「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(58ページ目) - Weblio英語例文検索

A test program for specifying the operation of a semiconductor testing device 2 for testing a semiconductor device DUT is generated in language for generating a test program.例文帳に追加

半導体デバイスＤＵＴを試験する半導体試験装置２の動作を規定するテスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語で作成されている。 - 特許庁

Therefore, it becomes possible to simply carry out the leak test operation of the device.例文帳に追加

そのため、装置のリーク検査作業を簡単に行なうことが可能になる。 - 特許庁

To allow a semiconductor device requiring a wafer test to be reduced in size.例文帳に追加

ウェハテストを必要とする半導体装置を縮小化を可能にすること。 - 特許庁

COMPUTER SYSTEM, INTERFACE CIRCUIT, EXTERNAL DEVICE, AND TEST METHOD OF INTERFACE CIRCUIT例文帳に追加

コンピュータシステム、インターフェース回路、外部装置およびインターフェース回路のテスト方法 - 特許庁

A dielectric lens is used, a test device is installed on the focus thereof, electromagnetic wave radiated from the test device becomes plane wave after passing the dielectric lens.例文帳に追加

誘電体レンズを用い、その焦点に供試装置を置き、供試装置から放射した電磁波が誘電体レンズを通過すると平面波になる。 - 特許庁

To emulate suitably a test device which is used mounting several modules with a mixed state.例文帳に追加

様々なモジュールを混載して使用する試験装置を適切にエミュレートする。 - 特許庁

To provide a scanning test device for reducing an overhead of a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップのオーバーヘッドを減らすためのスキャンテスト装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a test time of a semiconductor device with a flash ROM mounted thereon.例文帳に追加

フラッシュＲＯＭを搭載した半導体装置のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

EYE TARGET PRESENTATION DEVICE, OPTOMETRIC APPARATUS, AND EYE TEST METHOD USING OPTOMETRIC APPARATUS例文帳に追加

視標呈示装置、検眼装置及び該検眼装置を用いた検眼方法 - 特許庁

A storage device section 40 stores a test result of a test performed for a memory device under first environment (e.g. environment in which temperature is set to 100°C).例文帳に追加

保存装置部４０は、第１環境（例えば、温度が１００℃に設定された環境）下においてメモリデバイスに対して行う試験の試験結果を保存する。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁

This testing device is equipped with a testing device body for applying a prescribed load repeatedly on the test piece having a notch for cracking to develop a crack on the test piece, and an imaging means for imaging the cracking surface of the test piece mounted on the testing device body and served for a fatigue crack test.例文帳に追加

亀裂発生用の切欠きを備えた試験片に所定の負荷を繰り返し加えて該試験片に亀裂を生起する試験装置本体と、この試験装置本体に装着されて疲労亀裂試験に供されている試験片の亀裂発生面を撮像する撮像手段とを備える。 - 特許庁

When a test switch provided in the emergency warning device is operated, test notification of fire warning is issued by the emergency earthquake news flash device 25, and a device event signal about the test is send to the residential fire alarms 10-1 to 10-6 to carry out the test notification of an emergency earthquake news flash or a tsunami warning.例文帳に追加

緊急警報装置２５に設けた試験スイッチを操作すると、緊急地震速報装置２５で火災警報の試験報知が行われると共に、試験を示す装置イベント信号が警報器１０−１〜１０−６に送られ、緊急地震速報や津波警報の試験報知が行われる。 - 特許庁

The device comprises an inputting part that inputs specifications for the generated boundary test scanning test circuit, a storage device that a generating procedure for the boundary test scanning test circuit, a central processing unit that executes the procedure stored in the storage device, and an outputting part that outputs the generated circuit.例文帳に追加

生成されるバウンダリスキャンテスト回路の仕様を入力する入力部と、バウンダリスキャンテスト回路生成の手順が記憶された記憶装置と、記憶装置に記憶された手順を順次実行する中央処理装置と、生成した回路を出力する出力部とを有する。 - 特許庁

To provide a technology for significantly reducing test man-hours for the withstand voltage test of a three-terminal capacitor using a simple device, and for making the withstand voltage test by a one-time withstand voltage test process of the three-terminal capacitor to be tested completed.例文帳に追加

簡便な装置で３端子コンデンサの耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し、かつ被試験３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる技術を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device 1 includes a test mode setting circuit 21 which is connected onto an output route of the mask circuit 11 and performs setting of a test to be performed in the test mode, according to the test mode setting signal being input.例文帳に追加

