「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(54ページ目) - Weblio英語例文検索

TACKINESS TESTING DEVICE FOR PREPREG AND TACKINESS TEST METHOD OF PREPREG例文帳に追加

プリプレグの粘着性試験装置およびプリプレグの粘着性試験方法 - 特許庁

ELUTION TEST DEVICE AND METHOD HAVING IMPROVED FILTRATION SYSTEM例文帳に追加

改善されたろ過システムを有する溶出試験装置および試験方法 - 特許庁

SIGNAL PROCESSING CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE, AND TEST METHOD OF SIGNAL PROCESSING CIRCUIT例文帳に追加

信号処理回路、電子装置、および信号処理回路の試験方法 - 特許庁

GAS SUPPLY FACILITY FOR AIRTIGHT TEST AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

気密試験用ガス供給設備及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a wind tunnel model support device capable of improving the measurement accuracy of a wind tunnel test, and a wind tunnel test device using it.例文帳に追加

風洞試験の測定精度を向上することができる風洞模型支持装置およびそれを用いた風洞試験装置を提供する。 - 特許庁

To reduce cost and period in a test device for testing an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路をテストするテスト装置において、費用、期間を削減する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING THE OPTIMUM INITIAL VALUE IN TEST PATTERN GENERATOR例文帳に追加

テストパターン発生器における最適初期値の決定方法および装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND METHOD FOR VERIFYING EXECUTION RESULT OF COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

コンピュータプログラムの実行結果を検証するためのテスト装置及び方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR CHARGE/DISCHARGE TEST OF SECONDARY BATTERY例文帳に追加

二次電池の充放電試験装置と二次電池の充放電試験方法 - 特許庁

TEST PIECE CLAMPING DEVICE AND TESTING MACHINE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

試験片クランプ装置及びこの試験片クランプ装置を備えた試験機 - 特許庁

CONVEYING DEVICE OF TEST TUBE TO BE LABELED IN STACKED CONDITION例文帳に追加

ラベルを貼着するための試験管の堆積状態からの搬送装置 - 特許庁

BUILT-IN DATA TRANSMITTING DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データ伝送装置及び方法 - 特許庁

An inter-device test program parallel execution means 24 and a test program manual operation parallel execution means 25 respectively leave start for the test program stored in each device of the test device group 4 together with the required start information.例文帳に追加

装置内連続試験プログラム並列実行手段２３、装置間試験プログラム並列実行手段２４、及び試験プログラム手操作並列実行手段２５はそれぞれ必要な起動情報とともに試験装置群４の各装置に格納された試験プログラムに起動を渡す。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a semiconductor integrated circuit device including a high-speed input/output device, capable of quickly performing high-speed I/O test exceeding 1 GHz by simple board configuration without alteration of test system for each I/O specification.例文帳に追加

高速入出力装置を備えた半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置に関し、簡単なボード構成によって迅速に１ＧＨｚを越える高速Ｉ／Ｏのテストを、各Ｉ／Ｏ仕様毎にテスト・システムを変更することなく行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit verifying device which speedily verifies the function of a device to be tested and a test pattern used for its test fast without using the actual device and a tester.例文帳に追加

被試験デバイスの機能やその試験に用いるためのテストパターンを実際のデバイスやテスタを用いずに高速に検証する半導体集積回路検証装置の提供。 - 特許庁

To provide a testing device capable of reducing an effect of a leakage current varied in response to a temperature of a device under test, and capable of determining precisely quality of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスの温度に応じて変化するリーク電流の影響を低減し、被試験デバイスの良否を精度よく判定することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can test a memory circuit by only a logic test device by providing a power source voltage control means of a memory circuit in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置にメモリ回路の電源電圧制御手段を持たせることで、ロジック試験装置のみでのメモリ回路のテストを可能とする半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which easily inputs into a semiconductor device, test information necessary for an operation test of the semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験デバイスである半導体装置の動作テストに必要なテスト情報を、容易に半導体装置に入力することのできる、半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁

Whether a test command from a test command output device has been received or not is confirmed in a variable pattern command reception waiting process.例文帳に追加

変動パターンコマンド受信待ち処理にて、テストコマンド出力装置からのテストコマンドを受信したか否か確認する。 - 特許庁

In the communication device 1, a control means 10 actuates a communication test processing part 20 when a communication test is started.例文帳に追加

通信装置１では、通信試験が開始されると、制御手段１０により通信試験処理部２０が起動される。 - 特許庁

To provide a medium test method and a device, and a program, wherein a medium test which is suitable for DTM is applied.例文帳に追加

媒体試験方法及び装置並びにプログラムにおいて、ＤＴＭに適した媒体試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit test device and method, capable of improving the efficiency of a test.例文帳に追加

試験の効率を極力向上させることができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

Thus, since the test results are surely monitored in the test device 3, the load of the software is not increased.例文帳に追加

