「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(62ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a substrate inspection device simple in constitution capable of performing inspection (in-circuit test or function test) using a contact pin and inspection (communication test) using a communication cable at the same time.例文帳に追加

コンタクトピンを用いた検査（インサーキットテストやファンクションテスト）と通信ケーブルを用いた検査（通信テスト）とを同時に実行することの可能な簡易な構成の基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device improving working efficiency of a test without preparing all devices for a radio communication system in a communication test of a mobile station.例文帳に追加

移動局の通信試験を行う際に無線通信システムのすべての装置を用意する必要がなく、試験の作業効率を向上できるようにした試験装置を提供する。 - 特許庁

The server device estimates the quality of audio and/or video indicated by the test data received by the reception-side terminal unit, based on the received test data and stored test data.例文帳に追加

サーバ装置は、受信された試験データと、記憶されている試験データと、に基づいて、受信側端末装置が受信した試験データが表す音声及び／又は映像の品質を推定する。 - 特許庁

With this structure, the withstand voltage test and the electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel can be carried out without detaching the wire connection device from the block terminal stand.例文帳に追加

このように構成することによって、結線装置をブロック端子台から取り外すことなく、配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行うことができる。 - 特許庁

To inexpensively provide a test device and method capable of sharply reducing adjustment time for performing a test wherein a test load exceeding an allowable range of a piezoelectric vibrator is applied.例文帳に追加

圧電振動子の許容範囲を超える試験荷重が加わる試験を行うための調整時間を大幅に短縮することができる試験装置及び試験方法を安価に提供する。 - 特許庁

To provide a USB test circuit which generates and outputs packets for measurement for the test of signal quality and uses a USB function for the test in a USB device such as a system LSI having a USB function.例文帳に追加

USB機能を有するシステムLSIなどのUSB装置において、信号品質のテスト用の測定対象パケットを生成および出力して、そのUSB機能をテストに供するUSBテスト回路を提供。 - 特許庁

To prevent a support bearing from being broken during a test, in a bearing testing device for testing a test bearing by mounting the test bearing on a rotating shaft supported by the support bearing.例文帳に追加

支持軸受に支持された回転軸に供試軸受を装着して当該供試軸受の試験を行う軸受試験装置において、試験中に支持軸受が破壊されることを防止する。 - 特許庁

To provide a maintenance testing device for a guiding indicator panel that is provided with a maintenance test function which performs a test without undergoing the restriction of an external system and which is for quickly performing a confirmation test after a failure.例文帳に追加

外部システムの制約を受けずに試験を行え、故障後の確認試験を迅速に行うための保守試験機能を備えた案内表示盤の保守試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test burn-in device which realizes a self diagnostic test in a low-temperature or high-temperature state and also enables a simpler self diagnostic test.例文帳に追加

本発明の課題は、低温又は高温状態における自己診断試験を実現するとともに、より簡便な自己診断試験を可能とするテストバーンイン装置を提供することである。 - 特許庁

The first surface of a test specimen (106) is put on the second surface of the test specimen (106) to join with an adhesive agent and the first surface is clamp-fixed to a device (100) to prepare the test specimen (106).例文帳に追加

試験片（１０６）を、試験片（１０６）の第１面を試験片（１０６）の第２面に、接着剤を用いて重ね接合して、該第１面を装置（１００）にクランプ固定して準備する。 - 特許庁

To provide a temperature test device having a structure that a test bath is equipped with an opening and capable of favorably controlling temperature in the test bath in a relatively wide setting temperature range.例文帳に追加

試験槽に開口が設けられた構造を備え、比較的広い設定温度範囲において試験槽の槽内温度を好適に制御することができる温度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrahigh temperature thermal expansion testing device capable of simultaneously measuring a thermal expansion test by a contact method using a bar-shaped test piece and a thermal expansion test by a non-contact method.例文帳に追加

棒状試験片を用いた接触法による熱膨張試験と非接触法による熱膨張試験とを同時に計測できる超高温熱膨張試験装置を提供する。 - 特許庁

A circuit 300 which can be dealt with by a scanning test is tested by loading into a programmable device 200, both a scanning pattern and a self test circuit in which the total number of test patterns obtained automatically is the smallest.例文帳に追加

