「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(70ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test piece retention mechanism capable of precisely positioning and holding without changing the position of the test piece even if it expands and shrinks by temperature change and a test piece processing and observation device equipped with this test piece retention mechanism.例文帳に追加

温度変化によって膨張、収縮したとしても保持している試料の位置を変化させること無く、正確に位置決め、保持することが可能な試料保持機構、及び、この試料保持機構を備えた試料加工・観察装置に提供する。 - 特許庁

To provide an automatic software test device and an automatic software test method that securely conduct an automatic test in which an operation procedure by an operator on an operation window of man-machine software is reproduced to the end, and shorten the test time.例文帳に追加

マンマシンソフトウェアの操作画面におけるオペレータの操作手順を再現する自動試験を最後まで確実に実施すると共に、試験時間を短縮することが可能なソフトウェア自動試験装置及びソフトウェア自動試験方法を提供する。 - 特許庁

In a standby test after the screening test, as a result of the calculation of the difference between the consumption current measured at each test point and the consumption current measured before the screening test, the semiconductor device of which the difference exceeds a second consumption current threshold is regarded as faulty.例文帳に追加

次に、スクリーニングテスト後のスタンバイテストでは、各テストポイントで測定した消費電流とスクリーニングテスト前に測定した消費電流との差分を算出し、それらが第２の消費電流しきい値よりも大きい半導体装置を不良品とする。 - 特許庁

To satisfy a specification and to reduce test time of an substandard special test by singly setting a multi-bit mode standardized by JEDEC (Joint Electron Device Engineering Council) so as to simultaneously set a special test mode whicn is not standardized by JEDEC and this multi-bit test mode.例文帳に追加

JEDEC で標準化されているマルチビットテストモードを単独で設定でき、JEDEC で標準化されていない特殊テストモードとこのマルチビットテストモードを同時に設定できるようにして規格を満たすと共に規格外の特殊テストのテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁

The floor material testing apparatus consists of a pair of test rods 2 for applying load to the floor material 1 and a test rod driving device 3 for moving a pair of the test rods 2 up and down alternately to apply load to the surface of the floor material 1 alternately by the leading ends of the test rods 2.例文帳に追加

床材１に荷重を加える一対の試験棒２と、一対の試験棒２を交互に上下させて試験棒２の先端で床材１の表面に交互に荷重を加えるようにした試験棒駆動装置３とから成る。 - 特許庁

To obtain a program debugging apparatus which obtains a test result similar to that in a case where a program for semiconductor test is operated with respect to an actual semiconductor device to be inspected and by which the content of the program for semiconductor test can be verified accurately on the basis of the test result.例文帳に追加

実際の被検査用半導体デバイスに対して半導体試験用プログラムを動作させた場合と同様の試験結果を得て、この試験結果に基づいて半導体試験用プログラムの内容を的確に検証できるようにする。 - 特許庁

The device is also equipped with a back-pressure preventing device 22 for preventing pressure propagation at explosion from the test chamber 12 to the air supply device 14, and an explosion pressure reducing device 24 for reducing the pressure at the explosion time, propagated from the test chamber to the flue gas treating device.例文帳に追加

さらに、試験室１２から給気装置１４へ爆発時の圧力が伝播するのを防止する逆圧防止装置２２と、試験室から排煙処理装置へ伝播される爆発時の圧力を低減する爆圧低減装置２４とを備える。 - 特許庁

The burn-in test of the semiconductor device 302 to be tested is performed by supplying scan-in signals S102, memory test signals S103 and test mode control signals S101 from the test pattern generation means 301 to the semiconductor inspection device 100, time measurement is performed in the time measurement means 305 for the test result and the generation time of a defect/a fault is specified.例文帳に追加

テストパターン発生手段３０１から半導体検査装置１００にスキャンイン信号Ｓ１０２、メモリテスト信号Ｓ１０３、テストモード制御信号Ｓ１０１を供給して被試験半導体装置３０２のバーンイン試験を行い、その試験結果は時間計測手段３０５で時間計測が行われ不良・故障の発生時間を特定する。 - 特許庁

The storage unit comprises a radio device measuring instrument control program to perform control of a radio device measuring instrument used for a test and adjustment of the radio device.例文帳に追加

