「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(84ページ目) - Weblio英語例文検索

The semiconductor integrated circuit device includes a plurality of circuit blocks, an internal clock generation circuit forming its clock, and a test circuit.例文帳に追加

複数の回路ブロック及びそのクロックを形成する内部クロック生成回路とテスト回路を備える。 - 特許庁

To provide a software development device to enhance software development efficiency including a test and debug.例文帳に追加

テストやデバックを含めたソフトウェア開発効率を向上を図ったソフトウェア開発装置を提供する。 - 特許庁

To accurately test a torque wrench by a device formed not to be complicated in a compact way.例文帳に追加

複雑でなくコンパクトに形成された装置によって、トルクレンチの精密な検査が可能となるようにする。 - 特許庁

The test point is inserted by use of the scan cell provided within the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の内部に既に備えられたスキャンセル利用してテストポイントを挿入する。 - 特許庁

To test each chip individually in a semiconductor device configured by laminating semiconductor chips.例文帳に追加

半導体チップを互いに積層して構成される半導体装置において、各チップを個別にテストする。 - 特許庁

This semiconductor device has a means for detecting an overcurrent flow during the burn-in operation test.例文帳に追加

半導体装置が、バーンイン動作試験中に過電流が流れたことを検出する手段を有する。 - 特許庁

The lens inspection device 2 includes an illumination optical system 3 and a liquid crystal panel 5 displaying the test pattern 12.例文帳に追加

レンズ検査装置２は、照明光学系３と、テストパターン１２を表示する液晶パネル５とを有する。 - 特許庁

To perform simultaneously an operation test of plural memory cores incorporated in a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置内に内蔵される複数のメモリコアに対して同時に動作テストを実行する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device with an I/O buffer cell capable of implementing highly accurate timing verification test.例文帳に追加

高精度なタイミング検証試験が実現可能なＩ／Ｏバッファセルを有する半導体装置を得る。 - 特許庁

To provide a method and a device for an analog test of a hot plug circuit on an active computer backplane.例文帳に追加

アクティブ・コンピュータ・バックプレーン上のホット・プラグ回路のアナログ・テストを行う方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test module capable of inexpensively testing a semiconductor device having an ADC circuit.例文帳に追加

ＡＤＣ回路を有した半導体装置を低コストで試験可能な、半導体試験モジュールを提供する。 - 特許庁

a rigorously controlled test of a new drug or a new invasive medical device on human subjects 例文帳に追加

新薬の厳格に制御された試験、あるいはの被験者に対する新しい侵襲的な医療装置 - 日本語WordNet

this device avoids the need for separate needle insertions for each infusion or blood test. 例文帳に追加

この器具によって、注入や血液検査ごとに針の刺入を別々に行う必要性が回避される。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To provide a semiconductor device having a high operating speed in which current consumption can be reduced at the time of test.例文帳に追加

動作速度が速く、かつ試験時の消費電流を低減できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To conduct an SVC(switched virtual channel) connection control test between adjacent nodes in short time without using the device.例文帳に追加

他の装置を使用することなく短時間で隣接ノード間のＳＶＣコネクション制御試験を実現する。 - 特許庁

To provide a leak-inspecting device of an air filter for clean rooms where leak test is highly reliable.例文帳に追加

リークテストの信頼性が非常に高いクリーンルーム用エアーフィルターのリーク検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test sample preparation device capable of simply performing pretreatment in a hermetically closed state.例文帳に追加

密閉状態で且つ簡便に前処理を行うことができる試験試料調製装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of being easily subjected to a physical test without deteriorating characteristics.例文帳に追加

特性を劣化させることなく、簡便に物理試験を行うことが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

A contact point (24) which is connected electrically to the semiconductor device, is disposed on the test head side.例文帳に追加

前記テストヘッド側面には、前記半導体装置と電気的に接続される接点（２４）が配設されている。 - 特許庁

To prevent generation of burn-in stress deficiency during a burn-in operation test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のバーンイン動作試験中におけるバーンインストレス不足の発生を防止できるようにする。 - 特許庁

To provide a field equipment diagnostic device for easily executing test operation or reproducting past operation.例文帳に追加

簡便に試験的な動作の実行や過去の動作の再現ができるフィールド機器診断装置を提供する。 - 特許庁

The fretting corrosion test device comprises a load sensor 15 measuring a frictional force between the terminals.例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置は端子間に生じる摩擦力を測定する荷重センサ１５を備えている。 - 特許庁

Thereafter, the device is let to perform read of the image being test printed, and to produce density correction data for the respective printer.例文帳に追加

その後、テストプリントされた画像の読み込みを行い、各プリンタ毎の濃度補正データを作成する。 - 特許庁

To provide a smoke exhaustion behavior test device capable of efficiently testing behavior of smoke exhaustion.例文帳に追加

効率よく排煙の挙動を試験することができる排煙挙動試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To synchronize a decision signal, being output at the operating test of a semiconductor memory device, with a clock signal.例文帳に追加

