「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(67ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an immunity testing device capable of suppressing cost required for an immunity test, and improving workability of the immunity test.例文帳に追加

イミュニティ試験にかかる費用を抑え、イミュニティ試験の作業性を向上することのできる妨害排除能力試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device in which convenience in determining a short circuit in a motor is improved, and a test method therefor.例文帳に追加

モータの短絡を判定する際の利便性を向上させることができる試験装置及びその試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The transmission unit 3 can transmit a radio wave by switching an operation wave used for normal operation and a test wave used for a test of the wireless device 2.例文帳に追加

送信部３は、通常の運用に使用する運用波と、無線装置２の試験に使用する試験波とを切り替えて送信可能である。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, wherein the test for a memory chip and the test for wiring between the memory chip and a system chip, can easily be carried out.例文帳に追加

メモリチップに対するテストと、メモリチップとシステムチップの間の配線に対するテストを簡易に行なうことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The read circuit 110 allows an external device (e.g. a memory tester) to supply test clock pulses to an input of the digital counter during the test mode.例文帳に追加

該読み出し回路110は、テストモード中に外部装置（例えばメモリテスタ）がディジタルカウンタの入力にテストクロックパルスを供給することを可能にする。 - 特許庁

To provide a test method and a test device of terminal fittings wherein acceptability of mounting situation of terminal fittings on an insulator can be judged accurately.例文帳に追加

端子金具の絶縁体への取付状況の良否を正確に判定できる端子金具の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device capable of testing a digital filter easily and sufficiently by simple constitution, without increasing the number of test data.例文帳に追加

より簡単な構成で、テストデータ数を増加させることなく、デジタルフィルタのテストを簡単且つ十分に行うことができるテスト装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the need of searching a communication cable connected to the inspection object device in the inspection test is eliminated and the work of the inspection test is simplified.例文帳に追加

よって、検査試験において検査対象装置に接続される通信ケーブルを探し出す必要がなく、検査試験の作業が簡素化される。 - 特許庁

To provide test chamber system for maintaining the sealing performance of decompression space on which the device under test is mounted to accurately control air pressure of the decompression space.例文帳に追加

試験チャンバ装置において、被試験装置を設置する減圧空間の密閉性を維持し、減圧空間の正確な気圧制御を行う。 - 特許庁

To enable high-precision leak detection by a differential pressure type air leak test device while reducing the capacity of master-side and work- side two test pressure closure systems.例文帳に追加

差圧型エアリークテスト装置において、マスタ側，ワーク側の２つのテスト圧閉鎖系の容積を減少させて、高精度の漏れ検出を行う。 - 特許庁

To provide a DSP card automatic test device allowing improvement of productivity by improving work efficiency of an operation confirmation test.例文帳に追加

動作確認試験の作業効率を向上させ、生産性を向上させることが可能なＤＳＰカード自動試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a stator coil insulation test device and a test method capable of detecting a stator coil layer short-circuit defect after assembling it into a motor.例文帳に追加

モータを組込んだ後において、ステータコイルのレアショート不良の検出が可能なステータコイル絶縁試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that allows the performance test of a ZQ calibration circuit without preparing an external resistive element for the performance test.例文帳に追加

動作試験用の外部抵抗素子を用意することなくＺＱキャリブレーション回路の動作試験を行える半導体装置を提供する。 - 特許庁

This inspection equipment includes test board over which a first pad is formed and a socket for electrically connecting the test board with the semiconductor device package.例文帳に追加

検査装置は、一面に第１パッドが形成されたテストボード、半導体素子パッケージとテストボードとを電気的に連結するソケットを有する。 - 特許庁

To provide a pump test device greatly shortening the necessary operation time for a pump to reduce the cost for pump test.例文帳に追加

ポンプを運転する必要のある時間を大幅に短縮して、ポンプ試験にかかるコストを低減することができるポンプ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique or a device for measuring the input threshold levels of test objects, without requiring synchronization with the signals applied to test objects.例文帳に追加

被測定物に印加される信号との同期を要せず、被測定物の入力閾値レベルを測定する方法または装置を提供する。 - 特許庁

SOFTWARE TEST ITEM GENERATION DEVICE, TEST ITEM GENERATION METHOD AND MACHINE READABLE RECORDING MEDIUM THAT RECORDS PROGRAMS TO REALIZE THE METHOD例文帳に追加

ソフトウェアのテスト項目生成装置、テスト項目生成方法およびその方法を実現するプログラムを記録した機械読取可能な記録媒体 - 特許庁

To test a semiconductor integrated circuit constituting a switching power supply circuit by using an ordinary test device with a small current capacity.例文帳に追加

スイッチング電源回路を構成する半導体集積回路において、電流容量の小さい通常の試験装置を用いてテストを可能とする。 - 特許庁

To provide a time domain reflection factor meter-testing device that is easy to manufacture, is inexpensive, and can test a matching impedance test point.例文帳に追加

製造が容易で安価な整合インピーダンス試験点の試験ができる自動化された時間領域反射率計試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in board capable of performing accurate test, a test burn-in device, and a skew correction method capable of conducting correct skew correction.例文帳に追加

より正確な試験が出来るバーンインボード、テストバーンイン試験および、正確なスキュー補正を行うことが出来るスキュー補正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pneumoconiosis diagnosis supporting device and a pneumoconiosis diagnostic supporting program for generally supporting a pulmonary function test and an X-ray photograph test.例文帳に追加