自動で得られる総テストパターン数がもっとも少ない自己テスト回路とスキャンパターンの両方をプログラマブルデバイス２００にロードしてスキャンテスト対応回路３００のテストを行なう。 - 特許庁

To provide a test program inspection method and device for checking the consistency of a test program itself with required specifications to improve the quality of the test program.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムの検査方法及び検査装置に関し、テストプログラム自体の要求仕様に対する整合性をチェックすることでテストプログラムの品質向上を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a test environment adjusting device of a central air conditioner, reducing consumption energy required for forming a test environment and stabilizing the test environment.例文帳に追加

試験環境の形成にかかる消費エネルギーを低減するとともに、その試験環境を安定化させることができるセントラル空調装置の試験環境調整装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for a nonvolatile semiconductor memory enabling to shorten a test time without increasing layout area and without requiring an expensive test device.例文帳に追加

レイアウト面積を大きくすることなく、また高価な検査装置を必要とすることなく、検査時間の短縮を図ることを可能とする、不揮発性半導体記憶装置の検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a vibration test device performing a sweep test with constant velocity amplitude and a sweep test with constant acceleration amplitude in a wide frequency band including a high frequency region.例文帳に追加

高周波域を含めた広い周波数帯において速度振幅一定スイープ試験及び加速度振幅一定スイープ試験を行うことのできる振動試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a bus loading test device and a processing system by which a state of a bus loading is realized at optional set ratio and a bus test is easily performed with successful test efficiency.例文帳に追加

設定した任意の割合でバス負荷の状態を実現でき、しかも試験効率良く容易にバス試験を行うことができるバス負荷試験装置および処理システムを提供する。 - 特許庁

This device performs a confirmation test to confirm the subject's understanding ability to the test according to the contents of the reply and determines whether further performing the balance test or not.例文帳に追加

また、応答の内容に応じて被検者の検査に対する理解能力を確認するための確認テストを行い、そのままバランステストを行うかどうか判断するようになっている。 - 特許庁

To provide a test tube type discriminating device precisely discriminating types of a plurality of test tubes stored in a test tube rack and performing discrimination work in a short period of time.例文帳に追加

試験管ラックに収容されている複数の試験管の種類を正確に判別でき、しかも判別作業を短時間内に行なうことのできる試験管種類判別装置を提供。 - 特許庁

To provide a leakage testing device capable of measuring accurately the pressure inside a test object without increasing test man-hours, and detecting leakage from the test object with extremely high accuracy.例文帳に追加

被試験体内の圧力を、試験工数を増加することなく正確に計測し、被試験体の漏れを極めて高い精度で検出することができる漏洩試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an air leakage test method and an air leakage test device capable of executing under the atmospheric pressure without putting the whole test object product into a vacuum container, and realizing the quantification and high accuracy of the leakage amount.例文帳に追加

検査対象物全体を真空容器に入れることなく大気圧下で行え、かつ漏れ量の定量化、高精度化が実現できる気密漏れ検査方法と装置を提供する。 - 特許庁

To provide an LSI test device which can reduce periods necessary for an LSI test by reducing the frequency for setting test timing information contained in a function pattern, in an LSI tester.例文帳に追加

ファンクションパターンに含まれるテストタイミング情報をＬＳＩテスタに設定する回数を減らして、ＬＳＩのテストに要する時間を削減することが可能なＬＳＩテスト装置を提供すること。 - 特許庁

To detect defects on the structure of a test object speedily and with an improved signal noise ratio in a circuit device for processing signals which are generated from the defects on the structure of the test object by ultrasonic waves during the nondestructive test of the test object.例文帳に追加

被検体の無破壊試験で被検体の構造の欠陥の超音波によって生じる信号の処理のための回路装置において、被検体の構造の欠陥を高速度で、かつ改善された信号雑音比で検出すること。 - 特許庁