よって、テスタ装置３で確実に試験結果をモニタすることができるので、ソフトウェアの負荷が大きくなることがない。 - 特許庁

To conduct a radio reception characteristic test and a radio function test while maximizing the transmitting power of a mobile terminal device.例文帳に追加

移動端末装置の送信電力を最大にして無線受信特性試験及び無線機能試験を行うこと。 - 特許庁

A wheel leak test device includes a wheel holding part for holding a wheel, a pair of sealing tools, a pressurizing part, and a leak test section.例文帳に追加

本発明のホイールリークテスト装置は、ホイールを保持するホイール保持部、１対のシール治具、加圧部、リークテスト部を備える。 - 特許庁

The test device 1 transmits a test frame 24 with a predetermined signal pattern to a port 18a of the repeater 18.例文帳に追加

検査機器１は、中継器１８のポート１８ａに対して所定の信号パターンの試験フレーム２４を送信する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device including a test circuit performing write-mask operation, in a test of a wafer state.例文帳に追加

ウェーハ状態の試験において、ライトマスク動作を実行するテスト回路を備えた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To increase test reliability, concerning a contactor, a test device for a semiconductor apparatus, and a method for manufacturing the semiconductor apparatus.例文帳に追加

コンタクタ、半導体装置の試験装置、及び半導体装置の製造方法において、試験の信頼性を高めること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device removing a logic circuit used for probe test after the probe test is performed.例文帳に追加

本発明は、プローブテストが行われてから、プローブテストのためのロジック回路を除去し得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device capable of shortening the test period, and to provide a test method of the same.例文帳に追加

試験時間を短縮することが可能な不揮発性半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

This test tube carrying device has a direction determining mechanism 30 for automatically determining the direction of the test tube to be transferred.例文帳に追加

試験管搬送装置は、移送される試験管の向きを自動的に判定する向き判定機構３０を有している。 - 特許庁

A scan test device 1 according to the present invention includes a test data input terminal, an OR element 17, and a scan flip-flop 12.例文帳に追加

本発明にかかるスキャンテスト装置１は、テストデータ入力端子、ＯＲ素子１７、スキャンフリップフロップ１２を備える。 - 特許庁

To simply measure dynamic characteristics of a rubber bush without using a test device such as a torsion test machine.例文帳に追加

捩り試験機等の試験装置を使用せずに、簡便にラバーブッシュの動特性を測定できるようにすることである。 - 特許庁

The storage unit also comprises a test and adjustment result analysis program to perform analysis of resultant data of the test and adjustment of the radio device.例文帳に追加

また、無線機の前記試験・調整の結果のデータの分析を行う試験調整結果分析プログラムを備える。 - 特許庁

The test element is moved to a presentation position by using a rotary device from the magazine which stores the test element in the storage position.例文帳に追加

該テストエレメントは、回転装置を用いて、テストエレメントが貯蔵位置に含まれているマガジンから、提示位置に移動する。 - 特許庁

This sliding test device/sliding test method is provided with thermocouples 118A, 118C for measuring temperatures of both end parts in one side of a slide bearing 3.例文帳に追加

すべり軸受３の一側の両端部の温度を測定する熱電対１１８Ａ，１１８Ｃを備えている。 - 特許庁

To provide a function test method of an electronic control device for a vehicle capable of shortening a time required for a function test.例文帳に追加

機能検査に要する時間を短縮可能な車両用電子制御装置の機能検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a bellows durability test device capable of reliably executing a bellows durability test in a high temperature environment.例文帳に追加

高温環境下にてベローズの耐久性試験を安定して実施可能なベローズの耐久性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a test method thereof, for achieving a high-speed test at a desired operating frequency.例文帳に追加

所望の動作周波数での高速テストが可能である半導体装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test plug which can check the active status of a track and can easily connect to a test device.例文帳に追加

線路の活電状態を確認することができ、かつ容易に試験装置との接続を行えるテストプラグを提供する。 - 特許庁

To inexpensively perform operation verification of a test program at high speed in offline simulation environment of a test device.例文帳に追加

試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、テストプログラムの動作検証をより高速かつ低コストで実現する。 - 特許庁

This leakage test device 200 performs the test by applying a load onto a central block 201 by a cylinder 220.例文帳に追加

漏洩試験装置２００は、シリンダー２２０によって中央のブロック２０１に対して荷重を付加することにより行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can test plural DUT simultaneously measured in a shorter time.例文帳に追加

複数個を同時測定するＤＵＴを、より短時間に試験実施することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A test original attached with a test image is taken into an automatic original feeding device 37, and a read unit 31 reads it.例文帳に追加

テスト画像が付与されたテスト原稿を自動原稿送り装置３７に取り込ませて、読取ユニット３１に読み取らせる。 - 特許庁

A transmission test is started by sending a test request to a prescribed ATM transmission testing device during normal operation.例文帳に追加

通常の運用中、所定のＡＴＭ伝送試験装置に試験要求を出すことにより伝送試験が開始される。 - 特許庁