記憶部には、無線機の試験・調整に用いる無線機測定器の制御を行う無線機測定器制御プログラムを備える。 - 特許庁

A test device 900 tests the communication controlling device 10, functioning as peer-to-peer communication controlling device for controlling P2P communication.例文帳に追加

試験装置９００は、Ｐ２Ｐ通信を制御するピア・ツー・ピア通信制御装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a memory test device and a memory test method which enable parts where quality decision can be omitted to be set individually for each memory to be tested in parallel and thereby shortening the test time.例文帳に追加

並列に試験される被試験メモリ毎に良否判定を省略する箇所を個別に設定可能とすることで、試験時間の短縮を図ることができるメモリ試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To test a semiconductor circuit, first, a basic format for test pattern including at least one argument and a test program for testing a semiconductor circuit to be tested is created and stored in a testing device.例文帳に追加

半導体回路のテスト方法は、まず、少なくとも１つの引数と、テスト対象の半導体回路のテストを行うためのテストプログラムとを含むテストパタンの基本フォーマットを生成し、テスト装置内に記憶する。 - 特許庁

Since the test pad of the bond pad extension is disconnected from the electric components when not tested, the test pad of the bond pad extension test does not give any additional parasitic effects to the corresponding electric circuit device.例文帳に追加

テストしないとき、電気的構成要素からボンド・パッド延長部のテスト・パッドを切断できるので、ボンド・パッド延長部のテスト・パッドは、対応する電気回路デバイスに付加的な寄生効果を与えない。 - 特許庁

The test frame transmission unit generates a test frame having the MAC address of its own device set as a destination address and a transmission source address, and periodically transmits the generated test frame from an arbitrary port.例文帳に追加

試験フレーム送信部は、送信先アドレスおよび送信元アドレスに自装置のＭＡＣアドレスを設定した試験フレームを生成し、生成した試験フレームを任意のポートから定期的に送信する。 - 特許庁

The entire test time for the semiconductor device 20 is reduced by utilizing the nonvolatile program period and entering the logic test pattern to test a logic circuit 30 such as a CPU within this period.例文帳に追加

この不揮発性プログラム期間を利用し、この期間内にＣＰＵ等のロジック回路３０をテストするためのロジックテストパターンを入力し、半導体装置２０全体のテスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for semiconductor memory, in which capacity of fail memories required for relieving analysis of a semiconductor memory is reduced and of which the test cost is reduced.例文帳に追加

半導体メモリの救済解析に必要とされるフェイルメモリの容量を削減し、半導体メモリの試験コストを低減することができる半導体メモリの試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic testing apparatus for a remote monitoring control device and a testing method in which a test is enabled with a little job-site handling personnel and test procedures or test data can be prepared.例文帳に追加

少ない現場対応要員で試験が可能であり、予め試験手順や試験データを準備できることのできる遠方監視制御装置の自動試験装置と試験方法を提供すること。 - 特許庁

In this device, signal waveforms of a test signal and the response signal are generated and displayed by test signal generation data serving to test signal generation and determination data which is a determination standard for the response signal.例文帳に追加

本発明は、テスト信号の生成に供するテスト信号生成データ、応答信号の判定基準である判定データより、テスト信号、応答信号の信号波形を生成して表示する。 - 特許庁

To provide a material strength testing device and a material strength test method capable of testing a plurality of test pieces simultaneously, and acquiring accurate data of each test piece.例文帳に追加

複数の試験片を同時に試験することができるとともに、試験片ごとの正確なデータを取得することができる材料強度試験装置および材料強度試験方法を提供する。 - 特許庁

To execute test processing according to a test signal inputted from a test terminal while providing high security in a memory device for holding data even in case of power cutoff.例文帳に追加

本発明は、電源遮断時にもデータを保持するメモリ装置に関し、高いセキュリティを実現しつつ、テスト端子から入力されるテスト信号に従ってテスト処理を実行できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To obtain a method of storing a test result, a method of displaying a test result, and a test result display device, capable of facilitating verifying whether reliability of a designed semiconductor integrated circuit with time can be guaranteed.例文帳に追加

設計した半導体集積回路の経時的な信頼性を保証できるか否かを容易に検証できる試験結果記憶方法、試験結果表示方法、及び試験結果表示装置を得る。 - 特許庁

Burn-in of the number of times of burn decided in this number of times deciding test are performed, after that, a function test is performed with the test object device unit, and a burn-in defect rate is monitored (step SP5, SP6).例文帳に追加

