「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(64ページ目) - Weblio英語例文検索

When determining as the error in the second time, this device determines that the subject does not understand the balance test and performs +1D gradation test as substitute therefor.例文帳に追加

２度目のエラー判定が下された場合、被検者はバランステストを理解できないと判断し、代わりに＋１Ｄぼかしテストを行う。 - 特許庁

In addition to a roll call test for checking whether the redundancy circuit is used/unused, the semiconductor storage device is added with a fuse program check mode as a 2nd roll call test mode.例文帳に追加

リダンダンシ回路の使用／未使用をチェックするロールコールテストの他に第２のロールコールテストモードとしてヒューズプログラムチェックモードを追加する。 - 特許庁

TEST DEVICE AND METHOD FOR NON-DESTRUCTIVE TEST IN MEMBRANE/ELECTRODE JUNCTION BODY CAPABLE OF BEING INCORPORATED INTO PRODUCTION, ESPECIALLY USED FOR FUEL CELL例文帳に追加

製造に組み込まれ得る、特に燃料電池に用いられる膜・電極接合体の非破壊試験のための試験装置及び試験方法 - 特許庁

A test device regarding station service equipment has a transmitting/receiving means which interprets test command data regarding a test command, transmits the test command to the station service equipment side, and receives a response corresponding to the transmitted test command from the station service equipment side when the test command data is generated based on test specifications stored in a storage means.例文帳に追加

駅務機器に関する試験装置であって、記憶手段に記憶された試験仕様書に基づいて試験コマンドに関する試験コマンドデータが生成されると、試験コマンドデータを解釈して、試験コマンドを駅務機器側に送信し、送信した試験コマンドに対応するレスポンスを駅務機器側より受信する送受信手段を有することによって課題を解決する。 - 特許庁

DEVICE MANUFACTURING PROCESSING SYSTEM, EXPOSURE DEVICE AND EXPOSURE METHOD, MEASURING TEST EQUIPMENT, MEASURING INSPECTION METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE DEVICE例文帳に追加

デバイス製造処理システム、露光装置及び露光方法、測定検査装置及び測定検査方法、並びにデバイス製造方法 - 特許庁

To reflect efficiently to a common storage device, test information updated by a control device unconnected to the common storage device.例文帳に追加

共有記憶装置と非接続の制御装置により更新された試験情報を効率的に共有記憶装置に反映する。 - 特許庁

The device 15 for loading a test piece includes a beam 12, a housing container 10, an upper engagement device 25 and a lower engagement device 27.例文帳に追加

試験片装荷装置１５は、ビーム１２、収納容器１０、上部係合装置２５及び下部係合装置２７を備える。 - 特許庁

To provide a serial bus test device that can capture many data transferred on a serial bus at a high transfer rate.例文帳に追加

シリアルバス上を高速で転送されるデータを、大量に取込可能とする。 - 特許庁

To provide a synchronous type semiconductor device in which applying efficiency of electric stress for a device is improved to perform efficiently a burn-in/stress test, and a test system.例文帳に追加

バーンイン・ストレス試験を効率的に実行するため、デバイスへの電気的ストレスの印加効率を高めた同期型半導体装置、及び試験システムを提供すること。 - 特許庁

MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST METHOD, AND JIG USED THEREFOR例文帳に追加

半導体装置の製造方法とその検査方法、及び、それらの方法に用いる冶具 - 特許庁

DEVICE FOR SUPPORTING CREATION OF TEST SPECIFICATION AND MANUAL, AND SUPPORTING AUTOMATIC TESTING例文帳に追加

試験仕様書作成からマニュアルの作成を支援し自動試験を支援する装置 - 特許庁

SAMPLE HEATER, PROCESSING DEVICE, AND METHOD FOR PROCESSING TEST PIECE USING SAME例文帳に追加

試料加熱装置および処理装置ならびにそれを用いた試料の処理方法 - 特許庁

The high-threshold device is also used for a non-core circuit like a test circiut.例文帳に追加

高スレショルドのデバイスは、例えばテスト回路といった非コア回路にも使用され得る。 - 特許庁

To develop a TCC's surrogate cleaning device and a cleaning method for keeping the tip of a test probe clean by cleaning pin elements of IC device or receptacles for a test chip.例文帳に追加

ＩＣ装置のピン素子やテスト・チップ・レセプタクルを清掃して、テスト・プローブの尖端を清潔に保つ、清掃用ＴＣＣ清掃装置及びその清掃方法の開発。 - 特許庁

Then, the update is executed on at least one distributed test device 16.例文帳に追加

そして、少なくとも一つの分散型テストデバイス１６において更新を実行する。 - 特許庁

ACCELERATED SURFACE DETERIORATION TEST METHOD AND DEVICE例文帳に追加

表面状態劣化促進試験方法、並びに、表面状態劣化促進試験装置 - 特許庁

PROGRAM, METHOD, AND DEVICE FOR CONTROLLING DB SEQUENCE BACKTRACKING IN PROGRAM MODEL TEST例文帳に追加

プログラム・モデル検査におけるＤＢシーケンス・バックトラック制御プログラム、方法、及び装置 - 特許庁

To improve the reliability of a laminated type semiconductor device to a heat cycle test.例文帳に追加

積層型半導体装置の熱サイクル試験に対する信頼性を向上させる。 - 特許庁

To facilitate work for disposing a test object on an electric connection device.例文帳に追加

被検査体を電気的接続装置に配置する作業を容易にすることにある。 - 特許庁

CONSTRUCTION METHOD OF COMBINATORIAL SWITCHING MATRIX AND TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE THEREOF例文帳に追加

