「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(63ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain a test program collating device which can check a test program by appropriate inspection standards and contributes to the quality assurance of a product.例文帳に追加

適切な検査規格によるテストプログラムであることを確認でき、製品の品質保証に資するテストプログラム照合装置を得る。 - 特許庁

The test device for assisting in locating the cable efficiently provides both tone and link pulses simultaneously to the cable under test.例文帳に追加

ケーブルの位置を効率的に特定する助けをするための検査器は、トーンとリンクパルスの双方を検査中のケーブルに同時に与える。 - 特許庁

To provide a testing device in which both high-speed test and low- speed test can be conducted on one evaluation board.例文帳に追加

１つの評価ボード上で高速試験及び低速試験の両方を行うことができる試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

Therefore, the test program for testing a simple body of the first memory chip can be utilized as a test program for the semiconductor device after assembly.例文帳に追加

このため、第１メモリチップ単体を試験する試験プログラムを、半導体装置の組み立て後の試験プログラムとして流用できる。 - 特許庁

To shorten the test time of testing a device under test including a scan chain comprising a plurality of flip-flops.例文帳に追加

複数のフリップフロップから構成されるスキャンチェインを有する被試験デバイスの試験の試験時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of more surely performing an operation test while reducing the number of terminals for the operation test of an internal circuit.例文帳に追加

内部回路の動作テストのための端子を減らしつつ、より確実に動作テストすることが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

In an ultrafine hardness measuring device 100, hardness against a test piece of steel is measured at multiple points by an ultrafine hardness test.例文帳に追加

超微小硬さ測定装置１００が、鋼材の試験片に対して超微小硬さ試験により硬さの多点測定を行う。 - 特許庁

To provide a fretting corrosion testing device capable measuring accurately frictional force generated between test pieces when conducting a fine sliding test.例文帳に追加

微摺動試験を行う際に試験片間に生じる摩擦力を正確に測定できるフレッチング腐食試験装置を提供する。 - 特許庁

The device of housing and endowing the test strips 142 has a vessel housing a stack 104 of the test strips.例文帳に追加

試験ストリップ１４２を格納しかつ分与するための装置は、試験ストリップのスタック１０４を格納するように構成された容器を含む。 - 特許庁

To provide a mobile communication terminal test device and mobile communication terminal test method capable of displaying EVM for each slot.例文帳に追加

ＥＶＭをスロットごとに表示することができる移動通信端末試験装置及び移動通信端末試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive digital eddy current defect detection test device capable of performing efficiently an eddy current defect detection test of a pipe.例文帳に追加

パイプの渦流探傷試験を効率よく実施することができる安価なデジタル式渦流探傷試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test method and a test device capable of efficiently determining whether a tested machine performs the desired operation or not.例文帳に追加

被試験機が所望の動作をしているか否かを効率的に判定することができる試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a static semiconductor memory device capable of shortening the test time of a data retention test, thereby improving productivity.例文帳に追加

データリテンションテストのテスト時間を短縮して、生産性を向上させることができるスタティック型半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device and its test method improving reliability of the operation test while suppressing the increase of a chip size.例文帳に追加

チップサイズの増加を抑制しつつ動作テストの信頼性を向上出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a test method, and a program capable of performing a test within a short period of time.例文帳に追加

本発明は、短い時間でテストを行うことが出来る半導体装置、試験方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a testing device capable of creating a test program where appropriate settling time detected automatically is reflected and reducing test costs.例文帳に追加

自動的に検出される適切なセットリングタイムが反映されたテストプログラムを作成し、テストコストを低減できる試験装置を提供する。 - 特許庁

A test invertor 21 is connected to a battery simulator 23 through the connection device 31, and the test invertor 21 is connected to a motor 24.例文帳に追加

供試インバータ２１が接続装置３１を介してバッテリシミュレータ２３に接続され、また、供試インバータ２１はモータ２４に接続されている。 - 特許庁

To enable verification of the operation state of each pixel in a pixel array part and to simplify a device test to shorten the test time.例文帳に追加

ピクセルアレイ部の各ピクセル（画素）の動作状態の検証を可能にするとともに、デバイステストを簡略化してテスト時間の短縮する。 - 特許庁

To provide a simple inspecting method of an organic thin film capable of enlarging a test area and conducting a test speedily; and to provide a device for the inspection.例文帳に追加

検査面積の大型化が可能で、検査速度の速い簡便な有機薄膜の検査方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁

To produce a set of test sequences for operating each edge-device in a main area of interest in the state of maintaining a minimum test time.例文帳に追加

試験時間を最小に維持した状態で、注目主領域で各エッジ装置を作動させる試験シーケンスのセットを作り出す。 - 特許庁

To provide a test configuration capable of rapidly and perfectly executing a test of a tire; its device; and its method.例文帳に追加

タイヤの試験を素早くかつ完全に実施可能にする、タイヤを試験するための試験配置並びに装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated device having a built-in self-test circuit which can perform an operation check test for a memory at an actual operating speed.例文帳に追加

実動作速度でメモリの動作確認テストが可能な組み込み自己テスト回路を有する半導体集積装置を提供する。 - 特許庁

The distinguishing device receives the test results and codes and transmits the test results based on the codes to the handler through the corresponding channels.例文帳に追加

識別装置はテスト結果及びコードを受信して、それらのコードに基づいて、テスト結果を対応するチャネルを介してハンドラへ伝送する。 - 特許庁

The drive controllers 1a-4a output signals for requesting permission of starting a load energization test from a test managing device 9, and then stand by.例文帳に追加

