「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(71ページ目) - Weblio英語例文検索

When a test of a step S1 is started, a transmission protocol testing device in a step S2 transmits a control command for setting a test target device in an initial state and receives an executed response.例文帳に追加

ステップＳ１のテストを開始すると、ステップＳ２の伝送プロトコルテスト装置は、テスト対象機器を初期状態に設定する制御コマンドを送信し、実行済のレスポンスを受け取る。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM OF MAKING/GRADING TEST QUESTION, SERVER OF MAKING/GRADING TEST QUESTION, PORTABLE RESPONDENT TERMINAL DEVICE, PROGRAM, AND PROGRAM TO BE MOUNTED ON PORTABLE RESPONDENT TERMINAL DEVICE例文帳に追加

試験問題作成・採点方法およびそのシステム、試験問題作成・採点サーバ、携帯型解答者端末装置、プログラム、並びに携帯型解答者端末装置搭載用プログラム - 特許庁

To provide methods of processing and displaying data of a semiconductor test device with which a region with good wafer evaluation and a region with poor evaluation can be known, and to provide the semiconductor test device.例文帳に追加

ウェハの評価の良い部分の領域や悪い部分の領域が分かる半導体検査装置のデータ処理方法とデータ表示方法と半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

TEST CHART FOR PRINTING AREA SIZE MEASUREMENT, DEVICE AND METHOD FOR GENERATION THEREOF, QUALITY CONTROL METHOD FOR PRINTING AREA OUTPUT DEVICE, AND GENERATING PROGRAM FOR THE TEST CHART FOR PRINTING AREA SIZE MEASUREMENT例文帳に追加

画線寸法測定用テストチャート及びその作成方法並びにその作成装置、画線出力装置の品質管理方法、並びに画線寸法測定用テストチャートの作成プログラム - 特許庁

To provide an alternating current load device, capable of conducting load test of an inverter, by inputting pulse width alternating voltage width controlled alternating voltage, using a comparatively simple constitution, regarding the alternating loading device for testing inverter load test.例文帳に追加

インバータの負荷試験を行う交流負荷装置に関し、比較的簡単な構成により、インバータのパルス幅制御出力交流電圧を入力して、インバータの負荷試験を行う。 - 特許庁

A temperature sensor 24 is provided with a sensor contact section 25 at the center of a surface of the pressing element 22 contacting the test device 30, and detects the surface temperature of the test device 30 on the sucked and fixed side.例文帳に追加

温度センサ２４は、テストデバイス３０と接する押圧子２２の面の中央部にセンサ接触部２５が設けられ、吸引固定された側のテストデバイス３０の表面温度を検知する。 - 特許庁

To provide a SAW (surface-acoustic wave) device which suppresses spuriousness generated at the side of high zone in the passing zone of SAW device employing LBO for a substrate while standing against thermal shock test and drop test.例文帳に追加

基板にＬＢＯを用いたＳＡＷデバイスの通過域高域側に生じるスプリアスを抑圧すると共に、熱衝撃試験、落下試験に耐えるＳＡＷデバイスを提供する。 - 特許庁

A distributed test device system includes a user interface 12, a server 14 communicating with the user interface 12 and at least one distributed test device 16 communicating with the server 14.例文帳に追加

分散型のテストデバイスシステムは、ユーザインタフェース１２、ユーザインタフェース１２と通信するサーバ１４、およびサーバ１４と通信する少なくとも一つの分散型のテストデバイス１６を含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device in which a cost required for a test of a semiconductor device can be reduced by shortening a time required for readout by efficiently decreasing quantity of fail information.例文帳に追加

フェイル情報の量を効率的に削減して読み出しに要する時間を短縮するとこで、半導体デバイスの試験に要するコストを低減し得る半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing program debug device capable of reducing wastefulness of a facility when using a semiconductor test program or a semiconductor test device having a different specification.例文帳に追加

仕様が異なる半導体試験装置あるいは半導体試験プログラムを用いる場合に設備の無駄を低減することができる半導体試験用プログラムデバッグ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and method for performing a tensile test of a sample in a loaded state where the load is applied or reduced, more particularly, a peak excess loading device and method in a creep rupture test.例文帳に追加