組合せ型スイッチングマトリクスの構築方法およびその半導体装置の試験システム - 特許庁

To provide an air conditioning device for environmental test capable of reducing man-hour for executing an environmental test, miniaturizing the device, and reducing its running cost.例文帳に追加

環境試験の実施に掛かる手間が少なく、装置を小型化することができ、ランニングコストを低く抑えることができる環境試験用空調装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PROCESSING USER-DEFINED EVENT GENERATED DURING TEST OF DEVICE例文帳に追加

デバイスのテスト中に生成されたユーザ定義イベントの処理方法および処理装置 - 特許庁

LINE CALL GENERATOR FOR FUNCTION TEST OF RADIO DATA SERVICE DEVICE AND FUNCTION TESTING METHOD例文帳に追加

無線デ—タサ—ビス装置の機能試験用回線呼発生器及び機能試験方法 - 特許庁

To provide a game device allowing an operator to grasp the result of a test for action of an analog control means intuitively and a method of displaying the test result in the game device.例文帳に追加

アナログ的な操作手段の動作をテストするときに、テスト結果を直感的に把握できるゲーム装置、およびゲーム装置のテスト結果表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of semiconductor device which reflects possibility of having potential defect in test result of a bit line pair which can be a defect, and the semiconductor device.例文帳に追加

不良となり得るビット線対のテスト結果に、潜在的な不良を有する可能性を反映する半導体装置のテスト方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

To improve reliability of a heat cycle test on a stacked semiconductor device.例文帳に追加

積層型半導体装置の熱サイクル試験に対する信頼性を向上させる。 - 特許庁

To provide a test method of semiconductor device which can enhance an efficiency of a tester.例文帳に追加

テスタの効率を向上させ得る半導体素子の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test device having an address generation circuit, the device generating addresses to meet a burst mode test in which consecutive addresses are not limited to lower bits.例文帳に追加

連続アドレスが下位ビットに限定されないようなバーストモードのテストに対応したアドレスの生成が行えるアドレス発生回路を備えたメモリテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device under test wherein a treatment solution becomes uniform.例文帳に追加

処理液の流れが均一になる検査デバイスの提供を解決すべき課題とする。 - 特許庁

OIL CONTAMINATION DEGREE INSPECTION SYSTEM, OIL CONTAMINATION INSPECTION TEST PAPER AND OIL CONTAMINATION MEASURING DEVICE例文帳に追加

オイルの汚れ度検査システム、オイル汚れ検査試験紙及びオイル汚れ測定装置 - 特許庁

SMOKE GENERATING DEVICE FOR SMOKE DETECTING TEST IN AIRPLANE CARGO ROOM AND SMOKE GENERATING METHOD例文帳に追加

航空機荷物室の煙探知試験用煙発生装置及び煙発生方法 - 特許庁

The probe system comprises a body, a test device, a probe card, and an enhanced mechanism.例文帳に追加

ボディと、テスト装置と、プローブカードと、強化機構とを含むプローブシステムが提供される。 - 特許庁

The test device 1 is a device to evaluate input/output processing of the data exchanged between the test object application 4 and a hardware layer 7 via the driver layer 3.例文帳に追加

試験装置１は、試験対象アプリケーション４とハードウェア層７との間でドライバ層３を介して授受されるデータの入出力処理を評価する装置である。 - 特許庁

In a test mode, the center device 12 makes one terminal device 16 to generate test sound and detects the levels of pickup the sound in the other terminal devices 16, 16, ..., at that point.例文帳に追加

テストモードにおいて、センタ装置１２は、１台の端末装置１６からテスト音を発生させ、このときの他の端末装置１６，１６，…による収音レベルを検出する。 - 特許庁

To provide a device for testing an insulation monitoring device, capable of obtaining test results of higher accuracy by performing a test using a reactive leakage current as a parameter.例文帳に追加

無効漏れ電流をパラメータとする試験を行うことにより、より高い精度の試験結果を得ることができる絶縁監視装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法 - 特許庁

To prevent damage of a semiconductor device and a testing apparatus therefor during burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時の半導体装置及びその試験装置の損傷を回避する。 - 特許庁

The heat-producing member has a contact surface which comes in contact with the device under test so that heat is supplied from the heat-producing member to the device under test.例文帳に追加

前記発熱部材は、前記発熱部材から前記テスト対象装置に熱が供給されるように、前記テスト対象装置と接触する接触面を備えている。 - 特許庁

A display device 135 draws one or more waveforms associated with the signal under the test.例文帳に追加

表示器１３５が被試験信号に関連した１つ以上の波形を描画する。 - 特許庁

To develop a screening test method for the quality of a semiconductor device substrate during etching process.例文帳に追加

半導体デバイス基板のエッチング過程の品質のスクリーニング試験法を開発する。 - 特許庁

MOVABLE STAGE FOR PLACING TEST PIECE, CIRCUIT PATTERN MANUFACTURING APPARATUS, AND CIRCUIT PATTERN TESTING DEVICE例文帳に追加

試料載置用可動ステージ、回路パターンの製造装置、及び回路パターンの検査装置 - 特許庁

To provide an inspection method for a semiconductor device wirelessly receiving a test program.例文帳に追加

無線によりテストプログラムを受信する半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic document transfer device which easily performs a self-check test work.例文帳に追加

セルフチェックテスト作業を容易に行える自動原稿搬送装置を提供する。 - 特許庁

To provide an easily and inexpensively performable quick loading test device for a pile.例文帳に追加

簡単かつ安価に実施できる杭の急速載荷試験装置を提供すること。 - 特許庁

CMIP PROTOCOL TEST AUTOMATING DEVICE AND CMIP PROTOCOL TESTING METHOD例文帳に追加

ＣＭＩＰプロトコル試験自動化装置及びそれに用いるＣＭＩＰプロトコル試験方法 - 特許庁