半導体記憶装置の動作テスト時に出力する判定信号をクロック信号に同期させる。 - 特許庁

TCC (TEST CELL CONDITIONER)'S SURROGATE CLEANING DEVICE OF PIN ELEMENT ON LOADING BOARD, OR ELECTRICAL INTERFACE RECEPTACLE, AND CLEANING METHOD例文帳に追加

搭載盤上のピン素子、または電気インタフェース・レセプタクル（ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｉｎｔｅｒｆａｃｅｒｅｃｅｐｔａｃｌｅ）のＴＣＣ清掃装置（ｔｅｓｔｃｅｌｌｃｏｎｄｉｔｉｏｎｅｒ（ＴＣＣ）ｓｕｒｒｏｇａｔｅｃｌｅａｎｉｎｇｄｅｖｉｃｅ）と清掃方法 - 特許庁

To provide an improve device and a method for conducting tests on networks, an improved device for deciding the characteristics impedance of a network cable, an improved network test device suitable for conducting the test for short cable and an improved method and device for conducting the test on the network in an active state, without disturbing the network traffic.例文帳に追加

ネットワークを試験するための改良された装置および方法、ネットワークケーブルの特性インピーダンスを決定するための改良された装置、短いケーブルを試験するのに適した、改良されたネットワーク試験装置、ネットワークトラフィックを乱すことなく、アクティブ状態のネットワークを試験するための改良された方法および装置を提供する。 - 特許庁

The electronic apparatus 100 brings a configuration device 2 to write configuration data (logic circuit information) which are stored in a memory device 1, into the programmable device, and a programmable region of the programmable device is equipped with a first test circuit 5 for carrying out a test in order to determine the termination of the configuration, and circuit information of the first test circuit 5 is contained in the configuration data.例文帳に追加

電子機器１００は、記憶デバイス１に記憶されたコンフィギュレーションデータ（論理回路情報）をコンフィギュレーションデバイス２によりプログラマブルデバイスに書き込み、プログラマブルデバイスのプログラマブル領域に、コンフィギュレーションの終了を判断するためのテストを行う第１のテスト回路５を備え、コンフィギュレーションデータには、第１のテスト回路５の回路情報が含まれている。 - 特許庁

To make it possible to evaluate wear and tear, and performance degradation of a test disk by judging whether the performance of the test disk for testing a disk device for recording and reproducing information data on/from an optical disk is good, and also to evaluate performance degradation of a test disk evaluation device itself.例文帳に追加

光ディスクに情報データを記録再生するディスク装置の性能をテストするテストディスクの性能の良否を判定してテストディスクの消耗、性能劣化を評価することができるとともに、テストディスク評価装置自体の性能劣化を評価することができるようにする。 - 特許庁

A test signal is supplied to the semiconductor device so as to be tested, the test signal is supplied to the ideal semiconductor device so as to be tested equally, and the accuracy of a debugging operation about whether a program for semiconductor test is operated normally can be increased.例文帳に追加

この半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験することによって、理想的な半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験を行うことと等しくなり、半導体試験用プログラムが正常に動作するか否かのデバッグ精度を高めることが可能となる。 - 特許庁

When testing the braking force, the transmission is shifted to a range N, and the right and the left rear wheels are rotated by a test device, and the electric parking brake is operated by the operating force of the test time with operation of the PKB switch, and the braking force is detected based on the counter torque to be applied to the electric motor of the test device (S13).例文帳に追加

制動力テスト時にはトランスミッションをＮレンジとし、テスト装置により左右後輪を回転させ、ＰＫＢスイッチの操作により電動パーキングブレーキをテスト時作動力で作用させ、テスト装置の電動モータが受ける反トルクに基づいて制動力を検出する（Ｓ１３）。 - 特許庁

To provide an organic light emitting display device capable of performing a test for a plurality of organic light emitting display devices formed on a mother substrate in an original sheet unit, reducing a test time, reducing a cost and enhancing the efficiency of the test, and to provide a mother substrate of the organic light emitting display device.例文帳に追加

マザー基板に形成された複数の有機電界発光表示装置に対する検査を元板単位で行うことができ、検査時間を減らし、コストを低減し、検査の効率性を高めることができるできる有機電界発光表示装置及びそのマザー基板を提供すること。 - 特許庁

Then a layout program 50 monitors the contents of the database 30 periodically for operating a main test execution control program 34 immediately when the conditions of any device to be tested reach the test condition to execute a characteristic measurement test for the device to be tested.例文帳に追加

そして、割付処理プログラム５０によって定期的にデータベース３０の内容が監視され、いずれかの被試験装置の状態が試験条件に到達した場合にはただちに主試験実行制御プログラム３４を起動して、その被試験装置に対する特性測定試験が実行される。 - 特許庁

In the solid-state imaging device 20, the electronic component IC39 is provided with a terminal test pin 85 that takes out an intermediate output between the input/output terminals of the internal circuit, and test pads 86 connected to the test pin 85 are provided in the circuit substrate 36 and a holder 45 in the solid-state imaging device 20.例文帳に追加

固体撮像装置２０では、前記内部回路の入出力端子間の中間出力を取り出す端子のテストピン８５を前記電子部品に設け、これに接続するテストパッド８６を前記固体撮像装置２０内の回路基板３６およびホルダ４５に有している。 - 特許庁