To provide low cost semiconductor test equipment and a testing method by using such a semiconductor test equipment which has a storage capacity smaller than related equipment and can test a memory device under test which has a large storage capacity.例文帳に追加

従来よりも小さい記憶容量を有しながら、記憶容量の大きな被試験メモリデバイスを試験することができる低コストの半導体試験装置およびそのような半導体試験装置を用いた試験方法を提供する。 - 特許庁

In the read/write test, test lengths having the specified lengths for all of the laps are set, and a test pattern is written into the part of the test length, and further, the same pattern is read out to verify the existence of the trouble to the device or the tape.例文帳に追加

リード・ライト試験ではすべてのラップについて所定の長さの試験長を設定し、当該試験長部分に対してテスト・パターンを書き込み、さらに同パターンを読み取って装置またはテープへのトラブルの有無を検証する。 - 特許庁

In the pseudo-spatial transmission test device 100 of this system, antennas 22, 32 and radio communication units 20, 30 are respectively mounted on both ends of a test cavity 10, and the transmission test is carried out between the radio communication units, by using the test cavity for a pseudo-space.例文帳に追加

本発明の疑似空間伝送試験装置１００は、試験空洞１０の両端にアンテナ２２，３２と無線通信装置２０，３０とを装着し、試験空洞を疑似空間として無線通信装置の間で伝送試験を行う。 - 特許庁

In this heat aging test device, the heat aging tests of test pieces S in a test vessel 2 can be performed while substituting air in a thermostatic vessel 1 for outside air and circulating the air heated in the test vessel 2 arranged in the thermostatic vessel 1.例文帳に追加

恒温槽２内の空気を外部の空気と置換しながら、恒温槽１内に配置した試験槽２内に加熱した空気を循環させながら試験槽２内の試験片Ｓの熱老化試験を行う熱老化試験装置である。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for electronic devices, for detecting error-occurred spots and for preventing alarms, when power supply thereof is turned to ON or OFF, in a test program having test programs with several tens of thousands to several hundred thousand steps.例文帳に追加

電子デバイス用試験装置及び電子デバイスの試験方法に関し、数万〜数十万ステップの試験プログラムにおいて、異常が発生した箇所を検出するとともに、電源のＯＮ、ＯＦＦ時にアラームが出ないようにする。 - 特許庁

To provide a dry gas enclosing device which prevents the discharge to the outside of a test head of dry gas introduced between the test head and a probe card and leaking into the test head in the case of connecting the test head and the probe card through a coaxial connector.例文帳に追加

同軸コネクタを介してテストヘッドとプローブカードとを接続する場合において、テストヘッドとプローブカードとの間に導入されテストヘッド内に漏れる乾燥ガスのテストヘッド外部への排出を防ぐ乾燥ガス封入装置の提供。 - 特許庁

The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20.例文帳に追加

被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。 - 特許庁

Next, the room temperature test is performed, and a method of testing the semiconductor device accepts or reject the memory cell arrays 11a to 11n on the basis of the high temperature test result written on the memory cell arrays 11a to 11n and the room temperature test result of the room temperature test.例文帳に追加

次いで、常温試験を行い、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎに書き込まれた高温試験結果と、常温試験の常温試験結果とに基づいて、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎの合否判定を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can shorten the time needed to test a semiconductor device, a control method of the semiconductor test device for external equipment, and a storage medium stored with its control program.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体デバイスの試験に要する時間を短縮することを可能とする半導体試験装置、半導体試験装置における外部機器の制御方法、及びその制御プログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

To provide a method of a hydraulic pressure test and a hydraulic pressure test device capable of performing a hydraulic pressure test when a power generation plant is newly built, regardless of an installation time period of a pure water device and a water softening treatment device, and preventing a boiler from corrosion and rusting.例文帳に追加

純水装置や軟水処理装置の設置時期に関わらずに発電プラントの新規建設時で水圧試験を実施可能とするとともに、ボイラの防食、防錆を行う水圧試験方法及び水圧試験装置を提供する。 - 特許庁

