「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(72ページ目) - Weblio英語例文検索

The test of a mobile telephone system having been manually entered and confirmed by human eyes is automated by using a personal computer and a test device.例文帳に追加

パーソナルコンピュータと試験装置を使用することにより人間の手で入力し、人間の目で確認していた携帯電話システムの試験を自動化する。 - 特許庁

The gateway device 5 transfers communication data input into the train operation control system 1 during working as test data to the test system 6.例文帳に追加

そして、ゲートウェイ装置５は、稼動中の列車運行管理システム１に入力される通信データを試験データとして試験系システム６へ転送する。 - 特許庁

After that, while rear faces of two fractured test pieces 2 are being illuminated with a first lighting device 30, a CCD camera 20 images the two test pieces 2.例文帳に追加

その後、第一照明装置３０により破断した二つの試験片２の背面を照らしながら、ＣＣＤカメラ２０は二つの試験片２を撮像する。 - 特許庁

Further more the test device 1 is capable of testing the surface degradation promotion test while heating the sample W by heating with the heating means 5.例文帳に追加

さらに、試験装置１は、加熱手段５によって試料Ｗを加熱した状態で表面状態劣化促進試験を実施することができる。 - 特許庁

The test device exchanges information with the hard disk via the second port, the bus line, and the first port, thereby to perform a test on the hard disk.例文帳に追加

前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行う。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory test method and a memory test device capable of giving stress to a reading circuit as well as to a data holding part.例文帳に追加

データ保持部だけでなく、読出し回路にも同じようにストレスを与えることができる不揮発性メモリの試験方法及びメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test program creation device creating a test program for testing a program receiving a structure group having a hierarchical structure and operating, for example.例文帳に追加

例えば、階層構造を持つ構造体群を受け取って動作するプログラムをテストするためのテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置を提供する。 - 特許庁

To suppress the increase of a circuit scale and to shorten a test time, in a connection test between layered semiconductor chips in a multilayer semiconductor device.例文帳に追加

積層型半導体装置において積層される半導体チップ間の接続テストにあたり、回路規模の拡大の抑制およびテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁

To obtain highly reliable test results in the load test of a parallel processor device and also quickly specify an abnormal place in a failure diagnosis.例文帳に追加

並列プロセッサ装置の負荷試験において信頼性が高い試験結果を得るとともに、障害診断において迅速に異常箇所の特定を行うこと。 - 特許庁

To provide a power supply current measuring unit arranged on a semiconductor test system and capable of accurately measuring the power supply current of a device under test at a high speed.例文帳に追加

半導体試験システムに備えられ、被試験デバイスの電源電流を高速でかつ正確に測定できる電源電流測定ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a storage device and its self-test method in which circuit correction can be prevented and a manufacturing cost can be reduced even when a test process is changed.例文帳に追加

テスト工程の変更があった場合でも、回路修正を防止でき、製造コストを低減できる記憶装置およびその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide the test adjustment supporting device of a monitor control system capable of extremely efficiently performing the test adjusting task of a monitor control system.例文帳に追加

監視制御システムの試験調整業務を極めて効率的に行うことのできる監視制御システムの試験調整支援装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a wireless base station test device that can test a wireless base station using the same frequencies in sectors by each sector without receiving interference from other sectors.例文帳に追加

複数のセクタで周波数が同一の周波数を使用する無線基地局に対し、他のセクタから干渉を受けずに、各セクタごとの試験を可能とする。 - 特許庁

To provide a test method of a semiconductor memory device by which real ability of tRCD can be evaluated accurately even in the case of a test in which an address is shrunk.例文帳に追加

アドレスを縮退した試験の際にも、ｔＲＣＤの実力を正確に評価することが可能な、半導体記憶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

Accordingly, it becomes possible to test the test block A regionally under a different distribution in voltage drop of the regions inside the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

よって半導体集積回路装置内部を、領域ごとに異なる電圧降下分布として試験ブロックＡの試験を行う事が可能となる。 - 特許庁

A test AC voltage generator 1 and a test AC voltage generator 2 are connected to two external terminals of the switch device 6, respectively.例文帳に追加

