the pieces of test data respectively from a storage device 4, and transfers them to the target board 1.例文帳に追加

ＣＰＵボード２のＣＰＵ２１は、制御装置３から入力される複数の試験データの一覧を表す試験リストに基づいて、試験データをそれぞれ記憶装置４から読み出してターゲットボード１に転送する。 - 特許庁

A storage device controls the transmission of test data according to a protocol set for a test mode upon receiving a test instruction when a reception interface section and a transmission interface section are electrically connected together, for example, through a cable or the like.例文帳に追加

受信インターフェース部と送信インターフェース部とが例えばケーブル等の電気的接続によって直結される場合に、試験指示を受け付けると、試験モード用に設定されたプロトコルに従って試験データの送信を制御する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device of a layered multi-chip module structure capable of an open/short test for a semiconductor chip used for a wiring substrate using an apparatus and a facility for an existing probe test, and of reducing the cost of the test.例文帳に追加

既存のプローブテスト用の装置や設備を用いて、配線基板として用いられる半導体チップのオープンショートテストを行うことができ、テストコストを削減することができる積層型マルチチップモジュール構造の半導体装置を提供する。 - 特許庁