ドライブ制御装置１ａ〜４ａは試験管理装置９に負荷通電試験の開始許可を依頼する信号を出力し、待機する。 - 特許庁

To provide a test piece for a high pressure air-tight testing device and a refrigerating cycle, which may facilitate preparation of a high pressure air-tight test.例文帳に追加

高圧気密試験の準備作業の容易化が図れる、高圧気密試験装置の供試体及び冷凍サイクルを提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for generating a test bench, and a computer program, enabling simplifying description for generating the test bench.例文帳に追加

テストベンチ生成のための記述の簡略化を可能にするテストベンチ生成方法、テストベンチ生成装置、及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

WATER-POURING NOZZLE FOR PRESSURE EXPANSION TEST ON HIGH-PRESSURE GAS CONTAINER AND PRESSURE EXPANSION TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

高圧ガス容器の耐圧膨張試験用注水ノズル及び同耐圧膨張試験用注水ノズルを用いた耐圧膨張試験装置 - 特許庁

To provide a penetration test device capable of determining the penetration resistance corresponding to a standard penetration test also in a centrifugal field.例文帳に追加

遠心場においても標準貫入試験に対応した貫入抵抗を求めることができる貫入試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a measurement device for an immunochromatography test piece, capable of measuring a coloring degree of the test piece with high accuracy.例文帳に追加

免疫クロマト試験片の呈色の度合いを精度よく測定することが可能な免疫クロマト試験片の測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test device for a camera module, which can prevent distribution of defective products to the market and can shorten a test time.例文帳に追加

不良品の市場への流出を減少させ、テスト時間を短縮することができるカメラモジュールのテスト装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a pneumatic tire which can make a determination in a short period of time without making a vehicle actually travel.例文帳に追加

実車走行させることなく短期間で判断することができる空気入りタイヤの試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test device and a memory test method which determines a memory to be faulty, only when an error exists in confidential information data.例文帳に追加

機密情報データに誤りがある場合にのみメモリが不良と判定するメモリ検査装置及びメモリ検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a loading test device capable of controlling easily a load to act following deformation of a test structure or the ground.例文帳に追加

試験構造物や地盤の変形に追従して荷重を簡単に制御して作用させることができる載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an off-line test device for achieving, by one computer the off-line test of a sequence control program to be performed by a programmable controller.例文帳に追加

プログラマブルコントローラで実行されるシーケンス制御プログラムのオフラインテストを１台のコンピュータで実現可能なオフラインテスト装置を得ること。 - 特許庁

To provide an environmental test device capable of positioning and fixing a workpiece which is placed on and conveyed by a workpiece conveying pallet at the test position.例文帳に追加

ワーク搬送パレットに載せられて搬送されてくるワークを試験位置で位置決め固定できる環境試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a system for testing a semiconductor device, capable of reflecting a result of a sample test to another test, and to provide a method of testing.例文帳に追加

サンプルテストの結果を他のテストに反映させることができる半導体装置のテストシステムおよびテスト方法に関するものである。 - 特許庁

To achieve high speed operation test in a low speed tester device which can obtain detailed test result.例文帳に追加

この発明は、詳細なテスト結果を得ることが可能で、低速なテスタ装置において高速な動作テストを達成することを課題とする。 - 特許庁

In a device, a kind of gas ion beam for processing a test piece and a kind of gas ion beam for observing the test piece can be switched over.例文帳に追加

試料を加工するガスイオンビーム種と試料を観察するときのガスイオンビーム種を切り替えることが可能である装置とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a test circuit, which does not require a dedicated wire for each test signal and can reduce a wiring area.例文帳に追加

テスト信号毎の専用配線を不要とし、配線領域を削減できるテスト回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

A test mode register 5 is set to a test mode, a semiconductor integrated circuit device 1 is made a voltage force mode and the prescribed voltage is forced.例文帳に追加

テストモードレジスタ５をテストモードに設定して、半導体集積回路装置１を電圧フォースモードにし、所定の電圧をフォースする。 - 特許庁

The test device for analyzing the glucose concentration in a blood sample is fitted to take out the test sensor from the sensor package.例文帳に追加

血液試料中のグルコース濃度を分析するための試験装置は、センサパッケージから試験センサを取り出すように適合されている。 - 特許庁

BLEEDING TEST DEVICE AND BLEEDING TEST METHOD IN GROUT INJECTION CONSTRUCTION METHOD INCLUDING EVACUATION PROCESS INTO CABLE SHEATH OF PC STRUCTURE例文帳に追加

ＰＣ構造物のケーブルシース内への真空引き工程を含むグラウト注入工法におけるブリージングテスト装置、及びブリージングテスト方法。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which efficiency of a conduction test can be improved and by which a more detailed test can be performed.例文帳に追加

導通試験の効率を向上させることができるとともによりきめ細かなテストを行うための半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which memory tests of a plurality of test patterns are performed and its test time can be shortened.例文帳に追加

複数のテストパターンのメモリテストを実行するとともに、そのテスト時間を短縮することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To improve the throughput of test, enable tests to be carried out at an accurate temperature, and realize a miniaturization, simplification and cost reduction of a test device.例文帳に追加

試験のスループットを向上させ、正確な温度での試験を可能とし、試験装置の小型化、単純化および低コスト化を図る。 - 特許庁