印加及び低減される荷重状態で試料を引張試験する装置及び方法、より詳細には、クリープ破断試験におけるピーク超過載荷装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The memory test system is equipped with a memory testing device 10 having the fail memory 15 for storing a test result of the memory to be tested and a controller 1 for controlling the memory testing device 10.例文帳に追加

メモリ試験システムは、被試験メモリの試験結果を格納するフェイルメモリ１５を有するメモリ試験装置１０と、メモリ試験装置１０を制御する制御装置１とを備える。 - 特許庁

An information communication device 10A includes a transmission part 16 for transmitting information to the counterpart side, a test tone generation part 12 for generating a test tone, and a control part 11 that transmits the test tone generated by the test tone generation part 12 to the counterpart side by the transmission part 16 so as to determine a communication state by the return of the test tone.例文帳に追加

本発明は、情報を相手方に伝送する伝送部１６と、テストトーンを発生するテストトーン発生部１２と、テストトーン発生部１２で発生したテストトーンを伝送部１６で相手方に伝送し、そのテストトーンの戻りによって通信状態を判断する制御部１１とを備える情報通信装置１０Ａである。 - 特許庁

To provide a test specification preparation support device and a test specification preparation method, allowing storage/reuse of a test policy to efficiently prepare test specifications by a unified procedure, to provide a test specification preparation program making a computer execute the method, and to provide a construction method for a database used for the method.例文帳に追加

テスト方針の蓄積・再利用を可能にして統一した手順でテスト仕様書を効率的に作成し得るテスト仕様作成支援装置、テスト仕様作成方法、この方法をコンピュータに実行させるテスト仕様作成プログラムおよびこの方法に用いるデータベースの構築方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a bending test device and a bending test method in which a light-weight and compact loading jig can be used, a test piece can be easily aligned against and welded to the loading jig, the test piece is free from twist during transportation, etc., and only a pure bending moment is imparted to the test piece.例文帳に追加

本発明は、軽量、コンパクトな載荷治具が使用でき、試験体と載荷治具との芯出し及び溶接も容易であり、運搬時等に試験体にねじれが発生することもなく、且つ試験体に純粋な曲げモーメントのみを付与させることが可能な曲げ試験装置および曲げ試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Multiple pieces of information on test conditions described in a test program PR are stored in a hardware register 3, then one piece is selected by a register controller 9 from among the multiple pieces of information on test conditions stored in the hardware register 3, and the first test of a device 30 to be measured is conducted, based on the information on test conditions selected.例文帳に追加

試験プログラムＰＲに記述された複数の試験条件情報をハードウェア・レジスタ３に格納した後、ハードウェア・レジスタ３に格納された複数の試験条件情報のうちの一つをレジスタ・コントローラ９で選択し、その選択された試験条件情報に基づいて被試験デバイス３０の一回目の試験を行う。 - 特許庁

To provide a test strip reading and analyzing system in which, without any limitations on locations, a user communicates with a test strip analyzing system using a mobile device and thereby obtaining the result of test strip reading and analyzing and the test report, which enables saving user's time and improving the efficiency of the test strip reading and analyzing.例文帳に追加

使用者が場所に制限されずに、携帯機器を利用して試験紙分析システムと通信することにより、試験紙読み取り分析の結果および検査報告を得ることができ、使用者の時間を節約し、試験紙読み取り分析の効率を上げることができる試験紙読み取り分析システムを提供する。 - 特許庁

In the IC tester 1, a test control part 71 executes an IC test based on a test program 61 to a device under test on a tester board part 5, the test result is stored in a data acquisition file 62 as the sorting data, and the sorting data which is stored in the file 62 is extracted via a data acquisition part 73.例文帳に追加

ＩＣテスタ１において、テスト制御部７１はテスタボード部５上の被測定デバイスにテストプログラム６１に基づくＩＣテストを実行し、テスト結果を分類データとしてデータ収集ファイル６２に格納し、データ収集ファイル６２に格納された分類データをデータ収集部７３を介して抽出する。 - 特許庁