この回数決定テストにおいて決定されたバーンイン回数のバーンインを実施し、その後、テスト対象デバイス単位で機能テストを行なって、バーンイン不良率をモニタする（ステップＳＰ５，ＳＰ６）。 - 特許庁

To provide a semiconductor device comprising a test circuit capable of shortening an SSF time without impairing the controllability of an internal circuit part, and remarkably reducing a test time and the test cost.例文帳に追加

内部回路部の制御性を低下させることなくＳＳＦ時間を短縮でき、テスト時間及びテストコストを大幅に削減することができるテスト回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

In a standby test before a screening test, a consumption current is measured at each test point, and when the consumption current value exceeds a first consumption current threshold, the semiconductor device is regarded as faulty.例文帳に追加

スクリーニングテスト前のスタンバイテストで、各テストポイントでの消費電流を測定し、それら消費電流値が第１の消費電流しきい値よりも大きい場合には、その半導体装置を不良とする。 - 特許庁

A pogo pin provided for the connector 1 connected to the test equipment through another coaxial cable contacts with the signal contact zone 15 and the ground contact zone 14 to electrically connect the test device and the test equipment to each other.例文帳に追加

テスト機器に別の同軸ケーブルを介して接続されたコネクタに設けられたポゴピンが信号接触ゾーン１５、接地接触１４ゾーンと接触し、被検デバイスとテスト機器とが電気的に接続される。 - 特許庁

To provide a test result verification server having a test result verification part separated from a specimen testing device for performing test result verification with excellent variety and flexibility.例文帳に追加

検査結果検証部を検体検査装置より切り離した検査結果検証サーバとし、多様性、融通性に優れた検査結果検証を行うことができる検査結果検証サーバを提供すること。 - 特許庁

The wireless base station device 1 receives it, a BER counter 7 obtains BER measurement data of the test code, and a test item identification code decoder 7a decodes the test item identification code.例文帳に追加

無線基地局装置１では、これが受信され、ＢＥＲカウンタ７でテスト符号のＢＥＲ測定データが得られ、テスト項目識別符号復号器７ａでテスト項目識別符号が復号される。 - 特許庁

The operation verification device combines the program and the input data to form execution sets and a test scenario as well, and subsequently continuously executes the respective execution sets to thereby automatically execute an operation test by a test program.例文帳に追加

プログラムと入力データを組み合わせて実行セット、更には、テスト・シナリオを構成した上で、各実行セットを連続実行させることにより、テスト・プログラムによる動作テストが自動実行される。 - 特許庁

The communication device 4 sets conditions of the test on the basis of the received condition setting request and transmits results of the test executed on the basis of the received test request, to the information processor 1.例文帳に追加

通信機器４は、受信した条件設定要求に基づいて試験の条件設定を行い、受信した試験要求に基づいて実行した試験の結果を情報処理装置１に送信する。 - 特許庁

To improve reliability at the point of a temperature drift or a DC drift in the case of applying especially a load in a reliability test such as a thermal shock test, a temperature cycle test in an optical waveguide device.例文帳に追加

光導波路デバイスにおいて、熱衝撃試験や温度サイクル試験などの信頼性試験で特に負荷を加えたときに、温度ドリフトやＤＣドリフトの点での信頼性を一層向上させる。 - 特許庁

To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加

信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁

The test plan preparation means 12 of a test plan deriving device 1 determines a test period for each program to be released on the basis of release plan information acquired by a release plan acquisition means 11.例文帳に追加

テスト計画導出装置１のテスト計画作成手段１２は、リリース計画取得手段１１が取得したリリース計画情報に基づいて、リリースされるプログラム毎にテスト期間を決定する。 - 特許庁

To provide a measuring device which can predefine release position of a destructive origin in thermal shock test to enhance the accuracy of the thermal shock test, as the utility of the test is increasingly grown.例文帳に追加

熱衝撃試験において、破壊始点の発生位置を予め定めることができれば、熱衝撃試験の実験精度を上げることができ、熱衝撃試験の有用性は益々増加している。 - 特許庁

To perform a logic test without providing an external clock terminal exclusive for test in a test mode of a semiconductor integrated device operating in an internal oscillation circuit.例文帳に追加