半導体装置１は、マスク回路１１の出力経路上に接続され、テストモード設定信号が入力されることに応じてテストモードで行われる試験の設定を行うテストモード設定回路２１を備える。 - 特許庁

In the test chart reconfiguration, the test chart control section 204 refers to the frequency of use of each color for updating the test chart of the operating image-forming device 10 by referring to the test chart of other image-forming devices.例文帳に追加

テストチャート再構成時には、テストチャート制御部２０４は、それぞれの色の使用頻度を参照し、他の画像形成装置のテストチャートを参照して、動作する画像形成装置１０のテストチャートを更新する。 - 特許庁

To provide a friction test device and a friction test method advantageous for improving friction test accuracy, capable of forming a frozen surface similar to a frozen surface of an ordinary road or a test course which has been changed into a frozen road.例文帳に追加

アイスバーンとなった一般道やテストコースの氷結表面に近似した氷結表面を形成でき、摩擦試験精度の向上を図る上で有利な摩擦試験装置及び摩擦試験方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a system test device which can integrate the steps from creating a test specification, executing a test, and generating the test result, to creating a manual, thereby reducing a load on a system designer, and realizing a system with high reliability.例文帳に追加

試験仕様書、試験の実施、試験結果およびマニュアル作成までの工程を一元化し、システム設計者の負担を軽減し、かつ、信頼性の高いシステムを実現することのできるシステムテスト装置を得る。 - 特許庁

This simulation system includes: a test result database storing test result data set with an output result of a tested device (DUT) model to a prescribed test item; and a framework operating the test plan program.例文帳に追加

シミュレーションシステムは、所定のテスト項目に対する被試験デバイス（ＤＵＴ）モデルの出力結果を設定した試験結果データを格納する試験結果データベースと、テストプランプログラムを動作させるフレームワークとを備える。 - 特許庁

To provide a device capable of acquiring stable test data in a drop impact testing machine constituted so as to perform the drop impact test of a test sample by attaching the test sample 10 to a jig 1 to drop the jig 1.例文帳に追加

試験サンプル１０を治具１に取り付け、この治具１を落下させて試験サンプルの衝撃試験を行なうようにした落下衝撃試験装置において、安定した試験データの得られる装置を提供する。 - 特許庁

To improve the efficiency and accuracy of a test by preventing the interruption or a delay of the test and the abnormal determination of a test result even if a signal not directly involved in the test is transmitted and received to/from a device to be tested.例文帳に追加

被試験装置との間で試験には直接関与しない信号が送受信されても、試験の中断や遅延、試験結果の異常判定が発生しないようにして、試験の効率と精度の向上を図る。 - 特許庁

While rear faces of fractured test pieces 2 which are fractured by a tensile test are being illuminated with a first lighting device 30, the two test pieces 2 are imaged by a CCD camera 20, and an image is acquired regarding the test pieces 2.例文帳に追加

引張り試験によって破断した試験片２の背面を第一照明装置３０で照らしながら、ＣＣＤカメラ２０で二つの試験片２を撮像することにより、試験片２についての画像を取得する。 - 特許庁

This device is equipped with the test chamber 12 for testing leakage, burning and explosion of hydrogen; an air supply device 14 for supplying combustion air into the test chamber; and a flue gas treating device 16 for treating exhaust gas generated in the test chamber.例文帳に追加

水素の漏洩、燃焼、及び爆発を試験する試験室１２と、試験室に燃焼用空気を供給する給気装置１４と、試験室内で発生した排ガスを処理する排煙処理装置１６とを備える。 - 特許庁

To provide a testing device for a control device capable of easily performing rearranging work of a needed test circuit in the case of performing a confirmation test for a control device housed in a control panel and appropriately performing test data collection and decision work.例文帳に追加

制御盤に収納された制御機器の確認試験を行う際に必要な試験回路の組替え作業を容易に行え、試験データの採集や判定作業を適切に行える制御機器試験装置を得ることである。 - 特許庁

To provide electronic equipment, and a test device and a test method for the electronic equipment that can advance a test on a communication function or the like using a device ID even when the device ID to be read shows an abnormal value owing to an unwritten condition or the like.例文帳に追加

読み出すべき装置ＩＤが未書込等により異常値を示す場合であっても、それを使用すべき通信機能等のテストを進めることができる電子機器並びに電子機器のテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

This work carry-in/out device is provided with a work carriage taking in/out device 22 arranged in a side of the test machine, and a common carriage 23 arranged between the device 22 and the test machine and reciprocated by a common carriage moving device 24.例文帳に追加

