eFuseとは 意味・読み方・使い方

To provide an eFuse data alignment verification apparatus and method.例文帳に追加

ｅＦｕｓｅデータ配列検証装置および方法を提供する。 - 特許庁

An interpolated value is recorded on an eFUSE control file with coordinate of the chip, and then, such information is memorized in the eFUSE module in the chip.例文帳に追加

補間値は、チップの座標と共にｅＦＵＳＥ制御ファイルに記録され、続いてこのような情報は、チップ内のｅＦＵＳＥモジュールに記憶される。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR USING SINGLE eFUSE BANK TO PRESERVE TEST DATA CONTINUOUSLY FROM MULTIPLE TEST STAGE例文帳に追加

多重テスト・ステージからテスト・データを連続的に保存するために単一のｅＦｕｓｅバンクを使用するための装置および方法 - 特許庁

The semiconductor device 1 also includes an address controller 44 controlling so as to use the repair register 51 during writing or reading of data of the address of the defective bit, based on the address retained in the eFuse macro 13 at the time of power-on-reset.例文帳に追加

また、半導体装置１は、パワーオンリセット時にeFuseマクロ１３に保持されたアドレスに基づいて、ビット不良のアドレスへのデータの書き込みまたは読み出し時にリペアレジスタ５１を使用するように制御するアドレスコントローラ４４とを有する。 - 特許庁

A semiconductor device 1 includes a BIST circuit 42 which detects a defective bit of a connected DRAM, and obtains an address of the detected defective bit, a nonvolatile eFuse macro 13 holding the address of the defective bit of the DRAM 2 detected by the BIST circuit 42, and a repair register 51 storing bit information of the address of the defective bit.例文帳に追加

半導体装置１は、接続されるDRAM２のビット不良を検出し、検出したビット不良のアドレスを得るBIST回路４２と、BIST回路４２により検出されたDRAM２のビット不良のアドレスを保持する不揮発性のeFuseマクロ１３と、ビット不良のアドレスのビット情報を記憶するリペアレジスタ５１とを有する。 - 特許庁

The fixed operating characteristics of functional element in the chip are adjusted, by using an on-chip digital control structure according to the information memorized in the eFUSE module.例文帳に追加

このｅＦＵＳＥモジュールに記憶された情報に基づき、オンチップ・デジタル制御構造体を用いて、チップ内の機能要素の一定の動作特性を調整する。 - 特許庁

An electrically re-programmable fuse (eFUSE) device for integrated circuit devices includes an elongated heater element, an electrically insulating liner surrounding an outer surface of the elongated heater element along a longitudinal axis thereof, leaving both ends of the elongated heater element in electrical contact with first and second heater electrodes.例文帳に追加

集積回路デバイス用の電気的再プログラム可能ヒューズ（ｅＦＵＳＥ）デバイスは、細長いヒータ要素と、細長いヒータ要素の両端部が第１および第２のヒータ電極と電気的に接触した状態のままで、細長いヒータ要素の外面を細長いヒータ要素の縦軸に沿って取り囲む電気絶縁ライナーを備える。 - 特許庁