「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(76ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an electronic circuit device lowering production costs and a test method thereof.例文帳に追加

製造コストを低く抑えることのできる電子回路装置およびその試験方法を実現する。 - 特許庁

To increase the number of samples in a test device and to measure the service life of each sample at low cost.例文帳に追加

試験装置内のサンプル数を増やし、かつ各サンプルの寿命の測定を低コストで実現する。 - 特許庁

CONTROL COMPOSITION AND METHOD OF USE FOR COAGULATION TEST, EVALUATION DEVICE AND KIT例文帳に追加

対照組成物および該対照組成物の凝固試験への使用方法、評価装置およびキット - 特許庁

To provide a method and device for testing memory for shortening an erase test of non-volatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリの消去試験を短縮するメモリ試験方法及び装置を提案する。 - 特許庁

To provide the flywheel device of a chassis dynamometer with improved accuracy in a performance test.例文帳に追加

シャシダイナモメータのフライホイール装置を、性能試験の精度アップ面で好適なものにして提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus which accurately tests a device to be tested outputting data with clock.例文帳に追加

データをクロックと共に出力する被試験デバイスを正確に試験する試験装置を提供する。 - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR WAFER TEST AND ITS PRODUCTION METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTED WITH THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

ウエハテスト用プロ—ブ針とその製造方法およびそのプロ—ブ針によってテストした半導体装置 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device of which characteristics can be evaluated easily in a test mode.例文帳に追加

テストモードにおいて容易に特性を評価することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To perform readjustment work for the output characteristics of a weighing device (linear former) without using a test weight.例文帳に追加

秤装置（リニアフォーマ）の出力特性の再調整作業をテストウェイトを用いずに行うこと。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CONNECTING MANUFACTURE TEST INTERFACE TO GLOBAL SERIAL BUS INCLUDING I2C BUS例文帳に追加

Ｉ２Ｃバスを含むグローバル・シリアル・バスに製造テスト・インタフェースを接続するための方法および装置 - 特許庁

EMULATION DEVICE, SYSTEM AND METHOD WITH DISTRIBUTED CONTROL OF TEST INTERFACE IN CLOCK DOMAIN例文帳に追加

クロックドメインにおける試験インターフェースの分散制御を備えるエミュレーション装置、システムおよび方法 - 特許庁

RADIO COMMUNICATION EQUIPMENT AND IMAGE FORMING DEVICE MANAGEMENT SYSTEM USING IT AND RADIO CHANNEL TEST METHOD例文帳に追加

無線通信装置とそれを用いた画像形成装置管理システムおよび無線チャネルテスト方法 - 特許庁

To cope with a narrow pitch in an external terminal, in an operation test for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の動作テストにおいて外部端子の狭ピッチ化に対応させることができる。 - 特許庁

To provide vibration test device having a large diameter capable of restraining an unnecessary rigid vibration condition.例文帳に追加

不要なリジッド振動状態を抑える大直径を有した振動試験装置を提供する。 - 特許庁

POLISHING JIG FOR CONTACT PIN OF SEMICONDUCTOR IC TEST SOCKET AND SEMICONDUCTOR DEVICE WITH POLISHING FUNCTION例文帳に追加

半導体ＩＣテスト用ソケットのコンタクトピンの研磨治具および研磨機能付き半導体装置 - 特許庁

The packaged medical device includes upper and lower flexible sheets, a lance body and a test strip.例文帳に追加

上部柔軟シート、下部柔軟シート、ランス本体、及び検査ストリップを含むパッケージ化医療装置。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can improve efficiency in online data analysis processing.例文帳に追加

オンラインデータ解析処理の効率を向上することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor circuit device capable of performing an efficient design for a scan test.例文帳に追加

スキャンテストに関する効率的な設計を可能とした半導体回路装置を提供すること - 特許庁

WIRE BONDING DEVICE, WIRE BONDING METHOD USING THE SAME AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

ワイヤボンディング装置およびそれを用いたワイヤボンディング方法ならびに半導体チップの試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CALIBRATING PULSE WIDTH TIMING ERROR CORRECTION IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST例文帳に追加

半導体集積回路試験におけるパルス幅タイミング誤差補正のための較正方法および装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR STORING TEST NUMBER USING MAP OF LINKED DATA NODE, AND DATABASE例文帳に追加

リンクされたデータノードのマップを使用してテスト番号を記憶するための方法、装置およびデータベース - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS TEST METHOD, AND RECORDING DEVICE AND COMMUNICATION EQUIPMENT HAVING IT例文帳に追加

半導体集積回路およびその検査方法並びにそれを有する記録装置および通信機器 - 特許庁

To enable precise measurement of an access time in a test mode of a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体記憶装置のテストモードにおいて正確なアクセスタイムを測定できるようにすること。 - 特許庁

To improve test efficiency of software and quality of the software in an image display device.例文帳に追加