A probe device is arranged at an upper part of a test object with an electrode, and includes: a probe device body; a cleaning device coupled to the probe device body; and a coupling device coupling the cleaning device to the probe device.例文帳に追加

プローブ装置は、電極を備える被検査体の上方に配置されて、またプローブ装置本体と、該プローブ装置本体に結合された清掃装置と、該清掃装置を前記プローブ装置に結合する結合装置とを含む。 - 特許庁

Withstand voltage testing device, electrical measuring instrument, thermostatic bath, temperature testing device, steel-ball drop testing device, water resistance testing device, impact testing machine, ingress protection rating device, explosion testing device, gas concentration measuring instrument, hydrostatic pressure testing device, constraint testing device, airtightness testing device, internal pressure testing device, spark-ignition testing device, combustion test device, and dust resistance testing device 例文帳に追加

耐電圧試験装置、電気計測器、恒温槽、温度試験装置、鋼球落下試験装置、耐水試験装置、衝撃試験機、保護等級試験装置、爆発試験装置、ガス濃度計測器、水圧試験装置、拘束試験装置、気密試験装置、内圧試験装置、火花点火試験装置、発火試験装置及び防じん試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To obtain a semiconductor device and a test method wherein different kinds of chips can be properly tested by using a jig for test which is constituted of a common probe card.例文帳に追加

異なる品種のチップを共通のプローブカードからなるテスト用治工具により適切にテストできる半導体装置およびテスト方法を得る。 - 特許庁

To provide a device and method for a water pressure test of a tire which is advantageous for executing a test of high accuracy, while improving workability.例文帳に追加

作業性の向上を図りつつ精度の高い試験を実施する上で有利なタイヤ水圧試験装置およびタイヤ水圧試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental test device capable of suppressing dew condensation inside and outside of a test tank which is put into a low-temperature state.例文帳に追加

低温状態とされる試験槽の槽内および槽外で結露が発生することを抑制することができる環境試験装置を提供すること。 - 特許庁

If the upper surface of the heat exchange part 20 comes into contact with the bottom surface of the heat transfer plate 2, the test cassette can be mounted on a different test device as it is.例文帳に追加

また，熱交換部２０の上面が伝熱板２底面に接触しさえすれば，異なる試験装置にそのまま装着することができる。 - 特許庁

The device also calculates the characteristic of the sample supplied to the test strip, based on the measured characteristic of the test strip.例文帳に追加

上記装置はまた、上記試験片の測定された特性に基づいて、当該試験片に供給される一定のサンプルの一定の特性も計算する。 - 特許庁

To provide a synchronization-type semiconductor storage device having a test mode suitable for a DDR SDRAM, which allows a test to be conducted even with an inexpensive tester with a slow operating frequency.例文帳に追加

動作周波数の遅い安価なテスタでも検査が可能な、ＤＤＲ ＳＤＲＡＭに適したテストモードを備える同期型半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus of a semiconductor device free from troubles such as a leak defect or a failure of a test board caused by generation of frost in the test board.例文帳に追加

テストボードに霜が生じることで発生していたＬｅａｋ不良やテストボードの故障といった不都合のない半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test tube barcode reading device for rotating a test tube clamped not to rock and accurately reading the barcode thereof.例文帳に追加

試験管を揺動しないように挟持回転させてバーコードを正確に読み取ることができるようにした試験管のバーコード読取り装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a test specification generation device and a program, generating test specifications of a conversion program executing conversion processing imparted with priority order.例文帳に追加

優先順位を付与した変換処理を実行する変換プログラムのテスト仕様書を生成するテスト仕様生成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a test device which can specify a memory cell in which read-out and write-in cannot properly be performed when a test of a memory cell of a DRAM is performed.例文帳に追加

ＤＲＡＭのメモリセルのテストを行ったときに、読み出しおよび書き込みが適切に行われなかったメモリセルを特定できるテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and its test method in which a defect relieving process using an anti-fuse and a time required for its test process can be shortened.例文帳に追加

アンチヒューズを用いた不良救済工程及びそのテスト工程に要する時間を短縮できる半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