In this semiconductor memory test apparatus 1, when a test of a device 20 of a synchronous type to be tested is performed, output data of the device 20 to be tested corresponding to a test pattern is held by an output holding part 11, it is compared with expected value data by an expected value data comparing part 12, and log data are generated.例文帳に追加

本発明の半導体メモリ試験装置１は、同期型の被試験デバイス２０の試験を行う際、テストパターンに対応する被試験デバイス２０の出力データを出力保持部１１で保持し、期待値比較部１２にて期待値データと比較してログデータが生成される。 - 特許庁

METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR IDENTIFYING SURFACE PROFILE OF ULTRASONIC FLAW DETECTION TEST BODY, AND METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR ULTRASONIC FLAW DETECTION TEST, INCORPORATED WITH IDENTIFICATION OF SURFACE PROFILE OF ULTRASONIC FLAW DETECTION TEST BODY例文帳に追加

超音波探傷試験体の表面形状同定方法、表面形状同定装置及び表面形状同定プログラム、並びに、超音波探傷試験体の表面形状同定処理を組み込んだ超音波探傷試験方法、超音波探傷試験装置及び超音波探傷試験プログラム - 特許庁

To provide a burn-in test program simulation device, its method, and a storage medium for simulating a burn-in test program for executing a burn-in test on an IC without using any actual device or any IC to be tested so as to shorten the evaluation time.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣのバーンイン試験を実行するためのバーンイン試験プログラムを実装置及び被試験ＩＣを使用せずにシミュレーションすることで評価時間を短縮するバーンイン試験プログラムのシミュレーション装置及び方法と記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

Operation information related to at least one of an operation situation of the disk drive device and an operation history of the disk drive device is acquired, timing determination processing of a test processing execution instruction is executed, the execution instruction of test processing is performed according to determined timing, and a result of the test processing is acquired.例文帳に追加

ディスクドライブ装置の動作状況と、ディスクドライブ装置の動作履歴と、の少なくとも一方に関する稼働情報を取得し、テスト処理実行指示のタイミング決定処理を実行し、決定されたタイミングに従ってテスト処理の実行指示を行い、テスト処理の結果を取得する。 - 特許庁

To provide a method and a system of making/grading test questions in which a test is effectively executed in a limited space, preventing a cheating, a server of making/grading the test questions, a portable respondent terminal device, a program, and a program to be mounted on the portable respondent terminal device.例文帳に追加

限られたスペースで、カンニングを防止しつつ、効率的に試験を実施することができる試験問題作成・採点方法およびそのシステム、試験問題作成・採点サーバ、携帯型解答者端末装置、プログラム、並びに携帯型解答者端末装置搭載用プログラムを提供すること。 - 特許庁

In the case the integrated circuit device is mounted on the display panel, when an area where a panel test terminal is scheduled to position is made a test terminal scheduled area, a physical layer circuit PHY is disposed in an area not overlapping the test terminal scheduled area, at the lower part of the integrated circuit device.例文帳に追加

表示パネルへの集積回路装置の実装時において集積回路装置の下方にパネルテスト端子が位置する予定の領域を、テスト端子予定領域とした場合に、集積回路装置では、物理層回路ＰＨＹが、テスト端子予定領域とオーバラップしない領域に配置される。 - 特許庁

This device includes the train operation control system 1 during working, a test system 6 including an environment equivalent to the train operation control system 1 to test the train operation control system 1 and a gateway device 5 for connecting the train operation control system 1 during working and the test system 6.例文帳に追加

稼動中の列車運行管理システム１と、列車運行管理システム１の試験のために、列車運行管理システム１と等価な環境を備えた試験系システム６と、稼動中の列車運行管理システム１と試験系システム６との間を接続するゲートウェイ装置５を備える。 - 特許庁

TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE RESCUE-ANALYZED BY THE METHOD, AND GENERATING METHOD FOR RESCUE COMBINATION TABLE USED FOR THE METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

半導体装置試験方法とその装置、その方法によって救済解析が行われた半導体装置、およびその方法に使用する救済組み合わせテーブル生成方法とその装置 - 特許庁

To confirm a receiving characteristic graph via the display device of a communication terminal device itself with no dependence on an exclusive measuring device when a field intensity test of the terminal device is carried out.例文帳に追加

当該装置の電界強度試験などにおいて、専用の測定装置に依存することなく、受信特性グラフを当該装置自身の表示手段で確認できるようにする。 - 特許庁

After write-in request command signal is inputted to a memory device 46 of a packet system, a test data signal is written in the memory device 46.例文帳に追加

書込み要求コマンド信号がパケット方式のメモリデバイス４６に入力された後、テストデータ信号がメモリデバイス４６に書き込まれる。 - 特許庁

A dummy master station device 3 carries out a communication test with a standby series device at that point in time of a one series ITC 5 and a two series ITC 6.例文帳に追加

模擬親局装置３は、１系ＩＴＣ５及び２系ＩＴＣ６のうち、その時点で待機系の装置と通信試験を行う。 - 特許庁