This IC socket for mounting detachably a device to be measured on a test board is equipped with a signal generation part for a test for generating a signal for the test based on a control command from a testing device body, and outputting it to the device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスをテストボード上に着脱自在に実装するＩＣソケットにおいて、試験装置本体からの制御指令に基づいて試験用信号を発生して被測定デバイスに出力する試験用信号発生部を備える。 - 特許庁

The product inspection result to which the inspection test result number is attached by the device is stored in an inspection test result storage device 6 and also stored in a single writable recording medium by an inspection test result list storage device 8.例文帳に追加

検査成績書発行装置４により検査成績書番号を付与された製品検査結果は検査成績書記憶装置６に記憶されると共に検査成績書一覧記憶装置８にて１回性書き込み記録媒体にも記憶される。 - 特許庁

In a scan path test, the semiconductor integrated circuit device is provided with the number of the terminals of a test clock SCLK which is fewer than the number of domains of user clocks (UCLK1 to UCLK3) and comprises a test clock control circuit (TCLKCTL) for controlling whether a pulse of the test clock SCLK is allowed to propagate through a test clock line or to be cut off.例文帳に追加

スキャンパステストの際、ユーザクロック（ＵＣＬＫ１〜ＵＣＬＫ３）ドメイン数よりも少ない数のテストクロックＳＣＬＫの端子を確保し、テストクロックライン上にテストクロックＳＣＬＫのパルスを伝播するか遮断するかを制御するテストクロック制御回路（ＴＣＬＫＣＴＬ）を備えている。 - 特許庁

The widely used test tube preparation device or the like to a tray is utilized to prepare label pasted test tubes and the direction of the test tubes after a label is pasted is detected to be arranged by utilizing a turntable so that the bottom parts of the test tubes are directed ahead to make the axial lines of the test tubes coincide with a feed direction.例文帳に追加

汎用されているトレイへの試験管準備装置などを利用して、ラベルを貼着した試験管を準備し、ラベル貼着後の試験管の向きを検出して底部が先になるようにターンテーブルを利用して揃えると共に、試験管の軸心線を搬送方向と一致させる。 - 特許庁

A test controlling device 20 performs a test while using at least one tested circuit in the lot as a sample, and on the basis of the result of the test on this sample, a test on a tested circuit other than the sample is omitted as to the test item for which the allowance information is set by the condition setting part 10.例文帳に追加

試験制御装置２０は、ロット内の少なくとも１つの被試験回路をサンプルとして試験し、このサンプルに対する試験結果に基づいて、条件設定部１０により許可情報が設定された試験項目の、サンプル以外の被試験回路に対する試験を省略する。 - 特許庁

Then, by allocating test items for testing the function of the program to be released to the respective determined test periods on the basis of the function indicated by a function ID included in test item information read from a test item information storage device 20, the test plan is prepared.例文帳に追加

次に、リリースされるプログラムの機能をテストするテスト項目を、テスト項目情報記憶装置２０から読み出したテスト項目情報に含まれる機能ＩＤが示す機能に基づいて、前記決定された各テスト期間に割り当てることによって、テスト計画を作成する。 - 特許庁

The output device 15 outputs the concrete quality test result table based on the created concrete quality test result table image data.例文帳に追加

出力装置１５は、作成されたコンクリート品質試験結果表画像データに基づいて、コンクリート品質試験結果表を出力する。 - 特許庁

A test sound wave is inputted into the microstructure sensor device, and a frequency characteristic of the output voltage amplitude of the sensor responded to the input of the test sound wave is analyzed.例文帳に追加

テスト音波を入力して、テスト音波の入力に応答したセンサ出力電圧振幅の周波数特性を解析する。 - 特許庁

To provide a testing device for a signal protection system which can improve a test efficiency at a test of the signal protection system.例文帳に追加

信号保安システムの試験において試験効率を向上させることができる信号保安システムの試験装置を得ることである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device provided with a test circuit in which a performance test time can be shortened without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を増大させることなく、動作試験時間の短縮を図り得る試験回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can perform test by adjusting a propagation time being different for every transmission line of a test tool.例文帳に追加

テスト治具の伝送線路ごとに異なる伝播時間を調整して試験を行なうことが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