試験機の側方に配置されるワーク台車出し入れ装置22と、装置22と試験機との間に配置されて共通台車移動装置24により往復移動される共通台車23とを具備する。 - 特許庁

The lay-out providing device comprises a device for synthesizing the test probe molecule with high density, a microarray testing device and a microarray reading device.例文帳に追加

レイアウト提供装置は、高密度でテストプローブ分子を合成するための装置、マイクロアレイ・テスト装置、及びマイクロアレイ読み取り装置からなる。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of specifying a place generating a contact failure, and to provide a semiconductor wafer device and a test method.例文帳に追加

コンタクト不良の発生場所を特定することができる試験回路、半導体ウエハ装置、及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

To equally set the thermal impact to an electronic part that is a test sample in a thermal impact testing device to enhance the precision of test.例文帳に追加

熱衝撃試験装置において、被試験サンプルである電子部品の熱衝撃度を同一にし、試験の精度を上げる。 - 特許庁

To provide a generation device for a boundary scanning test circuit that can generate a boundary scanning test circuit with a prevention structure for a ground bounce.例文帳に追加

グランドバウンスの防止構造を備えたバウンダリスキャンテスト回路を生成可能なバウンダリスキャンテスト回路生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device capable of efficiently extracting a suitable test case under the consideration of the past test result.例文帳に追加

過去のテスト結果を考慮して好適なテストケースを効率良く抽出することができる装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A parent metal thickness calculation device 11 calculates the thickness of the test subject by using the detected position of the test subject outer surface.例文帳に追加

母材肉圧計算装置１１は、検出された前記被検体外表面の位置を用いて被検体の肉厚を計算する。 - 特許庁

In a state where a flat belt type running test device 100 performs a running test of a tire, a remote switch 32 is turned on.例文帳に追加

フラットベルト式走行試験装置１００がタイヤの走行試験を行っている状態で、リモートスイッチ３２をオン操作する。 - 特許庁

To provide a device for testing rocking rotation, capable of performing both endurance test and performance test of a machine component or the like.例文帳に追加

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行うことが可能な揺動回転試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a seal kit suitable for a leak test device enabling an accurate leak test while including a mechanism of simple and low-power type.例文帳に追加

簡易かつローパワータイプの機構を含みながらも、正確にリークテストを行えるリークテスト装置に適したシールキットを提供する。 - 特許庁

To provide a test piece and a crack development behavior monitoring device for the test piece capable of grasping and recognizing crack development behavior in advance.例文帳に追加

事前にき裂進展挙動を把握、認識できる試験片および試験片のき裂進展挙動モニタリング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for a RAM by which a test time of a semiconductor device incorporating plural RAMs can be shortened.例文帳に追加

複数のＲＡＭを搭載する半導体装置のテスト時間を短縮することができるＲＡＭのテスト方法を提供する。 - 特許庁

After a memory device is subjected to a data holding property test (step S4) in a wafer state, test data are rewritten to data of reverse pattern (step S6).例文帳に追加

ウエハ状態でのデータ保持特性試験（ステップＳ４）終了後、テストデータを逆パタンのデータに書き換える（ステップＳ６）。 - 特許庁

To realize a semiconductor device capable of initial operation test even in the situation where a program for the test cannot be stored in a ROM.例文帳に追加

ＲＯＭに試験用プログラムを記憶させることができない場合にも初期動作の試験が可能な半導体装置の実現。 - 特許庁

To provide a semiconductor device including a test circuit capable of making unnecessary dedicated wiring for each test signal and reducing writing regions.例文帳に追加

テスト信号毎の専用配線を不要とし、配線領域を削減できるテスト回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a CPU board with the online test function of a peripheral device part, and to provide an online test method thereof.例文帳に追加

周辺デバイス部のオンラインテスト機能を備えたＣＰＵボード、及びそのオンラインテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A test value 14 installed in the water flow detecting device has an angle valve structure, and the installation height of the test valve 14 is lowered.例文帳に追加

流水検知装置に設置される試験弁１４をアングル弁構造として、試験弁１４の設置高さを低くする。 - 特許庁

A test pattern generating device 2 reads and writes a test pattern with regard to each address of semiconductor memories to be tested.例文帳に追加

テストパターン発生装置２は、試験対象とする半導体メモリの各アドレスに対してテストパターンの書き込み，読み出しを行う。 - 特許庁

To efficiently test a test object device which outputs an output signal derived by modulating a base band signal by a carrier signal.例文帳に追加

ベースバンド信号がキャリア信号により変調された出力信号を出力する被試験デバイスを、効率よく試験する。 - 特許庁