画像表示機器におけるソフトウェアのテストの効率とそれらソフトウェアの品質とを向上させる。 - 特許庁

To provide an evaluation requesting system for effectively conducting evaluation test of a semiconductor device manufacturing apparatus.例文帳に追加

半導体製造装置の評価試験を効果的に行う評価依頼システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated device capable of performing a scan test of confidential data reliably.例文帳に追加

機密データのスキャンテストを安全に行うことが可能な半導体集積装置を提供すること。 - 特許庁

(1) A first semiconductor device carrier supporting a plurality of semiconductor devices after the test is provided.例文帳に追加

(１)テスト済の複数の半導体デバイスが置かれた第１半導体デバイスキャリアを提供する。 - 特許庁

a laboratory test of a new drug or a new invasive medical device on animal subjects 例文帳に追加

動物を対象にする新薬、あるいは新しい浸入性の医療機器の実験室での試験 - 日本語WordNet

A test processing unit 202 for detecting failures in a high-speed phase circuit 210 is built in a device.例文帳に追加

高速位相回路部２１０の不良を検出するテスト処理部２０２をデバイスに内蔵させる。 - 特許庁

A test is made at every build-up of a power supply to the warning output device, thereby heightening reliability.例文帳に追加

警報出力装置への電源立上りのたびにテストを行うことで信頼性を高める。 - 特許庁

To provide a system and method for immobilizing nucleic acid amplicons on a test device.例文帳に追加

試験装置上に核酸単位複製配列を固定するための系および方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, a time required for the reliability test and a manufacturing cost for the semiconductor device are reduced.例文帳に追加

したがって、信頼性試験の所要時間と半導体装置の製造コストとが削減される。 - 特許庁

To provide a more improved test device for quantitatively measuring the amount of tear meniscus of tear liquid.例文帳に追加

涙液メニスカス涙液量を定量測定するより改良された検査用具を提供する。 - 特許庁

To test a master device with good efficiency unless all slave devices are available.例文帳に追加

全てのスレーブ装置が揃っていなくともマスタ装置の効率の良い試験が行えるようにする。 - 特許庁

To provide a waterproof test device capable of testing the waterproof performance of a waterproof case at low cost.例文帳に追加

防水ケースの防水性能試験を低コストで行える防水試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the required time other than inspection time, in a test for a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の試験において、検査時間以外に必要とされる時間の短縮を可能にする。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR FAULT TEST AND RECORDING MEDIUM WHERE FAULT TESTING METHOD IS RECORDED例文帳に追加

障害試験装置及び障害試験方法及び障害試験方法を記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a test time for a memory circuit can be shortened.例文帳に追加

メモリ回路に対する試験時間を短縮することのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁

The first and second switches are connected to the device test port by a plurality of light routers (56).例文帳に追加

第１、第２のスイッチと装置試験ポート間は複数の光ルータ（５６）を介して接続される。 - 特許庁

The semiconductor inspection device 50 irradiates the semiconductor device (DUT (Device under Test)) 3 with a laser beam, and specifies a failure part of the semiconductor device (DUT) 3 using the DLS (Dynamic Laser Stimulation) method.例文帳に追加

半導体検査装置５０は、半導体デバイス（ＤＵＴ）３にレーザ光を照射し、ＤＬＳ法を用いて半導体デバイス（ＤＵＴ）３の故障箇所の特定を行う。 - 特許庁

To provide an evaluation method of a semiconductor device for improving the efficiency of the reliability test of the semiconductor device and the reliability of the semiconductor device, and to provide the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの信頼性試験の効率および、半導体デバイスの信頼性を向上する半導体デバイスの評価方法および半導体デバイスを提供する。 - 特許庁

The laser beam generating device 10 and the detector 20 form a transmissive testing device, positioned such that the laser beam generating device 10 and the detector 20 face each other with the semiconductor device 15 that is the test subject therebetween.例文帳に追加

ここでレーザ発生装置１０と検出器２０とは、検査対象となる半導体装置１５を挟んで対向して位置する透過型の検査装置を構成する。 - 特許庁

According to the present invention, the integrated circuit for a smart card includes a transceiver which communicates with a host device and a joint test action group (JTAG) test controller for carrying out at least one test operation.例文帳に追加

本発明によれば、スマートカード用の集積回路が、ホスト装置と通信をするトランシーバ、及び少なくとも１個のテスト操作を実施するためのジョイントテストアクショングループ（ＪＴＡＧ）テスト制御器を包含している。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

BONDING STATE EVALUATION METHOD AND DEVICE, TEST PIECE FOR BONDING STATE EVALUATION, MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR BONDING STATE EVALUATION, AND SEMICONDUCTOR ELEMENT HAVING TEST PIECE FOR BONDING STATE EVALUATION例文帳に追加

接合状態評価方法、接合状態評価用試験片、接合状態評価用試験片の製造方法及び接合状態評価用試験片を有した半導体素子並びに接合状態評価装置 - 特許庁