「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(60ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor inspection device capable of shortening a test time.例文帳に追加

試験時間の短縮を図ることが可能な半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PRESENTING SOFTWARE TEST PLACE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

ソフトウェア試験箇所提示方法、ソフトウェア試験箇所提示装置および記録媒体 - 特許庁

SOLDER PLATING FILM EVALUATION METHOD, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ACCELERATED TEST EQUIPMENT例文帳に追加

めっき膜評価方法、半導体装置の製造方法及び加速試験装置 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TEST DEVICE AND METHOD OF WASTE WATER TRAP, AND MANUFACTURING METHOD OF SAME例文帳に追加

排水トラップの気密性検査装置、気密性検査方法、及び製造方法 - 特許庁

DEVICE FOR STORING VARIABLE VALUE TO PROVIDE CONTEXT FOR TEST RESULT TO BE FORMATTED例文帳に追加

フォーマットする試験結果の文脈を提供する変数値を格納する装置 - 特許庁

CALCULATION APPARATUS, CALCULATION METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, TEST SYSTEM, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

算出装置、算出方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス - 特許庁

ELECTRON BEAM TYPE PATTERN INSPECTION DEVICE, AND METHOD FOR SETTING INSPECTION CONDITION OF TEST PIECE例文帳に追加

電子線式パターン検査装置、及び、試料の検査条件の設定方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device with which stability in a standby test can be improved.例文帳に追加

スタンバイテストの安定性を高めることのできる半導体装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATIC TEST OF PORTABLE TELEPHONE SOFTWARE例文帳に追加

携帯電話ソフトウエア自動試験方法および携帯電話ソフトウエア自動試験装置 - 特許庁

PROGRAM TEST SUPPORT DEVICE, COMPUTER PROGRAM, AND COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM例文帳に追加

プログラムテスト支援装置、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 - 特許庁

TRAY FOR ELECTRONIC PART SUBSTRATE, TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART SUBSTRATE例文帳に追加

電子部品基板用トレイ、電子部品基板の試験装置および試験方法 - 特許庁

To shorten testing time in a product test of a semiconductor storage device.例文帳に追加

半導体記憶装置の製品テストにおけるテスティング時間の短縮化を図る。 - 特許庁

To provide an electro-optical device capable of easily performing a lighting test.例文帳に追加

点灯検査を簡易に行うことができる電気光学装置を提供する。 - 特許庁

INTERFACE APPARATUS, AND METHOD FOR CONDUCTINUITY TEST BETWEEN INTERFACE DEVICE PIN AND SUBSTRATE TERMINAL例文帳に追加

インターフェース装置、及びインターフェースデバイスピンと基板端子間の導通試験方法 - 特許庁

METHOD, DEVICE AND PROGRAM FOR CREATING TEST SCENARIO例文帳に追加

テストシナリオ作成方法、テストシナリオ作成装置およびテストシナリオ作成のためのプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE, AND GENERATING METHOD FOR TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積装置およびテストパターン生成方法 - 特許庁

FATIGUE STRENGTH TESTING DEVICE AND FATIGUE STRENGTH TEST METHOD FOR BRAKE PISTON MADE OF RESIN例文帳に追加

樹脂製ブレーキピストンの疲労強度試験装置および疲労強度試験方法 - 特許庁

HUMIDIFICATION CIRCUIT CONTROL DEVICE OF ENVIRONMENTAL TEST INSTRUMENT AND CONTROL METHOD OF THE HUMIDIFICATION CIRCUIT例文帳に追加

環境試験器の加湿回路制御装置及びその加湿回路制御方法 - 特許庁

COMMUNICATION METHOD, COMMUNICATION PROTOCOL INTERFACE, REMOTE TEST DEVICE AND SERVICE DIAGNOSTIC SYSTEM例文帳に追加

通信方法、通信プロトコルインタフェース、遠隔試験装置及びサービス診断システム - 特許庁

VAPOR-LIQUID TWO-PHASE FLOW SIMULATION TESTING DEVICE, AND VAPOR-LIQUID TWO-PHASE FLOW SIMULATION TEST METHOD例文帳に追加

気液二相流模擬試験装置および気液二相流模擬試験方法 - 特許庁

The test program 200 executes processing for testing an operation of a communication device 125.例文帳に追加