開閉機器６の２つの外部端子には、試験用交流電圧発生装置１および試験用交流電圧発生装置２をそれぞれ接続する。 - 特許庁

PERFORMANCE TEST MEANS AND PERFORMANCE TEST METHOD FOR NONAQUEOUS ELECTROLYTIC SOLUTION BATTERY, LIQUID FILLING DEVICE FOR NONAQUEOUS ELECTROLYTIC SOLUTION BATTERY AS WELL AS MANUFACTURING METHOD OF NONAQUEOUS ELECTROLYTIC SOLUTION BATTERY例文帳に追加

非水電解質電池の性能検査手段およびその性能検査方法、非水電解液の注液装置ならびに非水電解質電池の製造方法 - 特許庁

To separately control and test semiconductor devices under test in a semiconductor device tester for testing the semiconductor devices.例文帳に追加

複数の半導体デバイスの試験を行う半導体デバイス試験装置において、試験の対象となる半導体デバイスを個々に制御し、試験できるようにする。 - 特許庁

To provide a non-destructive test device and test method, for a processed article capable of being incorporated in production, especially for a membrane/electrode junction body used for a fuel cell.例文帳に追加

製造に組み込まれ得る加工品、特に燃料電池に用いられる膜・電極接合体の非破壊試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mobile vehicle loaded with a high voltage test device capable of dispensing with time and labor required for the move of a specimen and reducing time and cost required for a test greatly.例文帳に追加

供試品の移動の手間がかからず、試験のための時間やコストを大幅に節約できる高電圧試験装置搭載移動車を提供する。 - 特許庁

When a G2 test part 9 and a G3 test part 10 are verified simultaneously, the device is altered to prioritize execution of the request from an interruption processing part 7.例文帳に追加

Ｇ２テスト部９、Ｇ３テスト部１０を同時に検証する場合、割り込み処理部７からの要求を優先的に実行するように変更する。 - 特許庁

To provide a test element group which can measure the element characteristics accurately regardless of whether or not a protective diode exists, and to provide a semiconductor device equipped with the test element group.例文帳に追加

保護ダイオードの有無に拘らず、素子特性を精度良く測定することの可能なテストエレメントグループおよびそれを備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test device which displays a test state display picture of an incorporated memory of DUT and a program advance display picture on the same screen.例文帳に追加

ＤＵＴの内蔵メモリの検査状況表示画面と、プログラム進捗表示画面を同一画面上に表示するメモリ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for generating a test case for allowing an operator to execute a test without knowing any operation for setting an inside condition.例文帳に追加

操作者が内部条件を設定する操作を知らなくても、テストを行なうことが可能なテストケースを生成するテストケース生成装置を提供すること。 - 特許庁

To make the time required to read a test pattern as short as possible in the case of reading the test pattern several times in the case of calibration of an image forming device.例文帳に追加

画像形成装置のキャリブレーションに際してテストパターンを複数回にわたって読取る場合にできるだけそれに要する時間を抑制する。 - 特許庁

To provide a flat belt type running test device capable of removing deposits such as abrasion powder adhered to a roller while performing a running test.例文帳に追加

走行試験を実行しながらローラに付着した摩耗粉等の付着物を除去することが可能なフラットベルト式走行試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a receiver capable of eliminating the necessity of complicated connection for an operation test, reducing a test time, and simplifying a device configuration.例文帳に追加

動作試験のための複雑な接続が不要であって試験時間の短縮が可能であり、装置構成を簡略化することができる受信機を提供すること。 - 特許庁

To directly confirm whether a power supply and a burn-in mode set signal for a burn-in test are fed to a semiconductor device at the burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時において、半導体装置にバーンイン試験のための電源とバーンインモード設定信号が供給されているか直接確認する。 - 特許庁

To provide a device and method for setting an inexpensive test environment in which a communication test of mobile communication terminal can be carried out.例文帳に追加

低コストで移動通信端末の通信試験を行うことが可能な試験環境設定装置及び試験環境設定方法を提供すること。 - 特許庁

This image forming device, is let to perform test printing by respective printer part 1000, 1003 and 1005, and then to put test print being output from respective printer part on a reader part 1001.例文帳に追加

各プリンタ部１０００，１００３，１００５においてテストプリントを行い、次に、各プリンタ部から出力されたテストプリントを並べて、リーダ部１００１に置く。 - 特許庁