肺機能検査およびエックス線写真検査を総合的に支援するじん肺診断支援装置およびじん肺診断支援プログラムの提供。 - 特許庁

PROGRAM DESIGN DEVELOPMENT SUPPORTING DEVICE AND STORAGE MEDIUM STORED WITH TEST SPECIFICATION PREPARATION PROGRAM例文帳に追加

プログラム設計開発支援装置およびテスト仕様作成プログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which has durability for disturb refresh and of which a test time is short.例文帳に追加

ディスターブリフレッシュに強く、テスト時間が短くて済む半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF ALIGNING WAFER AND PROBE NEEDLE WITH EACH OTHER AND METHOD AND DEVICE FOR PROBE TEST例文帳に追加

ウエーハとプローブ針との位置合わせ方法、プローブ検査方法及びプローブ検査装置 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE TEST ELEMENT AND METHOD OF MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF THIN FILM例文帳に追加

半導体装置テストエレメントの製造方法及びその薄膜物性値測定方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE PERMITTING TO WRITE VARIOUS PATTERN DATA THEREIN, ELECTRICAL TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

多様なパターンデータが書き込み可能な半導体メモリ素子およびその電気的検査方法 - 特許庁

To provide a test device capable of efficiently executing underground burying pipe-line continuity-inspection and a composite cable suitable for the test device easy in handling under simple equipment and working not requiring replacement of the test device.例文帳に追加

試験器の交換を必要としない簡単な装備および作業のもとに、能率的に地中埋設管路導通点検を実施することができる試験装置を提供すること、取扱の容易な試験装置に好適な複合ケーブルを提供することにある。 - 特許庁

To provide a small and high integrated semiconductor device in which package test is performed readily and surely.例文帳に追加

実装検査が容易・確実で小型かつ高集積度の半導体装置の提供。 - 特許庁

METHOD FOR BRINGING PROBE PIN INTO CONTACT IN CHARACTERISTICS TEST, PROBE HEAD, AND CHARACTERISTICS INSPECTION DEVICE例文帳に追加

特性検査におけるプローブピンの接触方法、並びにプローブヘッド、および特性検査装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TRANSFER OF DATA AS WELL AS APPARATUS AND METHOD FOR TEST OF MEMORY DEVICE例文帳に追加

データ転送装置、メモリデバイス試験装置、データ転送方法及びメモリデバイス試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR CORRECTING DETECTOR ERROR IN TEST WITH LIMITED ACCESS例文帳に追加

アクセスを制限したテストにおける検出器誤りを補正するための方法及び装置 - 特許庁

To obtain a light beam path testing device with a simple structure, without reducing test items.例文帳に追加

試験項目を減らすことなく簡易な構成の光線路試験装置を実現する。 - 特許庁

The pusher 20 maintains the sucked and fixed test device 30 at a preset temperature T1.例文帳に追加

プッシャ２０は、吸引固定されたテストデバイス３０を設定温度Ｔ１に保温する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MONITORING METHOD FOR VOLTAGE OF INTERNAL POWER SOURCE LINE, AND METHOD FOR DISCRIMINATING TEST MODE例文帳に追加

半導体装置、内部電源線の電圧のモニタ方法および試験モードの判別方法 - 特許庁

To execute a loopback test for a device to be tested having a transmission part of a light signal.例文帳に追加

光信号の送受信部を有する被試験デバイスのループバック試験を実行する。 - 特許庁

To provide a test device which inhibits an object to be tested from being damaged for a long period of time.例文帳に追加

試験対象物の損傷を長期に抑制する試験装置を提供すること。 - 特許庁

Additionally, it is possible to automatically stop a vibrational mechanism of the test device from its result.例文帳に追加

さらに、その結果から自動的に試験装置の振動機構を停止することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can reduce the circuit scale for a continuity test.例文帳に追加

導通試験のための回路規模を小さくすることができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The first ports (18, 33 and 118) of the device under test are connected to the ports (20 and 120) of the calibration modules (19 and 119).例文帳に追加

被測定デバイスの第１のポート(18,33,118)を校正モジュール(19,119)のポート(20,120)に接続する。 - 特許庁

To provide a system and a method for compressing effectively a test data for testing a device to be tested (DUT).例文帳に追加

試験対象デバイス(DUT)をテストするためのテストデータをより効果的に圧縮する。 - 特許庁

CONTACT BOARD FOR IC TEST DEVICE AND POSITIONING METHOD OF ROBOT FOR CONTACTING AND OPERATING THE SAME例文帳に追加

ＩＣ試験装置のコンタクトボード及びこれに接触動作するロボットの位置合わせ方法 - 特許庁

In the condition, a prescribed test pattern is input to the device chip 4 to check operation.例文帳に追加

この状態で、デバイスチップ４に所定のテストパターンを入力して動作をチェックする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a screening test of a gate insulating film can be readily performed.例文帳に追加

ゲート絶縁膜のスクリーニング試験が容易に行われ得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EXTRACTING SOFTWARE TEST ITEM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

ソフトウェア試験項目抽出方法、ソフトウェア試験項目抽出装置および記録媒体 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, COMPUTER PROGRAM USED FOR IT, AND TEST PIECE IMAGE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線装置、それに用いられるコンピュータプログラム、及び試料像観察方法 - 特許庁