「Test device」に関連した英語例文の一覧と使い方(43ページ目) - Weblio英語例文検索

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, RELAY CIRCUIT, AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体装置の試験方法、中継回路、及びプローブカード - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験システム及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁

RELIABILITY EVALUATION TEST METHOD OF GAS TURBINE, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ガスタービンの信頼性評価試験方法およびその装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体テスト装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TEST MODE SETTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置およびテストモード設定方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS SELF-TEST METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置及びその自己テスト方法 - 特許庁

WAVEFORM CORRECTION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

波形補正回路およびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁

CONTACT PIN DEVICE AND BATTERY HOLDER FOR TEST USING IT例文帳に追加

接触ピン装置およびそれを用いた試験用電池ホルダ - 特許庁

JIG AND METHOD FOR PERFORMING BURN-IN TEST ON SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のバーインテスト用治具およびバーインテスト方法 - 特許庁

To efficiently perform a test for calculating a J_1C value, in a material testing device.例文帳に追加

Ｊ_１Ｃ値を求めるための試験を効率よく行う。 - 特許庁

FUEL CELL STACK DETERIORATION ACCELERATION TEST METHOD, AND DEVICE REQUIRED THEREWITH例文帳に追加

燃料電池スタックの劣化加速試験方法及び装置 - 特許庁

TEST DEVICE AND SCREENING METHOD FOR RADIATION DETECTOR例文帳に追加

放射線検出器の検査装置およびその選別方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PERFORMING SALT PERMEATION TEST ON CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの塩分透過試験方法及び透過試験装置 - 特許庁

A method of handling minimization of drive tests (MDT) for a mobile device is disclosed.例文帳に追加

モバイルデバイスのMDT（minimization of drive test）を処理する方法が開示される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that facilitates an external loop-back test.例文帳に追加

外部ループバックテストが容易な半導体装置を提供する。 - 特許庁

CHANNEL TEST METHOD AND WIRELESS BASE STATION APPARATUS AND WIRELESS DEVICE例文帳に追加

回線試験方法と無線基地局装置及び無線装置 - 特許庁

SYSTEM FOR MANAGING TEST MAINTENANCE PROGRAM FOR MAGNETIC RESONANCE IMAGING DEVICE例文帳に追加

磁気共鳴イメージング装置のテスト・メンテナンスプログラム管理システム - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR VIBRATION TEST OF RAILROAD VEHICLE例文帳に追加

鉄道車両の振動試験方法及び振動試験装置 - 特許庁

ADHESIVE WEAR TESTING DEVICE AND ADHESIVE WEAR TEST METHOD例文帳に追加

凝着摩耗試験装置および凝着摩耗試験方法 - 特許庁

To provide the test device and method of an automatic control function capable of easily performing a test, and obtaining a highly reliable test result.例文帳に追加

試験が容易かつ信頼性の高い試験結果を得ることができる自動制御機能の試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To shorten a required time for formation of a test vector used in a test device for executing a test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストを行うためのテスト装置で用いられるテストベクタの生成に要する所要時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a burn-in test adapter and a burn-in test device which can suppress low, the cost of obtaining semiconductor chip and test a multitude of chips at once.例文帳に追加

半導体チップを得るコストを低く抑え、一度に多数のチップをテストできるバーンインテスト用アダプタおよびバーンインテスト装置を得ること。 - 特許庁

To properly perform quality discrimination of a semiconductor device such that a test is performed in order of high temperature test and room temperature test.例文帳に追加

高温試験、常温試験の順に試験が行われる半導体装置の品質判別を適正に行うことができるようにする。 - 特許庁

ASSEMBLING DEVICE OF CUTTER FOR METALLIC MATERIAL TEST PIECE, CUTTER FOR PLATE TENSION TEST PIECE, AND MANUFACTURING METHOD OF PLATE TENSION TEST PIECE例文帳に追加

金属材料の試験片用カッタの組立装置、その平板引張試験片用カッタ及びその平板引張試験片の作製方法 - 特許庁

To provide a test program generating device and a test program generating system which can be adapted to a new test method without repairing the system main body.例文帳に追加

システム本体の改修無しで新たなテスト手法に適応できるテストプログラム生成装置及びテストプログラム生成システムを得る。 - 特許庁

To provide a biaxial testing device and a biaxial test method capable of enlarging a test space and reducing test cost.例文帳に追加

試験スペースの拡大化及び試験コストの低減化を実現することが可能である二軸試験装置及び二軸試験方法を提供する。 - 特許庁

A test recording is carried out by the generation of a test pattern utilizing a control judgment device (CPU) 1, and the signal processing selection at the test recording time.例文帳に追加

制御判断装置（ＣＰＵ）１を利用したテストパターン発生とテスト記録時の信号処理選択によりテスト記録をおこなう。 - 特許庁

When the test is to be performed, the probe of a test device should be directly brought into contact with the test pad 31-2.例文帳に追加

そして、テスト時にはテストパッド３１−２に直接テスト装置のプローブを接触させることにより行うことを特徴としている。 - 特許庁

Thereby, a test flow of the test plan program can be verified without loading a pattern program in the offline simulation environment of the test device.例文帳に追加

これにより、試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、パターンプログラムをロードすることなくテストプランプログラムのテストフローを検証できる。 - 特許庁

To provide an integrated circuit that reduces the test time and can be inspected with a low-speed test device, and its test method.例文帳に追加

試験時間を短縮し、低速な試験装置でも検査可能な集積回路とその試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The test management device 600 outputs the execution situation of the test program notified from the test execution device 500 when a confirmation request of the execution situation of the test program is received from the outside.例文帳に追加