内部発振回路で動作する半導体集積装置のテストモードにおいて、テスト専用の外部クロック端子を設けることなく、ロジックテストを行うことができる半導体集積装置を提供する。 - 特許庁

By giving a test function to the alarm device like this, the test can be executed automatically inside the dwelling unit without executing the test by an inspector by connecting an external tester from the outside of the dwelling unit.例文帳に追加

このように、警報装置に試験機能を持たせることにより、点検員が住戸外から外部試験器を接続して試験を行うことなく、住戸内で自動的に試験を実施することができる。 - 特許庁

To provide a thermal shock test device, a thermal shock test method, and a method of inspecting a semiconductor wafer, wherein a productivity and an authenticity of a thermal shock test can be simultaneously enhanced.例文帳に追加

冷熱衝撃試験の生産性及び信憑性を同時に向上することができる冷熱衝撃試験装置、冷熱衝撃試験方法及び半導体ウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a simulator which can achieve an appropriate test to an electronic interlocking device and to achieve a test equivalent to a test performed by use of an actual machine even when the simulator is connected through a transmission path where general purpose high speed communication can be performed.例文帳に追加

電子連動装置に対する適正な試験を実現させるシミュレータを提供し、汎用の高速通信が可能な伝送路で接続した場合でも、実機使用と同等の試験を実現する。 - 特許庁

To provide a test case dynamic configuration device, for easily implementing a test even if an unknown function occurs for configuring a test case by receiving information from a plug-in module.例文帳に追加

プラグインモジュールからの情報を受けてテストケースを構築するために未知なる機能が発生したとしても、容易にテストの実施が可能となるテストケース動的構築装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A light source device 2 of this semiconductor test device 1 is provided with a pressing part 4 provided in an opposed position to a semiconductor device 5 and moved toward the semiconductor device 5 during the test to press the semiconductor device 5 to thereby perform electrical connection between the semiconductor device 5 and a socket 7.例文帳に追加

半導体検査装置１の光源装置２が、半導体デバイス５と対向する位置に設けられるとともに、検査時に半導体デバイス５の方向に移動し、半導体デバイス５を押さえることにより半導体デバイス５とソケット７との電気的接続を行わせる押さえ部４を備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which verify-test time or the like are shortened and increment of the number of exclusive terminals for test is suppressed, in a semiconductor device provided with a non-volatile semiconductor memory.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置を備えた半導体装置において、ベリファイ試験等の短縮を図るとともにテスト専用端子数の増大を抑止する半導体装置の提供。 - 特許庁

Also, the test result is displayed in a predetermined time at the display part of the slave device so that it can be confirmed with such a time to spare that the slave device is removed from the setting place after the end of the test.例文帳に追加

また、試験結果を子機の表示部で所定時間表示するようにして、試験終了後に子機を設置位置から取り外すなどの余裕を持って確認することができる。 - 特許庁

To provide both a test burn-in device to transfer skew correction data to skew correction data register parallelly at high speed and a control method in a test burn-in device.例文帳に追加

本発明の課題は、スキュー補正データをスキュー補正データレジスタに高速且つ並列的に転送するテストバーンイン装置及びテストバーンイン装置における制御方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a socket for temperature characteristic evaluation capable of efficiently heating or cooling a device under test by enhancing a temperature transfer characteristic while keeping a holding property of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスの保持性を維持しつつ、温度伝達特性を高めて被試験デバイスを効率よく加熱又は冷却することができる温度特性評価用ソケットを提供する。 - 特許庁

A clamping device (33) fixed to the baseplate (20) is moveable between a rest position wherein the device is not forced into contact with the test tool (100) and an actuated position wherein the test tool (100) is fixed in position.例文帳に追加

ベースプレート(20)に対して固定されたクランプ装置(33)は、試験ツール(100)に押付けられない休止位置と、試験ツール(100)を適所に固定する作動位置との間を移動可能である。 - 特許庁

To prevent ground water flowing out of a test drilled hole from flowing out to an outside of a hole, while elevating a device support member for inserting a testing device into the test drilled hole.例文帳に追加

試験装置を試錘孔内に挿入するための装置支持部材を昇降させながら尚且つ試錐孔から湧き出る地下水の孔外への流出を防止することを可能とする。 - 特許庁