To provide a sampling device easily picking up a minute test piece processed in a thin form for a TEM, and moving it to a TEM sample pedestal without damaging the test piece.例文帳に追加

ＴＥＭ用に薄片加工した微小な試料を容易に採取するとともに、試料の損傷を防止してＴＥＭ試料台に移載させる。 - 特許庁

To provide a device capable of performing an environmental test in a more similar state to an actual using environment by reproducing temperature variation generated in a test object.例文帳に追加

被試験物に生じる温度ばらつきを再現し、実際の使用環境により近い状態で環境試験を行うことができる装置を開発する。 - 特許庁

To provide an input/output compression circuit for a semiconductor memory device in which a test time can be shortened by decreasing the number of input/output pins for a test.例文帳に追加

テスト用の入出力ピン数を減少させ、テスト時間を短縮させることができる半導体メモリ装置のコンプレス入出力回路提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can detect efficiently data by decreasing the data of the number which has been determined as being a failure in a test result.例文帳に追加

試験結果でフェイルと判定された個数のデータを少なくして効率的に検出することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tire testing device which supports a load of a measured tire, constitutes a road face for a flat test, and carries out a test under a condition near an actual road face.例文帳に追加

被験タイヤの荷重を支持できると共に、平坦な試験用の路面を構成でき、実路面に近い状態で試験できるタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁

The test device transmits a command to a bus 30 at a side of a key telephone master set 20 connected to telephone sets 25, 26 and receives its reply to test the master set 20.例文帳に追加

電話機２５，２６に接続されたボタン電話主装置２０側のバス３０にコマンドを送り、それに対する応答を受けて主装置２０を試験する。 - 特許庁

Test vectors from a signal generator 330 heat features of a device under test 305 to produce thermal characteristics useful in identifying defects.例文帳に追加

信号発生器（３３０）からのテストベクタにより、テスト対象デバイス（３０５）の各部分を加熱して欠陥を識別する際に有用な熱特性を生成する。 - 特許庁

To provide a memory test device which can perform a test by an interleaving system between banks and distinguishing correctly a charge 1 region and a charge 0 region.例文帳に追加

バンク間インタリーブ方式で然もチャージ１領域とチャージ０領域とを正しく区別して試験を行うことができるメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a memory device in which a test data setting time can be shortened by write-in with one word unit and the degree of freedom of test data setting is high.例文帳に追加

１ワード単位での書込によりテストデータ設定時間の短縮が可能で、且つ、テストデータ設定の自由度が高いメモリ装置を提供する。 - 特許庁

To automate the process of filling a test gas into an electronic parts and transferring them to a check device, thereby filling the test gas and transferring the electronic parts quickly.例文帳に追加

電子部品へテスト用ガスを充填して検査装置へ移送する過程を自動化し、テスト用ガスの充填と検査装置への移送を速やかに行う。 - 特許庁

The vehicle traction device accelerates the test vehicle 14 by pressing it while a desired posture of the test vehicle 14 is kept with an attachment 16 provided on the arm 15.例文帳に追加

そして、アーム15に設けたアタッチメント16で試験用車両14の所望の姿勢を保持しつつ、試験用車両14を押し出し、加速させることができる。 - 特許庁

To provide a ferroelectric memory device in which test data written are into all memory cells at high speed with write conditions being uniform for all of the memory cells to perform a test.例文帳に追加

全メモリセルに均等な書き込み条件でテストデータを高速に書き込んで試験を行うことを可能とした強誘電体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

The network test planning device works out the plan of communication quality test executed with respect to all combinations among (n) sets of bases in total.例文帳に追加

本発明のネットワーク試験計画装置は、全ｎ個の拠点間の全ての組み合わせについて実行する通信品質試験の計画を策定する。 - 特許庁

To provide a tank pipe pressure test method and a tank pipe pressure testing device by a leak test, by filling water requiring only a small load from the viewpoint of cost and processes.例文帳に追加

費用面と工程面の負担が少なくて済む水張り試験によるタンク配管耐圧試験方法とタンク配管耐圧試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe card capable of transmitting a signal between an integrated circuit and an external semiconductor test device in a test of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の試験において、集積回路と外部半導体試験装置との間で信号の伝送を行わしめるプローブカードを提供する。 - 特許庁