試験管理装置６００は、テスト・プログラムの実行状況の確認要求が外部から受け付けられた際、試験実行装置５００から通知されたテスト・プログラムの実行状況を出力する。 - 特許庁

To provide an EMI resonance line test device and an effective EMI ruler for the EMI resonance line test device which can evaluate an EMI test object at a general environment so as to reduce the EMI test expense.例文帳に追加

ＥＭＩ試験経費を低減するためにＥＭＩ試験対象物を一般環境で評価することが可能なＥＭＩ共振線路試験装置及びそのために有効なＥＭＩ定規を提供する。 - 特許庁

To provide a nobel and improved device test system, setting state display device and setting state display method capable of improving the test efficiency by a user who is grasping the test terminal number and the name of the terminal and simultaneously grasping the attribute information of the test terminal visually and sensuously.例文帳に追加

ユーザが、テスト端子番号やテスト端子名と同時に、そのテスト端子の属性情報を視覚的かつ感覚的に把握し、作業効率を向上させることが可能となる。 - 特許庁

The software test system includes: a terminal device, in which software to be tested is installed, and a software test device that stores a test driver for testing the target software according to test data and a test procedure of the target software, wherein the test driver is transmitted to the terminal device to test the target software by combining the test data and the test procedure within the terminal device.例文帳に追加

ソフトウェアテストシステムは、テスト対象ソフトウェアがインストールされている端末装置と、前記テスト対象ソフトウェアのテストデータ、および、前記テスト対象ソフトウェアのテスト手続きに従って前記テスト対象ソフトウェアをテストするテストドライバが記憶されているソフトウェアテスト装置と、を有していて、前記テストドライバが前記端末装置に伝送され、前記端末装置において前記テストデータと前記テスト手続きとの組み合わせにより前記テスト対象ソフトウェアがテストされる。 - 特許庁

To automatically and accurately inspect a test-target device without preparing reference images for judging images from the test-target device and expectation values of log output from the test-target device in advance.例文帳に追加

テスト対象装置の画像判定を行うための基準画像や、テスト対象装置のログ出力の期待値を予め準備することなく、テスト対象装置を正確に自動検証する。 - 特許庁

To provide a test method of a semiconductor device, a test system therefor, capable of supplying each proper test voltage to each semiconductor device respectively, and to provide the semiconductor device.例文帳に追加

個々の半導体装置にそれぞれ適切な試験電圧を供給できるようにした半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験システム、半導体装置を提供する。 - 特許庁

The reserving device extracts the plurality of semiconductor devices as good articles based on the re-test result of the test device, and sequentially puts them on a second semiconductor device carrier by the grade of the re-test result.例文帳に追加

取り置き装置が、テスト装置の再テスト結果に基づき、良品とした複数の半導体デバイスを取り出し、再テスト結果のグレードによって、順次に第２半導体デバイスキャリアに置く。 - 特許庁

The test device is operated corresponding to the input test signal group, and supplies a test pattern signal to the device to be tested corresponding to the first clock, the device to be tested is operated by the test pattern signal input corresponding to the first clock, while generates a test result.例文帳に追加

テストデバイスは入力されたテスト信号群に対応して動作し、第１クロックに対応して被テストデバイスにテストパターン信号を供給し、被テストデバイスは第１クロックに対応して入力されたテストパターン信号で動作するとともにテスト結果を生成する。 - 特許庁

To provide a test method and a test apparatus for a semiconductor device which test a high speed memory interface section at a low speed, dispenses with the mounting of a semiconductor memory device onto a test board and also dispenses with confirmation of operation of the semiconductor memory device itself thereby enabling the mounting area of the test board to be reduced.例文帳に追加

低速で高速メモリインタフェース部の試験ができ、半導体記憶装置のテストボード上への実装が不要で半導体記憶装置自体の動作確認が不要でテストボード実装面積の低減が可能な半導体装置のテスト方法、装置を提供する。 - 特許庁

To provide an external semiconductor memory test device connected to a semiconductor memory test device which can increase the number of simultaneous test by double or more, and can test memories of the number of data bits or more, in a conventional semiconductor memory test device.例文帳に追加

従来の半導体メモリ試験装置において、同時試験個数を２倍以上にすることができ、また、試験可能なデータビット数以上のメモリの試験を可能にする半導体メモリ試験装置に接続する外付け半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加

本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁

The self test circuit device is provided with a test memory 12, a test result storage memory 13 of which the capacity is larger than the capacity of the test memory or is equal to the capacity, and a control circuit 15 constituted so that the test result is stored in the test result storage memory by performing a test of the test memory in the actual use frequency.例文帳に追加

自己試験回路装置は、テストメモリ１２と、前記テストメモリより容量が大きいかまたは等しいテスト結果格納メモリ１３と、実使用周波数において前記テストメモリのテストを行って、そのテスト結果を前記テスト結果格納メモリに格納するように構成された制御回路１５とを具備する。 - 特許庁

CONNECTION MONITORING DEVICE, NETWORK APPARATUS USING THE SAME, AND NETWORK TEST DEVICE例文帳に追加

接続監視装置並びにこれを用いたネットワーク機器及びネットワーク試験装置。 - 特許庁

This dummy inspection test device 1 is equipped with a pendulum 10 and a rotation device 20.例文帳に追加

ダミー検定試験装置１は、ペンデュラム１０と回動装置２０とを備える。 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, HAVING SWITCH FOR SELECTING DIFFERENT PATHS例文帳に追加

異なるパスを選択するスイッチを備える、被試験デバイスを試験する試験デバイス - 特許庁