After a function test process, dummy test data is supplied to the semiconductor integrated circuit device to perform a post-processing process, at which a clock speed is gradually reduced.例文帳に追加

機能試験手順の後、半導体集積回路装置にダミーテストデータを供給して後処理手順を行い、その際クロック速度を徐々に低下させる。 - 特許庁

To provide a CMIP protocol test automating device, capable of saving power for confirming the result of testing and for preparing the test environment of a CMIP protocol level.例文帳に追加

テスト結果確認及びＣＭＩＰプロトコルレベルのテスト環境の作成を省力化可能なＣＭＩＰプロトコル試験自動化装置を提供する。 - 特許庁

On a TFT array substrate 10 of a liquid crystal device, an N-channel TFT test pattern 130 and a P-channel TFT test pattern 140 are formed.例文帳に追加

液晶装置のＴＦＴアレイ基板１０上に、ＮチャネルＴＦＴテストパターン１３０とＰチャネルＴＦＴテストパターン１４０とが形成されている。 - 特許庁

To provide a scenario creation program, a scenario creation device and a scenario creation method which create test data for correctly determining the success/failure of a test.例文帳に追加

テストの合否判定を正しく行うことができるテストデータを作成するシナリオ作成プログラム、シナリオ作成装置およびシナリオ作成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a simple breathing function test device performing a breathing function test in a state without the need of breathing effort, such as a quiet breathing state.例文帳に追加

安静呼吸状態等の呼吸努力を要しない状態で呼吸機能検査を行うことができる簡易な呼吸機能検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an emulation device capable of transmitting test data based on actual operation data in flexible transmission timing according to a purpose of a test.例文帳に追加

実際の運用データに基づくテストデータを、テストの目的に応じた柔軟な送信タイミングで送信可能なエミュレーション装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A high-temperature corrosion testing device 1 includes a test-piece temperature adjusting means 5 of adjusting the temperature of a test piece S to lower than the temperature of an adjusting gas G.例文帳に追加

高温腐食試験装置1は、試験片Sの温度を調整ガスGの温度よりも低いものとする試験片温度調節手段5を備えている。 - 特許庁

To avoid the generation of a timing violation, and to dispense with setting of an expectation in a burn-in test determination device of a semiconductor integrated circuit having a scan test function.例文帳に追加

スキャンテスト機能を有する半導体集積回路のバーンインテスト判定装置において、タイミング違反の発生を回避し、期待値の設定を不要にする。 - 特許庁

To perform a running test for correlating designated speed to output vehicle speed from a variable-speed device, in a narrow course and in a short test time.例文帳に追加

指示速度と無段変速装置からの出力車速とを対応させるための走行テストを、狭小なコースで、かつ、テスト時間も短くて済むようにする。 - 特許庁

In the device, test recording is conducted for an optical disk and characteristics related to the parameters having correlation with spherical aberration are obtained by the test recording.例文帳に追加

球面収差補正装置は、光ディスクに対してテスト記録を行い、テスト記録により球面収差と相関を有するパラメータに関する特性を取得する。 - 特許庁

To provide a test method capable of detecting oil separability of lubricating grease more accurately than hitherto, and a testing device for executing the test method.例文帳に追加

潤滑グリースの油分離性を以前よりも正確に検出することができる試験方法及び当該試験方法を実施する試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sensory test device and a sensory test method, which can set an optimum pass/fail determination criterion with the small number of learning samples.例文帳に追加

少ない学習用のサンプルで最適な良否判定基準を定めることを可能とした官能検査装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The electronic mail including a predetermined specific character string in the portable terminal device 1, is transmitted from the test operator when the communication test is performed.例文帳に追加

通信試験を行う場合に試験操作者から携帯端末装置１に予め決められた特定の文字列を含む電子メールを送信する。 - 特許庁

To provide a device for testing a semiconductor integrated circuit which generates test pattern data and writes the test pattern data into the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明の課題は、半導体集積回路の試験装置が試験パタンデータを生成して半導体集積回路へ書き込むことを目的とする。 - 特許庁