テストプログラム２００は、通信デバイス１２５の動作をテストする処理を実行する。 - 特許庁

A test and measurement device 100 receives an RF signal at an input terminal 110.例文帳に追加

試験測定装置１００は、入力端子１１０でＲＦ信号を受ける。 - 特許庁

(a) Knowledge necessary for structure, function, maintenance, remodeling, and test of radio communication device 例文帳に追加

イ　無線通信機器の構造、機能、整備、改造及び試験に必要な知見 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a method for testing a semiconductor device, which can reduce test costs.例文帳に追加

テストコストの低減を実現可能な半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test procedure generating device for improving program development efficiency.例文帳に追加

プログラム開発効率を向上させる試験手順生成装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR RETRIEVING TEST BLOCK FROM BLOCKWISE STORED REFERENCE IMAGE例文帳に追加

ブロックで保存された参照画像からテストブロックを取得する方法及び装置 - 特許庁

To simplify a burn-in test process in a wafer state, thus providing a compact device.例文帳に追加

ウェハ状態でのバーンイン試験の工程を簡素化し、装置のコンパクト化を計る。 - 特許庁

LATCH MECHANISM FOR HOISTING AND LOWERING BODY AND DEVICE FOR DROP TEST ON CONTROL ROD USING IT例文帳に追加

昇降体のラッチ機構およびそれを用いた制御棒落下試験装置 - 特許庁

The recording belt 16 is mounted to a test head of this magnetic flaw detection device.例文帳に追加

そして、この磁気記録ベルト１６を磁気探傷装置のテストヘッドに装着する。 - 特許庁

A first optical switch (54) routes the stimulus signal to device test ports (27, 28).例文帳に追加

第１の光スイッチ（５４）は刺激信号を装置試験ポート（２７，２８）に導き。 - 特許庁

To inexpensively perform a load test with an equipment playing the role of a server device.例文帳に追加

サーバ装置の役割を果たす機器に対する負荷テストを、低コストで実現する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR FOCUS TEST OF LITHOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

リソグラフィ装置の焦点試験方法およびシステム、およびデバイス製造方法 - 特許庁

To provide a test system for efficiently testing a tested device.例文帳に追加

被試験装置の試験を効率良く行うことができる試験システムを提供する。 - 特許庁

To simply test the characteristic of a device provided with an IC.例文帳に追加

ＩＣを有するデバイスの特性を簡易的にテストすることができるようにする。 - 特許庁

A semiconductor memory device 2 has a normal mode and a test mode.例文帳に追加

半導体記憶装置２は動作モードとして通常モードとテストモードとを有する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a semiconductor device capable of shortening the test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

THIN FILM COATING SHEET TEST PIECE CUT OUT METHOD AND THIN FILM COATING SHEET MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

薄膜塗工シート検査片切出方法、及び薄膜塗工シート製造装置 - 特許庁

To perform a high accuracy emulation test by using a simulated semiconductor device.例文帳に追加

シミュレートされた半導体デバイスを用いて、精度の高いエミュレーション試験を行う。 - 特許庁

ANALYTICAL METHOD FOR SCAN TEST CIRCUIT, TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED-CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト回路の解析方法、テスト装置、および半導体集積回路装置 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT DEVICE AND FLIP-FLOP GROUP INITIALIZATION METHOD INSIDE INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

スキャンテスト回路装置および集積回路内部のフリップフロップ群初期化方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DESIGNING LAYOUT OF TEST- FACILITATED SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テスト容易化半導体集積回路のレイアウト設計方法および設計装置 - 特許庁

TEST METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法及び製造方法並びに半導体ウェハ - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND SCAN TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

スキャンテスト回路およびそれを備えた半導体装置ならびにスキャンテスト方法 - 特許庁

To provide a probe device and a processing apparatus capable of performing an effective wafer probe test.例文帳に追加

効率的なウェハプローブテストが可能なプローブ装置及び処理装置の提供。 - 特許庁

TEST METHOD, OPERATING CONDITION SETTING METHOD AND DEVICE CAPABLE OF SETTING OPERATING CONDITION例文帳に追加

試験方法、動作条件設定方法及び動作条件設定可能な装置 - 特許庁